專利名稱：鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于鎳釋放檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置。
背景技術(shù)：
鎳是一種容易導(dǎo)致接觸性過(guò)敏的元素。鎳元素通過(guò)一些含鎳材料的釋放并長(zhǎng)期與皮膚接觸后會(huì)被皮膚吸收，從而對(duì)部分個(gè)體導(dǎo)致過(guò)敏；進(jìn)一步暴露在可溶性鎳鹽中會(huì)導(dǎo)致 接觸性皮炎。據(jù)統(tǒng)計(jì)，20%的人對(duì)鎳有很明顯的過(guò)敏反應(yīng)癥狀。鎳一般出現(xiàn)在合金中，有服 裝產(chǎn)品中用作金屬配飾，如鈕扣、拉鏈、鉚釘、金屬耳環(huán)、項(xiàng)鏈、戒指等。由于服裝、首飾等日用品材料構(gòu)成中有一些含鎳的金屬輔料，國(guó)內(nèi)外一般要求對(duì) 鎳標(biāo)準(zhǔn)釋放量進(jìn)行檢測(cè)。我國(guó)則于2002年頒布實(shí)施了《GB11887-2002首飾、貴金屬純度的 規(guī)定及命名方法》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定1、用于耳朵或人體的任何其他部位穿孔，在穿孔傷口愈合 過(guò)程中摘除或保留的制品，其鎳在總體質(zhì)量中的含量必須小于0. 05% ；2、與人體皮膚長(zhǎng)期 接觸的制品的鎳釋放量必須小于0. 5 μ g/cm2/week0對(duì)鎳釋放進(jìn)行檢測(cè)的方法采用的標(biāo)準(zhǔn) 是《GB/T 19718-2005首飾鎳含量的測(cè)定火焰原子吸收光譜法》或《GB/T 19719-2005首飾 鎳釋放量的測(cè)定光譜法》。歐盟1994 年 6 月 30 日頒布了 94/27/EC 指令(Nickel Release Directive)對(duì) 76/769/EEC指令進(jìn)行第12次修正，要求1.可穿透人體部位的產(chǎn)品如耳環(huán)等，不管后來(lái)是 否可以移除，均質(zhì)材料中鎳含量必須小于0. 05% ；2.與人體直接長(zhǎng)期接觸的產(chǎn)品耳環(huán)；項(xiàng) 鏈，手鐲手鏈，腳環(huán)，戒指；表殼，表鏈，把手等；衣物上的紐扣，加緊裝置，鉚釘，拉鏈及金屬 標(biāo)識(shí)等；鎳釋放量不能超過(guò)0. 5 μ g/cm2/week ；3. 2條中的產(chǎn)品如果帶無(wú)鎳鍍層并且能確保 這些產(chǎn)品在正常使用條件下至少兩年以內(nèi)鎳釋放量不超過(guò)0. 5 μ g/cm2/week01997年7月20日，歐盟根據(jù)9V27/EC的要求發(fā)布了三個(gè)協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)，EN1810, EN1811和EN12472，明確了鎳的標(biāo)準(zhǔn)釋放定量分析方法。94/27/EC指令的實(shí)施是在歐洲標(biāo) 準(zhǔn)委員會(huì)采納證明與此指令一致的所有的測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布6個(gè)月后生產(chǎn)商和進(jìn)口商 不再允許供應(yīng)鎳釋放不合格的產(chǎn)品。18個(gè)月后，不允許銷售給最終消費(fèi)者。該標(biāo)準(zhǔn)適用 于兒童產(chǎn)品，包括玩具或兒童衣物上的金屬鉚釘、按鈕、緊固物、拉鏈及金屬牌及標(biāo)示物等。 2004年歐盟通過(guò)了 2004/96/EC指令，對(duì)于所有刺入人體的被刺穿物體作出修訂，并于2005 年9月起執(zhí)行，2004/96/E C不再對(duì)刺穿耳朵或身體其它部位的配件中的鎳提出總含量小 于0.05%要求，但要求鎳的釋放不得超過(guò)0. Zyg/cni/week。而2004/96/EC規(guī)定1、刺穿 耳朵或身體其它部位的制品中，鎳的釋放不得超過(guò)0. 2μ g/Cm2/week ；2、與人體皮膚長(zhǎng)期接 觸的制品，的鎳釋放量必須小于0. 5 μ g/cm2/week0進(jìn)行檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)包括1、BS EN 1811與 皮膚長(zhǎng)期直接接觸的產(chǎn)品中鎳釋放的參考測(cè)試方法；2、BS EN 12472用模擬磨損和腐蝕的 方法檢測(cè)有涂層物品的鎳釋放(實(shí)為樣品前處理方法，測(cè)試方法為BS EN 1811)。一般使用 以下方法總鎳(Ni)含量測(cè)試(EmSlO 2005)；與皮膚有直接及長(zhǎng)期接觸的產(chǎn)品的鎳(Ni) 釋放量測(cè)試(EW811 :1999，適用于沒有電鍍涂層之產(chǎn)品)；有涂層物件在催化及磨損后鎳 (Ni)釋出量的測(cè)試(EW2472 :2005，適用于有涂層之產(chǎn)品)。[0006]歐盟官方刊物(OfficialJournal of the European Union，OJEU) 2007 年 3 月 15 日第C60期刊登了 EW2472 =2005-預(yù)涂層物件的鎳釋放用模擬穿著磨損和腐蝕試驗(yàn)方法， 該標(biāo)準(zhǔn)取代原1998年版本。同1998年版相比，2005版EN12472標(biāo)準(zhǔn)最大的改進(jìn)是模擬磨損 及腐蝕試驗(yàn)方面的變化，從儀器結(jié)構(gòu)和試驗(yàn)用品方面都有了比較大的變化。隨著新版標(biāo)準(zhǔn) 的發(fā)布，EN12472 1998標(biāo)準(zhǔn)也已成為歷史，Rota-Simulator從里到外，專為EW2472 2005 所設(shè)計(jì)，并增加了各項(xiàng)安全保護(hù)裝置。凡是銷往歐盟市場(chǎng)的金屬物件如耳環(huán)、項(xiàng)鏈、手鐲、 鏈條，腕表，表鏈，眼鏡，以及服裝上同人體經(jīng)常性接觸的物件如拉鏈、金屬涂層之紐扣、金 屬飾品等，按照歐盟9V27/EC的要求，都必須按照Emsil (測(cè)試方法)和EW2472 (表面磨 損試驗(yàn)方法)來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，以證明其符合該要求。目前國(guó)內(nèi)外大多數(shù)鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置 都是根據(jù)國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)或EN124721998的早期標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行開發(fā)，還沒有根據(jù)Em24722005標(biāo)準(zhǔn)進(jìn) 行設(shè)計(jì)和開發(fā)的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，本發(fā)明由此而來(lái)。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型目的在于提供一種鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中缺乏符合 Ε^24722005標(biāo)準(zhǔn)的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置的問(wèn)題。為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的這些問(wèn)題，本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案是一種鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，包括驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置通過(guò)傳動(dòng)軸 連接裝填磨料的磨損裝置，所述磨損裝置內(nèi)設(shè)置用于固定待測(cè)樣品的樣品固定裝置，當(dāng)所 述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)磨損裝置旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述待測(cè)樣品與磨料接觸進(jìn)行磨損試驗(yàn)。優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)裝置為步進(jìn)電機(jī)，所述步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸與磨損裝置固定。優(yōu)選的，所述磨損裝置包括密閉滾筒，所述密閉滾筒兩端設(shè)置滾筒支架；所述滾筒 支架與驅(qū)動(dòng)裝置的傳動(dòng)軸連接；所述密閉滾筒內(nèi)設(shè)置磨料和樣品固定裝置。優(yōu)選的，所述密閉滾筒為六棱柱形滾筒，所述六棱柱形滾筒水平裝設(shè)在滾筒支架 內(nèi)，并設(shè)置擋板限位固定。優(yōu)選的，所述滾筒支架兩端設(shè)置支撐滾筒支架的支撐體，所述支撐體與滾筒支架 通過(guò)軸承連接。優(yōu)選的，所述裝置還包括控制裝置，所述控制裝置包括微處理器和進(jìn)行信息輸入 輸出的控制面板，所述微處理器接受控制面板的指令輸入控制調(diào)配驅(qū)動(dòng)裝置和顯示信息。優(yōu)選的，所述裝置還包括箱體，所述驅(qū)動(dòng)裝置、磨損裝置設(shè)置在箱體內(nèi)，所述箱體 上設(shè)置防護(hù)門和控制面板。優(yōu)選的，所述防護(hù)門開設(shè)在磨損裝置的外側(cè)，所述防護(hù)門和箱體上設(shè)置磁感應(yīng)裝 置；所述磁感應(yīng)裝置與控制裝置連接，并根據(jù)防護(hù)門的啟閉控制磨損試驗(yàn)運(yùn)行與否。優(yōu)選的，所述微處理器內(nèi)預(yù)編程程序，所述微處理器根據(jù)控制面板的指令信息按 照預(yù)編程程序執(zhí)行磨損試驗(yàn)。優(yōu)選的，所述樣品固定裝置包括轉(zhuǎn)動(dòng)軸和轉(zhuǎn)動(dòng)軸兩端固定的固定盤；所述固定盤 上設(shè)置數(shù)個(gè)定位柱。本裝置可為EN12472 2005測(cè)定涂層覆蓋材料鎳釋放的模擬穿著磨損和腐蝕試驗(yàn) 方法標(biāo)準(zhǔn)及ISO 12870 2004眼科光學(xué)-眼鏡框-要求和測(cè)試方法所設(shè)計(jì)，各項(xiàng)規(guī)格均滿足 上述兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)要求。[0020]相比于現(xiàn)有技術(shù)中的解決方案，本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)是1.本發(fā)明技術(shù)方案鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置采用新的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，操作更為簡(jiǎn)便；而且 通過(guò)磁感應(yīng)裝置的設(shè)置對(duì)使用者進(jìn)行有效的防護(hù)，大大提高了使用者操作的安全性。另外， 在滾筒支架上固定設(shè)置限位密閉滾筒的擋板，操作安全更可靠。2、本發(fā)明優(yōu)選技術(shù)方案中采用六棱柱形滾筒，步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)速均勻可靠，速度可以 控制在30士2轉(zhuǎn)/分；這些設(shè)置可以在控制裝置中預(yù)編程設(shè)置；另外提供了控制面板對(duì)磨 損試驗(yàn)進(jìn)行靈活的設(shè)置和操作，滿足了操作者檢測(cè)的需要。
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述

圖1為本發(fā)明實(shí)施例鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置樣品固定裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置樣品固定裝置的另一結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為控制面板的布局圖；其中1為驅(qū)動(dòng)裝置；2為磨損裝置；3為樣品固定裝置；4為支撐體；5為控制裝 置；6為箱體；7為磁感應(yīng)裝置。21為密閉滾筒；22為滾筒支架；23為磨料；24為擋板；31為轉(zhuǎn)動(dòng)軸；32為固定盤； 33為固定柱；51為控制面板；61為防護(hù)門。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)上述方案做進(jìn)一步說(shuō)明。應(yīng)理解，這些實(shí)施例是用于說(shuō)明 本發(fā)明而不限于限制本發(fā)明的范圍。實(shí)施例中采用的實(shí)施條件可以根據(jù)具體廠家的條件做 進(jìn)一步調(diào)整，未注明的實(shí)施條件通常為常規(guī)實(shí)驗(yàn)中的條件。實(shí)施例如圖所示，該鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，包括驅(qū)動(dòng)裝置1、控制裝置5和箱體6， 所述驅(qū)動(dòng)裝置1通過(guò)傳動(dòng)軸連接裝填磨料的磨損裝置2，所述磨損裝置內(nèi)設(shè)置用于固定待 測(cè)樣品的樣品固定裝置3，當(dāng)所述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)磨損裝置2旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述待測(cè)樣品與磨料接 觸進(jìn)行磨損試驗(yàn)。驅(qū)動(dòng)裝置為步進(jìn)電機(jī)，所述步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸與磨損裝置2固定。所述驅(qū)動(dòng)裝置、磨 損裝置2設(shè)置在箱體6內(nèi)，所述箱體上設(shè)置防護(hù)門61和控制面板51。驅(qū)動(dòng)裝置的旋轉(zhuǎn)速度 控制在30士2轉(zhuǎn)/分，驅(qū)動(dòng)裝置的最大承載能力為10KG，提供穩(wěn)定轉(zhuǎn)速，可自行設(shè)定旋轉(zhuǎn)方 向及正轉(zhuǎn)，反轉(zhuǎn)時(shí)間。磨損裝置包括密閉滾筒21，所述密閉滾筒兩端設(shè)置滾筒支架22 ；所述滾筒支架與 驅(qū)動(dòng)裝置的傳動(dòng)軸連接；所述密閉滾筒內(nèi)設(shè)置磨料23和樣品固定裝置。所述密閉滾筒為六 棱柱形滾筒，所述六棱柱形滾筒水平裝設(shè)在滾筒支架內(nèi)，并設(shè)置擋板24限位固定。所述滾 筒支架兩端設(shè)置支撐滾筒支架的支撐體4，所述支撐體4與滾筒支架通過(guò)軸承連接。控制裝置包括微處理器和進(jìn)行信息輸入輸出的控制面板51，所述微處理器接受控 制面板的指令輸入控制調(diào)配驅(qū)動(dòng)裝置和顯示信息。所述防護(hù)門61開設(shè)在磨損裝置2的外 側(cè)，所述防護(hù)門和箱體上設(shè)置磁感應(yīng)裝置7 ；所述磁感應(yīng)裝置與控制裝置連接，并根據(jù)防護(hù) 門的啟閉控制磨損試驗(yàn)運(yùn)行與否。所述微處理器內(nèi)預(yù)編程程序，所述微處理器根據(jù)控制面板的指令信息按照預(yù)編程程序執(zhí)行磨損試驗(yàn)?？刂破餮b置的控制面板為高度輕觸面板，通 過(guò)智能PID控制器，可分段控制，可提醒任務(wù)完成定時(shí)提醒功能所述樣品固定裝置3包括轉(zhuǎn)動(dòng)軸31和轉(zhuǎn)動(dòng)軸兩端固定的固定盤32 ；每個(gè)固定盤 32上設(shè)置6個(gè)定位柱33。樣品固定裝置可固定扣件、扎帶、硅橡膠內(nèi)墊。進(jìn)行磨損試驗(yàn)時(shí)，按照EN12472-2005及EW811-1998標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行鎳釋放磨損+測(cè)試 的步驟在使物體經(jīng)受腐蝕和磨損程序之前，某些物體的不同零件需要拆分開來(lái)。物體不 與皮膚長(zhǎng)期接觸的零件在腐蝕和/或磨損之前可以預(yù)先排除。對(duì)樣品進(jìn)行脫脂處理，可以 把樣品放入脫脂劑中，在室溫下緩慢搖動(dòng)2min。取出，用去離子水沖洗干凈，將樣品晾干或 用吸水紙輕輕吸干。脫脂后的樣品只能用塑料鑷子夾取或戴好干凈的防護(hù)手套拿取。樣品脫脂后，非樣品面積部分中含有金屬的樣品，脫脂后需進(jìn)行涂層處理。經(jīng)過(guò)一 段時(shí)間磨損后與皮膚接觸、非樣品面積部分中不含有金屬的樣品，脫脂后進(jìn)行腐蝕處理。與 皮膚直接接觸、非樣品面積部分中不含有金屬的樣品，脫脂后直接進(jìn)行釋放處理。然后進(jìn)行腐蝕預(yù)處理，把腐蝕劑倒入玻璃廣口瓶中。用滌綸線系緊樣品，使與皮膚 接觸的表面盡可能多對(duì)著腐蝕劑，懸掛在腐蝕劑液面上1-2厘米處，在50°C恒溫箱中放置 2h。在通風(fēng)櫥中小心打開容器取出樣片，用去離子水沖洗干凈，放于吸水紙上，在室溫下干 燥約1小時(shí)，并立即執(zhí)行磨損程序。此一步驟目的是影響金屬鍍層、清漆和塑料涂層。開始進(jìn)行磨損試驗(yàn)，現(xiàn)將待測(cè)樣品進(jìn)行固定。固定測(cè)試樣品時(shí)應(yīng)使其與皮膚接觸 的表面朝向轉(zhuǎn)動(dòng)軸，即筒的中心，其另一面朝向筒壁。如果物體相對(duì)較長(zhǎng)，例如，眼鏡或表 帶，如果可能的話，那么在安裝時(shí)應(yīng)使它們的長(zhǎng)軸應(yīng)與筒軸平行。被磨損的物體其所處的位 置與筒壁相距為IOmm到30mm。將樣品固定在支架上，使樣品在旋轉(zhuǎn)過(guò)程中受試驗(yàn)面同磨料 直接發(fā)生摩擦。固定樣品時(shí)應(yīng)保證樣品不會(huì)相互接觸，或在轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，它們不會(huì)與筒壁或其它 部位碰撞而造成損壞。在樣品固定裝置中適用于固定測(cè)試物體的是硅橡膠片、硅橡膠條和 粗細(xì)不同的各種尼龍線。將磨料加入密閉滾筒，填到滾筒一半的高度，每千克顆粒加入7. 5g研磨膠并轉(zhuǎn)動(dòng) 滾筒5小時(shí)使之均勻。如果磨損介質(zhì)在1周內(nèi)沒被使用，在下次使用之前，應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)滾筒1小 時(shí)使介質(zhì)重新均勻。此程序?qū)㈩w粒覆蓋上磨損漿糊，形成磨損介質(zhì)用來(lái)模仿磨損。經(jīng)過(guò)處理后的磨料在使用后及使用前，必須放置于密閉容器內(nèi)保存。在2次磨損 程序后，每千克顆粒再加入7. 5g磨損漿糊。使?jié)L筒再轉(zhuǎn)動(dòng)5小時(shí)，使磨損介質(zhì)重新均勻。按 照Em2472-2005的規(guī)定，總共達(dá)到四次磨損程序后，應(yīng)將磨料倒掉并配制新的材料。將安裝好樣品的樣品固定裝置放入空的滾筒中，然后將滾筒填充磨料至一半深 度，蓋上滾筒并將它在轉(zhuǎn)動(dòng)系統(tǒng)中水平放置。啟動(dòng)磨損試驗(yàn)儀，轉(zhuǎn)動(dòng)滾筒，使之以每分鐘 (30士2)圈的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)，時(shí)間為5小時(shí)士5分鐘。轉(zhuǎn)向在2. 5小時(shí)士5分鐘時(shí)以反方向轉(zhuǎn) 動(dòng)。允許將樣品留在轉(zhuǎn)筒中過(guò)夜。將樣品架放入滾筒內(nèi)，從磨料加注孔(支架上的大孔)放在架子兩頭，蓋上有機(jī)玻 璃蓋，將滾筒放入磨損試驗(yàn)儀內(nèi)的架子中，固定鐵架；開機(jī)打開電源，儀器即進(jìn)入待機(jī)狀 態(tài)；按RUN/PAUSE按鍵，儀器即按設(shè)定程式進(jìn)入工作狀態(tài)，滾筒開始轉(zhuǎn)動(dòng)，系統(tǒng)默認(rèn)按照正 向2. 5小時(shí)，反向2. 5小時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)，在運(yùn)行過(guò)程中，用戶可以按動(dòng)RUN/PAUSE鍵進(jìn)行暫停，檢查 設(shè)備運(yùn)行情況；顯示屏默認(rèn)顯示時(shí)間為60s，超過(guò)時(shí)間后，將自動(dòng)暗屏，按動(dòng)任何按鍵，將喚醒顯示屏；自動(dòng)完成全部項(xiàng)目后，儀器將蜂鳴以提醒任務(wù)完成。將樣品固定裝置從轉(zhuǎn)筒中取出并將物體拆卸。用軟布或紙巾輕輕地擦去殘留的磨 損介質(zhì)。檢查物體是否有不可預(yù)期的損壞，例如飾針上是否有塊狀物掉落，如果有必要且 為合理的，修補(bǔ)損壞處或排除物體不作進(jìn)一步測(cè)試。按照Emsii進(jìn)行再進(jìn)行釋放處理。將不會(huì)直接接觸人體皮膚部分即非樣品面積部分中的金屬部分表面均與涂抹一 層約0.2mm厚的石蠟，晾干。并在樣品尺寸圖中對(duì)涂層部分進(jìn)行標(biāo)記。樣品涂層后，經(jīng)過(guò)一 段時(shí)間磨損后與皮膚接觸的樣品，按照上述步驟處理后，進(jìn)行腐蝕處理。表面無(wú)涂鍍層，與 皮膚直接接觸的樣品，進(jìn)行釋放處理。選取適當(dāng)容量的玻璃廣口瓶或玻璃試管，向其中加入剛配置的測(cè)試液。按照測(cè)試 樣品面積來(lái)加入測(cè)試液，大約為每lcm2樣品面積加入ImL測(cè)試液。對(duì)于較小面積的樣品， 所加入的測(cè)試液體積應(yīng)不低于0.5mL。蓋緊蓋子。置于30°C烘箱中恒溫靜置168h。一周后，用塑料鑷子從測(cè)試液中取出樣品，并用少量去離子水沖洗樣品，把沖洗液 一起并入測(cè)試液中。把溶液全部轉(zhuǎn)移到合適體積的容量瓶中(需考慮儀器的檢測(cè)靈敏度和 最終溶液中可能含有的鎳濃度來(lái)選擇合適體積的容量瓶)。并加入稀硝酸，使得最終定容到 刻度的容量瓶中硝酸含量約為1%。樣液最終定容體積不低于2mL。將樣品溶液定容至一定體積，10，20，50或100ml，定容后的溶液用等離子體發(fā)射 光譜儀(ICP)或原子吸收光譜儀(AA)進(jìn)行分析檢測(cè)。按照EN1811進(jìn)行結(jié)果計(jì)算出結(jié)果。該磨損試驗(yàn)裝置的控制面板布局如圖4所示，以下是功能鍵的簡(jiǎn)要說(shuō)明
權(quán)利要求一種鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，包括驅(qū)動(dòng)裝置(1)，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置(1)通過(guò)傳動(dòng)軸連接裝填磨料的磨損裝置(2)，所述磨損裝置內(nèi)設(shè)置用于固定待測(cè)樣品的樣品固定裝置(3)，當(dāng)所述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)磨損裝置(2)旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述待測(cè)樣品與磨料接觸進(jìn)行磨損試驗(yàn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置為步進(jìn)電 機(jī)，所述步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸與磨損裝置(2)固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述磨損裝置包括密閉滾 筒(21)，所述密閉滾筒兩端設(shè)置滾筒支架(22)；所述滾筒支架與驅(qū)動(dòng)裝置的傳動(dòng)軸連接； 所述密閉滾筒內(nèi)設(shè)置磨料(23)和樣品固定裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述密閉滾筒為六棱柱形 滾筒，所述六棱柱形滾筒水平裝設(shè)在滾筒支架內(nèi)，并設(shè)置擋板(24)限位固定。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述滾筒支架兩端設(shè)置支 撐滾筒支架的支撐體(4)，所述支撐體(4)與滾筒支架通過(guò)軸承連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述裝置還包括控制裝置 (5)，所述控制裝置包括微處理器和進(jìn)行信息輸入輸出的控制面板(51)，所述微處理器接受 控制面板的指令輸入控制調(diào)配驅(qū)動(dòng)裝置和顯示信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述裝置還包括箱體(6)， 所述驅(qū)動(dòng)裝置、磨損裝置(2)設(shè)置在箱體(6)內(nèi)，所述箱體上設(shè)置防護(hù)門(61)和控制面板 (51)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述防護(hù)門(61)開設(shè)在磨 損裝置(2)的外側(cè)，所述防護(hù)門和箱體上設(shè)置磁感應(yīng)裝置(7)；所述磁感應(yīng)裝置與控制裝置 連接，并根據(jù)防護(hù)門的啟閉控制磨損試驗(yàn)運(yùn)行與否。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，其特征在于所述樣品固定裝置(3) 包括轉(zhuǎn)動(dòng)軸(31)和轉(zhuǎn)動(dòng)軸兩端固定的固定盤(32)；所述固定盤(32)上設(shè)置數(shù)個(gè)定位柱 (33)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種鎳釋放磨損試驗(yàn)裝置，包括驅(qū)動(dòng)裝置(1)，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)裝置(1)通過(guò)傳動(dòng)軸連接裝填磨料的磨損裝置(2)，所述磨損裝置內(nèi)設(shè)置用于固定待測(cè)樣品的樣品固定裝置(3)，當(dāng)所述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)磨損裝置(2)旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述待測(cè)樣品與磨料接觸進(jìn)行磨損試驗(yàn)。該裝置采用EN124722005技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，操作更為簡(jiǎn)便；對(duì)使用者進(jìn)行有效的防護(hù)，大大提高了使用者操作的安全性。
文檔編號(hào)G01N3/56GK201751834SQ201020193710
公開日2011年2月23日 申請(qǐng)日期2010年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月18日
發(fā)明者周劍峰 申請(qǐng)人:蘇州市愛科檢測(cè)技術(shù)有限公司