專利名稱：一種三相電源缺相檢測方法及檢測電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及缺相檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種三相電源缺相檢測方法及檢測電路。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的缺相檢測電路大多采用分壓方式檢測，在實際運行的時候，電網(wǎng)電壓波動、 線路負(fù)載類型及連接方式等均會對缺相檢測電路造成較大影響，有時，受線路負(fù)載的影響， 或電網(wǎng)電壓波動時，現(xiàn)有的缺相檢測電路容易產(chǎn)生誤報、漏報等現(xiàn)象，而且，現(xiàn)有的缺相檢 測電路使用的電子元器件多，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，生產(chǎn)成本較高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、生產(chǎn)成本低，利用相 位來進行檢測的三相電源缺相檢測方法及檢測電路。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所提供的技術(shù)方案為一種三相電源缺相檢測方法，首 先，通過半波整流電路將相位信號輸送至光電耦合器內(nèi)，由光電耦合器將信號轉(zhuǎn)換成弱電 信號輸出，并將弱電信號輸送至處理器，處理器掃描光電耦合器輸出信號的波形即可判斷 出三相電源的工作狀態(tài)。所述的在判斷三相電源的工作狀態(tài)時，若在三相正常，光電耦合器的輸出信號全 部為低電平，缺一相時，輸出信號的波形中，高平周期大約4ms，低電平大約為16ms ；而缺二 相時，輸出信號的波形中，高電平大約為12ms，低電平大約為8ms ；而缺三相時，輸出信號全 部為高電平，處理器通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電持續(xù)的時間長短就能判斷出三相電源狀態(tài)，并 且，處理器可以根據(jù)前后電平的狀態(tài)，準(zhǔn)確地區(qū)分缺三相與停電。完成上述所述方法的電路包括有半波整流電路，半波整流電路由第一二極管、第 二二極管、第三二極管組成，其中，第一相、第二相、第三相分別與第一二極管、第二二極管、 第三二極管正極相連接，第一二極管、第二二極管、第三二極管負(fù)極并聯(lián)后再通過限流電阻 連接至光電耦合器的一腳上，光電耦合器的二腳、三腳分別與零線、地線相連接，光電耦合 器的四腳連接至處理器。本發(fā)明在采用了上述方案后，首先，第一二極管、第二二極管、第三二極管組成的 半波整流電路將相位信號通過限流電阻輸入光電耦合器內(nèi)，光電耦合器將接收到的輸入信 號轉(zhuǎn)換成弱電信號并輸入處理器內(nèi)，在三相正常時，光電耦合器的輸出信號全部為低電平， 缺一相時，輸出信號的波形中，高平周期大約4ms，低電平大約為16ms ；而缺二相時，輸出信 號的波形中，高電平大約為12ms，低電平大約為8ms ；而缺三相時，輸出信號全部為高電平。 處理器通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電持續(xù)的時間長短很容易判斷出三相電源狀態(tài)，并且，處理器 可以根據(jù)前后的狀態(tài)，準(zhǔn)確地區(qū)分缺三相與停電。采用本方案后的檢測電路所使用的電子 元器件少，生產(chǎn)成本低，工作時所需的電流極低，發(fā)熱量小，且不受電網(wǎng)電壓波動、負(fù)載類型 及連接方式影響，檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠。


圖1為本發(fā)明的電路原理圖。圖2為本發(fā)明實施例在三相正常時強弱電兩端的波形圖。圖3為本發(fā)明實施例在缺一相時強弱電兩端的波形圖。圖4為本發(fā)明實施例在缺二相時強弱電兩端的波形圖。圖5為本發(fā)明實施例在缺三相或停電時強弱電兩端的波形圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖1至附圖5對本發(fā)明作進一步說明，本發(fā)明的較佳實施例為本實施例所述的缺相檢測方法，首先，通過半波整流電路將相位信號輸送至光電耦合器Ul內(nèi)，由 光電耦合器Ul將相位信號轉(zhuǎn)換成輸出信號，并將輸出信號輸送至處理器,處理器通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電持續(xù)的時間長短很容易判斷出三相電源狀態(tài)。完成上述所述方法的檢測電路，它包括有第一相A、第二相B、第三相C，其中，第一相A、第二相B、第三相C分別與第一二極管D1、第二二極管D2、第三二極管D3正極相連接， 第一二極管D1、第二二極管D2、第三二極管D3負(fù)極并聯(lián)后再通過限流電阻Rl連接至光電 耦合器Ul的一腳1上，光電耦合器Ul的二腳2、三腳3分別與零線N、地線D相連接，光電耦 合器Ul的四腳4連接至處理器CPU。工作時，首先，第一二極管D1、第二二極管D2、第三二 極管D3、電阻Rl組成半波整流電路，將相位輸入信號輸入光電耦合器Ul內(nèi)，光電耦合器Ul 將接收到的輸入信號轉(zhuǎn)換成輸出信號并輸入處理器，處理器掃描輸入的波形(參見附圖2 至附圖5)，當(dāng)三相正常時，(參見附圖2)光電耦合器輸出的信號全部為低電平，缺一相時， (參見附圖3)輸出信號的波形中，高平周期大約4ms，低電平大約為16ms ；而缺二相時，(參 見附圖4)輸出信號的波形中，高電平大約為12ms，低電平大約為8ms ；而缺三相或停電時， (參見附圖5)輸出信號全部為高電平。處理器通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電持續(xù)的時間長短很 容易判斷出三相電源狀態(tài)，并且，處理器可以根據(jù)前后的狀態(tài)，準(zhǔn)確地區(qū)分缺三相與停電。 采用本方案后的檢測電路所使用的電子元器件少，生產(chǎn)成本低，工作時所需的電流極低，發(fā) 熱量小，且不受電網(wǎng)電壓波動、負(fù)載類型及連接方式影響，檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠。以上僅針對我們國家電源頻率為50Hz的情況進行分析，如采用其它工作頻率，相應(yīng)的周期按(50/具體工作頻率)*50Hz所對應(yīng)的周期，來判斷三相電源的狀態(tài)。以上所述之實施例只為本發(fā)明之較佳實施例，并非以此限制本發(fā)明的實施范圍，故凡依本發(fā)明之形狀、原理所作的變化，均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種三相電源缺相檢測方法，其特征在于首先，三相電源通過半波整流電路將相位信號輸送至光電耦合器(U1)內(nèi)，由光電耦合器(U1)將信號轉(zhuǎn)換成弱電信號輸出，并將弱電信號輸送至處理器(CPU)，處理器(CPU)掃描光電耦合器(U1)輸出信號的波形即可判斷出三相電源的工作狀態(tài)。
2.—種三相電源缺相檢測方法，其特征在于在判斷三相電源的工作狀態(tài)時，若在三 相正常，光電耦合器(Ul)的輸出信號全部為低電平，缺一相時，輸出信號的波形中，高平周 期大約4ms，低電平大約為16ms ；而缺二相時，輸出信號的波形中，高電平大約為12ms，低電 平大約為8ms ；而缺三相時，輸出信號全部為高電平，處理器(CPU)通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電 持續(xù)的時間長短就能判斷出三相電源狀態(tài)，并且，處理器(CPU)可以根據(jù)前后電平的狀態(tài)， 準(zhǔn)確地區(qū)分缺三相與停電。
3.—種三相電源缺相檢測電路，它包括有半波整流電路，其特征在于半波整流電路 由第一二極管(Dl)、第二二極管(D2)、第三二極管(D3)組成，其中，第一相(A)、第二相 (B)、第三相(C)分別與第一二極管(Dl)、第二二極管(D2)、第三二極管(D3)的正極相連 接，第一二極管(Dl)、第二二極管(D2)、第三二極管(D3)負(fù)極并聯(lián)后再通過限流電阻(Rl) 連接至光電耦合器(Ul)的一腳⑴上，光電耦合器(Ul)的二腳(2)、三腳(3)分別與零線 (N)、地線⑶相連接，光電耦合器(Ul)的四腳(4)連接至處理器(CPU)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種三相電源缺相檢測方法，首先，通過半波整流電路將相位信號輸送至光電耦合器內(nèi)，由光電耦合器將信號轉(zhuǎn)換成弱電信號輸出，并將弱電信號輸送至處理器，處理器掃描光電耦合器輸出信號的波形即可判斷出三相電源的工作狀態(tài)。本發(fā)明在采用了上述方案后，在三相正常時，光電耦合器的輸出信號全部為低電平，缺一相時，輸出信號的波形中，高平周期大約4ms，低電平大約為16ms；而缺二相時，輸出信號的波形中，高電平大約為12ms，低電平大約為8ms；而缺三相時，輸出信號全部為高電平。處理器通過統(tǒng)計20ms內(nèi)高平電持續(xù)的時間長短很容易判斷出三相電源狀態(tài)，并且，處理器可以根據(jù)前后的狀態(tài)，準(zhǔn)確地區(qū)分缺三相與停電。
文檔編號G01R31/40GK101799520SQ20101010345
公開日2010年8月11日 申請日期2010年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月27日
發(fā)明者付愛喜 申請人:付愛喜