專利名稱：一種pcb板測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種PCB板測(cè)試電路。
技術(shù)背景PCB板測(cè)試，待測(cè)元件的內(nèi)阻大小不一，對(duì)于內(nèi)阻較大的元件，測(cè)試精 度容易保證，內(nèi)阻較小的元件，難以保證測(cè)試精度。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種PCB板測(cè)試電路，提高測(cè)試精度。 本實(shí)用新型提供一種PCB板測(cè)試電路，包括電源、電容和兩個(gè)測(cè)試端子， 所述電源的一端與電容的一端相連，所述電容的另一端與一個(gè)測(cè)試端子相連， 所述電源的另一端與另一個(gè)測(cè)試端子相連，所述兩個(gè)測(cè)試端子分別與PCB板 上的元件兩端相連。


圖l是本實(shí)用新型PCB板測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例的具體實(shí)施方式
做進(jìn)一步的詳細(xì)闡述。請(qǐng)參閱圖1, 一種PCB板測(cè)試電路，包括電源l、電容2和兩個(gè)測(cè)試端子 3、 4,電源1的一端與電容2的一端相連，電容2的另一端與一個(gè)測(cè)試端子3 相連，電源1的另一端與另一個(gè)測(cè)試端子4相連，兩個(gè)測(cè)試端子分別與PCB 板上的元件兩端相連。當(dāng)PCB板上的元件內(nèi)阻較小時(shí)，電容對(duì)元件起到電流緩沖的作用；另一 方面，電容是高阻抗元件，可以提高內(nèi)阻較小元件的測(cè)試精度。3本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解附圖只是一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的示意圖，附圖中的 模塊并不一定是實(shí)施本實(shí)用新型所必須的。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)施例 中的裝置中的模塊可以按照實(shí)施例描述分布于實(shí)施例的裝置中，也可以進(jìn)行 相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施例的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施例的模塊可以 合并為一個(gè)模塊，也可以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子模塊。
以上所述僅是本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域 的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以作出若干 改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1、一種PCB板測(cè)試電路，其特征在于，包括電源、電容和兩個(gè)測(cè)試端子，所述電源的一端與電容的一端相連，所述電容的另一端與一個(gè)測(cè)試端子相連，所述電源的另一端與另一個(gè)測(cè)試端子相連，所述兩個(gè)測(cè)試端子分別與PCB板上的元件兩端相連。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種PCB板測(cè)試電路，包括電源、電容和兩個(gè)測(cè)試端子，所述電源的一端與電容的一端相連，所述電容的另一端與一個(gè)測(cè)試端子相連，所述電源的另一端與另一個(gè)測(cè)試端子相連，所述兩個(gè)測(cè)試端子分別與PCB板上的元件兩端相連。提高測(cè)試精度。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201348649SQ20092011361
公開日2009年11月18日 申請(qǐng)日期2009年2月10日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月10日
發(fā)明者張文軍 申請(qǐng)人:張文軍