專利名稱：一種新型ict測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種新型ICT測試治具。
背景技術(shù)：
ICT測試=InCircUitest的縮寫，意思為在線測試，在線測試儀測量時使用專門的 針床與已焊接好的線路板上的元器件接觸，并用數(shù)百毫伏電壓和10毫安以內(nèi)電流進行分 立隔離測試，從而精確地測出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場效應(yīng)管、集 成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參數(shù)值偏差、焊點連焊、線路板開短路等故障，并將 故障是哪個元件或開短路位于哪個點準(zhǔn)確告訴用戶；隨著電路板的發(fā)雜程度越來越大，在 大規(guī)模生產(chǎn)時用ICT測試來快速排除錯誤就非常的必要了，但是一種新的產(chǎn)品在量產(chǎn)之前 可能要經(jīng)過若干次升級、修改，而每次升級修改PCB板的布局布線都有可能改變，同時用于 ICT測試的測試點的位置也有可能改變，這樣就會遇到當(dāng)PCB板中的測試點的位置有所改 變時，ICT治具中的探針就要做相應(yīng)的位置調(diào)整，當(dāng)有些測試點的位置與原來的位置有部分 重疊時，原來的測試治具在這個位置上就沒有足夠的空間重新做出一個探針來測新的測試 點，當(dāng)這種情況存在的比例很大時，我們就要重新制作ICT測試治具，重新做ICT測試治具 會有以下缺點當(dāng)PCB板尺寸大，測試點多的時候，ICT治具的價格就會非常昂貴，重新做就 會造成很大的成本浪費，制作ICT治具工序要求非常精細，這也就導(dǎo)致做ICT治具時需要一 定的時間周期，這樣往往會延長產(chǎn)品生產(chǎn)上市的周期。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種新型ICT測試治具。本實用新型的一種新型ICT測試治具是按以下方式實現(xiàn)的，ICT治具上設(shè)置有探 針，PCB板上設(shè)置有網(wǎng)格線，測試點設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上，網(wǎng)格線的間距根據(jù)治具中兩探 針的間距而設(shè)定，探針孔位設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上。PCB板根據(jù)測試點的數(shù)量設(shè)置相應(yīng)ICT治具中探針的數(shù)量。本實用新型和現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下突出的有益效果(1)在升級改版時其測試點也必須加在網(wǎng)格交點上，每個紅色的圓圈就是一個單 獨的探針孔位，這樣就不會出現(xiàn)原來的PCB測試點和改版后的測試點有重疊的風(fēng)險。(2) PCB板改動后，不需要的探針就可以拔掉，需要的地方可以加上探針，而且不會 存在空間不夠做不了探針的風(fēng)險，繼而不需要重新做治具，節(jié)省了成本和時間，可以應(yīng)用到 一切需要大規(guī)模生產(chǎn)的電子產(chǎn)品中，對增強產(chǎn)品的市場競爭力有很好的作用。

圖1為一種新型ICT測試治具的改進測試結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為一種新型ICT測試治具的傳統(tǒng)測試結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記說明1、PCB板，2、網(wǎng)格線，3、測試點，4、探針孔位。
具體實施方式
參照說明書附圖對本實用新型的一種新型ICT測試治具作以下詳細地說明。如圖1所示，本實用新型的一種新型ICT測試治具，ICT治具上設(shè)置有探針，PCB板 1上設(shè)置有網(wǎng)格線2，測試點3設(shè)置在網(wǎng)格線2的交點上，網(wǎng)格線2的間距根據(jù)治具中兩探 針的間距而設(shè)定，探針孔位4設(shè)置在網(wǎng)格線2的交點上，PCB板1根據(jù)測試點3的數(shù)量設(shè)置 相應(yīng)ICT治具中探針的數(shù)量。傳統(tǒng)的ICT測試如圖2所示，其特點是PCB板1上的測試點3擺放無規(guī)律性，當(dāng)產(chǎn) 品升級后需要重新制作PCB板1。利用一定規(guī)律的網(wǎng)格線2，每個紅色的圓圈就是一個單獨的探針孔位4，這樣就不 會出現(xiàn)原來的PCB板1上的測試點3和改版后的測試點3有重疊的風(fēng)險，在升級改版時其 測試點3也必須加在網(wǎng)格線2的交點上。除說明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
權(quán)利要求一種新型ICT測試治具，其特征在于ICT治具上設(shè)置有探針，PCB板上設(shè)置有網(wǎng)格線，測試點設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上，網(wǎng)格線的間距根據(jù)治具中兩探針的間距而設(shè)定，探針孔位設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型ICT測試治具，其特征在于PCB板根據(jù)測試點的數(shù) 量設(shè)置相應(yīng)ICT治具中探針的數(shù)量。
專利摘要本實用新型提供一種新型ICT測試治具，屬于電子產(chǎn)品領(lǐng)域，ICT治具上設(shè)置有探針，PCB板上設(shè)置有網(wǎng)格線，測試點設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上，網(wǎng)格線的間距根據(jù)治具中兩探針的間距而設(shè)定，探針孔位設(shè)置在網(wǎng)格線的交點上。該實用新型和現(xiàn)有技術(shù)相比，在升級改版時其測試點也必須加在網(wǎng)格交點上，每個紅色的圓圈就是一個單獨的探針孔位，這樣就不會出現(xiàn)原來的PCB測試點和改版后的測試點有重疊的風(fēng)險，板子改動后，不需要的探針就可以拔掉，需要的地方可以加上，而且不會存在空間不夠做不了探針的風(fēng)險，繼而不需要重新做治具，節(jié)省了成本和時間，可以應(yīng)用到一切需要大規(guī)模生產(chǎn)的電子產(chǎn)品中，對增強產(chǎn)品的市場競爭力有很好的作用。
文檔編號G01R1/02GK201732131SQ201020289410
公開日2011年2月2日 申請日期2010年8月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月12日
發(fā)明者劉方, 吳景霞, 張柱, 王林 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司