專利名稱：一種檢測裝置及面板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種應用于面板的測試裝置，特別涉及一種可以疊合接合的 面板測試裝置。
背景技術(shù)：
一般業(yè)界(顯示器模塊供貨商)所提供給系統(tǒng)廠(例如手機組裝商)的顯示 器模塊，通常都會以軟性電路板做為連接器，因此該系統(tǒng)廠則配合的采用插 槽以供軟性電路板插接。
然而，由于顯示器模塊供貨商在產(chǎn)品出廠前，會先于內(nèi)部進行一連串的 品質(zhì)測試以確保產(chǎn)品(顯示器模塊)的品質(zhì)。在這一連串的品質(zhì)測試中，均需 要將顯示器模塊與測試系統(tǒng)連接，而需多次進行拔插的動作。但因顯示器模 塊的軟性電路板與測試系統(tǒng)的拔插的動作，常因拔插施力不當，使得軟性電 路板發(fā)生形變和電路損壞，進而造成顯示器模塊的畫面顯示不正常。
此外，另一種為采用扎針結(jié)構(gòu)做為連接器的測試系統(tǒng)，此種連接器會直 接造成軟性電路板上的損傷，也會造成顯示器模塊畫面的顯示不正常。
因此為了避免顯示器模塊的軟性電路板因拔插次數(shù)過多而損壞，進而造 成顯示器模塊畫面顯示不正常的現(xiàn)象，提出本發(fā)明，以降低顯示器模塊的損 壞率。

發(fā)明內(nèi)容
以下僅通過具體實施例，且佐以附圖作詳細的說明，以使本領(lǐng)域技術(shù)人 員能對于本發(fā)明的各項功能、特點，有更進一步的了解與認識。
根據(jù)本發(fā)明的第一方向，提出一種檢測裝置，用以檢測一面板。面板包 括一第一電路板，其中第一電路板上包括多個接腳，其中測試裝置包括一第 二電路板及壓合件。第二電路板包括一本體、多個測試墊、多個測試電路及 多個導電元件。本體具有一第一表面及一第二表面。多個測試墊設(shè)置于第一
4表面上，且所述測試墊分別對應所述接腳設(shè)置。多個測試電路對應所述測試 墊設(shè)置于第二表面上。多個導電元件貫穿設(shè)置于本體中，用以使所述測試電 路與所述測試墊電性連接。壓合件對應此第二電路板的所述測試墊設(shè)置，用 以使第一電路板及第二電路板疊合后緊密接合。當?shù)谝浑娐钒瀵B合于第二電 路板時，所述測試電路經(jīng)由所述導電元件、測試墊與所述接腳電性連接。
根據(jù)本發(fā)明的第二方向，提出一種面板的檢測方法。面板的檢測方法包 括下列步驟。提供一面板，面板包括一第一電路板，且第一電路板包括多個
接腳；提供具有一第二電路板的一檢測裝置，且第二電路板包括多個測試墊， 其中所述測試墊對應所述接腳設(shè)置；疊合第一電路板及第二電路板，以使所 述測試墊與所述接腳電性連接；以及置放一壓合件于第一電路板及第二電路 板的疊合處，以使第一電路板與第二電路板緊密接合。
通過本發(fā)明的應用于面板的測試裝置，可通過測試裝置的測試墊直接與 面板的接腳接觸耦接，直接進行測試，不需插拔。如此一來，即可有效降低 在測試中因多次插拔的面板毀壞率，降低成本。


圖1A示出了本發(fā)明較佳實施例的測試裝置及面板的上視圖； 圖1B示出了將圖1A中的測試裝置及面板疊合的上視圖； 圖1C示出了依照圖1B中剖面線1C-1C的剖面圖； 圖2示出了將圖1A中第二電路板置放于固定元件的上視圖；以及 圖3示出了置放第一電路板于圖2的第二電路板的上視圖。
其中，附圖標記說明如下:
Wl,w2:寬度100:面板
110:第一電路板112:接腳
120:顯示屏幕200:測試裝置
202:本體210:第二電路板
210a:第一定位孔212:測試墊
214:第一表面215:第二表面
216:測試電路218:導電元件
220:壓合件230:固定元件232:平板 234:定位板 236:第一定位柱
232a:凹槽 234a:螺絲 238:第二定位柱
具體實施例方式
請參閱圖1A及圖1B，圖1A示出了本發(fā)明較佳實施例的測試裝置及面 板的上視圖，圖1B示出了將圖1A中的測試裝置及面板疊合的上視圖。測試 裝置200用以測試一面板100，而面板100包括一第一電路板110，且第一 電路板110上具有多個接腳(pin)112。本實施例的測試裝置200包括一第二 電路板210及一壓合件220(示出于圖1B中)。第二電路板210包括多個測試 墊212，且所述測試墊212分別對應第一電路板110的接腳112設(shè)置，其中 當?shù)谝浑娐钒?10與第二電路板210疊合時，接腳112會與測試墊212電性 耦接。于本實施例中，面板100的第一電路板110為軟性電路板，且接腳112 也可為常見的金手指結(jié)構(gòu)。本實施的測試裝置200通過第二電路板210與面 板100的第一電路板110連接，以使面板100與測試裝置200電性連接以進 行測試，進而使顯示屏幕120顯示測試結(jié)果。于本實施例中，于第一電路板 110及第二電路板210疊合后，也可以設(shè)置一壓合件220于第二電路板210 上(如圖1B)，以使第一電路板110及第二電路板210疊合后緊密接合。
請再參照圖1A，于此實施例中，測試墊212的形狀例如為圓形，且所 述測試墊212的直徑w2略小于接腳112的寬度wl ，以使測試墊212能完全 與接腳112密合。比如說，當接腳112的寬度wl為0.33毫米(mm)時，測試 墊212的寬度w2例如為0.3毫米(mm)。
接著，請參照圖1B及圖1C，圖1C示出了依照圖1B中剖面線1C-1C 的剖面圖。于本實施例中，壓合件220較佳地可以活動式的方式設(shè)置，并且 對應設(shè)置于測試墊212上。如此一來，便能通過壓合件220的重量增加接腳 112與測試墊212之間的緊密度，而使第一電路板110可與第二電路板210 疊合后緊密接合。
請參照圖1C，本實施例中第二電路板210包括一本體202、多個測試墊 212、多個測試電路216、多個導電元件218。本體202具有一第一表面214、 第二表面215。前述的測試墊212設(shè)置于第一表面214 。多個電路216設(shè)置于第二表面215上，所述測試電路216與測試裝置200的測試系統(tǒng)(未示出) 連接，用以傳遞測試系統(tǒng)的測試信號。此外，再通過導電元件218貫穿設(shè)置 于本體202中，使所述測試電路216與對應的測試墊212電性連接。如此一 來，由測試系統(tǒng)傳出的測試信號便能經(jīng)由測試電路216、導電元件218、測 試墊212、接腳112傳遞到面板100。于本實施例中，導電元件218例如可 為金屬導線、導電塊或其它可用于導電的元件。另外，本實例采用環(huán)狀的測 試墊212，在實施情況下，當然也可為其它形狀，如圓形或方形。
接著，請參照圖2，其示出了將圖1A中第二電路板置放于固定元件的 上視圖。于本實施例中，測試裝置200較佳地還包括一固定元件230，該固 定元件230用以固定第二電路板210，以利測試的進行。這是由于，在實際 的操作上，測試人員會測試成千上萬片的面板，因此將第二電路板210固定 于固定元件230后，測試人員僅需替換第一電路板UO(未示出)，如此可大 量減少測試人員的工作。
于本實施例中，固定元件230較佳地包括一平板232、 一定位板234、 一第一定位柱236、 一第二定位柱238。平板232具有一凹槽232a，此凹槽 232a用以置放第二電路板210及第一電路板1 IO(請參照圖3)，其中凹槽232a 對應疊合后的第一電路板110及第二電路板210的形狀設(shè)置，以使疊合后的 第一電路板110及第二電路板210能緊密置放于凹槽232a中。如此一來， 便能避免第一電路板110及第二電路板210在凹槽232a中搖晃。
于本實施例中，第一定位柱236例如為兩個，設(shè)置于平板232的凹槽232a 中。此外，第二電路板210對應所述第一定位柱236具有兩個第一定位孔 210a(也可同時參照圖lA)。如此一來，當?shù)诙娐钒?10經(jīng)由第一定位孔210a 套接于第一定位柱236上時，第二電路板210便能固定于平板232的凹槽232a 中，以避免第二電路板210于XY方向移動。另外，定位板234用以固定己 置放于凹槽232a中的第二電路板210，該定位板234可以通過螺絲234a鎖 固于平板232上。特別的是，當定位板234固定第二電路板210后，此定位 板234會恰巧裸露出第二電路板210的測試墊212。
接著，請參照圖3，其示出了置放第一電路板于圖2的第二電路板的上 視圖。于本實施例中，固定元件230還包括兩個第二定位柱238，所述第二 定位柱238設(shè)置于凹槽232a中。第二定位柱238分別對應設(shè)置于第二電路
7板210的一測試墊212的兩側(cè)(如圖2所示)，以使第一電路板110置放于凹 槽232a中時，所述第二定位柱238會位于第一電路板110的兩側(cè)。
另外，由于定位板234的位置會恰巧使第二電路板210裸露出測試墊 212(如圖3)，因此當?shù)谝浑娐钒?10的頂端抵觸到定位板234時，第一電路 板110的接腳112(因位于另一面，并不會顯示于圖3中)便會與第二電路板 210的測試墊212疊合。此外，再通過第二定位柱238的輔助，調(diào)整第一電 路板110位于第二定位柱238之間。因此，測試人員只要先將第一電路板110 置放于凹槽232a中，將第一電路板110推到抵觸到定位板234且位于兩個 第二定位柱238間，便可使第一電路板IIO于X方向及Y方向同時定位。 接著，再通過壓合件220(未示出于圖3中)使第一電路板110及第二電路板 210緊密接合，即可使接腳112及測試墊212電性耦接。
另外，由于接腳112及測試墊212采用接觸的方式電性連接，所以在替 換面板100測試時，僅需移走面板IOO，不需插拔。因此，通過本實施例的 測試裝置200進行面板IOO的測試，可避免因多次測試而造成第一電路板110 的毀壞，降低面板100損壞率。
綜合以上所述，本發(fā)明的應用于面板的測試裝置，可通過測試裝置的測 試墊直接與面板的接腳接觸耦接，直接進行測試，不需插拔。如此一來，即 可有效降低在測試中因多次插拔的面板毀壞率，降低成本。
以上為本發(fā)明所舉的實施例，僅為便于說明而設(shè)，不能以此限制本案的 保護范圍，即凡所附權(quán)利要求書所限定的范圍所為的各種變換設(shè)計，均應包 含在本發(fā)明的保護范圍中。
權(quán)利要求
1.一種檢測裝置，用以檢測一面板，該面板包括一第一電路板，其中該第一電路板上包括多個接腳，其中該測試裝置包括一第二電路板，包括一本體，具有一第一表面及一第二表面多個測試墊，設(shè)置于該第一表面上，且所述多個測試墊分別對應所述多個接腳設(shè)置；多個測試電路，對應所述多個測試墊設(shè)置于該第二表面上；及多個導電元件，貫穿設(shè)置于該本體中，用以使所述多個測試電路與所述多個測試墊電性連接；以及一壓合件，對應該第二電路板的所述多個測試墊設(shè)置，用以使該第一電路板及該第二電路板疊合后緊密接合；其中，當該第一電路板疊合于該第二電路板時，所述多個測試電路經(jīng)由所述多個導電元件、所述多個測試墊與所述多個接腳電性連接。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，還包括一固定元件，用以固定該第二電路板，其中該固定元件包括一平板，具有一凹槽，該凹槽用以置放該第二電路板及該第一電路板，其中該凹槽對應疊合后的該第一電路板及該第二電路板的形狀設(shè) 置，以使疊合后的該第一電路板及該第二電路板能置放于該凹槽中。
3. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中該固定元件還包括 至少一第一定位柱，設(shè)置于該平板的該凹槽中。
4. 如權(quán)利要求3所述的測試裝置，其中該第二電路板還具有 至少一第一定位孔，對應該第一定位柱設(shè)置于該本體上，由此使該第二電路板經(jīng)由該第一定位孔套接于該第一定位柱而固定于該凹槽中。
5. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中該固定元件還包括-一定位板，用以固定已置放于該凹槽中的該第二電路板，其中當該第一 電路板抵觸到該定位板時，該第一電路板的所述多個接腳會與該第二電路板 的所述多個測試墊疊合。
6. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，且該固定元件還包括兩個第二定位柱，分別對應已置放于凹槽中的該第二電路板的所述多個 測試墊的兩側(cè)設(shè)置于該凹槽中，以使該第一電路板置放于該凹槽中時，所述 兩個第二定位柱位于該第一電路板的兩側(cè)。
7. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述多個測試墊的形狀為環(huán)形。
8. 如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其中所述多個測試墊的直徑小于該接 腳的寬度。
9. 一種面板的檢測方法，包括提供一面板，該面板包括一第一電路板，且該第一電路板包括多個接腳；提供具有一第二電路板的一檢測裝置，且該第二電路板包括多個測試 墊，其中所述多個測試墊對應所述多個接腳設(shè)置；疊合該第一電路板及該第二電路板，以使所述多個測試墊與所述多個接 腳電性連接；以及置放一壓合件于該第一電路板及該第二電路板的疊合處，以使該第一電 路板與該第二電路板緊密接合。
10. 如權(quán)利要求9所述檢測方法，還包括 提供一固定元件，且該固定元件包括一具有一凹槽的平板； 置放該第二電路板于該凹槽中；設(shè)置一定位板于該第二電路板上，用以使該第二電路板固定于該凹槽 中，并且使該第二電路板的所述多個測試墊裸露；置放該第一電路板于該第二電路板上，并使該第一電路板抵觸到該定位 板，以使所述多個接腳與所述多個測試墊疊合。
11. 如權(quán)利要求10所述檢測方法，該第二電路板具有至少一第一定位 孔，其中置放該第二電路板于該凹槽的步驟包括經(jīng)由該第一定位孔套接該第二電路板于該固定元件的一第一定位柱上。
12. 如權(quán)利要求10所述檢測方法，該固定元件包括多個第二定位柱，其 中置放該第一電路板的步驟包括調(diào)整該第一電路板，以使該第一電路板位于所述多個第二定位柱之間。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測裝置及面板的檢測方法。檢測裝置用以檢測面板，該檢測裝置包括第二電路板及壓合件。第二電路板包括本體、多個測試墊、多個測試電路及多個導電元件。本體具有第一表面和第二表面。多個測試墊設(shè)置于本體的第一表面上，且所述測試墊分別對應面板的多個接腳設(shè)置。多個測試電路對應所述測試墊設(shè)置于本體的第二表面上。多個導電元件貫穿設(shè)置于該本體中以使測試電路與測試墊電性連接。壓合件對應第二電路板的測試墊設(shè)置，用以使面板的第一電路板及第二電路板疊合后緊密接合。當?shù)谝浑娐钒瀵B合于第二電路板時，所述測試電路經(jīng)由所述導電元件、測試墊與所述接腳電性連接。本發(fā)明可有效降低在測試中因多次插拔的面板毀壞率，可降低成本。
文檔編號G01R31/00GK101666839SQ200910141058
公開日2010年3月10日 申請日期2009年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月1日
發(fā)明者蕭安廷, 邱建瑋 申請人:統(tǒng)寶光電股份有限公司