專利名稱：雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測試裝置，特別是涉及一種雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置。
背景技術(shù)：
避雷器是變電站中重要的過電壓保護(hù)裝置，它可以有效保護(hù)設(shè)備絕緣免受損壞。 當(dāng)電網(wǎng)受到雷擊過電壓或操作過電壓作用達(dá)到規(guī)定的電壓限制時(shí)，避雷器動(dòng)作，釋放過電 壓負(fù)荷，將雷擊等引起的過電壓限制到絕緣設(shè)備所能承受的水平，從而起到保護(hù)設(shè)備絕緣 的作用。為了判斷避雷器是否受到過電壓作用而動(dòng)作，并記錄動(dòng)作的次數(shù)，現(xiàn)有技術(shù)中通 常會(huì)使用避雷器放電計(jì)數(shù)器，俗稱雷擊計(jì)數(shù)器來對動(dòng)作次數(shù)進(jìn)行記錄，以便了解避雷器運(yùn) 行情況，并分析有關(guān)事故。雷擊計(jì)數(shù)器隨避雷器一起安裝在戶外，其會(huì)受到大氣環(huán)境的影響，因此，需定期對 其進(jìn)行可靠性檢測，以判斷其能否繼續(xù)正常工作?，F(xiàn)有技術(shù)中對雷擊計(jì)數(shù)器進(jìn)行可靠性檢 測的方法為采用500V的搖表對一只600V、10 μ F電容器充電，待充電穩(wěn)定后在保持搖表轉(zhuǎn) 速不變的情況下斷開充電回路；將充好電的電容器作為測試裝置連接至雷擊計(jì)數(shù)器并對其 放電，此時(shí)雷擊計(jì)數(shù)器應(yīng)動(dòng)作一次。采用該方法連續(xù)試驗(yàn)3 10次，若均能準(zhǔn)確動(dòng)作，則認(rèn) 為計(jì)數(shù)性能完好。在雷擊計(jì)數(shù)器完成可靠性檢測后，需重新將其計(jì)數(shù)指示校正歸零，以便將其再次 安裝進(jìn)而用于動(dòng)作次數(shù)記錄。而雷擊計(jì)數(shù)器是采用累計(jì)方式來表示避雷器的動(dòng)作情況的裝 置，只有在動(dòng)作次數(shù)累計(jì)至滿量程后才會(huì)自動(dòng)回零，基于雷擊計(jì)數(shù)器機(jī)械設(shè)計(jì)上的這一特 點(diǎn)，本領(lǐng)域技術(shù)人員在完成可靠性檢測后，還需繼續(xù)多次使用上述檢測方法來對其進(jìn)行計(jì) 數(shù)累加，直至歸零，而雷擊計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)量程相對較大(約為1000次)，這勢必會(huì)大大增加 試驗(yàn)人員的工作量。例如，一量程為1000次的雷擊計(jì)數(shù)器，在進(jìn)行可靠性檢測后動(dòng)作了 10 次，為使其計(jì)數(shù)指示歸零，還需使用測試裝置對其進(jìn)行990次放電，當(dāng)然，也需搖表對該測 試裝置進(jìn)行990次充電，顯然，工作量是非常大的。通常一個(gè)500KV變電站有各種電壓等級 的雷擊計(jì)數(shù)器60只以上，靠上述檢測方法十分繁瑣，檢測周期也會(huì)很長。因此，現(xiàn)有技術(shù)中一次僅能對雷擊計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)一次計(jì)數(shù)操作的測量裝置，滿足不 了現(xiàn)場試驗(yàn)人員簡化操作過程和減少工作量的需求。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型提供了一種雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，以解決現(xiàn)有測試裝置 只能對雷擊計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)一次計(jì)數(shù)操作的問題。本實(shí)用新型的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本實(shí)用 新型提出的一種雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，包括電容組，用于對所述雷擊計(jì)數(shù)器放電；電源 轉(zhuǎn)換單元，用于將輸入電流轉(zhuǎn)換為向所述電容組充電的電流；開關(guān)單元，與所述電源轉(zhuǎn)換單 元和所述電容組連接，用于開通或關(guān)斷所述電源轉(zhuǎn)換單元對所述電容組的充電電流；輸入單元，用于輸入用戶的操作指令；CPU，用于接收所述輸入單元的輸入信號并控制所述電源 轉(zhuǎn)換單元的電流轉(zhuǎn)換和所述開關(guān)單元的通斷；以及顯示單元，用于根據(jù)所述CPU的輸出進(jìn) 行顯不。本實(shí)用新型的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的測試裝置，所述輸入單元輸入的操作指令包括對所述雷擊計(jì)數(shù)器的測試次數(shù)。前述的測試裝置，還包括一復(fù)位單元，其連接于所述CPU。前述的測試裝置，還包括一暫停單元，其連接于所述CPU。前述的測試裝置，所述電源轉(zhuǎn)換單元中包括升壓電路和整流橋，所述升壓電路， 用于當(dāng)所述輸入電流為一直流電源時(shí)，將其升壓為一交流電壓后輸入所述整流橋；以及所 述整流橋，用于將所述交流電壓整流為直流信號。前述的測試裝置，所述開關(guān)單元為MOS開關(guān)管。前述的測試裝置，所述輸入單元為鍵盤。由上述技術(shù)方案可知，具有以下有益效果本實(shí)用新型的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置可根據(jù)人為設(shè)置的測試次數(shù)來實(shí)現(xiàn)連續(xù)自 動(dòng)測試，極大地方便和簡化了測試操作過程，減少了工作量，節(jié)約了測試時(shí)間。通過以下參照附圖對優(yōu)選實(shí)施例的說明，本實(shí)用新型的上述以及其它目的、特征 和優(yōu)點(diǎn)將更加明顯。

圖1為本實(shí)用新型雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置第一實(shí)施例的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖；圖2為本實(shí)用新型雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置第二實(shí)施例中電源轉(zhuǎn)換單元的內(nèi)部結(jié) 構(gòu)圖；圖3為本實(shí)用新型雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置第二實(shí)施例中電源轉(zhuǎn)換單元的另一內(nèi) 部結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
下面將詳細(xì)描述本實(shí)用新型的具體實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)注意，這里描述的實(shí)施例只用于 舉例說明，并不用于限制本實(shí)用新型。本實(shí)用新型所提供的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置能通過人為設(shè)定的測試次數(shù)，使雷擊 計(jì)數(shù)器按照設(shè)定的測試次數(shù)進(jìn)行連續(xù)多次計(jì)數(shù)，簡化了雷擊計(jì)數(shù)器的可靠性檢測過程及計(jì) 數(shù)指示校正歸零過程，減少了工作量，并節(jié)約了試驗(yàn)時(shí)間。請參閱圖1所示，其為本實(shí)用新型雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置第一實(shí)施例的內(nèi)部結(jié)構(gòu) 圖。本實(shí)用新型的測試裝置1包括電容組11、電源轉(zhuǎn)換單元12、開關(guān)單元13、輸入單元14、 CPU15以及顯示單元16。其中，電容組11用于對與其連接的雷擊計(jì)數(shù)器2放電以使該雷擊 計(jì)數(shù)器2計(jì)數(shù)，該電容組11由多個(gè)電容連接組成；電源轉(zhuǎn)換單元12，用于將輸入電流轉(zhuǎn)換 為向電容組11充電的電流；開關(guān)單元13與電源轉(zhuǎn)換單元12和電容組11連接，用于開通或 關(guān)斷電源轉(zhuǎn)換單元12對電容組11的充電電流，當(dāng)開關(guān)單元13開通時(shí)，電源轉(zhuǎn)換單元12對 電容組11充電，當(dāng)開關(guān)單元13關(guān)斷時(shí)，電容組11對雷擊計(jì)數(shù)器2放電；輸入單元14用于輸入用戶的操作指令，例如輸入對雷擊計(jì)數(shù)器2的測試次數(shù)或輸入測試啟動(dòng)信號，該輸入 裝置14例如為一鍵盤；CPU15用于接收輸入單元14的輸入信號，當(dāng)輸入信號中包含測試次 數(shù)時(shí)，其會(huì)存儲(chǔ)測試次數(shù)并控制開關(guān)單元的通斷次數(shù)，同時(shí)其也控制電源轉(zhuǎn)換單元12的電 流轉(zhuǎn)換；顯示單元16用于根據(jù)CPU15的輸出進(jìn)行顯示，例如，CPU15可根據(jù)其存儲(chǔ)的測試次 數(shù)和電容組11的已放電的次數(shù)來控制顯示單元16顯示剩余的測試次數(shù)。在本實(shí)施例中，測試裝置1還包括一連接于CPU15的復(fù)位單元17，用于該使該測 試裝置1復(fù)位，例如在該測試裝置操作過程中，出現(xiàn)緊急情況，可通過該復(fù)位單元17使該測 試裝置復(fù)位，以保護(hù)其不受損壞；該測試裝置1還包括一連接于CPU15的暫停單元18，用于 使該測試裝置1暫停，該暫停單元18還可以實(shí)現(xiàn)按一下該暫停單元18能使該測試裝置1 暫停工作，再次按下，顯示單元清零，并使該測試裝置1復(fù)位以供下次測試。本實(shí)用新型還提出第二實(shí)施例，在本實(shí)施例中，CPU15通過一單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)，例如 為89E58RD ；電源轉(zhuǎn)換單元12為如圖2所示的結(jié)構(gòu)，該電源轉(zhuǎn)換單元12包括升壓電路121 和整流橋122，升壓電路121用于當(dāng)輸入電流為一直流電源時(shí)，將其升壓為一交流電后輸入 整流橋122，在本實(shí)施例中，該輸入電流為從外部輸入的較小的直流電源，例如為5 12V， 而經(jīng)該升壓電路121處理后可輸出1000V左右的交流電壓；整流橋122用于將升壓電路121 輸出的交流電壓整流為直流信號后輸入開關(guān)單元13，這樣，電源轉(zhuǎn)換單元12可替代現(xiàn)有技 術(shù)中的搖表在開關(guān)單元13控制下為電容組11充電。進(jìn)一步，如圖3所示，電源轉(zhuǎn)換單元12還可包括一電壓轉(zhuǎn)化電路123，用于當(dāng)輸入 的直流電源與該電源轉(zhuǎn)換單元12不匹配時(shí)，將該直流電源轉(zhuǎn)化為與之匹配的第二直流電 源后，作為工作電壓輸入至該升壓電路121。本實(shí)施例中的開關(guān)單元13為MOS開關(guān)管，CPU15控制MOS開關(guān)管通斷可實(shí)現(xiàn)對電 容的充、放電，電容放電產(chǎn)生的過電壓對雷擊計(jì)數(shù)器2放電，雷擊計(jì)數(shù)器動(dòng)作，從而實(shí)現(xiàn)對 雷擊計(jì)數(shù)器性能是否正常的檢測。下面介紹一下本實(shí)施例中測試裝置用于測試時(shí)的工作過程首先通過輸入單元 14輸入測試次數(shù)，CPU15讀入該次數(shù)數(shù)據(jù)并保存。當(dāng)CPU15又檢測到輸入單元14輸入的啟 動(dòng)信號后，測試裝置1開始工作，并按照設(shè)定的次數(shù)逐次進(jìn)行充、放電過程。每次充、放電過 程為控制MOS開關(guān)管開斷——MOS開關(guān)管每次導(dǎo)通時(shí)，電源轉(zhuǎn)換單元12負(fù)責(zé)對電容組11充 電，電荷充滿后MOS開關(guān)管斷開，此時(shí)電容上的電荷對雷擊計(jì)數(shù)器2放電，雷擊計(jì)數(shù)器2受 到放電過電壓沖擊動(dòng)作，完成一次放電過程。本實(shí)用新型可根據(jù)人為設(shè)置的測試次數(shù)來實(shí)現(xiàn)9999次以內(nèi)的連續(xù)自動(dòng)測試，并 具有復(fù)位、暫停等功能，是自動(dòng)化程度和實(shí)用程度很高的高壓測試裝置。雖然已參照幾個(gè)典型實(shí)施例描述了本實(shí)用新型，但應(yīng)當(dāng)理解，所用的術(shù)語是說明 和示例性、而非限制性的術(shù)語。由于本實(shí)用新型能夠以多種形式具體實(shí)施而不脫離實(shí)用新 型的精神或?qū)嵸|(zhì)，所以應(yīng)當(dāng)理解，上述實(shí)施例不限于任何前述的細(xì)節(jié)，而應(yīng)在隨附權(quán)利要求 所限定的精神和范圍內(nèi)廣泛地解釋，因此落入權(quán)利要求或其等效范圍內(nèi)的全部變化和改型 都應(yīng)為隨附權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求一種雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，包括電容組，用于對所述雷擊計(jì)數(shù)器放電；電源轉(zhuǎn)換單元，用于將輸入電流轉(zhuǎn)換為向所述電容組進(jìn)行充電的充電電流；開關(guān)單元，與所述電源轉(zhuǎn)換單元和所述電容組連接，用于開通或關(guān)斷所述充電電流；輸入單元，用于輸入操作指令；CPU，用于接收所述操作指令、控制所述電源轉(zhuǎn)換單元電流轉(zhuǎn)換和控制所述開關(guān)單元的開通或關(guān)斷；以及顯示單元，用于根據(jù)所述CPU的輸出進(jìn)行顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，還包括一復(fù)位單元，其 連接于所述CPU。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，還包括一暫停單元，其 連接于所述CPU。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，所述電源 轉(zhuǎn)換單元中包括升壓電路和整流橋，所述升壓電路，用于當(dāng)所述輸入電流為一直流電源時(shí)，將其升壓為一交流電壓后輸入 所述整流橋；以及所述整流橋，用于將所述交流電壓整流為直流信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，所述開關(guān)單元為MOS開關(guān)管。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其特征在于，所述輸入單元為鍵盤。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種雷擊計(jì)數(shù)器的測試裝置，其包括電容組，用于對所述雷擊計(jì)數(shù)器放電；電源轉(zhuǎn)換單元，用于將輸入電流轉(zhuǎn)換為向所述電容組充電的電流；開關(guān)單元，與所述電源轉(zhuǎn)換單元和所述電容組連接，用于開通或關(guān)斷所述電源轉(zhuǎn)換單元對所述電容組的充電電流；輸入單元，用于輸入用戶的操作指令；CPU，用于接收所述輸入單元的輸入信號并控制所述電源轉(zhuǎn)換單元的電流轉(zhuǎn)換和所述開關(guān)單元的通斷；以及顯示單元，用于根據(jù)所述CPU的輸出進(jìn)行顯示。本實(shí)用新型可根據(jù)人為設(shè)置的測試次數(shù)來實(shí)現(xiàn)連續(xù)自動(dòng)測試，極大地方便和簡化了測試操作過程，減少了工作量，節(jié)約了測試時(shí)間。
文檔編號G01R35/00GK201662615SQ200920293068
公開日2010年12月1日 申請日期2009年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月22日
發(fā)明者劉鐵城, 徐志強(qiáng), 李曉麗, 趙康偉 申請人:北京送變電公司