專利名稱：一種同時(shí)適于測(cè)試線路板上各種電子元件參數(shù)的表筆的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種同時(shí)適于測(cè)試線路板上各種電子元件參數(shù)的表筆所屬領(lǐng)域本實(shí)用新型涉及萬(wàn)用表等測(cè)量?jī)x器儀表所配用的測(cè)試表筆，尤其是同 時(shí)適用于測(cè)試已焊接或插接在線路板上的各種電子元件參數(shù)的表筆。
背景技術(shù)：
眾所周知，現(xiàn)有的萬(wàn)用表等測(cè)量?jī)x器儀表所配測(cè)試表筆，由絕緣的筆桿、頂端為尖 錐形的金屬探針、導(dǎo)線及導(dǎo)線插頭等構(gòu)成?，F(xiàn)有表筆用于測(cè)試已焊接或插接在線路板上的電子元器件，如測(cè)試集成電路塊的 相關(guān)參數(shù)，由于集成電路塊的引出腳是一個(gè)接一個(gè)緊密排列的，相鄰兩個(gè)引出腳間只有很 小的間隙，當(dāng)現(xiàn)有表筆的探針磁觸所測(cè)引出腳時(shí)，由于并無(wú)固定接觸位置的結(jié)構(gòu)功能，尖滑 的探針極易從所測(cè)引出腳滑落，同時(shí)碰觸到相鄰的引出腳，引起測(cè)量結(jié)果的不實(shí)變化。若集 成電路塊處于通電狀態(tài)，則還可能造成短路，燒毀集成電路塊。如測(cè)試三極管中間的一極， 則易碰觸旁邊的兩極。有的元件如電阻，往往位置緊貼線路板，引出線很短，現(xiàn)有表筆電不 易穩(wěn)定地與之接觸。
發(fā)明內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有表筆的上述不足，本實(shí)用新型提供一種適用于測(cè)試線路板上各種電子元 件的表筆，通過(guò)改變探針端形狀，可以讓表筆方便可靠地與所測(cè)引出腳接觸，不易與相鄰引 出腳相碰。該表筆仍由筆桿、探針、導(dǎo)線及導(dǎo)線插頭構(gòu)成，但探針頭部形狀由尖錐形改為如圖 1所示的扁平狀，中間開(kāi)有一個(gè)小凹口，其總寬度應(yīng)小于集成電路塊引出腳最大寬度。用 于線路板上集成電路塊測(cè)試時(shí)，探針頭部插置于所測(cè)引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙 處，這樣可以既保證與所測(cè)引出腳可靠接觸，又不會(huì)左右移動(dòng)與相鄰引出腳相碰。用于線路 板上電阻、二極管、三極管等電子元件上參數(shù)測(cè)試時(shí)，可以探針頭部的凹口，卡住所測(cè)引出 腳，保證穩(wěn)定可靠的接觸。

圖1探針頭部形狀和測(cè)試位置示意圖附圖標(biāo)記1、插座；2、集成電路塊；3、插孔；4、引出腳；5、集成電路塊測(cè)試位置示 意；6、探針頭部
具體實(shí)施方式
探針的后半部嵌入筆桿，在筆桿中間與導(dǎo)線相連，導(dǎo)線的另一端連接插頭，插頭的 類型視所配屬的儀表而定(如是配萬(wàn)用表還是配示波器)。探針的頭部為如圖1所示的扁 平狀，中間開(kāi)有一小凹口，其頭部總寬度小于集成電路塊引出腳最大寬度。
權(quán)利要求一種同時(shí)適于測(cè)試線路板上各種電子元件參數(shù)的表筆.由探針、筆桿、導(dǎo)線及導(dǎo)線插頭構(gòu)成，其特征是探針頭部形狀為扁平狀，中間開(kāi)有一小凹口。
專利摘要一種同時(shí)適用于測(cè)試線路板上各種電子元件參數(shù)的表筆，其探針頭部形狀由尖錐形改為扁平狀，中間并開(kāi)有一小凹口，可以方便可靠地與所測(cè)試的線路板上的集成電路塊、電阻、三極管等電子元件的引出腳接觸。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201576007SQ20092017199
公開(kāi)日2010年9月8日 申請(qǐng)日期2009年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月12日
發(fā)明者強(qiáng)曉明 申請(qǐng)人:強(qiáng)曉明