專利名稱：一種模塊信號測試接口系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明主要涉及模塊信號測試領(lǐng)域，特別是指一種模塊信號測試接口系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在芯片設(shè)計或FPGA (Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)設(shè)計 中，對于模塊的內(nèi)部信號是否正確需要進行測試，測試通常是通過專用的測試管腳將內(nèi)部 信號引出至邏輯分析儀來加以調(diào)試判斷，現(xiàn)有技術(shù)中典型的調(diào)試接口如圖1所示。
在圖l所示系統(tǒng)中，各個子模塊(sub module)都有自己內(nèi)部需要測試的信號，各 個子模塊在進行開發(fā)時將需要關(guān)注的信號連接至各子模塊的輸出測試管腳上，然后所有子 模塊的輸出測試管腳連接至頂層模塊(top module)，并由頂層模塊的輸出測試接口最終輸 出待測試的信號。這種結(jié)構(gòu)需要將所有的子模塊測試接口都連接至頂層模塊，如果此時每 個子模塊需要測試的信號過多，則會造成頂層模塊測試接口的扇入非常的大，這在流程中 尤其是后端的布局布線中會造成極大的影響。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種模塊信號測試接口系統(tǒng)，通過多級路由模塊的設(shè)計解決了頂層模 塊(最高級路由模塊)輸入接口扇入過大的問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的
—種模塊信號測試接口系統(tǒng)，包括 至少一個待測子模塊，所述待測子模塊包括輸出測試管腳，通過所述輸出測試管 腳輸出待測試的信號； 至少兩級相互連接的路由模塊，用于路由所述待測子模塊輸出的待測試的信號， 并由所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊最終輸出待測試的信號。
優(yōu)選的，還包括 信號測試模塊，與所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊連接，
用于對所述最高級的路由模塊輸出的待測試的信號進行測試。 優(yōu)選的，所述路由模塊包括 多路選擇單元，用于對輸入所述路由模塊的多路待測試的信號進行選擇輸出。
優(yōu)選的，所述路由模塊還包括 控制單元，與所述多路選擇單元連接，用于產(chǎn)生控制信息控制所述多路選擇單元， 所述多路選擇單元在所述控制信息的控制下對輸入所述路由模塊的多路待測試的信號進 行選擇輸出。 優(yōu)選的，所述信號測試模塊為邏輯分析儀。
優(yōu)選的，所述多路選擇單元為寄存器。 本發(fā)明技術(shù)方案通過至少兩級路由模塊的設(shè)計，使全部待測子模塊不會全部連接 至頂層模塊(第一級路由模塊)的輸入接口，使第一級路由模塊可以只與第二級路由模塊連接，再由第二級路由模塊或其它路由模塊連接待測子模塊，從而能夠減少頂層模塊(第 一級路由模塊)的扇入，解決現(xiàn)有技術(shù)中頂層模塊(第一級路由模塊)輸入接口扇入過大 的問題。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可 以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中典型的調(diào)試接口示意圖； 圖2為本發(fā)明一種模塊信號測試接口系統(tǒng)第一實施例的組成結(jié)構(gòu)圖；
圖3為本發(fā)明一種模塊信號測試接口系統(tǒng)第二實施例的組成結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于 本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他 實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。 為了更清楚的對本發(fā)明技術(shù)方案進行描述，第一實施例以模塊信號測試接口系統(tǒng) 中包括兩級路由模塊進行說明。 參照圖2，示出了本發(fā)明一種模塊信號測試接口系統(tǒng)第一實施例的組成結(jié)構(gòu)圖。所 述模塊信號測試接口系統(tǒng)包括至少一個待測子模塊和兩級路由模塊，所述兩級路由模塊包 括第一級路由模塊和第二級路由模塊，其中，所述第二級路由模塊的個數(shù)可以根據(jù)待測子 模塊的個數(shù)確定，本發(fā)明并不對第一級路由模塊和第二級路由模塊的數(shù)量進行限定，由于 所述第一級路由模塊是最終輸出單元，所以第一級路由模塊的數(shù)量在本發(fā)明實施例中優(yōu)選 是一個。 所述待測子模塊包括輸出測試管腳，通過所述輸出測試管腳輸出待測試的信號。
所述第二級路由模塊(下級路由模塊)與所述第一級路由模塊(上級路由模塊， 在本實施例中也為頂層模塊)連接，所述各待測子模塊的輸出測試管腳與所述第二級路由 模塊連接，第二級路由模塊將所述待測子模塊輸出的待測試的信號路由至所述第一級路由 模塊，并由所述第一級路由模塊最終輸出待測試的信號。 在上述實施例中，待測試子模塊通過輸出測試管腳全部連接至第二級路由模塊， 從而能夠最大程度的減少第一級路由模塊(頂層模塊)的扇入。在本發(fā)明的另一實施例 中，所述待測試子模塊也可以連接至第一級路由模塊，也就是說，待測試子模塊不僅可以連 接至最下級的路由模塊，還可以連接至其它各級路由模塊，包括第一級路由模塊。
進一步，本發(fā)明所述模塊信號測試接口系統(tǒng)還可以包括 信號測試模塊，與所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊(第一 級路由模塊)連接，用于對所述最高級的路由模塊(第一級路由模塊)輸出的待測試的信 號進行測試。
所述信號測試模塊優(yōu)選為邏輯分析儀。 當各級路由模塊連接多個待測試子模塊或下級路由模塊時，需要對輸入的多路待 測試的信號進行選擇。因此所述路由模塊包括 多路選擇單元，用于對輸入所述路由模塊的多路待測試的信號進行選擇輸出。 各路由模塊都可以包括多路選擇單元，用于進行多路信號的選擇輸出。所述多路
選擇單元優(yōu)選為寄存器。 優(yōu)選的，所述路由模塊還包括 控制單元(圖未示)，與所述多路選擇單元連接，用于產(chǎn)生控制信息控制所述多路 選擇單元，所述多路選擇單元在所述控制信息的控制下對輸入所述路由模塊的多路待測試
的信號進行選擇輸出。 參照圖3，示出了本發(fā)明一種模塊信號測試接口系統(tǒng)第二實施例的組成結(jié)構(gòu)圖。在
本實施例中，所述模塊信號測試接口系統(tǒng)包括至少一個待測子模塊和三級路由模塊，所述
三級路由模塊包括第一級路由模塊、第二級路由模塊和第三級路由模塊，其中，所述第二級
路由模塊和第三級路由模塊的個數(shù)可以根據(jù)待測子模塊的個數(shù)確定，本發(fā)明并不對第一級
路由模塊、第二級路由模塊和第三級路由模塊的數(shù)量進行限定，由于所述第一級路由模塊
是最終輸出單元，所以第一級路由模塊的數(shù)量在本發(fā)明實施例中優(yōu)選是一個。 本實施例與第一實施例的不同之處還在于所述待測試子模塊除了可以連接至第
三級路由模塊外，還可以連接至第二級路由模塊，甚至第一級路由模塊。 所述第三級路由模塊與所述第二級路由模塊連接，第二級路由模塊與第一級路由 模塊連接，并由所述第一級路由模塊最終輸出待測試的信號。 圖2、圖3雖然只是以兩級路由模塊和三級路由模塊進行說明，本領(lǐng)域普通技術(shù)人 員可以理解，本發(fā)明技術(shù)方案并不僅限于此，本發(fā)明所述模塊信號測試接口系統(tǒng)還可以擴 展至更多級，其組成原理都是一樣的，在此不再進行贅述。在本發(fā)明各實施例的具體實現(xiàn)過 程中，優(yōu)選的是根據(jù)平均原理將各個邏輯上相關(guān)的子模塊盡量放置到同一級路由模塊下， 邏輯上相關(guān)的子模塊是指相互之間存在信號交互或其它關(guān)系的子模塊。 本發(fā)明技術(shù)方案通過至少兩級路由模塊的設(shè)計，使全部待測子模塊不會全部連接 至頂層模塊(第一級路由模塊)的輸入接口，使第一級路由模塊可以只與第二級路由模塊 連接，再由第二級路由模塊或其它路由模塊連接待測子模塊，從而能夠減少頂層模塊(第 一級路由模塊)的扇入，解決現(xiàn)有技術(shù)中頂層模塊(第一級路由模塊)輸入接口扇入過大 的問題。 本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用 以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包 含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，包括至少一個待測子模塊，所述待測子模塊包括輸出測試管腳，通過所述輸出測試管腳輸出待測試的信號；至少兩級相互連接的路由模塊，用于路由所述待測子模塊輸出的待測試的信號，并由所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊最終輸出待測試的信號。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，還包括 信號測試模塊，與所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊連接，用于對所述最高級的路由模塊輸出的待測試的信號進行測試。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，所述路由模塊包括多路選擇單元，用于對輸入所述路由模塊的多路待測試的信號進行選擇輸出。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，所述路由模塊還包括 控制單元，與所述多路選擇單元連接，用于產(chǎn)生控制信息控制所述多路選擇單元，所述多路選擇單元在所述控制信息的控制下對輸入所述路由模塊的多路待測試的信號進行選 擇輸出。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，所述信號測試模塊為 邏輯分析儀。
6. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的模塊信號測試接口系統(tǒng)，其特征在于，所述多路選擇單元為 寄存器。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種模塊信號測試接口系統(tǒng)。所述模塊信號測試接口系統(tǒng)包括至少一個待測子模塊，所述待測子模塊包括輸出測試管腳，通過所述輸出測試管腳輸出待測試的信號；至少兩級相互連接的路由模塊，用于路由所述待測子模塊輸出的待測試的信號，并由所述至少兩級相互連接的路由模塊中最高級的路由模塊最終輸出待測試的信號。本發(fā)明技術(shù)方案通過多級路由模塊的設(shè)計解決了頂層模塊(最高級路由模塊)輸入接口扇入過大的問題。
文檔編號G01R31/28GK101738577SQ20091024332
公開日2010年6月16日 申請日期2009年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月21日
發(fā)明者萬紅星 申請人:北京中星微電子有限公司