專(zhuān)利名稱(chēng)：線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)和線路檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及平板顯示技術(shù)，特別涉及平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)和線路檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
隨著顯示器技術(shù)快速的進(jìn)步與演進(jìn)，傳統(tǒng)的陰極射線管顯示器(CathodeRay Tube, CRT)已逐漸被淘汰，取而代之的是以液晶顯示器(Liquid CrystalDisplay, LCD)為代表的平板電視。由于液晶顯示器具有顯示質(zhì)量高、能源消耗低及無(wú)輻射等優(yōu)點(diǎn)，使得液晶顯示器大量地被應(yīng)用于移動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、筆記本計(jì)算機(jī)、數(shù)碼攝影機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、計(jì)算機(jī)屏幕以及液晶電視等通信、信息或消費(fèi)性電子產(chǎn)品之中。液晶顯示裝置具有由矩陣狀的顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分。所述有效顯示部分具有沿顯示像素的行方向延伸的掃描線、沿顯示像素的列方向延伸的數(shù)據(jù)線、配置在掃描線與數(shù)據(jù)線的交叉部分附近的開(kāi)關(guān)元件、以及與開(kāi)關(guān)元件連接的像素電極等。但是在制造液晶顯示裝置的工藝過(guò)程中，大量設(shè)置的掃描線和數(shù)據(jù)線總會(huì)因?yàn)橐恍┥a(chǎn)缺陷，例如成膜質(zhì)量的好壞、環(huán)境的潔凈度、劃傷、設(shè)備等，造成線路斷點(diǎn)。例如，若數(shù)據(jù)線出現(xiàn)斷點(diǎn)缺陷， 則與所述斷點(diǎn)的數(shù)據(jù)線相對(duì)應(yīng)的像素電極就不能得到正常的數(shù)據(jù)信號(hào)，從而形成顯示面板的顯示缺陷，降低圖像的顯示品質(zhì)。因此，液晶面板廠商會(huì)對(duì)液晶顯示裝置的半成品或成品進(jìn)行電性檢測(cè)，檢出其中的不良品，防止大規(guī)模不良的發(fā)生以及不良品流入下一工序。請(qǐng)參閱圖1，顯示現(xiàn)有技術(shù)中常見(jiàn)的一種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)。如圖1所示，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)應(yīng)用于液晶顯示裝置的陣列基板上，在所述陣列基板上至少包括沿顯示像素的行方向延伸的掃描線(未在圖式中顯示)；沿顯示像素的列方向延伸的數(shù)據(jù)線，在圖1中分別以 D” D2、D3> D4、D5、D6 作標(biāo)示。所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括短路棒，在圖1中分別以101、102、103作標(biāo)示的短路棒； 提供數(shù)據(jù)線與短路棒連接的過(guò)孔結(jié)構(gòu)，具體來(lái)講，數(shù)據(jù)線D1A4分別通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V1J4與短路棒101連接，數(shù)據(jù)線D2、D5分別通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V2、V5與短路棒102連接，數(shù)據(jù)線D3、D6分別通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3、V6與短路棒103連接；分別與短路棒101、102、103連接的測(cè)試端子104、 105,106ο應(yīng)用所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)時(shí)，通過(guò)在測(cè)試端子104、105、106上施加特定電壓信號(hào)， 讓液晶顯示裝置顯示例如紅色、綠色、藍(lán)色、灰色或黑色等畫(huà)面，以檢測(cè)各數(shù)據(jù)線是否能正
常工作。易知，在制造工藝過(guò)程中，由于靜電過(guò)大，會(huì)將過(guò)孔結(jié)構(gòu)處的導(dǎo)電介質(zhì)(銦錫金屬氧化物或銦鋅金屬氧化物)燒毀；或者由于線路的劃傷，如圖ι所示數(shù)據(jù)線A在外圍區(qū)域 109的108處出現(xiàn)斷點(diǎn)，就會(huì)出現(xiàn)不良現(xiàn)象。兩者引起的缺陷在這里統(tǒng)稱(chēng)為線缺陷。但利用現(xiàn)有的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)僅能檢測(cè)是否存在有線缺陷，但不能判定所述線缺陷的原因是過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致還是線路劃傷導(dǎo)致的。為確保產(chǎn)品質(zhì)量，一旦檢測(cè)出線缺陷，就將產(chǎn)品予以報(bào)廢(而實(shí)際上過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷，產(chǎn)品沒(méi)有必要報(bào)廢，最終不影響產(chǎn)品的性能)，這樣就會(huì)造成浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)和線路檢測(cè)方法，以解決現(xiàn)有線路修復(fù)技術(shù)中不能判定線缺陷的類(lèi)型而直接將存在線缺陷的產(chǎn)品報(bào)廢導(dǎo)致材料浪費(fèi)成本上升的問(wèn)題。為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上部設(shè)有驅(qū)動(dòng)線，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述驅(qū)動(dòng)線是否存在線缺陷，包括第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒與所述驅(qū)動(dòng)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述驅(qū)動(dòng)線連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線；第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一驅(qū)動(dòng)控制線、第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)、第一驅(qū)動(dòng)線控制端子、第二驅(qū)動(dòng)線短路棒和第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)控制線與所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子相連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第一驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)用于控制驅(qū)動(dòng)線與第二驅(qū)動(dòng)線短路棒的通斷；所述第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線。可選地，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)還包括驅(qū)動(dòng)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二驅(qū)動(dòng)控制線、第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二驅(qū)動(dòng)控制線與所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第二驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)控制所述驅(qū)動(dòng)線與所述第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷?？蛇x地，所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒的數(shù)量為一個(gè)或多個(gè)?？蛇x地，所述過(guò)孔結(jié)構(gòu)包括過(guò)孔和位于所述過(guò)孔內(nèi)的導(dǎo)電介質(zhì)，所述過(guò)孔貫穿第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和驅(qū)動(dòng)線?？蛇x地，所述導(dǎo)電介質(zhì)包括銦錫金屬氧化物或銦鋅金屬氧化物?？蛇x地，所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)包括薄膜晶體管。可選地，所述驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型包括過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷和線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷?？蛇x地，所述驅(qū)動(dòng)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。本發(fā)明另提供一種應(yīng)用于前述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法，所述線路檢測(cè)方法包括在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與連接控制線相連的第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)線是否存在有線缺陷；在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一驅(qū)動(dòng)控制線相連的第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型?？蛇x地，所述用于斷開(kāi)的控制信號(hào)為低電壓信號(hào)，所述用于導(dǎo)通的控制信號(hào)為高電壓信號(hào)。可選地，所述驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型包括過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷和線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷?？蛇x地，所述驅(qū)動(dòng)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。本發(fā)明再提供一種平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上具有交叉排列的掃描線和數(shù)據(jù)線，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述掃描線是否存在線缺陷，包括第一掃描線短路棒和第一掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描線短路棒與所述掃描線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述掃描線連接；所述第一掃描線測(cè)試端子與所述第一掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述數(shù)據(jù)線是否存在線缺陷，包括第一數(shù)據(jù)線短路棒和第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)線短路棒與所述數(shù)據(jù)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述數(shù)據(jù)線連接；所述第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第一數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線；第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定掃描線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一掃描控制線、第一掃描線控制開(kāi)關(guān)、第一掃描線控制端子、第二掃描線短路棒和第二掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描控制線與所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)和所述第一掃描線控制端子相連接； 所述第一掃描線控制端子通過(guò)所述第一掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)用于控制掃描線與第二掃描線短路棒的通斷；所述第二掃描線測(cè)試端子與所述第二掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一數(shù)據(jù)控制線、第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)、第一數(shù)據(jù)線控制端子、第二數(shù)據(jù)線短路棒和第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)控制線與所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一數(shù)據(jù)線控制端子相連接；所述第一數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)用于控制數(shù)據(jù)線與第二數(shù)據(jù)線短路棒的通斷；所述第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線?？蛇x地，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)還包括掃描線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二掃描控制線、第二掃描線控制端子和第二掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第二掃描控制線與所述第二掃描線控制端子和所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二掃描線控制端子通過(guò)所述第二掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)控制所述掃描線與所述第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷；數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二數(shù)據(jù)控制線、第二數(shù)據(jù)線控制端子和第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二數(shù)據(jù)控制線與所述第二數(shù)據(jù)線控制端子和所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)控制所述數(shù)據(jù)線與所述第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷。本發(fā)明還提供一種應(yīng)用于前述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法，所述線路檢測(cè)方法包括掃描線檢測(cè)方法和/或數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法；所述掃描線檢測(cè)方法包括在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一掃描控制線相連的第一掃描線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的掃描線是否存在有線缺陷；在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一掃描控制線相連的第一掃描線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二掃描線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的掃描線存在的線缺陷的類(lèi)型；所述數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法包括在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線是否存在有線缺陷；在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的類(lèi)型。可選地，所述用于斷開(kāi)的控制信號(hào)為低電壓信號(hào)，所述用于導(dǎo)通的控制信號(hào)為高電壓信號(hào)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)和線路檢測(cè)方法能夠判定驅(qū)動(dòng)線出現(xiàn)的線缺陷的類(lèi)型，解決了現(xiàn)有技術(shù)中不能判定線缺陷的類(lèi)型而直接將存在線缺陷的產(chǎn)品報(bào)廢導(dǎo)致材料浪費(fèi)成本上升的問(wèn)題。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中一種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的布局示意圖；圖2為本發(fā)明液晶顯示裝置在第一實(shí)施方式中的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的布局示意圖；圖3為應(yīng)用于圖2的第一實(shí)施方式中線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法的流程示意圖；圖4為應(yīng)用于圖2的第一實(shí)施方式中線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法的一個(gè)檢測(cè)實(shí)例；圖5為本發(fā)明液晶顯示裝置在第二實(shí)施方式中的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的布局示意圖；圖6為應(yīng)用于圖5的第二實(shí)施方式中線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法的流程示意圖；圖7為應(yīng)用于圖5的第二實(shí)施方式中線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法的一個(gè)檢測(cè)實(shí)例。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在現(xiàn)有應(yīng)用于平板顯示裝置的線路修復(fù)電路中，采用的多是簡(jiǎn)單的短路棒結(jié)構(gòu)，所述短路棒結(jié)構(gòu)在檢測(cè)掃描線或數(shù)據(jù)線的線缺陷上受到一定的限制，例如只能檢測(cè)出掃描線和/或數(shù)據(jù)線是否存在線缺陷，但卻不能確定所述線缺陷的類(lèi)型到底是過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的還是線路劃傷導(dǎo)致的，致使一旦出現(xiàn)線缺陷就將產(chǎn)品予以報(bào)廢，材料浪費(fèi)現(xiàn)象嚴(yán)重，造成生產(chǎn)成本的上升。在對(duì)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)描述之前，需要說(shuō)明的是，在以下各實(shí)施方式中， 所述平板顯示裝置是以薄膜晶體管液晶顯示裝置(TFT-LCD)為例進(jìn)行說(shuō)明的，但并不限于薄膜晶體管液晶顯示裝置。第一實(shí)施方式
本發(fā)明的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)形成于陣列基板上，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述驅(qū)動(dòng)線是否存在線缺陷，包括第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒與所述驅(qū)動(dòng)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述驅(qū)動(dòng)線連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線；第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一驅(qū)動(dòng)控制線、第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)、第一驅(qū)動(dòng)線控制端子、第二驅(qū)動(dòng)線短路棒和第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)控制線與所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子相連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第一驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)用于控制驅(qū)動(dòng)線與第二驅(qū)動(dòng)線短路棒的通斷；所述第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線。在前述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)中，所述驅(qū)動(dòng)線可以為掃描線或數(shù)據(jù)線。另外，為使得能同時(shí)應(yīng)用于掃描線或數(shù)據(jù)線，本發(fā)明另提供一種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述掃描線是否存在線缺陷，包括第一掃描線短路棒和第一掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描線短路棒與所述掃描線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述掃描線連接；所述第一掃描線測(cè)試端子與所述第一掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述數(shù)據(jù)線是否存在線缺陷，包括第一數(shù)據(jù)線短路棒和第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)線短路棒與所述數(shù)據(jù)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述數(shù)據(jù)線連接；所述第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第一數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線；第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定掃描線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一掃描控制線、第一掃描線控制開(kāi)關(guān)、第一掃描線控制端子、第二掃描線短路棒和第二掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描控制線與所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)和所述第一掃描線控制端子相連接；所述第一掃描線控制端子通過(guò)所述第一掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)用于控制掃描線與第二掃描線短路棒的通斷；所述第二掃描線測(cè)試端子與所述第二掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一數(shù)據(jù)控制線、第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)、 第一數(shù)據(jù)線控制端子、第二數(shù)據(jù)線短路棒和第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)控制線與所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一數(shù)據(jù)線控制端子相連接；所述第一數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)用于控制數(shù)據(jù)線與第二數(shù)據(jù)線短路棒的通斷；所述第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線。圖2示出了本發(fā)明液晶顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)在一個(gè)實(shí)施方式中的布局示意圖。需說(shuō)明的是，為敘述方便，在這里，我們是以檢測(cè)作為驅(qū)動(dòng)線的數(shù)據(jù)線的線缺陷為例進(jìn)行說(shuō)明的，但并不限于此，在其他實(shí)施方式中，也可以應(yīng)用于掃描線的線缺陷檢測(cè)或者同時(shí)應(yīng)用于數(shù)據(jù)線和掃描線的線缺陷檢測(cè)。如圖2所示，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)應(yīng)用于液晶顯示裝置的陣列基板上，在所述陣列
基板上包括多條數(shù)據(jù)線D1JyD^DpDpD6........D3n^DmDai(η為自然數(shù))；第一數(shù)據(jù)
線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括與數(shù)據(jù)線Dp D2, D3, D4, D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n交叉排列的第一數(shù)
據(jù)線短路棒101、102、103 ；分別與第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子104、105、106 ；第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一數(shù)據(jù)控制線112，分別與數(shù)據(jù)線Dp D2、D3、D4、D5、D6........Da^DmDto 相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān) S” S2, S3、S4、S5^S6........
S3n_2、S3lri、S3n(n 為自然數(shù))；與第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān) S。S2、S3> S4、S5^S6........S3n_2、S3lri、
Sai相連的第二數(shù)據(jù)線短路棒111 ；與第一數(shù)據(jù)控制線112連接的第一數(shù)據(jù)線控制端子110 ； 以及與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子113。其中，數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n與所述第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)
構(gòu)中的第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103位于不同布線層，兩者通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V。\、V3、V4,
V5、V6........V3n-2、Vm V3n(η為自然數(shù))實(shí)現(xiàn)電性連接，其中，數(shù)據(jù)線D^ D4........D3n_2
通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V1J4........V3n_2與第一數(shù)據(jù)線短路棒101連接，數(shù)據(jù)線D2、D5........D3lri
通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V2、V5........V3lri與第一數(shù)據(jù)線短路棒102連接，數(shù)據(jù)線D3、D6........D3n
通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3、V6........V3n與第一數(shù)據(jù)線短路棒103連接。數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、
D6........D3n_2、D3lri、Dto和第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103采用的材料可以為銅、鋁、釹
(Nd)或鉬中的一種或多種的組合合金。過(guò)孔結(jié)構(gòu)力、V2、V3> V4、V5、V6........V3n_2、V3lri、
Vai包括貫穿數(shù)據(jù)線和第一數(shù)據(jù)線短路棒的過(guò)孔和位于所述過(guò)孔內(nèi)的導(dǎo)電介質(zhì)，所述導(dǎo)電介質(zhì)可以是銦錫金屬氧化物andium Tin Oxides, I TO)或銦鋅金屬氧化物Qndium Zinc Oxide, IZO)。第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中的第二數(shù)據(jù)線短路棒111與數(shù)據(jù)線D” D2, D3, D4, D5,
D6........D3nID3lriJai位于同一布線層。第二數(shù)據(jù)線短路棒111和第一數(shù)據(jù)控制線112
采用的材料可以為銅、鋁、釹(Nd)或鉬中的一種或多種的組合合金。第一數(shù)據(jù)控制線112
上的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Sp S2, S3、S4、S5^S6........S3n_2、S3lri、S3n為薄膜晶體管，在導(dǎo)通
的情況下，使得第二數(shù)據(jù)線短路棒111與數(shù)據(jù)線01、02、03、04、05、1)6........D3n_2、D3lri、D3n
電性連接。在圖2中，通過(guò)包括第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103以及第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子 104、105、106所構(gòu)成的第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，能夠檢測(cè)所述液晶顯示裝置中各數(shù)據(jù)線是否
存在線缺陷。通過(guò)由具有與第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Si、S2, S3、S4、S5^S6........S3n_2、S3n-^S3n
相連的第一數(shù)據(jù)控制線112、第一數(shù)據(jù)線控制端子110、第二數(shù)據(jù)線短路棒111以及第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子113所構(gòu)成的第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，能夠進(jìn)一步檢測(cè)出針對(duì)數(shù)據(jù)線出現(xiàn)的線缺陷的類(lèi)型，以供后續(xù)可以根據(jù)所述線缺陷的類(lèi)型有針對(duì)性地采取相應(yīng)的措施。圖3示出了應(yīng)用于圖2的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法在一個(gè)實(shí)施例中的流程示意圖。需說(shuō)明的是，為敘述方便，在這里，我們是以檢測(cè)數(shù)據(jù)線的線缺陷為例進(jìn)行說(shuō)明的，但并不限于此，例如也可以應(yīng)用于掃描線的線缺陷檢測(cè)或者同時(shí)應(yīng)用于數(shù)據(jù)線和掃描線的線缺陷檢測(cè)。如圖3所示，所述線路檢測(cè)方法包括步驟S100，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，第二數(shù)據(jù)線短路棒與數(shù)據(jù)線電性斷開(kāi)；步驟S101，在第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，觀察所述各數(shù)據(jù)線的顯示效果；步驟S102，根據(jù)顯示效果，判定與第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線是否存在有線缺陷；若判定沒(méi)有線缺陷，則結(jié)束所述線路檢測(cè)，將產(chǎn)品進(jìn)入下一工藝；
若判定存在有線缺陷，則進(jìn)行步驟S103，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通，第二數(shù)據(jù)線短路棒與數(shù)據(jù)線電性連接；步驟S104，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，觀察所述各數(shù)據(jù)線的顯示效果；步驟S105，根據(jù)顯示效果，判定所述顯示效果中是否還存在有缺陷；步驟S106，若顯示畫(huà)面中仍存在有缺陷，則可判定所述線缺陷的類(lèi)型為線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷；步驟S107，若顯示畫(huà)面中沒(méi)有缺陷，則可判定所述線缺陷的類(lèi)型為過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷。以下針對(duì)數(shù)據(jù)線產(chǎn)生的線缺陷的各種不同類(lèi)型進(jìn)行詳細(xì)敘述。在實(shí)際應(yīng)用中，位于外圍區(qū)域的導(dǎo)電線很容易被物理劃傷，在本實(shí)施方式中，現(xiàn)以數(shù)據(jù)線D3產(chǎn)生斷線缺陷(如圖4所示，數(shù)據(jù)線D3產(chǎn)生斷線缺陷的斷線位置118)為例進(jìn)行說(shuō)明。具體地，線路檢測(cè)方法包括首先，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加低電壓，使得與
第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Sp S2, S3, S4, S5^S6........S3n_2、S3lri、
Sai處于斷開(kāi)狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111與數(shù)據(jù)線DpD^DyDpIV D6......D3n_2、D3lri、
Dai處于斷開(kāi))；并且，在第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子104、105、106上施加特定電壓，得以讓與第一
數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的各數(shù)據(jù)線D^ D2、D3> D4, D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n根
據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如紅色、藍(lán)色、綠色、灰色、黑色等畫(huà)面)。然后，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面效果，可以判定出數(shù)據(jù)線D3存在有線缺陷。接著，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加高電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控
制開(kāi)關(guān)&、&、；、、&、&........S3l^S3nYSai處于導(dǎo)通狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111
與數(shù)據(jù)線DpD2J^D4JpD6........D3n-^DmDai電性連接)；并且，在第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端
子113上施加特定電壓，得以讓與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的各數(shù)據(jù)線01、02、03、04、05、
D6........D3n_2 A3nYDai根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如黑色畫(huà)面)。最后，
觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面，對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線D3處仍存在有線缺陷，因此可判定數(shù)據(jù)線D3存在的線缺陷的類(lèi)型為線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷。在后續(xù)工藝中，可以通過(guò)例如線路修復(fù)方法修復(fù)數(shù)據(jù)線D3的線缺陷。另外，在另一實(shí)施例中，現(xiàn)以數(shù)據(jù)線D3與第一數(shù)據(jù)線短路棒相交的過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3損壞為例進(jìn)行說(shuō)明。具體地，線路檢測(cè)方法包括首先，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加低
電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)SpSySpSpSpSe........
S3n-^SmSto處于斷開(kāi)狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111與數(shù)據(jù)線DrDyDrDpDpD6........
D3n-PD3nYDto*于斷開(kāi))；并且，在第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子104、105、106上施加特定電壓，得以
讓與第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的各數(shù)據(jù)線DpDyD3JpIVD6........D3n_2、D3lri、
Dai根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如紅色、藍(lán)色、綠色、灰色、黑色等畫(huà)面)。然后，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面效果，可以判定出數(shù)據(jù)線D3存在有線缺陷。接著， 在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加高電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112上相連接第一數(shù)據(jù)
線控制開(kāi)關(guān)Sp S2, S3、S4、S5^S6........S3n_2、S3lri、S3n處于導(dǎo)通狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路
棒111與數(shù)據(jù)線DpD2JyD4J^D6........D3n-^DmDai電性連接)；并且，在第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子113上施加特定電壓，得以讓與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的各數(shù)據(jù)線Di、D2、D3、
D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩(例如黑色畫(huà)面)。最
后，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面，對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線D3處沒(méi)有線缺陷，因此可判定數(shù)據(jù)線 D3存在的線缺陷的類(lèi)型為過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3損壞導(dǎo)致的線缺陷。第二實(shí)施方式本發(fā)明的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)形成于陣列基板上，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)、第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)。第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述驅(qū)動(dòng)線是否存在線缺陷，包括第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒與所述驅(qū)動(dòng)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述驅(qū)動(dòng)線連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線；第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一驅(qū)動(dòng)控制線、第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)、第一驅(qū)動(dòng)線控制端子、第二驅(qū)動(dòng)線短路棒和第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)控制線與所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子相連接； 所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第一驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)用于控制驅(qū)動(dòng)線與第二驅(qū)動(dòng)線短路棒的通斷；所述第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線。驅(qū)動(dòng)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二驅(qū)動(dòng)控制線、第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二驅(qū)動(dòng)控制線與所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第二驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)控制所述驅(qū)動(dòng)線與所述第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷。在前述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)中，所述驅(qū)動(dòng)線可以為掃描線或數(shù)據(jù)線。另外，為使得能同時(shí)對(duì)掃描線或數(shù)據(jù)線進(jìn)行線路檢測(cè)，本發(fā)明另提供一種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述掃描線是否存在線缺陷，包括第一掃描線短路棒和第一測(cè)試端子；所述第一掃描線短路棒與所述掃描線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述掃描線連接；所述第一測(cè)試端子與所述第一掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線.
一入 ，第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述數(shù)據(jù)線是否存在線缺陷，包括第一數(shù)據(jù)線短路棒和第一測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)線短路棒與所述數(shù)據(jù)線交叉排列，并通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)與所述數(shù)據(jù)線連接；所述第一測(cè)試端子與所述第一數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線.
一入 ，第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定掃描線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一掃描控制線、第一掃描線控制開(kāi)關(guān)、第一掃描線控制端子、第二掃描線短路棒和第二掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描控制線與所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)和所述第一掃描線控制端子相連接； 所述第一掃描線控制端子通過(guò)所述第一掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)用于控制掃描線與第二掃描線短路棒的通斷；所述第二掃描線測(cè)試端子與所述第二掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；
第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的類(lèi)型，包括第一數(shù)據(jù)控制線、第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)、第一數(shù)據(jù)線控制端子、第二數(shù)據(jù)線短路棒和第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)控制線與所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一數(shù)據(jù)線控制端子相連接； 所述第一數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)與所述數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，控制數(shù)據(jù)線與第二數(shù)據(jù)線短路棒的通斷；所述第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線。掃描線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二掃描控制線、第二掃描線控制端子和第二掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第二掃描控制線與所述第二掃描線控制端子和所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二掃描線控制端子通過(guò)所述第二掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)，所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)控制所述掃描線與所述第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷；數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二數(shù)據(jù)控制線、第二數(shù)據(jù)線控制端子和第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二數(shù)據(jù)控制線與所述第二數(shù)據(jù)線控制端子和所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)，所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)控制所述數(shù)據(jù)線與所述第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷。圖5示出了本發(fā)明液晶顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)在另一個(gè)實(shí)施方式中的布局示意圖。需說(shuō)明的是，為敘述方便，在這里，我們是以檢測(cè)數(shù)據(jù)線的線缺陷為例進(jìn)行說(shuō)明的，但并不限于此，例如也可以應(yīng)用于掃描線的線缺陷檢測(cè)或者同時(shí)應(yīng)用于數(shù)據(jù)線和掃描線的線缺陷檢測(cè)。如圖5所示，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)應(yīng)用于液晶顯示裝置的陣列基板上，在所述陣列
基板上包括多條數(shù)據(jù)線D1JyD^DpDpD6........D3n^DmDai(η為自然數(shù))；第一數(shù)據(jù)
線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括與數(shù)據(jù)線DrDyD3AJ5J6........D3l^DariAn交叉排列的第一數(shù)據(jù)
線短路棒101、102、103，其中，數(shù)據(jù)線D” D4........D3n_2通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V” V4........V3n_2
與第一數(shù)據(jù)線短路棒101連接，數(shù)據(jù)線D2、D5........D3lri通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V2、V5........V3lri
與第一數(shù)據(jù)線短路棒102連接，數(shù)據(jù)線D3、D6........Dai通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3、V6........Vn與
第一數(shù)據(jù)線短路棒103連接；分別與第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子104、105、106 ；第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一數(shù)據(jù)控制線112，與數(shù)據(jù)線DpD2、D3、
D4、D5、D6........D3n_2、Dy、D3n 相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān) S” S2、S3 > S4、S5^S6........
S3n-2、S3lri、S3n (η為自然數(shù))；與第一數(shù)據(jù)控制線112和第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Sp S2, S3, S4,
s5>s6........S3n_2、S3n_i、Sto相連的第二數(shù)據(jù)線短路棒111 ；與第一數(shù)據(jù)控制線112連接的
第一數(shù)據(jù)線控制端子110 ；以及與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子113 ； 數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二數(shù)據(jù)控制線120、第二驅(qū)動(dòng)線控制端子122和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)
關(guān)KpKyKyKp K5、K........K3l^KmK3n (η為自然數(shù))，第二數(shù)據(jù)控制線120與第二數(shù)據(jù)
線控制端子122和第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Kp K2, K3、K4, K5, K........K3n_2、K3lri、K3n相連接，
第二數(shù)據(jù)線控制端子122提供控制信號(hào)至相連接的第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Kp K2, K3, K4, K5,
K6........K3n_2、K3lri、K3n，控制位于第二數(shù)據(jù)控制線120相對(duì)兩側(cè)的數(shù)據(jù)線Sp S2, S3、S4、
s5>s6........S3n_2、S3lri、S3n通斷，并在斷開(kāi)時(shí)，使得各數(shù)據(jù)線D” D2、D3、D4、D5、D6........D3n-2> D3lriJai與所述檢測(cè)裝置斷開(kāi)而單獨(dú)工作。需特別說(shuō)明的是，在本實(shí)施方式中，由于額外提供了數(shù)包括第二數(shù)據(jù)控制線120、
第二驅(qū)動(dòng)線控制端子122和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)Kp K2, K3> K4, K5, K........K3n_2、K3lri、K3n
的據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，因此，數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、Dto在控制開(kāi)關(guān)K^ K2、
K3> K4, K5, K........K3n_2、K3lri、Kto處可以分為二個(gè)區(qū)段，其中一個(gè)區(qū)段位于顯示區(qū)域中，另
一區(qū)段則外圍區(qū)域，所述二個(gè)區(qū)段位于同一布線層，為敘述簡(jiǎn)便，未對(duì)二個(gè)區(qū)段進(jìn)行區(qū)分以分別予以標(biāo)號(hào)，故在此特此說(shuō)明。圖6示出了應(yīng)用于圖5的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法在一個(gè)實(shí)施例中的流程示意圖。需說(shuō)明的是，為敘述方便，在這里，我們是以檢測(cè)數(shù)據(jù)線的線缺陷為例進(jìn)行說(shuō)明的，但并不限于此，例如也可以應(yīng)用于掃描線的線缺陷檢測(cè)或者同時(shí)應(yīng)用于數(shù)據(jù)線和掃描線的線缺陷檢測(cè)。如圖6所示，所述線路檢測(cè)方法包括步驟S200，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，第二數(shù)據(jù)線短路棒與數(shù)據(jù)線斷開(kāi)；并且，在數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得位于第二數(shù)據(jù)控制線相對(duì)兩側(cè)的數(shù)據(jù)線導(dǎo)通；步驟S201，在第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，觀察所述各數(shù)據(jù)線的顯示效果；步驟S202，根據(jù)顯示效果，判定與第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線是否存在有線缺陷；若判定沒(méi)有線缺陷，則結(jié)束所述線路檢測(cè)，將產(chǎn)品進(jìn)入下一工藝；若判定存在有線缺陷，則進(jìn)行步驟S203，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通，則第二數(shù)據(jù)線短路棒與數(shù)據(jù)線電性連接；并且，在數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得位于第二數(shù)據(jù)控制線相對(duì)兩側(cè)的數(shù)據(jù)線導(dǎo)通；步驟S204，在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，觀察所述各數(shù)據(jù)線的顯示效果；步驟S205，根據(jù)顯示效果，判定所述顯示效果中是否還存在有缺陷；步驟S206，若顯示畫(huà)面中仍存在有缺陷，則可判定所述數(shù)據(jù)線的線缺陷的類(lèi)型為線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷；步驟S207，若顯示畫(huà)面中沒(méi)有缺陷，則可判定所述數(shù)據(jù)線的線缺陷的類(lèi)型為過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷。以下針對(duì)數(shù)據(jù)線產(chǎn)生的線缺陷的各種不同類(lèi)型進(jìn)行詳細(xì)敘述。在本實(shí)施例中，現(xiàn)以數(shù)據(jù)線D3產(chǎn)生斷線缺陷(如圖7所示，數(shù)據(jù)線D3產(chǎn)生斷線缺陷的斷線位置119)為例進(jìn)行說(shuō)明。具體地，線路檢測(cè)方法包括，首先，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加低電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Sp S2,
S3、S4、S5、&........S3n_2、S3lri、Sto處于斷開(kāi)狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111與外圍區(qū)域的
數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n處于斷開(kāi))；在第二數(shù)據(jù)線控制端子122上施加高電壓，使得與第二數(shù)據(jù)控制線120相連接的第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Κ。K2、Κ3、Κ4、Κ5、
K6........Κ ρΚ^、!^*于導(dǎo)通狀態(tài)，位于第二數(shù)據(jù)控制線120相對(duì)兩側(cè)(外圍區(qū)域和
顯示區(qū)域)的數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、Dm D3n導(dǎo)通；并且，在第一數(shù)據(jù)線
測(cè)試端子104、105、106上施加特定電壓，得以讓與第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的
各數(shù)據(jù)線D^ D2, D3> D4, D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)
面(例如紅色、藍(lán)色、綠色、灰色、黑色等畫(huà)面)。然后，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面效果，可以判定出數(shù)據(jù)線D3存在有線缺陷。接著，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加高電
壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Sp S2, S3, S4, S5^S6........
S3n-PSmSai處于導(dǎo)通狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111與外圍區(qū)域的數(shù)據(jù)線DpD2、D3、D4、
D5、D6........D3n^D3nYDto電性連接)；在第二數(shù)據(jù)線控制端子122上施加高電壓，使得與
第二數(shù)據(jù)控制線120相連接的第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Kp K2, K3、K4、K5、K6........K3n_2、K3lri、
Kai處于導(dǎo)通狀態(tài)，位于第二數(shù)據(jù)控制線120相對(duì)兩側(cè)(外圍區(qū)域和顯示區(qū)域)的數(shù)據(jù)線D”
D2、D3、D4、D5、D6........D3l^DmDto導(dǎo)通；并且，在第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子113上施加特定
電壓，得以讓與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的各數(shù)據(jù)線Dp D2, D3, D4, D5、D6........D3n_2、
D3lri、Dto根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如黑色畫(huà)面)。接著，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面，對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線D3處仍存在有線缺陷，因此可判定數(shù)據(jù)線D3存在的線缺陷的類(lèi)型為線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷。 另外，在其他實(shí)施例中，利用所述線路檢測(cè)方法還可以檢測(cè)出過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞的問(wèn)題。仍請(qǐng)結(jié)合圖7，對(duì)本發(fā)明圖5所示的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法做具體說(shuō)明，現(xiàn)以數(shù)據(jù)線D3與第一數(shù)據(jù)線短路棒103相交的過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3損壞為例進(jìn)行說(shuō)明。具體地，線路檢測(cè)方法包括首先，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加低電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相
連接的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)&、S2、S3、S4、S5^S6........S3n_2、S3lri、Sto處于斷開(kāi)狀態(tài)(即第
二數(shù)據(jù)線短路棒111與外圍區(qū)域的數(shù)據(jù)線Dp D2, D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n處于
斷開(kāi))；在第二數(shù)據(jù)線控制端子122上施加高電壓，使得與第二數(shù)據(jù)控制線120相連接的第
二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)K^ Κ2、Κ3、Κ4、Κ5、K6........Κ3η_2、K3lri、K3n處于導(dǎo)通狀態(tài)，位于第二數(shù)據(jù)
控制線120相對(duì)兩側(cè)(外圍區(qū)域和顯示區(qū)域)的數(shù)據(jù)線Dp D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、
D3lri、Dai導(dǎo)通；并且，在第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子104、105、106上施加特定電壓，得以讓與第一
數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103連接的各數(shù)據(jù)線01、02、1)3、04、05、06........Darf、D3lri、Dai根據(jù)
所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如紅色、藍(lán)色、綠色、灰色、黑色等畫(huà)面)。然后，觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面效果，可以判定出數(shù)據(jù)線D3存在有線缺陷。接著，在第一數(shù)據(jù)線控制端子110上施加高電壓，使得與第一數(shù)據(jù)控制線112相連接的第一數(shù)據(jù)線控制
開(kāi)關(guān)&、S2、S3、S4、S5^S6........S3n_2、S3lri、Sto處于導(dǎo)通狀態(tài)(即第二數(shù)據(jù)線短路棒111與
數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n電性連接)；在第二數(shù)據(jù)線控制端子122
上施加高電壓，使得與第二數(shù)據(jù)控制線120相連接的第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)Κ。K2、Κ3、Κ4、Κ5、
K6........Κ ρΚ^、!^*于導(dǎo)通狀態(tài)，位于第二數(shù)據(jù)控制線120相對(duì)兩側(cè)(外圍區(qū)域和
顯示區(qū)域)的數(shù)據(jù)線D^ D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、Dm D3n導(dǎo)通；并且，在第二數(shù)據(jù)線
測(cè)試端子113上施加特定電壓，得以讓與第二數(shù)據(jù)線短路棒111連接的各數(shù)據(jù)線Di、D2、D3、
D4、D5、D6........D3n_2、D3n^Dai根據(jù)所述特定電壓顯示對(duì)應(yīng)的色彩畫(huà)面(例如黑色畫(huà)面)。
觀察所述液晶顯示裝置所顯示的畫(huà)面，對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線D3處沒(méi)有線缺陷，因此可判定數(shù)據(jù)線D3存在的線缺陷的類(lèi)型為過(guò)孔結(jié)構(gòu)V3損壞導(dǎo)致的線缺陷。在液晶顯示面板的制成過(guò)程中，如上所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)是用來(lái)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)線的缺陷狀況的，在檢測(cè)完成之后需要將所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)切除，具體的如圖2所示，在第一數(shù)據(jù)線短路棒101、102、103和顯示區(qū)域之間進(jìn)行激光切割，去除所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，然后將驅(qū)動(dòng)線和相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)IC相連接。所述激光切割需要專(zhuān)用的設(shè)備，造價(jià)昂貴，并且切割工藝需要時(shí)間，會(huì)使整個(gè)生產(chǎn)的周期變長(zhǎng)。為了降低生產(chǎn)成本和生產(chǎn)周期，本發(fā)明提供如圖5所示的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，在不增加設(shè)備和工藝的基礎(chǔ)上，可以使線路檢測(cè)裝置和驅(qū)動(dòng)線處于獨(dú)立的狀態(tài)。結(jié)合圖5和圖7，在上述第二種線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的檢測(cè)方法中，當(dāng)線路檢測(cè)完成后， 對(duì)第二數(shù)據(jù)線控制端子122上施加低電壓，使第二數(shù)據(jù)控制線120處于關(guān)閉狀態(tài)，各數(shù)據(jù)線
D1、D2、D3、D4、D5、D6........D3n_2、D3lri、D3n就處于獨(dú)立工作狀態(tài)，省去了激光切割工序。相對(duì)
于圖2所示的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，圖5所示的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，除了能檢測(cè)線缺陷及其類(lèi)型之外， 還能使完成檢測(cè)作業(yè)的驅(qū)動(dòng)線與所述檢測(cè)裝置斷開(kāi)處于獨(dú)立工作狀態(tài)，可以省去進(jìn)行激光切割的工藝，縮短了生產(chǎn)周期，提高了工作效率。雖然本發(fā)明己以較佳實(shí)施例披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上設(shè)有驅(qū)動(dòng)線，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述驅(qū)動(dòng)線是否存在線缺陷，包括第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒與所述驅(qū)動(dòng)線通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)連接；所述第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至驅(qū)動(dòng)線；第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定所述驅(qū)動(dòng)線的線缺陷的缺陷類(lèi)型，包括第一驅(qū)動(dòng)控制線、第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)、第一驅(qū)動(dòng)線控制端子、第二驅(qū)動(dòng)線短路棒和第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；所述第一驅(qū)動(dòng)控制線與所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子相連接， 所述第一驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第一驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)；所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)與所述驅(qū)動(dòng)線和所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，控制所述驅(qū)動(dòng)線和所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒的通斷；所述第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子與所述第二驅(qū)動(dòng)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至所述驅(qū)動(dòng)線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，還包括驅(qū)動(dòng)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二驅(qū)動(dòng)控制線、第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二驅(qū)動(dòng)控制線與所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子和所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二驅(qū)動(dòng)線控制端子通過(guò)所述第二驅(qū)動(dòng)控制線提供控制信號(hào)至所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)與所述驅(qū)動(dòng)線和所述第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)相連接，控制所述驅(qū)動(dòng)線和所述第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一驅(qū)動(dòng)線短路棒的數(shù)量為一個(gè)或多個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述過(guò)孔結(jié)構(gòu)包括過(guò)孔和位于所述過(guò)孔內(nèi)的導(dǎo)電介質(zhì)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述導(dǎo)電介質(zhì)包括銦錫金屬氧化物或銦鋅金屬氧化物。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)和第二驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)包括薄膜晶體管。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型包括過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷和線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。
9.一種平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上具有交叉排列的掃描線和數(shù)據(jù)線，所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述掃描線是否存在線缺陷，包括第一掃描線短路棒和第一掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描線短路棒與所述掃描線通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)連接；所述第一掃描線測(cè)試端子與所述第一掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于檢測(cè)所述數(shù)據(jù)線是否存在線缺陷，包括第一數(shù)據(jù)線短路棒和第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)線短路棒與所述數(shù)據(jù)線通過(guò)過(guò)孔結(jié)構(gòu)連接；所述第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第一數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線；第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定所述掃描線存在的線缺陷的缺陷類(lèi)型，包括第一掃描控制線、第一掃描線控制開(kāi)關(guān)、第一掃描線控制端子、第二掃描線短路棒和第二掃描線測(cè)試端子；所述第一掃描控制線與所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)和所述第一掃描線控制端子相連接，所述第一掃描線控制端子通過(guò)所述第一掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)；所述第一掃描線控制開(kāi)關(guān)與所述掃描線和第二掃描線短路棒連接，控制所述掃描線和所述第二掃描線短路棒的通斷；所述第二掃描線測(cè)試端子與所述第二掃描線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至掃描線；第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用于確定所述數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的缺陷類(lèi)型，包括第一數(shù)據(jù)控制線、第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)、第一數(shù)據(jù)線控制端子、第二數(shù)據(jù)線短路棒和第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子；所述第一數(shù)據(jù)控制線與所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)和所述第一數(shù)據(jù)線控制端子相連接，所述第一數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)；所述第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)與所述數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，控制所述數(shù)據(jù)線和所述第二數(shù)據(jù)線短路棒的通斷；所述第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子與所述第二數(shù)據(jù)線短路棒連接，提供測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)線。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于，還包括掃描線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二掃描控制線、第二掃描線控制端子和第二掃描線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二掃描控制線與所述第二掃描線控制端子和所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二掃描線控制端子通過(guò)所述第二掃描控制線提供控制信號(hào)至所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二掃描線控制開(kāi)關(guān)與所述掃描線和所述第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)相連接，控制所述掃描線和所述第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷；數(shù)據(jù)線斷開(kāi)結(jié)構(gòu)，包括第二數(shù)據(jù)控制線、第二數(shù)據(jù)線控制端子和第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二數(shù)據(jù)控制線與所述第二數(shù)據(jù)線控制端子和所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)相連接，所述第二數(shù)據(jù)線控制端子通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)控制線提供控制信號(hào)至所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)； 所述第二數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)與所述數(shù)據(jù)線和所述第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)相連接，控制所述數(shù)據(jù)線和所述第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)和/或第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的通斷。
11.一種應(yīng)用于權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法，其特征在于， 所述線路檢測(cè)方法包括在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一驅(qū)動(dòng)控制線相連的第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)線是否存在有線缺陷；在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一驅(qū)動(dòng)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一驅(qū)動(dòng)控制線相連的第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的線路檢測(cè)方法，其特征在于，所述用于斷開(kāi)的控制信號(hào)為低電壓信號(hào)，所述用于導(dǎo)通的控制信號(hào)為高電壓信號(hào)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的線路檢測(cè)方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線存在的線缺陷的類(lèi)型包括過(guò)孔結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致的線缺陷和線路劃傷導(dǎo)致的線缺陷。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的線路檢測(cè)方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。
15.一種利用權(quán)利要求9或10項(xiàng)所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)的線路檢測(cè)方法，其特征在于，所述線路檢測(cè)方法包括掃描線檢測(cè)方法和/或數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法；所述掃描線檢測(cè)方法包括在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一掃描控制線相連的第一掃描線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的掃描線是否存在有線缺陷；在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一掃描線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一掃描控制線相連的第一掃描線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二掃描線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二掃描線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的掃描線存在的線缺陷的類(lèi)型； 所述數(shù)據(jù)線檢測(cè)方法包括在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于斷開(kāi)的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)；在第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第一數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線是否存在有線缺陷；在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第一數(shù)據(jù)線控制端子上施加用于導(dǎo)通的控制信號(hào)，使得第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)中與第一數(shù)據(jù)控制線相連的第一數(shù)據(jù)線控制開(kāi)關(guān)導(dǎo)通；在第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)的第二數(shù)據(jù)線測(cè)試端子上施加測(cè)試信號(hào)，用于判定與第二數(shù)據(jù)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線存在的線缺陷的類(lèi)型。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的線路檢測(cè)方法，其特征在于，所述用于斷開(kāi)的控制信號(hào)為低電壓信號(hào)，所述用于導(dǎo)通的控制信號(hào)為高電壓信號(hào)。
全文摘要
一種平板顯示裝置的線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)和線路檢測(cè)方法，其中所述線路檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括第一驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一驅(qū)動(dòng)線短路棒和第一驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子；第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括第一驅(qū)動(dòng)控制線、第一驅(qū)動(dòng)線控制開(kāi)關(guān)、第一驅(qū)動(dòng)線控制端子、第二驅(qū)動(dòng)線短路棒和第二驅(qū)動(dòng)線測(cè)試端子。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明通過(guò)增加的第二驅(qū)動(dòng)線檢測(cè)結(jié)構(gòu)，在判定驅(qū)動(dòng)線存在線缺陷基礎(chǔ)上確定所述線缺陷的類(lèi)型，以解決現(xiàn)有線路修復(fù)技術(shù)中不能判定線缺陷的類(lèi)型而直接將存在線缺陷的產(chǎn)品報(bào)廢導(dǎo)致材料浪費(fèi)成本上升的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01R31/02GK102213739SQ20101014955
公開(kāi)日2011年10月12日 申請(qǐng)日期2010年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月9日
發(fā)明者李雄平, 田凱, 黃賢軍 申請(qǐng)人:上海天馬微電子有限公司