專利名稱：一種非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于太陽能光伏技術(shù)領(lǐng)域，涉及非晶硅太陽電池，尤其是一種非晶硅太陽 電池激光刻劃修復(fù)方法。
背景技術(shù)：
太陽電池是一種利用“光伏效應(yīng)”原理直接將太陽能轉(zhuǎn)化為電能的半導(dǎo)體光伏器 件，非晶硅太陽電池是一種薄膜電池，在實(shí)際生產(chǎn)工藝中需要經(jīng)過激光刻劃形成內(nèi)部的串 聯(lián)從而形成組件，如圖1所示。其中第三條AL刻劃線起到分割子電池的作用，工藝要求較 高。但在實(shí)際生產(chǎn)中卻易受環(huán)境影響，往往造成一些質(zhì)量缺陷，如存在刻劃線未斷點(diǎn)、刻劃 后存在殘?jiān)葐栴}，這些原因都會(huì)形成子電池短路通道，降低電池的并聯(lián)電阻，從而影響到 電池的開路電壓和功率。因此對存在質(zhì)量問題的電池進(jìn)行有效治療將大大提高電池的性 能，是生產(chǎn)環(huán)節(jié)中重要的一環(huán)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種非晶硅太陽電池激光刻劃測試 修復(fù)的方法。本發(fā)明解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法，修復(fù)方法是首先對子電池按所測電壓 進(jìn)行分檔，每0. 5V為一檔；打開穩(wěn)壓電源，將穩(wěn)壓源正負(fù)接頭分別置于子電池電壓最小值 處，正負(fù)表筆與電池正負(fù)極相反，調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電壓，施加電壓范圍3-6V。而且，對子電池所測電壓的測試方法為(1)將電池板平置于測試平臺(tái)上，打開穩(wěn)定光源；(2)將萬用表置于直流電壓檔，兩表筆分別接在各子電池上，先從左側(cè)進(jìn)行測試；(3)記錄所測電壓值；(4)再從右側(cè)進(jìn)行測試，記錄所測電壓值。(5)比較同側(cè)和異側(cè)測試結(jié)果，數(shù)據(jù)明顯較小的子電池判斷為AL激光刻劃需要修復(fù)。
而且，對于所測電壓比正常電壓低50%以上的子電池，需再重新刻劃一次AL刻劃 線，該操作應(yīng)在激光刻劃操作平臺(tái)上進(jìn)行，而且此線位于第一條AL刻劃線間隔的右側(cè)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是1、本方法針對不同的激光刻劃效果采用分類修復(fù)，一是對于存在嚴(yán)重刻劃質(zhì)量缺 陷的電池板需要對第三條刻劃線進(jìn)行非原位重新刻劃；二是對于子電池電壓稍低與正常水 平的情況進(jìn)行電治療，電治療時(shí)需在子電池兩端施加反向電壓，電治療所用儀器為可調(diào)節(jié) 的穩(wěn)壓電源。2、本發(fā)明采用的電治療方法，在對子電池進(jìn)行電治療時(shí)首先要確定該條子電池電 壓最小點(diǎn)處，在最小點(diǎn)處施加某一數(shù)值反向電壓，而不是簡單的將電壓加于該條子電池末端處，這樣修復(fù)定位更準(zhǔn)，治愈效果更好。3、本發(fā)明在裝有穩(wěn)定光源的平臺(tái)上通過測試其光照下的子電池開路電壓確定激 光刻劃效果，按不同的刻劃程度進(jìn)行采用兩種方法分別進(jìn)行修復(fù)，該修復(fù)方法更有針對性， 定位更準(zhǔn)確，治愈效果更佳，是非晶硅太陽電池生產(chǎn)及研發(fā)過程中重要的質(zhì)量保障。4、本發(fā)明采用分類修復(fù)和子電池單條修復(fù)方法，簡單有效，既提高了不同情況修 復(fù)的針對性，又提高了單條子電池修復(fù)的可靠性，修復(fù)后電池性能可顯著提高，從而大大提 高生產(chǎn)中產(chǎn)品的合格率。


圖1為本發(fā)明太陽電池內(nèi)部串聯(lián)示意圖；圖2為本發(fā)明測試及修復(fù)平臺(tái)結(jié)構(gòu)主視圖；圖3為圖2的側(cè)視圖。
具體實(shí)施例方式下面通過具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳述，以下實(shí)施例只是描述性的，不是限 定性的，不能以此限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。圖1所示的非晶硅太陽電池的內(nèi)部串聯(lián)結(jié)構(gòu)示意圖，三條激光刻劃線分別為圖1 中TCO刻劃線l、Si刻劃線2和AL刻劃線3，其中第三條AL刻劃線的刻劃效果對電池板性 能影響比較大，易造成子電池之間短路、子電池開路電壓降低，從而直接影響到整個(gè)電池的 性能，因此修復(fù)主要針對該條劃線。下面結(jié)合圖2、圖3來說明本發(fā)明的對AL刻劃線的測試 及修復(fù)方法。測試步驟如下(1)將電池板8平置于測試平臺(tái)5上，打開穩(wěn)定光源6 ；(2)將萬用表7置于直流電壓檔，兩表筆分別接在各子電池9上，先從左側(cè)進(jìn)行測 試；(3)記錄所測電壓值；(4)再從右側(cè)進(jìn)行測試，記錄所測電壓值。(5)比較同側(cè)和異側(cè)測試結(jié)果，數(shù)據(jù)明顯較小的子電池可判斷為AL激光刻劃有問 題，對有問題的子電池從左側(cè)到右側(cè)選取一定步長將整條子電池進(jìn)行測試找到最小電壓點(diǎn) 處。測試完畢后通過結(jié)果分析，將所測電壓比正常電壓低50%以上的子電池，由于刻 劃質(zhì)量嚴(yán)重缺陷需再重新刻劃一次AL線，該操作應(yīng)在激光刻劃操作平臺(tái)上進(jìn)行，而且此線 位于第一條AL刻劃線3的右側(cè)即刻劃線4，不與原線重合，因?yàn)榈谝粭l線融熔冷卻后的殘?jiān)?不易再一次刻斷，影響修復(fù)效果。對于可進(jìn)行電治療的情況，測試完子電池電壓后關(guān)掉光源進(jìn)行修復(fù)。修復(fù)方法 為首先對子電池按所測電壓進(jìn)行分檔，每0. 5V為一檔。打開穩(wěn)壓電源10，將穩(wěn)壓源正負(fù)接頭分別置于子電池電壓最小值處，正負(fù)表筆應(yīng) 與電池正負(fù)極相反，即所加為反向電壓，調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電壓，施加電壓范圍3-6V。定位準(zhǔn)確治愈 效果才更顯著。
權(quán)利要求
1.一種非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法，其特征在于修復(fù)方法是首先對子電池 按所測電壓進(jìn)行分檔，每0. 5V為一檔；打開穩(wěn)壓電源，將穩(wěn)壓源正負(fù)接頭分別置于子電池 電壓最小值處，正負(fù)表筆與電池正負(fù)極相反，調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電壓，施加電壓范圍3-6V。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法，其特征在于對子電池 所測電壓的測試方法為(1)將電池板平置于測試平臺(tái)上，打開穩(wěn)定光源；(2)將萬用表置于直流電壓檔，兩表筆分別接在各子電池上，先從左側(cè)進(jìn)行測試；(3)記錄所測電壓值；(4)再從右側(cè)進(jìn)行測試，記錄所測電壓值。(5)比較同側(cè)和異側(cè)測試結(jié)果，數(shù)據(jù)明顯較小的子電池判斷為AL激光刻劃需要修復(fù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法，其特征在于對于所測 電壓比正常電壓低50%以上的子電池，需再重新刻劃一次AL刻劃線，該操作應(yīng)在激光刻劃 操作平臺(tái)上進(jìn)行，而且此線位于第一條AL刻劃線間隔的右側(cè)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種非晶硅太陽電池激光刻劃修復(fù)方法，修復(fù)方法是首先對子電池按所測電壓進(jìn)行分檔，每0.5V為一檔；打開穩(wěn)壓電源，將穩(wěn)壓源正負(fù)接頭分別置于子電池電壓最小值處，正負(fù)表筆與電池正負(fù)極相反，調(diào)節(jié)穩(wěn)壓電壓，施加電壓范圍3-6V。本發(fā)明在裝有穩(wěn)定光源的平臺(tái)上通過測試其光照下的子電池開路電壓確定激光刻劃效果，按不同的刻劃程度進(jìn)行采用兩種方法分別進(jìn)行修復(fù)，該修復(fù)方法更有針對性，定位更準(zhǔn)確，治愈效果更佳，是非晶硅太陽電池生產(chǎn)及研發(fā)過程中重要的質(zhì)量保障。
文檔編號(hào)G01R31/36GK102148293SQ20101058717
公開日2011年8月10日 申請日期2010年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月14日
發(fā)明者張亞萍, 張鑫 申請人:天津市津能電池科技有限公司