專利名稱：量子效率測(cè)量方法、量子效率測(cè)量裝置和積分器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于測(cè)量量子效率的方法、裝置以及適于它們的積分器。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，快速地進(jìn)行熒光燈和顯示器的開(kāi)發(fā)。隨著這樣的開(kāi)發(fā)，作為更準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)熒光燈和顯示器所用的熒光體的性能的指標(biāo)，量子效率引人注目。通常，量子效率是指從試樣(典型地是熒光體)產(chǎn)生的光量子數(shù)占被試樣吸收的光量子數(shù)的比例。例如，“大久保、重田“NBS標(biāo)準(zhǔn)熒光體的量子效率的測(cè)量”、照明學(xué)會(huì)志、社團(tuán)法人照明學(xué)會(huì)、1999年、第83卷、第2號(hào)P. 87-93”公開(kāi)了測(cè)量量子效率的典型結(jié)構(gòu)。替代該典型結(jié)構(gòu)，日本特開(kāi)平09-292觀1號(hào)公報(bào)、日本特開(kāi)平10-142152號(hào)公報(bào)以及日本特開(kāi)平 10493063號(hào)公報(bào)等公開(kāi)了用于測(cè)量量子效率的替代結(jié)構(gòu)。上述那樣的用于測(cè)量量子效率的結(jié)構(gòu)主要是面向固體試樣或者面向被成形為固體狀的試樣進(jìn)行量子效率的測(cè)量。即，向試樣照射激發(fā)光并捕捉從該試樣發(fā)出的熒光，從而來(lái)測(cè)量量子效率。例如，EL (Electro Luminescent)發(fā)光所用的熒光體大多情況下為粉末狀，在這樣的情況下，使試樣溶于溶劑而以溶液的狀態(tài)進(jìn)行測(cè)量。在這樣的測(cè)量溶液的量子效率的情況下，將溶液試樣封入到透光性的容器中之后，向該容器的溶液試樣照射激發(fā)光而產(chǎn)生熒光。不過(guò)，在這樣的測(cè)量系統(tǒng)中，由于再激發(fā)(二次激發(fā))所導(dǎo)致的測(cè)量誤差成為問(wèn)題，即、透過(guò)了溶液試樣后的激發(fā)光在積分球的內(nèi)部等反射而再次入射到溶液試樣，從而產(chǎn)生發(fā)出比本來(lái)多的熒光這樣的現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決這樣的問(wèn)題而做成的，其目的在于提供能夠降低在測(cè)量量子效率時(shí)因再激發(fā)(二次激發(fā))所導(dǎo)致的誤差的量子效率測(cè)量方法、量子效率測(cè)量裝置和適于它們的積分球。本發(fā)明的量子效率測(cè)量方法，其包括以下步驟將試樣配置在具有積分空間的積分器內(nèi)的規(guī)定位置；經(jīng)由設(shè)置于積分器的第1窗向配置在規(guī)定位置的試樣照射激發(fā)光，并且經(jīng)由被設(shè)置在與積分器的激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗將積分空間內(nèi)的光譜作為第1光譜進(jìn)行測(cè)量；將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)試樣后的激發(fā)光不向積分空間內(nèi)反射，該激發(fā)光入射部分與第1窗相對(duì)且與積分器內(nèi)的激發(fā)光的光軸交叉；在激發(fā)光不向積分空間內(nèi)反射的狀態(tài)下，經(jīng)由第1窗向配置在規(guī)定位置的試樣照射激發(fā)光，并且經(jīng)由第2窗將積分空間內(nèi)的光譜作為第2光譜進(jìn)行測(cè)量；基于第1光譜中的與激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分和第2光譜中的與試樣受到激發(fā)光的照射而發(fā)出的光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分算出試樣的量子效率。優(yōu)選在積分器的激發(fā)光入射部分形成有用于使激發(fā)光通過(guò)的第3窗；將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)試樣后的激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射的步驟包括如下步驟從利用具有與積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性的栓塞構(gòu)件堵住第3窗的狀態(tài)去除該栓塞構(gòu)件。優(yōu)選本方法還包括以下步驟將標(biāo)準(zhǔn)體配置在規(guī)定位置；經(jīng)由第1窗向被配置在規(guī)定位置的標(biāo)準(zhǔn)體照射激發(fā)光，并且經(jīng)由第2窗將積分空間內(nèi)的光譜作為第3光譜進(jìn)行測(cè)量，算出試樣的量子效率的步驟包括如下步驟將第1光譜中的與激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分與第3光譜中的與激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分之差作為被試樣吸收的光成分算出。本發(fā)明的量子效率測(cè)量裝置，其包括積分器，在其內(nèi)部具有積分空間；光源，其用于經(jīng)由被設(shè)置于積分器的第1窗而向積分空間內(nèi)照射激發(fā)光；測(cè)量器，其用于經(jīng)由被設(shè)置于與積分器的激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗來(lái)測(cè)量積分空間內(nèi)的光譜；保持部， 其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在積分器內(nèi)的激發(fā)光的光軸上；切換機(jī)構(gòu)，其用于將激發(fā)光入射部分切換成向積分空間內(nèi)反射激發(fā)光的狀態(tài)和不向積分空間內(nèi)反射激發(fā)光的狀態(tài)，激發(fā)光入射部分與第1窗相對(duì)且與積分器內(nèi)的激發(fā)光的光軸交叉；運(yùn)算部，其基于第1光譜和第 2光譜算出試樣的量子效率，第1光譜是在試樣被配置在保持部且激發(fā)光入射部分處于反射激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由測(cè)量器測(cè)量得到的，第2光譜是在試樣被配置在保持部且激發(fā)光入射部分處于不反射激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由測(cè)量器測(cè)量得到的。優(yōu)選切換機(jī)構(gòu)包括第3窗，其設(shè)置于積分器的激發(fā)光入射部分，用于使激發(fā)光通過(guò)；栓塞構(gòu)件，其安裝于第3窗，具有與積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性。更優(yōu)選切換機(jī)構(gòu)還包括從積分器的外側(cè)與第3窗相對(duì)應(yīng)地安裝于積分器的光吸收部。優(yōu)選積分器包括半球部，在其內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層；平面鏡，其被配置成封堵半球部的開(kāi)口，第1窗被設(shè)置在平面鏡上的包括半球部的實(shí)質(zhì)上的曲率中心的位置和包括半球部的頂點(diǎn)的位置中的任一位置。優(yōu)選積分器是在內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層的球體，保持部構(gòu)成為將試樣和標(biāo)準(zhǔn)體配置在球體的中心部。根據(jù)本發(fā)明的另一技術(shù)方案提供一種積分器，在其內(nèi)部具有積分空間，其包括保持部，其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在經(jīng)由第1窗而向積分空間內(nèi)照射的激發(fā)光的光軸上； 光取出部，為了測(cè)量積分空間內(nèi)的光譜，其用于經(jīng)由被設(shè)置在與激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗對(duì)光進(jìn)行引導(dǎo)；切換機(jī)構(gòu)，其用于將激發(fā)光入射部分切換成向積分空間內(nèi)反射激發(fā)光的狀態(tài)和不向積分空間內(nèi)反射激發(fā)光的狀態(tài)，激發(fā)光入射部分與第1窗相對(duì)且與積分器內(nèi)的激發(fā)光的光軸交叉。根據(jù)本發(fā)明，能夠在測(cè)量量子效率時(shí)降低因再激發(fā)(二次激發(fā))所導(dǎo)致的誤差。本發(fā)明的上述內(nèi)容和其他目的、特征、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)從與附圖相關(guān)聯(lián)的理解的與本發(fā)明有關(guān)的如下詳細(xì)的說(shuō)明清楚得知。


圖1是表示本發(fā)明的量子效率測(cè)量裝置的整體結(jié)構(gòu)的示意圖。圖2表示圖1所示的量子效率測(cè)量裝置中所提供的假想的積分空間。
圖3A和圖;3B是用于說(shuō)明量子效率的測(cè)量原理的圖。圖4A和圖4B是用于說(shuō)明采用本發(fā)明的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量試樣的量子效率的程序的圖。圖5是表示由圖4A和圖4B所示的測(cè)量程序測(cè)量的光譜的一個(gè)例子。圖6是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置的整體結(jié)構(gòu)的示意圖。圖7A和7B表示圖6所示的栓塞構(gòu)件的更詳細(xì)的構(gòu)造。圖8是表示采用本發(fā)明的第1實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量第1光譜的狀態(tài)。圖9是表示采用本發(fā)明的第1實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量第2光譜的狀態(tài)。圖10是表示采用本發(fā)明的第1實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量第3光譜的狀態(tài)。圖11是表示采用本發(fā)明的第1實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量量子效率的程序的流程圖。圖12A和12B是用于說(shuō)明采用本發(fā)明的第1實(shí)施方式的變形例的量子效率測(cè)量裝置來(lái)測(cè)量試樣的量子效率的程序的圖。圖13是是表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置的整體結(jié)構(gòu)的示意圖。圖14是是表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式的量子效率測(cè)量裝置的整體結(jié)構(gòu)的示意圖。
具體實(shí)施例方式參照附圖詳細(xì)地說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式。另外，對(duì)圖中的相同和相當(dāng)部分標(biāo)注同一附圖標(biāo)記而省略其說(shuō)明。[A.概要]在本實(shí)施方式的量子效率測(cè)量方法中，通過(guò)對(duì)向配置在積分空間內(nèi)的試樣照射激發(fā)光而產(chǎn)生的光(熒光)進(jìn)行測(cè)量來(lái)測(cè)量量子效率。此時(shí)，在透過(guò)了試樣后的激發(fā)光向積分空間內(nèi)反射那樣的狀態(tài)下，對(duì)試樣所吸收的激發(fā)光進(jìn)行測(cè)量，在透過(guò)了試樣后的激發(fā)光不向積分空間內(nèi)反射那樣的狀態(tài)下，對(duì)從試樣所產(chǎn)生的光(熒光)進(jìn)行測(cè)量。通過(guò)這樣進(jìn)行2階段的測(cè)量處理，降低因再激發(fā)(二次激發(fā))所導(dǎo)致的測(cè)量誤差。[B.相關(guān)技術(shù)]首先，參照?qǐng)D1說(shuō)明本發(fā)明的量子效率測(cè)量裝置400。(bl.裝置結(jié)構(gòu))圖1表示采用半球型積分器40來(lái)測(cè)量樣品(試樣)SMP的量子效率的量子效率測(cè)
量裝置400。積分器40由半球部1和圓板狀的平面鏡10構(gòu)成，該平面鏡10通過(guò)半球部1的實(shí)質(zhì)上的曲率中心0，且被配置成封堵半球部1的開(kāi)口部。積分器40在內(nèi)部形成積分空間。 所謂半球部1的曲率中心代表性地是指半球部1的內(nèi)表面?zhèn)鹊膸缀沃行?。半球?在內(nèi)表面(內(nèi)壁)具有光擴(kuò)散反射層la。該光擴(kuò)散反射層Ia代表性地是涂覆或噴涂硫酸鋇、PTFE(聚四氟乙烯)等光擴(kuò)散材料來(lái)形成的。平面鏡10具有向半球部1的內(nèi)表面?zhèn)冗M(jìn)行鏡面反射(正反射)的反射層10a。平面鏡10的反射層IOa與半球部1的內(nèi)表面相對(duì)配置，從而在半球部1上生成虛像。如上所述，平面鏡10以通過(guò)半球部 1的曲率中心0的方式配置，因此由平面鏡10生成的虛像成為具有恒定曲率的半球狀。在將半球部1的內(nèi)表面定義的空間(實(shí)像)和由平面鏡10生成的虛像進(jìn)行組合時(shí)，能夠得到與采用全球型積分器的情況實(shí)質(zhì)上相同的照度分布。即、在積分器40中，將由半球部1的內(nèi)表面定義的空間(實(shí)像)和由平面鏡10生成的虛像所組合而成的空間構(gòu)成實(shí)質(zhì)上的積分空間。在積分器40上，在平面鏡10的中心部形成有試樣窗16。量子效率測(cè)量裝置400 包括光源裝置60，該光源裝置60用于經(jīng)由被設(shè)置于該積分器40的試樣窗16而向積分空間內(nèi)照射激發(fā)光。光源裝置60包括用于產(chǎn)生激發(fā)光的光源。作為該光源，例如采用氙放電燈(Xe 燈)、白色LED(發(fā)光二極管)等。在測(cè)量試樣SMP的量子效率的情況下，作為激發(fā)光，優(yōu)選采用具有與對(duì)象的試樣SMP相對(duì)應(yīng)的特定的單一波長(zhǎng)的單色光(例如、具有200 400nm 內(nèi)的單一波長(zhǎng)的紫外線單色光)。因此，光源裝置60包括用于選擇光源產(chǎn)生的光中的目標(biāo)單色光的波段透過(guò)濾光片。光源裝置60產(chǎn)生的激發(fā)光由光纖62向與試樣窗16相對(duì)應(yīng)地配置的照射部64引導(dǎo)。并且，激發(fā)光從照射部64向積分空間內(nèi)照射，沿著光軸Axl傳輸。在積分器40內(nèi)的激發(fā)光的光軸上配置有用于配置試樣SMP或標(biāo)準(zhǔn)體REF的保持部22。該保持部22是在其中心形成有空洞的筒狀的殼體，能夠在其中心部配置透光性的容器(盒(cell))。該盒由透光性材質(zhì)構(gòu)成，在其內(nèi)部封入有溶液狀的試樣SMP或者標(biāo)準(zhǔn)體 REF。從照射部64照射的激發(fā)光透過(guò)被保持于保持部22的盒而朝向半球部1的頂點(diǎn)照射。利用激發(fā)光的照射來(lái)激發(fā)試樣SMP中的熒光體，從該熒光體產(chǎn)生熒光。該產(chǎn)生的熒光的強(qiáng)度由后述的方法測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)體REF典型地由用于調(diào)制溶液狀的試樣SMP的溶劑構(gòu)成。即、封入有標(biāo)準(zhǔn)體 REF的盒相當(dāng)于從封入有溶液狀的試樣SMP的盒除去了熒光體之后而替代性地添加了溶劑而成的盒。在積分器40中，在自平面鏡10的中心離開(kāi)的位置形成有觀測(cè)窗18。觀測(cè)窗18被設(shè)置在與積分器40內(nèi)的激發(fā)光的光軸Axl部不交叉的位置。量子效率測(cè)量裝置400還包括用于經(jīng)由被設(shè)置于該積分器40的觀測(cè)窗18來(lái)測(cè)量積分空間內(nèi)的照度(光譜)的測(cè)量器 70。經(jīng)由該觀測(cè)窗18測(cè)量的照度相當(dāng)于在采用由利用半球部1的內(nèi)表面定義的空間(實(shí)像)和由平面鏡生成的虛像所構(gòu)成的全球型積分器的情況下在該全球型積分器的內(nèi)壁面所呈現(xiàn)的照度。 例如，如圖2所示，在將試樣SMP或標(biāo)準(zhǔn)體REF配置在積分器40內(nèi)時(shí)，在試樣SMP 或標(biāo)準(zhǔn)體REF上顯現(xiàn)實(shí)像和虛像。例如，試樣SMP受到激發(fā)光的照射而發(fā)光時(shí)，在圖2所示的積分空間內(nèi)，能夠得到與2個(gè)試樣SMP分別發(fā)光的情況同樣的照度分布。
再次參照?qǐng)D1，在平面鏡10的外側(cè)，設(shè)置有用于經(jīng)由觀測(cè)窗10而將積分空間內(nèi)的光的一部分向測(cè)量器70引導(dǎo)的光取出部26。光取出部沈包括用于覆蓋觀測(cè)窗18的殼體 26a0在殼體^a內(nèi)設(shè)有與光纖26d連接的用于向測(cè)量器70引導(dǎo)光的光纖端部^b。在殼體^a內(nèi)設(shè)置有反射部^c，該反射部26c用于將經(jīng)由觀測(cè)窗18入射的光的傳輸方向變換大約90°而后向光纖端部^b引導(dǎo)。測(cè)量器70用于測(cè)量由光纖端部26b導(dǎo)入的光的光譜。典型地測(cè)量器70包括與衍射光柵以及與衍射光柵的衍射方向相關(guān)的線性傳感器等，用于檢測(cè)所入射的光的每個(gè)波長(zhǎng)的強(qiáng)度。在測(cè)量熒光體的量子效率的情況下，向試樣SMP照射的激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍和從試樣SMP發(fā)生的熒光的波長(zhǎng)范圍不同，因此測(cè)量器70的測(cè)量范圍適合于覆蓋從光源裝置60 照射的激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍和試樣SMP受到激發(fā)光的照射而產(chǎn)生的熒光的波長(zhǎng)范圍這兩者。量子效率測(cè)量裝置400包括運(yùn)算部80，該運(yùn)算部80與測(cè)量器70連接，采用測(cè)量器70的檢測(cè)結(jié)果來(lái)算出試樣SMP的量子效率。運(yùn)算部80典型地是具有通用的結(jié)構(gòu)的計(jì)算機(jī)，通過(guò)執(zhí)行預(yù)先安裝的程序(命令編碼)提供后述那樣的量子效率的算出功能。提供這樣的功能的程序被存儲(chǔ)在⑶-ROM(Compact Disc READ Only Memory)等存儲(chǔ)介質(zhì)中來(lái)分發(fā)，或者經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)來(lái)傳輸。這樣的算出量子效率的程序也被編入到其他程序的一部分來(lái)提供。在該情況下，也能利用提供其他程序的組件來(lái)實(shí)現(xiàn)處理，因此有時(shí)也不包括向算出量子效率的程序本身提供其他程序的組件。并且，也可以將由程序提供的一部分或者全部功能安裝為專用的硬件電路。例如， 將運(yùn)算部80所提供的全部功能組裝到測(cè)量器70中。在積分器40中，在從平面鏡10的中心離開(kāi)的位置形成有觀測(cè)窗14。觀測(cè)窗14主要是在測(cè)量前等用于觀測(cè)積分器40內(nèi)的狀態(tài)的窗，在通常的測(cè)量時(shí)，由栓塞構(gòu)件觀塞住， 以便干擾光不入射到積分空間內(nèi)。在量子效率測(cè)量裝置400內(nèi)，優(yōu)選積分器40整體被收納在暗箱8內(nèi)。為了提高測(cè)量精度而優(yōu)選限制干擾光向積分器40的積分空間入射的緣故。(b2.測(cè)量原理)接著，對(duì)采用圖1所示的量子效率測(cè)量裝置400來(lái)測(cè)量試樣SMP的量子效率(內(nèi)部量子收獲率)η 的原理和程序進(jìn)行說(shuō)明。在采用圖1所示的量子效率測(cè)量裝置400的量子效率測(cè)量中，以將來(lái)自光源裝置 60的激發(fā)光向標(biāo)準(zhǔn)體REF (只是溶劑)照射的情況下所測(cè)量的光譜(激發(fā)光光譜)為基準(zhǔn)， 評(píng)價(jià)將來(lái)自光源裝置60的激發(fā)光向試樣SMP(試樣+溶劑)照射時(shí)所測(cè)量的光譜(試樣光譜)。圖3Α表示標(biāo)準(zhǔn)(溶劑)測(cè)量的狀態(tài)，圖:3Β表示試樣(溶液)測(cè)量的狀態(tài)。在本實(shí)施方式的量子效率測(cè)量中，如圖3Α所示，將來(lái)自光源裝置60的激發(fā)光(光源光光譜( λ ) 向標(biāo)準(zhǔn)體REF(僅溶液)照射時(shí)所測(cè)量的光譜作為激發(fā)光光譜Ε(λ)而取得。該激發(fā)光光譜 Ε( λ)為用于算出在進(jìn)行圖;3Β所示的試樣測(cè)量時(shí)被試樣SMP吸收的光能(激發(fā)能)的基準(zhǔn)值。即，激發(fā)光光譜Ε(λ)相當(dāng)于從光源裝置60照射的光能中的除了被溶劑和容器(盒) 所吸收的吸收部分之外的光能。并且，如圖:3Β所示，將來(lái)自光源裝置60的激發(fā)光(光源光光譜向試樣SMP 照射時(shí)所測(cè)量透過(guò)光的光譜作為透過(guò)光光譜R(X)而取得。此時(shí)，試樣SMP中的熒光物質(zhì)被激發(fā)光激發(fā)而產(chǎn)生熒光(熒光光譜Ρ(λ))。因此，激發(fā)光透過(guò)標(biāo)準(zhǔn)體REF(僅溶劑)時(shí)所測(cè)量的激發(fā)光光譜Ε(λ)與激發(fā)光透過(guò)試樣SMP時(shí)所測(cè)量的透過(guò)光光譜R(X)之差相當(dāng)于熒光發(fā)生時(shí)所使用的光能(吸收光能Ab)。能夠從產(chǎn)生的熒光的熒光光譜P ( λ )測(cè)量熒光所具有的光能，因此該熒光所具有的光能與熒光產(chǎn)生時(shí)所使用的光能之間的比率成為量子效率(內(nèi)部量子收獲率)n 并且，透過(guò)光光譜R(X)相對(duì)于激發(fā)光光譜Ε(λ)的比率成為對(duì)于試樣SMP的激發(fā)光的透過(guò)率。例如，光源裝置60所產(chǎn)生的激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍設(shè)為λ工 λ 2，試樣SMP所產(chǎn)生的熒光的波長(zhǎng)范圍設(shè)為λ3 λ 4時(shí)，量子效率(內(nèi)部量子收獲率)Jlrtsp能夠由以下所示那樣的式(1)表示。
權(quán)利要求
1.一種量子效率測(cè)量方法，其包括以下步驟將試樣配置在具有積分空間的積分器內(nèi)的規(guī)定位置；經(jīng)由設(shè)置于上述積分器的第1窗向配置在上述規(guī)定位置的上述試樣照射激發(fā)光，并且經(jīng)由被設(shè)置在上述積分器的與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第1光譜進(jìn)行測(cè)量；將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)上述試樣后的激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射，該激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉；在激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射的狀態(tài)下，經(jīng)由上述第1窗向配置在上述規(guī)定位置的上述試樣照射上述激發(fā)光，并且經(jīng)由上述第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第2光譜進(jìn)行測(cè)量；基于上述第1光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分和上述第2光譜中的與上述試樣受到上述激發(fā)光的照射而發(fā)出的光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分算出上述試樣的量子效率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的量子效率測(cè)量方法，其中，在上述積分器的上述激發(fā)光入射部分形成有用于供上述激發(fā)光通過(guò)的第3窗； 上述將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)上述試樣后的激發(fā)光不向上述積分空間內(nèi)反射的步驟包括如下步驟從利用具有與上述積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性的栓塞構(gòu)件堵住上述第3窗的狀態(tài)去除該栓塞構(gòu)件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的量子效率測(cè)量方法，其中， 該量子效率測(cè)量方法還包括以下步驟將標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述規(guī)定位置；經(jīng)由上述第1窗向被配置在上述規(guī)定位置的上述標(biāo)準(zhǔn)體照射上述激發(fā)光，并且經(jīng)由上述第2窗將上述積分空間內(nèi)的光譜作為第3光譜進(jìn)行測(cè)量，算出上述試樣的量子效率的步驟包括如下步驟將上述第1光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分與上述第3光譜中的與上述激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分之差作為被上述試樣吸收的光成分算出。
4.一種量子效率測(cè)量裝置，其包括 積分器，在其內(nèi)部具有積分空間；光源，其用于經(jīng)由被設(shè)置于上述積分器的第1窗而向上述積分空間內(nèi)照射激發(fā)光； 測(cè)量器，其用于經(jīng)由被設(shè)置在上述積分器的與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2 窗來(lái)測(cè)量上述積分空間內(nèi)的光譜；保持部，其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸上； 切換機(jī)構(gòu)，其用于將激發(fā)光入射部分切換成向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)和不向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)，上述激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)并且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉；運(yùn)算部，其基于第1光譜和第2光譜算出上述試樣的量子效率，上述第1光譜是在上述試樣被配置在上述保持部且上述激發(fā)光入射部分處于反射上述激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由上述測(cè)量器測(cè)量得到的，上述第2光譜是在上述試樣被配置在上述保持部且上述激發(fā)光入射部分處于不反射上述激發(fā)光的狀態(tài)的情況下由上述測(cè)量器測(cè)量得到的。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的量子效率測(cè)量裝置，其中，上述切換機(jī)構(gòu)包括第3窗，其設(shè)置于上述積分器的上述激發(fā)光入射部分，用于使上述激發(fā)光通過(guò)，栓塞構(gòu)件，其安裝于上述第3窗，具有與上述積分器的內(nèi)表面實(shí)質(zhì)上相同的反射特性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的量子效率測(cè)量裝置，其中，上述切換機(jī)構(gòu)還包括從上述積分器的外側(cè)與上述第3窗相對(duì)應(yīng)地安裝于上述積分器的光吸收部。
7.根據(jù)權(quán)利要求4 6中任一項(xiàng)所述的量子效率測(cè)量裝置，其中，上述積分器包括半球部，在其內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層；平面鏡，其被配置成封堵上述半球部的開(kāi)口，上述第1窗被設(shè)置在上述平面鏡上的包括上述半球部的實(shí)質(zhì)上的曲率中心的位置和包括上述半球部的頂點(diǎn)的位置中的任一位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求4 6中任一項(xiàng)所述的量子效率測(cè)量裝置，其中，上述積分器是在內(nèi)表面具有光擴(kuò)散反射層的球體，上述保持部構(gòu)成為將上述試樣和上述標(biāo)準(zhǔn)體配置在上述球體的中心部。
9.一種積分器，在其內(nèi)部具有積分空間，其包括保持部，其用于將試樣或標(biāo)準(zhǔn)體配置在經(jīng)由第1窗而向上述積分空間內(nèi)照射的激發(fā)光的光軸上；光取出部，為了測(cè)量上述積分空間內(nèi)的光譜，其用于經(jīng)由被設(shè)置在與上述激發(fā)光的光軸不交叉的位置的第2窗對(duì)光進(jìn)行引導(dǎo)；切換機(jī)構(gòu)，其用于將激發(fā)光入射部分切換成向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)和不向上述積分空間內(nèi)反射上述激發(fā)光的狀態(tài)，上述激發(fā)光入射部分與上述第1窗相對(duì)且與上述積分器內(nèi)的上述激發(fā)光的光軸交叉。
全文摘要
本發(fā)明提供一種量子效率測(cè)量方法、量子效率測(cè)量裝置和積分器。該量子效率測(cè)量方法包括以下步驟步驟(S10)，將試樣配置在具有積分空間的積分器內(nèi)的規(guī)定位置；步驟(S12)，向試樣照射激發(fā)光，并且經(jīng)由第2窗將積分空間內(nèi)的光譜作為第1光譜進(jìn)行測(cè)量；步驟(S20)，將激發(fā)光入射部分構(gòu)成為使透過(guò)試樣后的激發(fā)光不向積分空間內(nèi)反射；步驟(22)，向試樣照射激發(fā)光，并且經(jīng)由第2窗將積分空間內(nèi)的光譜作為第2光譜進(jìn)行測(cè)量；步驟(S40、S42、S46)，基于第1光譜中的與激發(fā)光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分和第2光譜中的與試樣受到激發(fā)光的照射而發(fā)出的光的波長(zhǎng)范圍相對(duì)應(yīng)的成分算出試樣的量子效率。
文檔編號(hào)G01J3/02GK102192786SQ20111006997
公開(kāi)日2011年9月21日 申請(qǐng)日期2011年3月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月18日
發(fā)明者大久保和明, 大澤祥宏 申請(qǐng)人:大*電子株式會(huì)社