專利名稱：天線測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種天線測試治具。
背景技術(shù)：
天線作為移動通信的關(guān)鍵組件之一，在研發(fā)過程中或出廠前均需要進行參數(shù)測試?，F(xiàn)有技術(shù)中的天線測試過程如下將一待測天線放置至屏蔽箱內(nèi)，該待測天線的饋點通過導(dǎo)線或電纜線電連接至天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。然而此種測試方法，一臺測試裝置一次只能測試一個待測天線，測試效率低。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種提高測試效率的天線測試治具。一種天線測試治具，其包括一測試件、一支撐件和一承載件。該測試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊，每一轉(zhuǎn)接口與一對應(yīng)的探針電連接；該支撐件上設(shè)置一卡塊； 該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽，該滑塊滑動設(shè)置在該滑槽內(nèi)，該卡塊滑動設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。一種天線測試治具，其包括一測試件、一支撐件和一承載件。該測試件上設(shè)置若干探針和若干轉(zhuǎn)接口，每一轉(zhuǎn)接口與一對應(yīng)的探針電連接；該測試件滑動設(shè)置在該承載件上， 該支撐件設(shè)置在該承載件上用于放置待測天線。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的天線測試治具可以同時測試多個天線，節(jié)省了測試時間，提高了天線測試效率。


圖1是本發(fā)明一較佳實施方式的天線測試治具的分解示意圖；圖2是圖1所示的天線測試治具的組裝示意圖。主要元件符號說明天線測試治具 100測試件11頂面111轉(zhuǎn)接口112第一側(cè)面113卡合部114第二側(cè)面115探針117滑塊119支撐件13第一表面13具體實施例方式請參閱圖1，本發(fā)明一較佳實施方式的天線測試治具100包括一測試件11、一支撐件13和一承載件15。該測試件11和該支撐件13均滑動設(shè)置于該承載件15上。該測試件11整體大致呈一矩形狀，其包括一頂面111及分別與該頂面111垂直連接的一第一側(cè)面113和一第二側(cè)面115。該第一側(cè)面113與該第二側(cè)面115相對設(shè)置。該頂面111上設(shè)置一卡合部114，用于與外部自動化升降裝置(如氣缸等)卡合連接。該測試件11的與該頂面111相對的底面上設(shè)置若干探針117。該第一側(cè)面113上開設(shè)若干轉(zhuǎn)接口 112，每一轉(zhuǎn)接口 112的內(nèi)壁上均設(shè)置一與一探針117電連接的導(dǎo)電觸點(圖未示)。每一轉(zhuǎn)接口 112與一探針117相對應(yīng)。該第二側(cè)面115上設(shè)置一條狀滑塊119。在本實施例中，該轉(zhuǎn)接口 112與該探針117的數(shù)量均為4個。該支撐件13大致呈一矩形板狀，其包括一第一表面131和一第二表面133。該第一表面131與該第二表面133相對設(shè)置。該第二表面133上設(shè)置一條狀卡塊135。該承載件15包括一基板151和一與該基板151垂直設(shè)置的一滑動部155。該滑動部155包括一與該基板151垂直的一配合面157，該配合面157上開設(shè)一滑槽159。該滑槽 159的形狀與該滑塊119相對應(yīng)。該基板151上平行間隔設(shè)置二條型凸塊153，該二間隔凸 ±夬153之間形成了一導(dǎo)向槽152。該導(dǎo)向槽152的形狀和該卡塊135相對應(yīng)。請結(jié)合參閱圖2，該天線測試治具100的組裝過程如下將該滑塊119滑入該滑槽159中。該滑槽159與該滑塊119的卡合較緊，無外力作用于該測試件11時，該滑塊119與該滑槽159卡合固定；當外部自動化升降裝置對該測試件11施加外力時，該滑塊119在該滑槽159內(nèi)滑動。將若干待測天線20放置在該第一表面131上，使該卡塊135滑入該導(dǎo)向槽152內(nèi)。該若干待測天線20與該若干探針117 —一對位。如此，完成該天線測試治具100的組裝。該天線測試治具100工作時，首先將該卡合部114與外部自動化升降裝置(如氣紅等)卡合連接，每一轉(zhuǎn)接口 112通過電纜線連接至天線測試裝置，如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。 然后在該天線測試治具100外圍套設(shè)屏蔽箱或者圍設(shè)鍍有吸波材料的屏蔽板，啟動該外部自動化升降裝置。該測試件11在該外部自動化升降裝置的作用下沿該滑槽159滑動，該若干探針117與該若干待測天線20的饋點21 —一點接。該待測天線20的測試數(shù)據(jù)通過該
133 135 15
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152
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155
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159 20 21
表面
件
部面
第二卡塊承載基板導(dǎo)向: 凸塊滑動. 配合滑槽天線饋點探針117、該轉(zhuǎn)接口 112傳送至天線測試裝置。本發(fā)明的天線測試治具100結(jié)構(gòu)簡單，組裝方便，且可以同時測試多個天線，節(jié)省了測試時間，提高了天線測試效率?？梢岳斫猓摐y試件11也可以在人工作用下滑動。可以理解，該轉(zhuǎn)接口 112可以設(shè)置在該測試件11的任一表面上，只需方便與天線測試裝置連接即可。可以理解，該凸塊153可以省略，在該基板151上直接開設(shè)該導(dǎo)向槽152。可以理解，該探針117和該轉(zhuǎn)接口 112的數(shù)量不限于本實施例中的數(shù)量，可以根據(jù)需要相應(yīng)的增加或減少。
權(quán)利要求
1.一種天線測試治具，其特征在于該天線測試治具包括一測試件、一支撐件和一承載件，該測試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊，每一轉(zhuǎn)接口與一對應(yīng)的探針電連接；該支撐件上設(shè)置一卡塊；該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽，該滑塊滑動設(shè)置在該滑槽內(nèi)，該卡塊滑動設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的天線測試治具，其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動部，該滑動部上開設(shè)該滑槽，該基板上開設(shè)該導(dǎo)向槽。
3.如權(quán)利要求1所述的天線測試治具，其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動部，該滑動部上開設(shè)該滑槽，該基板上平行間隔設(shè)置二條型凸塊，該二間隔凸塊之間形成該導(dǎo)向槽。
4.如權(quán)利要求2或3所述的天線測試治具，其特征在于該支撐件包括一用于放置待測天線的第一表面和一與該第一表面相對設(shè)置的第二表面，該卡塊設(shè)置在該第二表面上。
5.如權(quán)利要求1所述的天線測試治具，其特征在于該測試件包括相對設(shè)置的一第一側(cè)面、一第二側(cè)面和一底面，該第一側(cè)面上開設(shè)該若干轉(zhuǎn)接口，該滑塊設(shè)置在該第二側(cè)面上，該若干探針設(shè)置在該底面上。
6.如權(quán)利要求1所述的天線測試治具，其特征在于該測試件上設(shè)置一卡合部，該卡合部用于與外部自動化升降裝置卡合連接。
7.如權(quán)利要求1所述的天線測試治具，其特征在于該探針和該轉(zhuǎn)接口的個數(shù)為4。
8.一種天線測試治具，其特征在于該天線測試治具包括一測試件、一支撐件和一承載件，該測試件上設(shè)置若干探針和若干轉(zhuǎn)接口，每一轉(zhuǎn)接口與一對應(yīng)的探針電連接；該測試件滑動設(shè)置在該承載件上，該支撐件設(shè)置在該承載件上用于放置待測天線。
9.如權(quán)利要求8所述的天線測試治具，其特征在于該測試件上設(shè)置一滑塊，該支撐件上設(shè)置一卡塊；該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽，該滑塊滑動設(shè)置在該滑槽內(nèi)，該卡塊滑動設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。
10.如權(quán)利要求9所述的天線測試治具，其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動部，該滑動部上開設(shè)該滑槽，該基板上開設(shè)該導(dǎo)向槽。
全文摘要
本發(fā)明提供一種天線測試治具，其包括一測試件、一支撐件和一承載件。該測試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊，每一轉(zhuǎn)接口與一對應(yīng)的探針電連接；該支撐件上設(shè)置一卡塊；該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽，該滑塊滑動設(shè)置在該滑槽內(nèi)，該卡塊滑動設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。本發(fā)明的天線測試治具可以同時測試多個天線，提高了天線測試效率。
文檔編號G01R29/00GK102262186SQ20101018595
公開日2011年11月30日 申請日期2010年5月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月28日
發(fā)明者姚穎, 張歌, 李展, 熊鄴 申請人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司