專利名稱:一種電路布局的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是有關(guān)一種電路布局的檢測方法,尤指一種利用底片檢查程序來檢測軟體 零件時,將預定設(shè)置0歐姆電阻的軟體零件兩端連接的線段,利用特殊線徑來做取代,讓底 片檢查程序來檢測軟體零件時能忽略設(shè)置0歐姆電阻兩端不同線路而必須強行連接時所 產(chǎn)生的錯誤訊息,待檢測完畢后,再恢復0歐姆電阻的軟體零件設(shè)置,而使電路設(shè)計者與印 刷電路廠之間減少重復檢查的機會。
背景技術(shù):
目前有些許邏輯線路設(shè)計為0歐姆,為了省去零件及打件時間,必須制作一個兩 端相連的軟體零件(Layout Symbol),然而此一包裝兩端的網(wǎng)狀系統(tǒng)名稱(Net Name)并不 相同,而必須強行連接,因此必會產(chǎn)生錯誤訊息,而當我們要利用一底片檢查程序來檢查開 路(OPEN)或短路(SHORT)時,就必需要將短路的線段自行移除,這樣在執(zhí)行底片檢查程序 時才不致產(chǎn)生錯誤訊息,然而正確的Gerber Format是必須含有這些線段的,所述Gerber format是電子業(yè)之間通用的數(shù)據(jù)格式,而它是被用于設(shè)計完成與上線制造印刷電路板 (PCB)的中間媒介,也因而造成人力檢查的困擾及印刷電路板販售者(PCBvendor)檢查的 不易,常因而發(fā)生不可預期的錯誤。圖1所公開圈出的地方為0歐姆電阻線段7 (或稱短路電阻線段),其兩端具有不 同信號,但必須強行連接兩端時,必定發(fā)生錯誤訊息,因此必須以目視的方式來移除所述0 歐姆電阻線段7,才可以執(zhí)行一底片檢查程序的檢查,但當所述短路線段數(shù)量眾多時,人工 檢視常會有遺漏的地方,如此常因有未發(fā)現(xiàn)的0歐姆電阻線段7,必需一次又一次的重復進 行檢查的工作,直到不再出現(xiàn)錯誤(error)為止,本案正為解決上述問題的方法。
發(fā)明內(nèi)容
基于解決以上所述現(xiàn)有技藝的缺失,本發(fā)明為一種電路布局的檢測方法,主要目 的為利用底片檢查程序來檢測軟體零件時,將預定設(shè)置0歐姆電阻的軟體零件兩端連接的 線段,利用特殊線徑來做取代,讓底片檢查程序來檢測軟體零件時能忽略設(shè)置0歐姆電阻 兩端不同線路而必須強行連接時所產(chǎn)生的錯誤訊息,待檢測完畢后,再恢復0歐姆電阻的 軟體零件設(shè)置,而使電路設(shè)計者與印刷電路廠之間減少重復檢查的機會。其中,所述特殊線徑為5. 77mil。其中,所述特殊線徑的設(shè)定原則為小數(shù)點以下二位皆不為零。其中,所述軟體零件利用一功能選擇過濾器來做為除外條件的設(shè)定。為達上述目的,本發(fā)明的電路布局的檢測方法,其包括有1 開啟底片檢查程序來檢測軟體零件;2 是否檢測到特殊線徑的軟體零件,若為是,執(zhí)行步驟3,若為否,執(zhí)行步驟4 ;
3 忽略所述特殊線徑的軟體零件; 4 繼續(xù)檢查非特殊線徑的軟體零件;
5 底片檢查程序檢測完畢;6 恢復特殊線徑零件的設(shè)置。
圖1為本發(fā)明于一電路布局示意圖;圖2為本發(fā)明電路布局的檢測方法流程圖。附圖標記說明1 開啟底片檢查程序來檢測軟體零件;2 是否檢測到特殊線徑的軟體零件;3 忽略所述特殊線徑的軟體零件;4 繼續(xù)檢查非特殊線徑的軟體零件;5 底片檢查程序檢測完畢;6 恢復特殊線徑零件的設(shè)置;7 0歐姆電阻線段。
具體實施例方式以下結(jié)合附圖,對本實用新型上述的和另外的技術(shù)特征和優(yōu)點作更詳細的說明。本發(fā)明在下述所提出的軟體零件是指實體零件焊接點接腳(PIN)的組合的零件 底片,故多個軟體零件配合必要的線路布局,即可組成一完整電路底片,所述電路底片可供 電路設(shè)計者與印刷電路廠做為檢查使用。請參閱圖2所示,為本發(fā)明的電路布局的檢測方法流程圖,其包括有1 開啟底片檢查程序來檢測軟體零件;2 是否檢測到特殊線徑的軟體零件,若為是,執(zhí)行步驟3,若為否,執(zhí)行步驟4 ;3 忽略所述特殊線徑的軟體零件;4 繼續(xù)檢查非特殊線徑的軟體零件;5 底片檢查程序檢測完畢;6 恢復特殊線徑零件的設(shè)置。通過上述本發(fā)明所公開的電路布局的檢測方法流程,其主要技術(shù)在于利用底片 檢查程序來檢測軟體零件時,將預定設(shè)置0歐姆電阻的軟體零件兩端連接的線段,利用特 殊線徑來做取代,讓底片檢查程序來檢測軟體零件時能忽略設(shè)置0歐姆電阻兩端不同線路 而必須強行連接時所產(chǎn)生的錯誤訊息,待檢測完畢后,再恢復0歐姆電阻的軟體零件設(shè)置, 而使電路設(shè)計者與印刷電路廠之間減少重復檢查的機會。上述在軟體零件中設(shè)定一專用線徑為〃 5.77〃 mil(10_3inCh)使其為特殊0歐 姆(Ohm)電阻連接專用,通過特殊線徑設(shè)定原則為小數(shù)點以下二位皆不為零,表示所述 線徑為特殊零件,而不將其當做錯誤訊息來看待。同時利用一功能選擇過濾器(Feature selection filter)來做軟體零件的除外條件的設(shè)定,因此可減少電路設(shè)計者與印刷電路 廠之間減少重復檢查的機會,同時又可使檢查時間大幅的縮短。以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的,而非限制性的,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解, 在不脫離以下所附權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下,可做出許多修改,變化,或等效,但都將落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電路布局的檢測方法,其特征在于利用底片檢查程序來檢測軟體零件時,將 預定設(shè)置0歐姆電阻的軟體零件兩端連接的線段,利用特殊線徑來做取代,讓底片檢查程 序來檢測軟體零件時能忽略設(shè)置0歐姆電阻兩端不同線路而必須強行連接時所產(chǎn)生的錯 誤訊息,待檢測完畢后,再恢復0歐姆電阻的軟體零件設(shè)置,而使電路設(shè)計者與印刷電路廠 之間減少重復檢查的機會。
2.如權(quán)利要求1所述的電路布局的檢測方法,其特征在于,所述特殊線徑為5.77mil。
3.如權(quán)利要求1所述的電路布局的檢測方法,其特征在于,所述特殊線徑的設(shè)定原則 為小數(shù)點以下二位皆不為零。
4.如權(quán)利要求1所述的電路布局的檢測方法,其特征在于,所述軟體零件利用一功能 選擇過濾器來做為除外條件的設(shè)定。
5.一種電路布局的檢測方法,其特征在于,其包括有(a)開啟底片檢查程序來檢測軟體零件;(b)是否檢測到特殊線徑的軟體零件,若為是,執(zhí)行步驟(c),若為否,執(zhí)行步驟(d);(c)忽略所述特殊線徑的軟體零件;(d)繼續(xù)檢查非特殊線徑的軟體零件;(e)底片檢查程序檢測完畢;以及(f)恢復特殊線徑零件的設(shè)置。
全文摘要
本發(fā)明是一種電路布局的檢測方法,利用底片檢查程序來檢測軟體零件時,將預定設(shè)置0歐姆電阻的軟體零件兩端連接的線段,利用特殊線徑來做取代,讓底片檢查程序來檢測軟體零件時能忽略設(shè)置0歐姆電阻兩端不同線路而必須強行連接時所產(chǎn)生的錯誤訊息,待檢測完畢后,再恢復0歐姆電阻的軟體零件設(shè)置,而使電路設(shè)計者與印刷電路廠之間減少重復檢查的機會。
文檔編號G01R31/02GK102062827SQ200910210950
公開日2011年5月18日 申請日期2009年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月13日
發(fā)明者葉建和, 白金樹 申請人:英業(yè)達股份有限公司