專(zhuān)利名稱(chēng)：無(wú)損探傷測(cè)厚儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)厚儀，尤其是一種無(wú)損探傷測(cè)厚儀。
背景技術(shù)：
一般的測(cè)厚儀通常只能測(cè)試物體的外徑等外在厚度，而涉 及物體內(nèi)在的一些尺寸則無(wú)法進(jìn)行探傷和測(cè)量，例如珍珠的實(shí) 際厚度用一般的測(cè)厚儀無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量，只能將珍珠從中心切 開(kāi)，然后放在工具顯微鏡下對(duì)珍珠進(jìn)行測(cè)量，計(jì)算珍珠內(nèi)核邊 緣到外核邊緣的實(shí)際厚度，這樣珍珠就被破壞了。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述缺陷，本實(shí)用新型提供了一種無(wú)損探傷測(cè)厚 儀，可對(duì)物體進(jìn)行探傷測(cè)量。
本實(shí)用新型為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是 一種無(wú)損探傷測(cè)厚儀，包括機(jī)殼、控制電腦、x光射線(xiàn)源、 數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器和圖形界面顯示屏，所述圖形界面顯示屏 與控制電腦電連接，所述控制電腦通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器控制X光射 線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)，X光射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)的一面為X光線(xiàn) 發(fā)射面，該X光線(xiàn)發(fā)射面外活動(dòng)設(shè)有待測(cè)物夾具，待測(cè)物可固 定定位于待測(cè)物夾具中，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，該待測(cè)物夾具的軸向中心線(xiàn)與所述X光線(xiàn)發(fā)射面平行，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器設(shè) 于所述待測(cè)物夾具背離x光射線(xiàn)源的一面外，所述數(shù)字平板圖 像產(chǎn)生器可捕捉穿過(guò)待測(cè)物后的X光射線(xiàn)并形成圖像，該數(shù)字
平板圖像產(chǎn)生器通過(guò)圖像采集卡將所述圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X， 控制電腦將該圖像顯示在圖形界面顯示屏上。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，設(shè)有運(yùn)動(dòng)控制卡和第一、 二步進(jìn)電機(jī)，所述運(yùn)動(dòng)控制卡受控制電腦控制，且所述運(yùn)動(dòng)控 制卡分別控制第一、二步進(jìn)電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，第
一步進(jìn)電機(jī)控制待測(cè)物夾具徑向靠近及遠(yuǎn)離x光射線(xiàn)源，第二
步進(jìn)電機(jī)控制待測(cè)物夾具軸向轉(zhuǎn)動(dòng)。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述控制電腦通過(guò)A/D 轉(zhuǎn)換器控制X光射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)的結(jié)構(gòu)是所述控制電腦 包括電腦光管控制界面，該電腦光管控制界面同時(shí)發(fā)出電壓控 制數(shù)字信號(hào)和電流控制數(shù)字信號(hào)，該電壓控制數(shù)字信號(hào)和電流 控制數(shù)字信號(hào)分別經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成電壓模擬信號(hào)和電 流模擬信號(hào)后傳輸給X光射線(xiàn)源。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器 可捕捉穿過(guò)待測(cè)物后的X光射線(xiàn)并形成圖像的結(jié)構(gòu)是所述數(shù) 字平板圖像產(chǎn)生器包括數(shù)字平板探測(cè)器，該數(shù)字平板探測(cè)器包 括光敏感熒光片和CMOS相機(jī)，光敏感熒光片和CMOS相機(jī)固設(shè) 于數(shù)字平板探測(cè)器內(nèi)，該數(shù)字平板探測(cè)器上設(shè)有探測(cè)面，所述 CMOS相機(jī)的感光片正對(duì)X光射線(xiàn)源的X光線(xiàn)發(fā)射面，所述光 敏感熒光片緊貼CMOS相機(jī)的感光片表面，所述數(shù)字平板探測(cè) 器的探測(cè)面緊貼所述光敏感熒光片表面，X光射線(xiàn)穿過(guò)待測(cè)物后穿過(guò)數(shù)字平板探測(cè)器的探測(cè)面投射在光敏感熒光片上，光敏
感熒光片受X光射線(xiàn)照射產(chǎn)生的熒光被CMOS相機(jī)捕捉后形成 圖像。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述X射線(xiàn)源包括電子槍 和陽(yáng)極耙材，所述電子槍與陽(yáng)極耙材之間設(shè)有電場(chǎng)，電子槍發(fā) 出的高速電子束通過(guò)電場(chǎng)聚焦后打在陽(yáng)極靶材上，產(chǎn)生X光射 線(xiàn)。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述高速電子束的焦點(diǎn)小 于等于8微米。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述控制電腦、X光射線(xiàn) 源、數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器、A/D轉(zhuǎn)換器、圖像采集卡、運(yùn)動(dòng)控 制卡和第一、二步進(jìn)電機(jī)固定定位于機(jī)殼內(nèi)，所述圖形界面顯 示屏固定定位于機(jī)殼外，所述機(jī)殼上設(shè)有樣品窗，所述待測(cè)物 夾具活動(dòng)定位于機(jī)殼中對(duì)應(yīng)樣品窗的高度范圍內(nèi)，該樣品窗可 打開(kāi)和關(guān)閉。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述樣品窗和機(jī)殼之間的 機(jī)殼上設(shè)有感應(yīng)裝置，該感應(yīng)裝置感應(yīng)樣品窗的打開(kāi)和關(guān)閉狀 態(tài)并對(duì)應(yīng)傳信于控制電腦，控制電腦相應(yīng)地控制X光射線(xiàn)源停 止發(fā)射X光射線(xiàn)和發(fā)射X光射線(xiàn)。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述樣品窗和機(jī)殼之間的 機(jī)殼上設(shè)有開(kāi)關(guān)裝置，該開(kāi)關(guān)裝置的開(kāi)啟對(duì)應(yīng)樣品窗的關(guān)閉， 該開(kāi)關(guān)裝置的關(guān)閉對(duì)應(yīng)樣品窗的打開(kāi)，該開(kāi)關(guān)裝置傳信于控制 電腦，開(kāi)關(guān)裝置開(kāi)啟時(shí)控制電腦控制X光射線(xiàn)源停止發(fā)射X 光射線(xiàn)，開(kāi)關(guān)裝置關(guān)閉時(shí)控制電腦控制X射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)。本實(shí)用新型的有益效果是利用X光射線(xiàn)穿透待測(cè)物，采 用數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器來(lái)捕捉穿過(guò)待測(cè)物后的X光射線(xiàn)投影 并形成圖像，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器通過(guò)圖像采集卡將圖像傳輸 到控制電腦，最終將圖像顯示在圖形界面顯示屏上，實(shí)際操作 時(shí)利用已知尺寸的物體來(lái)界定圖形界面顯示屏每一像素的尺 寸，通過(guò)待測(cè)物被捕捉的圖形的像素面陣的明暗邊緣，來(lái)精確 換算出待測(cè)物的尺寸及各邊緣間的厚度，從而得到所需的厚 度。


圖1為本實(shí)用新型原理框架示意圖2為本實(shí)用新型所述待測(cè)物的圖形捕捉原理示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例 一種無(wú)損探傷測(cè)厚儀，包括機(jī)殼、控制電腦l、 X光射線(xiàn)源2、數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器3和圖形界面顯示屏4， 所述圖形界面顯示屏4與控制電腦1電連接，所述控制電腦1 通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器11控制X光射線(xiàn)源2發(fā)射X光射線(xiàn)21， X光 射線(xiàn)源2發(fā)射X光射線(xiàn)21的一面為X光線(xiàn)發(fā)射面22，該X光 線(xiàn)發(fā)射面22外活動(dòng)設(shè)有待測(cè)物夾具5，待測(cè)物6可固定定位 于待測(cè)物夾具5中，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，該待測(cè)物夾具5的軸 向中心線(xiàn)與所述X光線(xiàn)發(fā)射面22平行，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器 3設(shè)于所述待測(cè)物夾具5背離X光射線(xiàn)源2的一面外，所述數(shù) 字平板圖像產(chǎn)生器3可捕捉穿過(guò)待測(cè)物6后的X光射線(xiàn)21并形成圖像，該數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器3通過(guò)圖像采集卡31將所
述圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X1，控制電腦1將該圖像顯示在圖形界 面顯示屏4上。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，設(shè)有運(yùn)動(dòng)控制卡50和第 一、二步進(jìn)電機(jī)51、 52，所述運(yùn)動(dòng)控制卡50受控制電腦1控 制，且所述運(yùn)動(dòng)控制卡50分別控制第一、二步進(jìn)電機(jī)51、 52 運(yùn)轉(zhuǎn)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，第一步進(jìn)電機(jī)51控制待測(cè)物夾具 5徑向靠近及遠(yuǎn)離X光射線(xiàn)源2，第二步進(jìn)電機(jī)52控制待測(cè)物 夾具5軸向轉(zhuǎn)動(dòng)。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述控制電腦1通過(guò)A/D 轉(zhuǎn)換器11控制X光射線(xiàn)源2發(fā)射X光射線(xiàn)21的結(jié)構(gòu)是所述 控制電腦1包括電腦光管控制界面，該電腦光管控制界面同時(shí) 發(fā)出電壓控制數(shù)字信號(hào)和電流控制數(shù)字信號(hào)，該電壓控制數(shù)字 信號(hào)和電流控制數(shù)字信號(hào)分別經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器11轉(zhuǎn)換成電壓 模擬信號(hào)和電流模擬信號(hào)后傳輸給X光射線(xiàn)源2。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器 3可捕捉穿過(guò)待測(cè)物6后的X光射線(xiàn)21并形成圖像的結(jié)構(gòu)是 所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器3包括數(shù)字平板探測(cè)器，該數(shù)字平板 探測(cè)器包括光敏感熒光片和CMOS相機(jī)，光敏感熒光片和CMOS 相機(jī)固設(shè)于數(shù)字平板探測(cè)器內(nèi)，該數(shù)字平板探測(cè)器上設(shè)有探測(cè) 面，所述CMOS相機(jī)的感光片正對(duì)X光射線(xiàn)源2的X光線(xiàn)發(fā)射 面22，所述光敏感熒光片緊貼CMOS相機(jī)的感光片表面，所述 數(shù)字平板探測(cè)器的探測(cè)面緊貼所述光敏感熒光片表面，X光射 線(xiàn)21穿過(guò)待測(cè)物6后穿過(guò)數(shù)字平板探測(cè)器的探測(cè)面投射在光敏感熒光片上，光敏感熒光片受X光射線(xiàn)21照射產(chǎn)生的熒光 被CMOS相機(jī)捕捉后形成圖像。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述X射線(xiàn)源2包括電子 槍和陽(yáng)極靶材，所述電子槍與陽(yáng)極靶材之間設(shè)有電場(chǎng)，電子槍 發(fā)出的髙速電子束通過(guò)電場(chǎng)聚焦后打在陽(yáng)極靶材上，產(chǎn)生X 光射線(xiàn)21。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述高速電子束的焦點(diǎn)小 于等于8微米。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，其特征在于所述控制電 腦l、 X光射線(xiàn)源2、數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器3、 A/D轉(zhuǎn)換器11、 圖像采集卡31、運(yùn)動(dòng)控制卡50和第一、二步進(jìn)電機(jī)51、 52 固定定位于機(jī)殼內(nèi)，所述圖形界面顯示屏4固定定位于機(jī)殼 外，所述機(jī)殼上設(shè)有樣品窗，所述待測(cè)物夾具5活動(dòng)定位于機(jī) 殼中對(duì)應(yīng)樣品窗的高度范圍內(nèi)，該樣品窗可打開(kāi)和關(guān)閉。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述樣品窗和機(jī)殼之間的 機(jī)殼上設(shè)有感應(yīng)裝置，該感應(yīng)裝置感應(yīng)樣品窗的打開(kāi)和關(guān)閉狀 態(tài)并對(duì)應(yīng)傳信于控制電腦1，控制電腦1相應(yīng)地控制X光射線(xiàn) 源2停止發(fā)射X光射線(xiàn)21和發(fā)射X光射線(xiàn)21。
作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述樣品窗和機(jī)殼之間的 機(jī)殼上設(shè)有開(kāi)關(guān)裝置，該開(kāi)關(guān)裝置的開(kāi)啟對(duì)應(yīng)樣品窗的關(guān)閉， 該開(kāi)關(guān)裝置的關(guān)閉對(duì)應(yīng)樣品窗的打開(kāi)，該開(kāi)關(guān)裝置傳信于控制 電腦1，幵關(guān)裝置開(kāi)啟時(shí)控制電腦1控制X光射線(xiàn)源2停止發(fā) 射X光射線(xiàn)21，開(kāi)關(guān)裝置關(guān)閉時(shí)控制電腦1控制X射線(xiàn)源2 發(fā)射X光射線(xiàn)21。具體實(shí)施時(shí)，將設(shè)備接入電源并保證機(jī)殼接地；打開(kāi)設(shè)備 電源開(kāi)關(guān)，預(yù)熱15分鐘后，打開(kāi)樣品窗，將待測(cè)物6放入待 測(cè)物夾具5，關(guān)上樣品窗，以防X光射線(xiàn)21泄漏；開(kāi)啟X光 射線(xiàn)源2， X光射線(xiàn)21穿過(guò)待測(cè)物6后穿過(guò)數(shù)字平板探測(cè)器的 探測(cè)面投射在光敏感熒光片上，光敏感熒光片受X光射線(xiàn)21 照射產(chǎn)生的熒光被CMOS相機(jī)捕捉后形成圖像，圖像經(jīng)圖像采 集卡31傳輸至控制電腦1并最終顯示在圖形界面顯示屏4上。
以珍珠的實(shí)際厚度測(cè)量為例，在測(cè)量之前先用一個(gè)已知半 徑大叫的鋼球進(jìn)行成像，通過(guò)這個(gè)成像就可換算出圖形界面顯 示屏4的每個(gè)像素的大小，在測(cè)量珍珠時(shí)，軟件通過(guò)圖像上顯 示珍珠內(nèi)核和外核之間的明暗邊緣分辨珍珠內(nèi)核和珍珠外核， 計(jì)算出珍珠的內(nèi)核半徑和珍珠的半徑有幾個(gè)像素組成，再乘以 像素的尺寸，即可計(jì)算出珍珠的內(nèi)核半徑和珍珠的半徑，從而 得到珍珠的實(shí)際厚度尺寸。
權(quán)利要求1、一種無(wú)損探傷測(cè)厚儀，包括機(jī)殼、控制電腦(1)、X光射線(xiàn)源(2)、數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器(3)和圖形界面顯示屏(4)，所述圖形界面顯示屏與控制電腦電連接，其特征在于所述控制電腦(1)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器(11)控制X光射線(xiàn)源(2)發(fā)射X光射線(xiàn)(21)，X光射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)的一面為X光線(xiàn)發(fā)射面(22)，該X光線(xiàn)發(fā)射面外活動(dòng)設(shè)有待測(cè)物夾具(5)，待測(cè)物(6)可固定定位于待測(cè)物夾具中，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，該待測(cè)物夾具的軸向中心線(xiàn)與所述X光線(xiàn)發(fā)射面平行，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器(3)設(shè)于所述待測(cè)物夾具背離X光射線(xiàn)源的一面外，所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器可捕捉穿過(guò)待測(cè)物后的X光射線(xiàn)并形成圖像，該數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器通過(guò)圖像采集卡(31)將所述圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X(1)，控制電腦將該圖像顯示在圖形界面顯示屏(4)上。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 設(shè)有運(yùn)動(dòng)控制卡(50)和第一、二步進(jìn)電機(jī)(51、 52)，所述 運(yùn)動(dòng)控制卡受控制電腦(1)控制，且所述運(yùn)動(dòng)控制卡分別控 制第一、二步進(jìn)電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)，以使用方向?yàn)榛鶞?zhǔn)，第一步進(jìn)電機(jī) 控制待測(cè)物夾具(5)徑向靠近及遠(yuǎn)離X光射線(xiàn)源(2)，第二 步進(jìn)電機(jī)控制待測(cè)物夾具(5)軸向轉(zhuǎn)動(dòng)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 所述控制電腦(1)通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器(11)控制X光射線(xiàn)源(2 ) 發(fā)射X光射線(xiàn)(21)的結(jié)構(gòu)是所述控制電腦包括電腦光管控 制界面，該電腦光管控制界面同時(shí)發(fā)出電壓控制數(shù)字信號(hào)和電流控制數(shù)字信號(hào)，該電壓控制數(shù)字信號(hào)和電流控制數(shù)字信號(hào)分別經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成電壓模擬信號(hào)和電流模擬信號(hào)后傳 輸給X光射線(xiàn)源。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器(3)可捕捉穿過(guò)待測(cè)物(6)后的X 光射線(xiàn)(21)并形成圖像的結(jié)構(gòu)是所述數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器 包括數(shù)字平板探測(cè)器，該數(shù)字平板探測(cè)器包括光敏感熒光片和 CMOS相機(jī)，光敏感熒光片和CMOS相機(jī)固設(shè)于數(shù)字平板探測(cè)器 內(nèi)，該數(shù)字平板探測(cè)器上設(shè)有探測(cè)面，所述CMOS相機(jī)的感光 片正對(duì)X光射線(xiàn)源(2)的X光線(xiàn)發(fā)射面(22)，所述光敏感熒 光片緊貼CMOS相機(jī)的感光片表面，所述數(shù)字平板探測(cè)器的探 測(cè)面緊貼所述光敏感熒光片表面，X光射線(xiàn)穿過(guò)待測(cè)物后穿過(guò) 數(shù)字平板探測(cè)器的探測(cè)面投射在光敏感熒光片上，光敏感熒光 片受X光射線(xiàn)照射產(chǎn)生的熒光被CMOS相機(jī)捕捉后形成圖像。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征 在于所述X射線(xiàn)源包括電子槍和陽(yáng)極靶材，所述電子槍與陽(yáng) 極靶材之間設(shè)有電場(chǎng)，電子槍發(fā)出的高速電子束通過(guò)電場(chǎng)聚焦 后打在陽(yáng)極靶材上，產(chǎn)生X光射線(xiàn)(21)。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 所述高速電子束的焦點(diǎn)直徑小于等于8微米。
7、 根據(jù)權(quán)利要求l、 2、 4或6所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀， 其特征在于所述控制電腦(1)、 X光射線(xiàn)源(2)、數(shù)字平板 圖像產(chǎn)生器(3)、 A/D轉(zhuǎn)換器(11)、圖像采集卡(31)、運(yùn)動(dòng) 控制卡(50)和第一、二步進(jìn)電機(jī)(51、 52)固定定位于機(jī)殼內(nèi)，所述圖形界面顯示屏(4)固定定位于機(jī)殼外，所述機(jī)殼 上設(shè)有樣品窗，所述待測(cè)物夾具(5)活動(dòng)定位于機(jī)殼中對(duì)應(yīng) 樣品窗的高度范圍內(nèi)，該樣品窗可打開(kāi)和關(guān)閉。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 所述樣品窗和機(jī)殼之間的機(jī)殼上設(shè)有感應(yīng)裝置，該感應(yīng)裝置感 應(yīng)樣品窗的打開(kāi)和關(guān)閉狀態(tài)并對(duì)應(yīng)傳信于控制電腦(1)，控制 電腦相應(yīng)地控制X光射線(xiàn)源(2)停止發(fā)射X光射線(xiàn)(21)和 發(fā)射X光射線(xiàn)(21)。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的無(wú)損探傷測(cè)厚儀，其特征在于: 所述樣品窗和機(jī)殼之間的機(jī)殼上設(shè)有開(kāi)關(guān)裝置，該開(kāi)關(guān)裝置的 開(kāi)啟對(duì)應(yīng)樣品窗的關(guān)閉，該開(kāi)關(guān)裝置的關(guān)閉對(duì)應(yīng)樣品窗的打 開(kāi)，該開(kāi)關(guān)裝置傳信于控制電腦(1)，開(kāi)關(guān)裝置開(kāi)啟時(shí)控制電 腦控制X光射線(xiàn)源(2)停止發(fā)射X光射線(xiàn)(21)，開(kāi)關(guān)裝置關(guān) 閉時(shí)控制電腦控制X射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)(21)。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種無(wú)損探傷測(cè)厚儀，控制電腦通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器控制X光射線(xiàn)源發(fā)射X光射線(xiàn)，X光線(xiàn)發(fā)射面外活動(dòng)設(shè)有待測(cè)物夾具，待測(cè)物可固定定位于待測(cè)物夾具中，待測(cè)物夾具的軸向中心線(xiàn)與X光線(xiàn)發(fā)射面平行，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器設(shè)于待測(cè)物夾具背離X光射線(xiàn)源的一面外，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器可捕捉穿過(guò)待測(cè)物后的X光射線(xiàn)并形成圖像，數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器通過(guò)圖像采集卡將圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X，控制電腦將該圖像顯示在圖形界面顯示屏上，實(shí)際操作時(shí)利用已知尺寸的物體來(lái)界定圖形界面顯示屏每一像素的尺寸，通過(guò)待測(cè)物被捕捉的圖形的像素面陣的明暗邊緣，來(lái)精確換算出待測(cè)物的尺寸及各邊緣間的厚度，從而得到所需的厚度。
文檔編號(hào)G01B15/02GK201425473SQ200920044878
公開(kāi)日2010年3月17日 申請(qǐng)日期2009年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月21日
發(fā)明者林毅寧 申請(qǐng)人:昆山善思光電科技有限公司