專(zhuān)利名稱(chēng)：可調(diào)式電壓比較電路及可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種可調(diào)式電壓比較電路及可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置，特別是涉及一種持續(xù)根據(jù)檢測(cè)待測(cè)輸出訊號(hào)的電位是否位于一上限參考電壓與一下限參考電壓之間來(lái)檢測(cè)待測(cè)音頻訊號(hào)是否正確運(yùn)作的可調(diào)式電壓比較電路及可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參閱圖1，其為一種一般音頻測(cè)試模塊100的示意圖。如圖1所示，音頻測(cè)試模塊100包含一邏輯測(cè)試機(jī)110及一待測(cè)物組件120。邏輯測(cè)試機(jī)110用來(lái)發(fā)出測(cè)試用的輸入訊號(hào)，并根據(jù)待測(cè)物組件120所回傳的待測(cè)訊號(hào)來(lái)檢驗(yàn)待測(cè)物組件120是否正確的運(yùn)作。一般邏輯測(cè)試機(jī)110會(huì)使用兩種方式來(lái)檢驗(yàn)待測(cè)物組件120。其中一種方式是邏輯測(cè)試機(jī)Iio以其所包含的函數(shù)產(chǎn)生器(Function Generator)產(chǎn)生待測(cè)物組件120內(nèi)集成電路所需的輸入訊號(hào)，并在待測(cè)物組件120產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的輸出訊號(hào)(即待測(cè)訊號(hào))后，邏輯測(cè)試機(jī)110以其所包含的精確量測(cè)單元(Precision Measurement Unit)進(jìn)行量測(cè)與運(yùn)算來(lái)得到量測(cè)值，以檢驗(yàn)待測(cè)物組件120是否正確的運(yùn)作。然而，在邏輯測(cè)試機(jī)110進(jìn)行檢驗(yàn)的過(guò)程中，需要持續(xù)的以中斷anterrupt)來(lái)轉(zhuǎn)交控制權(quán)給函式產(chǎn)生器與精確量測(cè)單元以進(jìn)行重復(fù)設(shè)定，以產(chǎn)生不同的輸入訊號(hào)；如此一來(lái)，在邏輯測(cè)試機(jī)110內(nèi)部所進(jìn)行的測(cè)試過(guò)程無(wú)法同步，且在上述持續(xù)產(chǎn)生中斷的過(guò)程中也會(huì)浪費(fèi)大量的測(cè)試時(shí)間，而增加許多測(cè)試成本。另外一種方式是僅使用邏輯測(cè)試機(jī)110內(nèi)的函數(shù)產(chǎn)生器做輸入訊號(hào)與待測(cè)訊號(hào)相關(guān)的輸出比對(duì)，其中函數(shù)產(chǎn)生器內(nèi)部包含有比較器來(lái)進(jìn)行比對(duì)的工作。由于待測(cè)物組件 120可使用不同的增益(Gain)產(chǎn)生不同電位范圍的電壓，因此需要針對(duì)不同電位范圍的電壓設(shè)定其可正確運(yùn)作的上限/下限電壓；換言之，在邏輯測(cè)試機(jī)110進(jìn)行檢驗(yàn)的過(guò)程中，需要不斷的重新設(shè)定該上限/下限電壓，并加載函數(shù)產(chǎn)生器包含的比較器中，以與待測(cè)電壓進(jìn)行比較，因此在反復(fù)設(shè)定與加載過(guò)程中也會(huì)耗費(fèi)大量的測(cè)試時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明揭示一種可調(diào)式電壓比較電路。該可調(diào)式電壓比較電路包含一上限參考電壓模塊、一下限參考電壓模塊、及一比較模塊。該上限參考電壓模塊接收自一邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的一上限參考訊號(hào)，并根據(jù)該上限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一上限參考電壓。該下限參考電壓模塊接收自該邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的一下限參考訊號(hào)，并根據(jù)該下限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一下限參考電壓。該比較模塊耦合于該上限參考電壓模塊與該下限參考電壓模塊之間，藉以檢測(cè)一待測(cè)訊號(hào)的電位是否位于該上限參考電壓與該下限參考電壓之間。本發(fā)明還揭示一種可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置。該可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置包含一邏輯測(cè)試機(jī)及一可調(diào)式電壓比較電路。該邏輯測(cè)試機(jī)提供一輸入訊號(hào)至一待測(cè)物組件，藉以檢測(cè)該待測(cè)物組件。該可調(diào)式電壓比較電路耦合于該邏輯測(cè)試機(jī)與該待測(cè)物組件之間，接收自該邏輯測(cè)試機(jī)傳送的一上限參考訊號(hào)與一下限參考訊號(hào)，并接收自該待測(cè)物組件所傳送的一待測(cè)訊號(hào)。該可調(diào)式電壓比較電路具有一上限參考電壓模塊、一下限參考電壓模塊以及一比較模塊。該上限參考電壓模塊用來(lái)接收自該邏輯測(cè)試機(jī)傳送的該上限參考訊號(hào)，并用來(lái)根據(jù)該上限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一上限參考電壓。該下限參考電壓模塊用來(lái)接收自該邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的該下限參考訊號(hào)，并根據(jù)該下限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一下限參考電壓。該比較模塊耦合于該上限參考電壓模塊與該下限參考電壓模塊之間，藉以檢測(cè)該待測(cè)訊號(hào)的電位是否位于該上限參考電壓與該下限參考電壓之間。


圖1為一種一般音頻測(cè)試模塊的示意圖。圖2為本發(fā)明所揭示的一可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置的簡(jiǎn)略示意圖。圖3、4、5為圖2所示可調(diào)式電壓比較電路的詳細(xì)運(yùn)作示意圖。圖6為圖3所示比較模塊的詳細(xì)示意圖。圖7表示圖3所示的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置在針對(duì)單一待測(cè)物組件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，動(dòng)態(tài)的對(duì)不同電位范圍的待測(cè)電壓設(shè)定不同上限參考訊號(hào)及下限參考訊號(hào)的電位。附圖符號(hào)說(shuō)明
100音頻測(cè)試模塊
110邏輯測(cè)試機(jī)
120待測(cè)物組件
200可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置
210可調(diào)式電壓比較電路
220,230電壓參考模塊
221,231移位寄存器
222,232計(jì)數(shù)器
223、225、233、235開(kāi)關(guān)
224,234存儲(chǔ)器
226,236數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器
227,237緩沖器
240比較模塊
242,244比較器
246與邏輯門(mén)
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參閱圖2，其為本發(fā)明所揭示的一可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置的簡(jiǎn)略示意圖。如圖2所示，可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置200包含一邏輯測(cè)試機(jī)110及一可調(diào)式電壓比較電路210 ；在進(jìn)行對(duì)待測(cè)物組件120的測(cè)試時(shí)，邏輯測(cè)試機(jī)110會(huì)發(fā)出一輸入訊號(hào)至待測(cè)物組件120，以使待測(cè)物組件120可根據(jù)該輸入訊號(hào)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一待測(cè)訊號(hào)并輸出至可調(diào)式電壓比較電路210 內(nèi)，藉此檢測(cè)該待測(cè)物組件；除此以外，邏輯測(cè)試機(jī)110會(huì)同時(shí)對(duì)應(yīng)該輸入訊號(hào)的“強(qiáng)度” 所指定的內(nèi)容，發(fā)出一上限參考訊號(hào)及一下限參考訊號(hào)至可調(diào)式電壓比較電路210，如此一來(lái)，可調(diào)式電壓比較電路210可根據(jù)該上限參考訊號(hào)及該下限參考訊號(hào)來(lái)產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的上/下限范圍，并據(jù)以檢測(cè)該待測(cè)訊號(hào)，以確認(rèn)待測(cè)物組件120的運(yùn)作是否正確。請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D3，其為圖2所示可調(diào)式電壓比較電路210的詳細(xì)示意圖。如圖3所示，可調(diào)式電壓比較電路210包含一上限參考電壓模塊220、一下限參考電壓模塊230、及至少一個(gè)比較模塊M0。上限參考電壓模塊220用來(lái)根據(jù)該上限參考訊號(hào)產(chǎn)生一上限參考電壓V0H，且下限參考電壓模塊230用來(lái)根據(jù)該下限參考訊號(hào)產(chǎn)生一下限參考電壓VOL，其中該上限參考電壓VOH的電位高于該下限參考電壓VOL的電位；比較模塊240會(huì)將該上限參考電壓V0H與該下限參考電壓VOL與該待測(cè)訊號(hào)作比較，并根據(jù)該待測(cè)訊號(hào)的電位是否位于該上限參考電壓VOH與該下限參考電壓VOL的電位之間，來(lái)決定該待測(cè)訊號(hào)的電位是否正確，并據(jù)此判定待測(cè)物組件120是否正常運(yùn)作。上限參考電壓模塊220包含一移位寄存器221、一計(jì)數(shù)器222、二開(kāi)關(guān)223與225、 一存儲(chǔ)器224、一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器226、及一緩沖器227。下限參考電壓模塊230包含一移位寄存器231、一計(jì)數(shù)器232、二開(kāi)關(guān)233與235、一存儲(chǔ)器234、一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器236、及一緩沖器237。如圖4所示，為了配合存儲(chǔ)器2M的儲(chǔ)存格式，該上限參考訊號(hào)需要由原本以連續(xù)的位串表示方式轉(zhuǎn)換為分散的平行儲(chǔ)存格式以方便后來(lái)的讀取，亦即對(duì)該上限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換(Serial-to-Parallel DataTransformation)。因此，移位寄存器 221與開(kāi)關(guān)223共同將該上限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并寄存于存儲(chǔ)器224，且在進(jìn)行該序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)，需要藉由計(jì)數(shù)器222的計(jì)數(shù)來(lái)記錄該上限參考訊號(hào)寄存在存儲(chǔ)器2M上的寄存地址。同理，該下限參考訊號(hào)亦以同樣的方式，藉由移位寄存器231、開(kāi)關(guān)233、與計(jì)數(shù)器232的運(yùn)作寄存在存儲(chǔ)器234上的寄存地址。如圖5所示，當(dāng)之后可調(diào)式電壓比較電路210接收到該待測(cè)訊號(hào)時(shí)，可調(diào)式電壓比較電路210會(huì)先將該上限參考訊號(hào)及該下限參考訊號(hào)的數(shù)值各自由存儲(chǔ)器2M及234讀出以加載至單一比較模塊對(duì)0。以該上限參考訊號(hào)來(lái)說(shuō)，上限參考電壓模塊220會(huì)根據(jù)計(jì)數(shù)器222的計(jì)數(shù)找出該上限參考訊號(hào)被儲(chǔ)存于存儲(chǔ)器224的寄存地址，以讀取該上限參考訊號(hào)的數(shù)值(亦即一電位值)并通過(guò)開(kāi)關(guān)225輸出至數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器226，接著數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器2 會(huì)將該上限參考訊號(hào)的數(shù)值轉(zhuǎn)為模擬的一上限參考電壓V0H，并輸出至用來(lái)儲(chǔ)存模擬電壓的緩沖器227，其中緩沖器227是為了能驅(qū)動(dòng)多個(gè)比較模塊240所設(shè)置。因此， 通過(guò)緩沖器227，可根據(jù)實(shí)際的應(yīng)用擴(kuò)充比較模塊MO的數(shù)目。最后比較模塊240會(huì)由緩沖器227讀取到上限參考電壓V0H。同理，下限參考電壓模塊230的操作與上限參考電壓模塊220相似，由該下限參考訊號(hào)經(jīng)過(guò)數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換的一下限參考電壓VOL亦通過(guò)存儲(chǔ)器 234、開(kāi)關(guān)235、數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器236、及緩沖器237的運(yùn)作被讀取至同一比較模塊M0。請(qǐng)參閱圖6，其為圖3所示比較模塊240的詳細(xì)示意圖。如圖6所示，比較模塊240 包含比較器242及244、及一與邏輯門(mén)(AND Gate) 2460比較器242的一正輸入端是由電壓參考模塊220接收上限參考電壓V0H，且比較器242的一負(fù)輸入端是由待測(cè)物組件120接收該待測(cè)訊號(hào)。比較器244的一正輸入端亦由待測(cè)物組件120接收該待測(cè)訊號(hào)，且比較器224 的一負(fù)輸入端是由電壓參考模塊230接收下限參考電壓VOL。與邏輯門(mén)246的一第一輸入端耦接于比較器對(duì)2的一輸出端，且與邏輯門(mén)246的一第二輸入端耦接于比較器M4的一輸出端。當(dāng)比較模塊240接收到該待測(cè)訊號(hào)時(shí)，該待測(cè)訊號(hào)會(huì)在比較器242與上限參考電壓VOH進(jìn)行比較，且當(dāng)該待測(cè)訊號(hào)的電位低于上限參考電壓VOH的電位時(shí)，比較器242會(huì)輸出高電位的輸出訊號(hào)至與邏輯門(mén)M6 ；同理，該待測(cè)訊號(hào)亦在比較器244與下限參考電壓 VOL進(jìn)行比較，且當(dāng)該待測(cè)訊號(hào)的電位高于下限參考電壓VOL時(shí)，比較器244亦輸出一高電位的輸出訊號(hào)至與邏輯門(mén)M6。當(dāng)與邏輯門(mén)246同時(shí)接收到二個(gè)高電位的輸出訊號(hào)時(shí)，便會(huì)輸出一個(gè)高電位的輸出訊號(hào)，以表示該待測(cè)訊號(hào)的電位目前位于上限參考電壓VOH與下限參考電壓VOL之間，亦即目前待測(cè)物組件120處于正確運(yùn)作的狀態(tài)。反之，當(dāng)比較器242與 244中至少一個(gè)輸出低電位的訊號(hào)時(shí)，即表示該待測(cè)訊號(hào)的電位高過(guò)了上限參考電壓V0H 及/或低于下限參考電壓VOL，使得與邏輯門(mén)246輸出低電位的輸出訊號(hào)來(lái)表示目前待測(cè)物組件120并未處于正確運(yùn)作的情況。為使可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置200可同時(shí)檢測(cè)多個(gè)待測(cè)物組件120，因此可調(diào)式電壓比較電路210可藉由單一緩沖器驅(qū)動(dòng)一個(gè)以上的比較模塊M0，且所述比較模塊MO各自耦接于單一待測(cè)物組件120，以接收單一待測(cè)訊號(hào)進(jìn)行上述的比較與檢測(cè)。舉例來(lái)說(shuō)，圖5所示的緩沖器237、238各自可驅(qū)動(dòng)復(fù)數(shù)個(gè)比較模塊M0。請(qǐng)參閱圖7，其用來(lái)表示圖3所示的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置200在針對(duì)單一待測(cè)物組件120進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，動(dòng)態(tài)地對(duì)不同電位范圍的待測(cè)電壓設(shè)定不同上限參考訊號(hào)VOH及下限參考訊號(hào)VOL的電位，其中電位V0H1、V0H2、V0H3、V0H4代表上限參考訊號(hào)VOH被設(shè)定的不同電位，而電位VOLl、V0L2、V0L3、V0L4代表下限參考訊號(hào)VOL被設(shè)定的不同電位。如圖 7所示，當(dāng)可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置200收到不同電位范圍的待測(cè)訊號(hào)時(shí)，可藉由圖3所示可調(diào)式電壓比較電路210的輔助，動(dòng)態(tài)地由存儲(chǔ)器2 及234讀出不同電位范圍的上限參考訊號(hào)VOH及下限參考訊號(hào)V0L，亦即電位V0H1-V0H4與V0L1-V0L4，且不需如現(xiàn)有技術(shù)般需要在邏輯測(cè)試機(jī)110上持續(xù)產(chǎn)生中斷來(lái)調(diào)整上限參考電壓及下限參考電壓，因此可節(jié)省許多不必要的中斷與控制權(quán)交換時(shí)間。除此以外，在測(cè)試時(shí)，圖4所示將該上限參考訊號(hào)及該下限參考訊號(hào)的內(nèi)容加載于存儲(chǔ)器2M、234上的寄存地址的過(guò)程，可僅實(shí)施一次；且之后可如圖5所示，由存儲(chǔ)器 224、234上不同寄存地址，讀取出該上限參考訊號(hào)與該下限參考訊號(hào)所代表的不同電壓值， 以持續(xù)進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明揭示一種可調(diào)式電壓比較電路及應(yīng)用該可調(diào)式電壓比較電路的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置。在邏輯測(cè)試機(jī)發(fā)出輸入訊號(hào)至待測(cè)物組件的同時(shí)，發(fā)出參考上/下限觸發(fā)訊號(hào)至本發(fā)明揭示的可調(diào)式電壓比較電路中，并在之后可調(diào)式電壓比較電路接收到待測(cè)物組件回傳的待測(cè)訊號(hào)時(shí)，由可調(diào)式電壓比較電路讀取參考上/下限訊號(hào)對(duì)應(yīng)的上限參考電壓與下限參考電壓進(jìn)行比較。如此一來(lái)，當(dāng)檢測(cè)出待測(cè)訊號(hào)的電位位于上限參考電壓與下限參考電壓之間時(shí)，便可確保待測(cè)物組件的正常運(yùn)作，且省去大量不必要的中斷時(shí)間。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明的權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種可調(diào)式電壓比較電路，包含一上限參考電壓模塊，接收自一邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的一上限參考訊號(hào)，并根據(jù)該上限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一上限參考電壓；一下限參考電壓模塊，接收自該邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的一下限參考訊號(hào)，并根據(jù)該下限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一下限參考電壓；以及一比較模塊，耦合于該上限參考電壓模塊與該下限參考電壓模塊之間，藉以檢測(cè)一待測(cè)訊號(hào)的電位是否位于該上限參考電壓與該下限參考電壓之間。
2.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)式電壓比較電路，其中所述的上限參考電壓模塊包括一第一存儲(chǔ)器與一第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，其中該第一存儲(chǔ)器用來(lái)寄存該上限參考訊號(hào)，其中該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，用來(lái)根據(jù)該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值產(chǎn)生該上限參考電壓；以及其中該下限參考電壓模塊包括一第二存儲(chǔ)器與一第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，其中該第二存儲(chǔ)器用來(lái)寄存一下限參考訊號(hào)，其中該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，用來(lái)根據(jù)該下限訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值產(chǎn)生該下限參考電壓。
3.如權(quán)利要求2所述的可調(diào)式電壓比較電路， 其中該上限參考電壓模塊還包含一第一移位寄存器； 一第一計(jì)數(shù)器；以及一第一開(kāi)關(guān)；其中該第一移位寄存器與該第一開(kāi)關(guān)共同將該上限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并寄存于該第一存儲(chǔ)器，且該第一計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)數(shù)以記錄該上限參考訊號(hào)寄存在該第一存儲(chǔ)器上的寄存地址；其中該下限參考電壓模塊還包含 一第二移位寄存器； 一第二計(jì)數(shù)器；以及一第二開(kāi)關(guān)；其中該第二移位寄存器與該第二開(kāi)關(guān)共同將該下限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并寄存于該第二存儲(chǔ)器，且該第二計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)數(shù)以記錄該下限參考訊號(hào)寄存在該第二存儲(chǔ)器上的寄存地址。
4.如權(quán)利要求3所述的可調(diào)式電壓比較電路， 其中該上限參考電壓模塊還包含一第三開(kāi)關(guān)，用來(lái)根據(jù)該第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，由該第一存儲(chǔ)器中讀取該上限參考訊號(hào)并傳輸至該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器；以及一第一緩沖器，用來(lái)由該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器讀取并寄存該上限參考電壓； 其中該下限參考電壓模塊還包含一第四開(kāi)關(guān)，用來(lái)根據(jù)該第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，由該第二存儲(chǔ)器中讀取該下限參考訊號(hào)并傳輸至該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器；以及一第二緩沖器，用來(lái)由該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器讀取并寄存該第二參考電壓。
5.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)式電壓比較電路，其中該比較模塊包含一第一比較器，其一正輸入端由該上限參考電壓模塊接收該上限參考電壓，且該第一比較器的一負(fù)輸入端接收該待測(cè)訊號(hào)；一第二比較器，其一正輸入端接收該待測(cè)訊號(hào)，且該第二比較器的一負(fù)輸入端由該下限參考電壓模塊接收該第二參考電壓；以及一與邏輯門(mén)，其一第一輸入端耦接于該第一比較器的一輸出端，且該與邏輯門(mén)的一第二輸入端耦接于該第二比較器的一輸出端。
6.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)式電壓比較電路，其中該上限參考訊號(hào)及該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)一給定輸入電壓、一給定增益、一給定誤差、及一給定參考電壓所計(jì)算；其中該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)如下公式計(jì)算Gain+R.VOH = 10 "2^ * (VIN - VREF) + VREF ；其中該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)如下公式計(jì)算Gain-RVOL 二 10 ^r" * (VIN — VREF) + VREF ；以及VOH為該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值，VOL為該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值，Gain 為該給定增益，R為該給定誤差，VREF為該給定參考電壓，且VIN為該給定輸入電壓。
7.一種可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置，包含一邏輯測(cè)試機(jī)，提供一輸入訊號(hào)至一待測(cè)物組件，藉以檢測(cè)該待測(cè)物組件；以及一可調(diào)式電壓比較電路，耦合于該邏輯測(cè)試機(jī)與該待測(cè)物組件之間，接收自該邏輯測(cè)試機(jī)傳送的一上限參考訊號(hào)與一下限參考訊號(hào)，并接收自該待測(cè)物組件所傳送的一待測(cè)訊號(hào)；其中該可調(diào)式電壓比較電路具有一上限參考電壓模塊、一下限參考電壓模塊以及一比較模塊；其中該上限參考電壓模塊用來(lái)接收自該邏輯測(cè)試機(jī)傳送的該上限參考訊號(hào)，并用來(lái)根據(jù)該上限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一上限參考電壓；其中該下限參考電壓模塊用來(lái)接收自該邏輯測(cè)試機(jī)所傳送的該下限參考訊號(hào)，并根據(jù)該下限參考訊號(hào)以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的一下限參考電壓；以及其中該比較模塊耦合于該上限參考電壓模塊與該下限參考電壓模塊之間，藉以檢測(cè)該待測(cè)訊號(hào)的電位是否位于該上限參考電壓與該下限參考電壓之間。
8.如權(quán)利要求7所述的可調(diào)式電壓比較電路，其中該上限參考電壓模塊包括一第一存儲(chǔ)器與一第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，該第一存儲(chǔ)器用來(lái)寄存該上限參考訊號(hào)，且該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器用來(lái)根據(jù)該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值產(chǎn)生該上限參考電壓；以及其中該下限參考電壓模塊包括一第二存儲(chǔ)器與一第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，該第二存儲(chǔ)器用來(lái)寄存一下限參考訊號(hào)，該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器用來(lái)根據(jù)該下限訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值產(chǎn)生該下限參考電壓。
9.如權(quán)利要求8所述的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置， 其中該上限參考電壓模塊還包含一第一移位寄存器； 一第一計(jì)數(shù)器；以及一第一開(kāi)關(guān)；其中該第一移位寄存器與該第一開(kāi)關(guān)共同將該上限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并寄存于該第一存儲(chǔ)器，且該第一計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)數(shù)以記錄該上限參考訊號(hào)寄存在該第一存儲(chǔ)器上的寄存地址；其中該下限參考電壓模塊還包含 一第二移位寄存器； 一第二計(jì)數(shù)器；以及一第二開(kāi)關(guān)；其中該第二移位寄存器與該第二開(kāi)關(guān)共同將該下限參考訊號(hào)進(jìn)行序列至平行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并寄存于該第二存儲(chǔ)器，且該第二計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)數(shù)以記錄該下限參考訊號(hào)寄存在該第二存儲(chǔ)器上的寄存地址。
10.如權(quán)利要求8所述的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置， 其中該上限參考電壓模塊還包含一第三開(kāi)關(guān)，用來(lái)根據(jù)該第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，由該第一存儲(chǔ)器中讀取該上限參考訊號(hào)并傳輸至該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器；以及一第一緩沖器，用來(lái)由該第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器讀取并寄存該第一參考電壓； 其中該下限參考電壓模塊還包含一第四開(kāi)關(guān)，用來(lái)根據(jù)該第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，由該第二存儲(chǔ)器中讀取該下限參考訊號(hào)并傳輸至該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器；以及一第二緩沖器，用來(lái)由該第二數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器讀取并寄存該第二參考電壓。
11.如權(quán)利要求7所述的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置， 其中該比較模塊包含一第一比較器，其一正輸入端由該上限參考電壓模塊接收該第一參考電壓，且該第一比較器的一負(fù)輸入端接收該待測(cè)訊號(hào)；一第二比較器，其一正輸入端接收該待測(cè)訊號(hào)，且該第二比較器的一負(fù)輸入端由該下限參考電壓模塊接收該第二參考電壓；以及一與邏輯門(mén)，其一第一輸入端耦接于該第一比較器的一輸出端，且該與邏輯門(mén)的一第二輸入端耦接于該第二比較器的一輸出端。
12.如權(quán)利要求7所述的可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置，其中該上限參考訊號(hào)及該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)一給定輸入電壓、一給定增益、一給定誤差、及一給定參考電壓所計(jì)算；其中該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)如下公式計(jì)算Gain+R.VOH = 10 * (VIN - VREF) + VREF ；其中該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值根據(jù)如下公式計(jì)算(Gain-R、VOL = 10 * (VIN - VREF) + VREF ；VOH為該上限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值，VOL為該下限參考訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的電位值，Gain為該給定增益，R為該給定誤差，VREF為該給定參考電壓，且VIN為該給定輸入電壓。
全文摘要
在可調(diào)式電壓檢測(cè)裝置中，在邏輯測(cè)試機(jī)發(fā)出輸入訊號(hào)至待測(cè)物組件的同時(shí)，發(fā)出參考上/下限訊號(hào)至可調(diào)式電壓比較電路中，并在之后可調(diào)式電壓比較電路接收到待測(cè)物組件回傳的待測(cè)訊號(hào)時(shí)，由可調(diào)式電壓比較電路讀取參考上/下限訊號(hào)對(duì)應(yīng)的上限參考電壓與下限參考電壓進(jìn)行比較。如此一來(lái)，當(dāng)檢測(cè)出待測(cè)訊號(hào)的電位位于上限參考電壓與下限參考電壓之間時(shí)，便可確定待測(cè)物組件處于正確運(yùn)作狀態(tài)，且省去大量不必要的中斷時(shí)間。
文檔編號(hào)G01R19/165GK102269778SQ20101019903
公開(kāi)日2011年12月7日 申請(qǐng)日期2010年6月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月7日
發(fā)明者吳永裕, 李揚(yáng)漢 申請(qǐng)人:普誠(chéng)科技股份有限公司