專利名稱：交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了一種在帶電狀態(tài)下測(cè)量高溫、超高壓輸電線路中絕緣子的絕緣電阻 值，并在帶電狀態(tài)下，可以精確的測(cè)量高壓輸電線之中絕緣子的絕緣電阻值，識(shí)別已經(jīng)漏電 但尚未擊穿處于臨界損壞狀態(tài)的絕緣子的方法，以及用該方法實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)裝置。本發(fā)明所 屬技術(shù)領(lǐng)域?yàn)楦邏狠斪冸娫O(shè)備提供的一種交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)裝置或儀器。
背景技術(shù)：
安裝在輸電線路上的絕緣子，在電網(wǎng)的運(yùn)行過(guò)程中絕緣子因長(zhǎng)期經(jīng)受機(jī)電負(fù)荷、 日曬雨淋、冷熱變化等作用，可能出現(xiàn)絕緣電阻降低、開(kāi)裂甚至擊穿等故障，對(duì)供電可靠性 帶來(lái)潛在威脅，因此為了減少停電造成損失，所以絕緣子帶電檢測(cè)意義重大。線路絕緣子的帶電檢測(cè)，因其安裝位置的特殊性及分布區(qū)域的廣泛性，向來(lái)都是 帶電絕緣檢測(cè)的一個(gè)難點(diǎn)。絕緣子一旦出現(xiàn)問(wèn)題就必須立即更換，否則將會(huì)影響高壓輸電 線路的運(yùn)行安全。若干年來(lái)，國(guó)內(nèi)外一直在訓(xùn)練更有效更可靠的定量檢測(cè)方法及裝置，到目前為止， 對(duì)高壓輸電線路絕緣子的檢測(cè)方法及裝置不夠十分有效。國(guó)內(nèi)還大量使用人工高空作業(yè)的 傳統(tǒng)檢測(cè)方式，這種檢測(cè)方式安全性差，檢測(cè)效率低。國(guó)外雖然采用了機(jī)械作業(yè)代替了傳統(tǒng) 的檢測(cè)手段，但是采用的幾種檢測(cè)方式也都存在大量的缺陷，無(wú)法適應(yīng)現(xiàn)代電網(wǎng)的要求，并 且造價(jià)特別高。目前機(jī)械化的檢測(cè)方式基于不同的檢測(cè)原理大致可分為三種。電壓分布法是對(duì)絕緣子的電壓分布進(jìn)行測(cè)量，然后對(duì)相應(yīng)的測(cè)量值進(jìn)行計(jì)算，通 過(guò)得到的計(jì)算結(jié)果來(lái)判斷被測(cè)絕緣子是否正常，蓋方法的計(jì)算非常復(fù)雜、計(jì)算數(shù)據(jù)多、計(jì)算 法不夠準(zhǔn)確，但也只能得到定型的結(jié)果，并且對(duì)計(jì)算機(jī)的要求高，成本高。小球放電法通過(guò)測(cè)量連接到絕緣子的小球產(chǎn)生放電現(xiàn)象時(shí)的距離，判斷絕緣子 兩端的電壓，間接的獲知被測(cè)絕緣子的電壓分布情況，從而檢測(cè)出被測(cè)絕緣子是否正常。遠(yuǎn)紅外探測(cè)法通過(guò)對(duì)被測(cè)絕緣子所發(fā)出的遠(yuǎn)紅外線進(jìn)行探測(cè)，然后通過(guò)其發(fā)出 的紅外線的分布來(lái)無(wú)判斷相應(yīng)的絕緣子是否正常，該方法的使用需要良好、穩(wěn)定的氣象條 件，否則外界對(duì)測(cè)量所造成的干擾是無(wú)法克服的。在這三種傳統(tǒng)的檢測(cè)方法的基礎(chǔ)上，研究人員對(duì)這些檢測(cè)方法實(shí)施了不同的技 術(shù)，完成對(duì)輸電線路上絕緣子的檢測(cè)。其中，200510063334. 4號(hào)中國(guó)專利中介紹了一種絕 緣子帶電檢測(cè)儀和檢測(cè)方法，其中通過(guò)對(duì)電場(chǎng)檢測(cè)探頭的設(shè)置，測(cè)量極板所處位置電場(chǎng)的 平均值，探頭的極板中間位置的電場(chǎng)數(shù)值，通過(guò)檢測(cè)儀的運(yùn)動(dòng)測(cè)量一系列的電場(chǎng)數(shù)據(jù)，通過(guò) 計(jì)算機(jī)得到絕緣子表面電場(chǎng)分布曲線，這種檢測(cè)方法是典型的電壓分布法，計(jì)算數(shù)據(jù)多，計(jì) 算方式復(fù)雜，成本高，并且計(jì)算的結(jié)果也僅僅三測(cè)量處的結(jié)果，非放電型絕緣子的準(zhǔn)確、全 面檢測(cè)。在01134527. 6和01270277. 3號(hào)中國(guó)專利中記載的都屬于同一種高壓輸電線路 絕緣子帶電檢測(cè)裝置，其工作原理基本相同，都是在被檢測(cè)絕緣子的兩端施加檢測(cè)電壓，提 取施加電壓的電壓、電流采樣值，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)計(jì)算被檢測(cè)的絕緣子的絕緣電阻，分析其絕 緣狀態(tài)，這種檢測(cè)實(shí)際上屬于放電法，是通過(guò)改變了檢測(cè)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)處理方式和判定方式，借助于多次采樣，和采樣電壓平均值、采樣電流平均值，來(lái)估算絕緣子的阻值。這種方式， 受到采樣次數(shù)、采樣方式以及室外環(huán)境下絕緣子個(gè)體阻值差異等多方面因素的影響，并且 關(guān)鍵是這種檢測(cè)方式不能很好的檢測(cè)微小電流變化，無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)對(duì)絕緣子的精確檢測(cè)。在 01201765. 5和01102273. 6號(hào)中國(guó)專利中記載了高壓輸電線路絕緣子帶電只能檢測(cè)儀，其 中使用的檢測(cè)方式與上述兩個(gè)專利中的檢測(cè)原理相同，采用了采用中央控制器電路、傳感 器電路、采樣電路、驅(qū)動(dòng)電路等，其中實(shí)施電路復(fù)雜，成本高，并且無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)微小電流采 集，并且在處理電流采樣樣本中所使用的中央控制器不能很好的滿足需求。雖然，國(guó)內(nèi)外的 專利技術(shù)中公開(kāi)了一部分檢測(cè)絕緣子的方法，但是這些方法都存在缺陷，并且在電阻檢測(cè) 中都存在較大誤差，不能準(zhǔn)確的檢測(cè)絕緣子的阻值。導(dǎo)致的結(jié)果是無(wú)法準(zhǔn)確的測(cè)量出每片 絕緣子的電阻值，因此無(wú)法識(shí)別已經(jīng)漏電但尚未擊穿處于臨界損壞狀態(tài)的絕緣子。目前，美 國(guó)、德國(guó)在絕緣子檢測(cè)中采用的檢測(cè)技術(shù)也無(wú)法克服上述缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種高壓輸電線路絕緣子帶電檢測(cè)的方法，該方法能使高壓輸電線路 處于帶電狀態(tài)下，精確地測(cè)量出其上每一片絕緣子上的絕緣電阻值，識(shí)別已經(jīng)漏電但尚未 擊穿處于臨界損壞狀態(tài)的絕緣子。本發(fā)明中采用了交流短路電容、微小電流采集接口電路、電壓采集電路以及電壓 檢測(cè)信號(hào)整理接口電路，能夠精確的檢測(cè)到絕緣子周圍的電壓和漏電流，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn) 確性。采用的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低，并且實(shí)現(xiàn)了對(duì)微小電流采集。本發(fā)明采用了 MCU計(jì)算機(jī)處理芯片，該芯片功能強(qiáng)大，可以快速、及時(shí)、準(zhǔn)確的處 理采集到的電流和電壓信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字化控制，提高了檢測(cè)的 靈敏度。本發(fā)明在兩個(gè)檢測(cè)端子之間串聯(lián)連接交流短路電容，通過(guò)設(shè)置分壓電阻檢測(cè)到端 子之間的被檢測(cè)電壓。其中兩個(gè)檢測(cè)端子之間串聯(lián)連接交流短路電容以及與交流短路電容 并聯(lián)的兩個(gè)串聯(lián)的分壓阻。本發(fā)明中檢測(cè)端子的兩端工作狀態(tài)下交流短路，通過(guò)分壓電阻的電壓信號(hào)通過(guò)檢 測(cè)信號(hào)整理接口電路后，傳送到MCU計(jì)算機(jī)芯片進(jìn)行計(jì)算處理并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。本發(fā)明提供一種高壓輸電線路的絕緣子帶電檢測(cè)的裝置，該裝置能在高壓輸電線 路運(yùn)行時(shí)，通過(guò)與絕緣子直接連接采集該絕緣子上的電壓及其電流泄漏數(shù)據(jù)。交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)是一種高壓輸電線路絕緣子帶電檢測(cè)的方法，在被 測(cè)絕緣子的兩端進(jìn)行交流短路(非放電)，然后測(cè)量該檢測(cè)電壓的電壓與電流值，通過(guò)該電 壓值和電流值可以用歐姆定律計(jì)算出被測(cè)絕緣子的絕緣電阻值。在測(cè)量被測(cè)絕緣子時(shí)，由MCU計(jì)算處理芯片(6)分別對(duì)該較閉合回路中分壓電阻 的電壓值以及電路中漏電流的測(cè)量，從而得到計(jì)算絕緣子電阻值所需的電壓值和電流量。


圖1是本發(fā)明中檢測(cè)單元的電路原理圖。圖2是本發(fā)明MCU計(jì)算處理芯片的電路原理圖。圖3是本發(fā)明帶通訊接口和顯示接口的數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路原理圖。
圖4是本發(fā)明與MCU計(jì)算處理芯片連接的時(shí)鐘電路接口電路圖。圖5是本發(fā)明的顯示設(shè)置人機(jī)接口電路圖。圖6是本發(fā)明的設(shè)備原理圖。圖7是本發(fā)明的電路原理框圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的設(shè)備原理圖以及電路原理框圖可知，本發(fā)明通過(guò)對(duì)被測(cè)量的絕緣子施加 信號(hào)，通過(guò)兩個(gè)端子連接的檢測(cè)電路，獲得到施加到端子上的周圍電場(chǎng)的信號(hào)，通過(guò)微小電 流采集電路獲得電流值，通過(guò)檢測(cè)電路的中的分壓電路組成的特定電壓檢測(cè)電路，設(shè)定良 好的檢測(cè)點(diǎn)，采用U3MAX407-(8)組成的電壓的檢測(cè)信號(hào)整理接口電路獲取準(zhǔn)確的電壓信 號(hào)，將檢測(cè)到的微小電流信號(hào)和電壓信號(hào)一起傳送到MCU計(jì)算處理芯片，在時(shí)鐘信號(hào)電路 的作用下，MCU計(jì)算處理芯片可以將多次測(cè)量電壓信號(hào)值進(jìn)行疊加并綜合各次數(shù)值獲得其 平均電壓值，減小測(cè)量誤差，通過(guò)多次測(cè)量獲得的微小電流進(jìn)行疊加獲得并并綜合各次數(shù) 值獲得其平均電壓值，減小測(cè)量誤差和電路處理帶來(lái)的信號(hào)誤差，獲得的電流和電壓信號(hào) 通過(guò)數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路進(jìn)行處理，再通過(guò)MCU計(jì)算處理芯片將上述兩個(gè)信號(hào)進(jìn)行數(shù)字處 理，獲得被檢測(cè)絕緣子的電阻值。其中，獲得的電阻值被傳輸出來(lái)并通過(guò)顯示設(shè)置人機(jī)接口 電路顯示出來(lái)，通過(guò)與設(shè)定的正常絕緣子的數(shù)值進(jìn)行比較，可以直接判斷被檢測(cè)的絕緣子 是否正常，直接顯示出是否需要更換該絕緣子。圖1是檢測(cè)單元的電路原理圖，其中檢測(cè)單元包括檢測(cè)電路、微小電流采集電路、 檢測(cè)信號(hào)整理接口電路。其中，檢測(cè)電路包括C10(5000P)的交流短路電容和分壓電路組成 的電路等。其中被檢測(cè)絕緣子的兩端分別連接檢測(cè)端子(1)和檢測(cè)端子(2)，在C10(5000P) 的交流短路電容的作用下，通過(guò)分壓電阻R15及R16，其中分壓電阻R16與設(shè)定電容并聯(lián)，可 以得到被測(cè)的電壓，該被測(cè)的電壓信號(hào)通過(guò)檢測(cè)信號(hào)整理接口電路(4)處理后，經(jīng)由MCU計(jì) 算處理芯片(6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被測(cè)的模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量。微小電流采集電路由微小 電流采集接口(3)的可控短路器構(gòu)成，其中通過(guò)微小電流采集接口(3)的電路，可以得到被 測(cè)的微小電流信號(hào)，該電流信號(hào)通過(guò)檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)處理后，經(jīng)由MCU計(jì)算處理芯片 (6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被測(cè)的模擬量為數(shù)字量。圖2是本發(fā)明MCU計(jì)算處理芯片的電路原理圖。MCU計(jì)算處理芯片(6)A/D轉(zhuǎn)換后 得到的電壓及電流值，可能計(jì)算被測(cè)絕緣子的電阻值計(jì)算電壓值及漏電流值；根據(jù)電壓 值及電流值，通過(guò)歐姆定律計(jì)算被測(cè)絕緣子的絕緣電阻值。圖3是本發(fā)明帶通訊接口和顯示接口的數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路原理圖。數(shù)據(jù)處理和 存儲(chǔ)電路與通訊接口和現(xiàn)實(shí)接口連接，其輸出檢測(cè)結(jié)構(gòu)信號(hào)輸出到該接口。工作過(guò)程可通 過(guò)電路圖獲知。圖4是是本發(fā)明與M⑶計(jì)算處理芯片連接的時(shí)鐘電路接口電路圖。圖5是本發(fā)明 的顯示設(shè)置人機(jī)接口電路圖。圖6是本發(fā)明的設(shè)備原理圖。裝置的構(gòu)成如檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)圖(B)所示本裝置由 檢測(cè)端子(1)和檢測(cè)端子(2)，檢測(cè)同步開(kāi)關(guān)(3)，顯示面板及檢測(cè)任務(wù)設(shè)置按鍵(4)，絕緣 桿(5)和檢測(cè)裝置萬(wàn)向節(jié)與絕緣桿的連接形式(6)等部分構(gòu)成。檢測(cè)端子(1)和檢測(cè)端子 (2)同現(xiàn)場(chǎng)被測(cè)絕緣子的兩端連接，由檢測(cè)端子(1)、檢測(cè)端子(2)，交流短路電容及分壓電阻構(gòu)成閉合檢測(cè)回路，通過(guò)檢測(cè)電路同智能控制芯片連接，從而實(shí)現(xiàn)絕緣子電阻值的測(cè)量。 檢測(cè)同步開(kāi)關(guān)(3)控制測(cè)量開(kāi)始。被測(cè)絕緣子的電阻值可以通過(guò)顯示面板實(shí)時(shí)顯示出來(lái)， 用戶還可以通過(guò)顯示面板上的按鍵(4)來(lái)手工設(shè)置檢測(cè)任務(wù)，并顯示任務(wù)號(hào)與相序。本檢 測(cè)裝置與絕緣桿的連接是采用萬(wàn)向節(jié)方式。目的是滿足各種工位的檢測(cè)調(diào)整。方便工人操 作。一種交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法，其中包括以下步驟A、檢測(cè)裝置前端分別連接兩條檢測(cè)鋼絲接觸帶電的絕緣子的兩端并卡緊，在該絕 緣子兩側(cè)對(duì)稱放置檢測(cè)端子(1)、(2)，通過(guò)連接該檢測(cè)端子(1)、(2)的交流電路電容的作 用下，通過(guò)兩個(gè)分壓電阻，檢測(cè)電壓信號(hào)，將檢測(cè)電壓信號(hào)通過(guò)檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)的電 路處理后，經(jīng)過(guò)MCU計(jì)算處理芯片(6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被檢測(cè)的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信 號(hào)；B、通過(guò)與該檢測(cè)端子(1)、(2)及交流電路電容連接的微小電流采集電路獲得通 過(guò)該檢測(cè)端子(1)、(2)中的電流信號(hào)，該電流信號(hào)通過(guò)微小電流采集電路接口(3)傳送到 檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)的電路處理后，經(jīng)過(guò)MCU計(jì)算處理芯片(6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被檢測(cè) 的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)；C、可以通過(guò)變換該檢測(cè)端子(1)、(2)的位置對(duì)絕緣子進(jìn)行多次測(cè)量，通過(guò)數(shù)據(jù)處 理和存儲(chǔ)電路對(duì)上述電壓數(shù)字信號(hào)疊加，獲得測(cè)量的電壓平均值；D、可以通過(guò)變換該檢測(cè)端子(1)、(2)的位置對(duì)絕緣子進(jìn)行多次測(cè)量，通過(guò)數(shù)據(jù)處 理和存儲(chǔ)電路對(duì)上述電流數(shù)字信號(hào)疊加，獲得測(cè)量的電流平均值；E、MCU計(jì)算處理芯片根據(jù)上述電壓平均值和電流平均值的比值，得到上述帶電的 絕緣子的電阻值；F、通過(guò)與上述數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路和上述MCU計(jì)算處理芯片(6)連接的顯示設(shè)置 人機(jī)接口電路輸出E步驟計(jì)算的電阻值到該顯示接口；G、通過(guò)檢測(cè)同步開(kāi)關(guān)控制測(cè)量的開(kāi)始。根據(jù)本發(fā)明的交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法設(shè)置了交流短路非放電型絕緣 子檢測(cè)儀。該檢測(cè)儀可以對(duì)高壓輸電線路絕緣子帶電檢測(cè)，其中包括連接到被檢測(cè)的絕緣 子將檢測(cè)信號(hào)輸出的檢測(cè)單元；對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理并輸出的控制單元，接受用戶輸入信 息及顯示數(shù)據(jù)信息的人機(jī)接口單元。檢測(cè)單元包括保護(hù)殼體、檢測(cè)電路，用于連接檢測(cè)儀器的絕緣桿和前端的檢測(cè)裝 置檢測(cè)裝置前端分別連接兩條檢測(cè)鋼絲接觸絕緣子兩端并卡緊，且取得良好的可靠接觸?？刂茊卧ú蓸蛹稗D(zhuǎn)換電路，通訊接口電路。人機(jī)接口單元包括用戶鍵盤及其數(shù)據(jù)顯示接口電路。其中檢測(cè)電路，采樣及轉(zhuǎn)換電路、通訊接口電路都安裝在保護(hù)殼體內(nèi)部，并且該檢 測(cè)單元的輸出端連接到采樣及其轉(zhuǎn)換電路的輸入端，采樣及轉(zhuǎn)換電路通過(guò)MCU計(jì)算處理芯 片(6)與通訊接口電路及顯示接口電路相連接，外部設(shè)備通過(guò)該通訊接口電路與該控制單 元進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊。保護(hù)殼體使用金屬材質(zhì)構(gòu)成。檢測(cè)電路包括微小電流采集電路接口(3)、檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)及兩個(gè)檢測(cè)端 子⑴和檢測(cè)端子⑵
電壓檢測(cè)電路的兩端分別連接到檢測(cè)端子(1)和檢測(cè)端子(2)；其不檢測(cè)輸出段 連接到輸入/輸出信號(hào)接口的電壓檢測(cè)信號(hào)輸出端；采樣及轉(zhuǎn)換電路包括MCU計(jì)算處理芯片(6)、時(shí)鐘電路接口(7)、數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ) 電路、輸出接口 ；數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路與通訊接口和現(xiàn)實(shí)接口連接，其輸出檢測(cè)結(jié)構(gòu)信號(hào)輸出到該 接口。
權(quán)利要求
一種交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法，其中包括以下步驟A、檢測(cè)裝置前端分別連接兩條檢測(cè)鋼絲接觸帶電的絕緣子的兩端并卡緊，在該絕緣子兩側(cè)對(duì)稱放置檢測(cè)端子(1)、(2)，通過(guò)連接該檢測(cè)端子(1)、(2)的交流電路電容的作用下，通過(guò)兩個(gè)分壓電阻，檢測(cè)電壓信號(hào)，將檢測(cè)電壓信號(hào)通過(guò)檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)的電路處理后，經(jīng)過(guò)MCU計(jì)算處理芯片(6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被檢測(cè)的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)；B、通過(guò)與該檢測(cè)端子(1)、(2)及交流電路電容連接的微小電流采集電路獲得通過(guò)該檢測(cè)端子(1)、(2)中的電流信號(hào)，該電流信號(hào)通過(guò)微小電流采集電路接口(3)傳送到檢測(cè)信號(hào)整理接口(4)的電路處理后，經(jīng)過(guò)MCU計(jì)算處理芯片(6)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，將被檢測(cè)的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)；C、可以通過(guò)變換該檢測(cè)端子(1)、(2)的位置對(duì)絕緣子進(jìn)行多次測(cè)量，通過(guò)數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路對(duì)上述電壓數(shù)字信號(hào)疊加，獲得測(cè)量的電壓平均值；D、可以通過(guò)變換該檢測(cè)端子(1)、(2)的位置對(duì)絕緣子進(jìn)行多次測(cè)量，通過(guò)數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路對(duì)上述電流數(shù)字信號(hào)疊加，獲得測(cè)量的電流平均值；E、MCU計(jì)算處理芯片根據(jù)上述電壓平均值和電流平均值的比值，得到上述帶電的絕緣子的電阻值；F、通過(guò)與上述數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)電路和上述MCU計(jì)算處理芯片(6)連接的顯示設(shè)置人機(jī)接口電路輸出E步驟計(jì)算的電阻值到該顯示接口；G、通過(guò)檢測(cè)同步開(kāi)關(guān)控制測(cè)量的開(kāi)始。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法，其中被測(cè)絕緣子的電阻 值可以通過(guò)顯示面板實(shí)時(shí)顯示出來(lái)，用戶還可以通過(guò)顯示面板上的按鍵來(lái)手工設(shè)置檢測(cè)任 務(wù)，并顯示任務(wù)號(hào)與相序。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的交流短路非放電型絕緣子檢測(cè)方法，其中采用萬(wàn)向節(jié)的方式 滿足變換端子(1)、(2)的位置對(duì)絕緣子進(jìn)行多次測(cè)量。
全文摘要
本發(fā)明提供一種高壓輸電線路中交流短路非放電型絕緣子帶電檢測(cè)的方法，該方法采用了交流短路電容、微小電流采集接口電路、電壓采集電路以及電壓檢測(cè)信號(hào)整理接口電路，電路簡(jiǎn)單，并且能夠精確的檢測(cè)到絕緣子周圍的電壓和微小電流，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；本發(fā)明采用了MCU計(jì)算機(jī)處理芯片，可以快速、及時(shí)、準(zhǔn)確的處理采集到的電流和電壓信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字化控制，提高了檢測(cè)的靈敏度。本發(fā)明能使高壓輸電線路處于帶電狀態(tài)下，精確地測(cè)量出其上每一片絕緣子上的絕緣電阻值，識(shí)別已經(jīng)漏電但尚未擊穿處于臨界損壞狀態(tài)的絕緣子。
文檔編號(hào)G01R27/08GK101968512SQ200910158078
公開(kāi)日2011年2月9日 申請(qǐng)日期2009年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月20日
發(fā)明者王殿閣 申請(qǐng)人:王殿閣