專利名稱：一種x射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及載流x射線熒光品位分析技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種x射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
x射線熒光分析儀在礦石、金屬元素分析領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用空間，尤其在選礦行
業(yè)，利用x射線熒光分析儀進(jìn)行礦石品位分析，具有諸多優(yōu)點(diǎn)。x射線熒光分析儀是一種 利用初級(jí)x射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測(cè)礦物物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)x射
線)而進(jìn)行礦物物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。它主要包括激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄 及數(shù)據(jù)處理等單元。
現(xiàn)有的x射線熒光分析儀結(jié)構(gòu)復(fù)雜，各個(gè)單元分散組合等缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題，本發(fā)明的目的是提供一種結(jié)構(gòu)緊湊簡單、能夠方
便的同時(shí)安裝多個(gè)探測(cè)裝置、測(cè)量的準(zhǔn)確度高的x射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的
一種x射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)礦物樣品中的礦物品位，該檢測(cè)裝置包括安
裝基架、樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置；所述的樣品承載裝置、X射線發(fā)生
裝置和探測(cè)裝置固定安裝于安裝基架上，并且x射線發(fā)生裝置與樣品承載裝置相通，探測(cè)
裝置與樣品承載裝置相通。
所述的安裝基架包括中空孔、安裝法蘭和探測(cè)裝置安裝件；中空孔設(shè)于安裝基架軸 向中部；安裝法蘭設(shè)于安裝基架的一個(gè)端面上并與中空孔垂直，安裝法蘭的外側(cè)面設(shè)有 樣品承載裝置安裝孔；探測(cè)裝置安裝件設(shè)于安裝基架與中空孔平行的外表面。
所述的安裝基架中空孔包括具有同一中心線的臺(tái)階孔，并且靠近兩端部的臺(tái)階孔直 徑大于中部的臺(tái)階孔；其中，遠(yuǎn)離安裝法蘭的端部臺(tái)階孔內(nèi)徑與X射線發(fā)生裝置相適應(yīng)，
4設(shè)有安裝法蘭端部臺(tái)階孔與探測(cè)裝置安裝件相連通。
所述的探測(cè)裝置安裝件包括與中空孔中心線平行的導(dǎo)槽。
所述的探測(cè)裝置包括一個(gè)或者多于一個(gè)。
所述的探測(cè)裝置包括六個(gè)。
所述的探測(cè)裝置包括分光裝置和X射線探測(cè)器，其中分光裝置與X射線探測(cè)器連接。 所述探測(cè)裝置中的分光裝置與安裝基架的探測(cè)裝置安裝件相連接。
所述的樣品承載裝置包括樣品進(jìn)口、樣品出口和樣品承載盒體；所述的樣品進(jìn)口和 樣品出口分別設(shè)于樣品承載盒體的上部和下部；所述的樣品承載盒體與安裝基架的安裝 法蘭相連接，并且樣品承載盒體與X射線發(fā)生裝置在同一軸線上。
所述的X射線發(fā)生裝置與樣品承載裝置相通包括X射線發(fā)生裝置所發(fā)出的X射線直接照 射樣品承載裝置的樣品；所述的探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通包括樣品承載裝置中的樣 品受X射線激發(fā)后所發(fā)出的二次X射線傳輸?shù)教綔y(cè)裝置。
本發(fā)明的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置通過上述的設(shè)計(jì)，將X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置以 及樣品承載裝置整合到安裝基架上，使X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置具有結(jié)構(gòu)緊湊簡單、可以 方便的同時(shí)安裝多個(gè)探測(cè)裝置、測(cè)量的準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn)。


圖l為本發(fā)明的一種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本發(fā)明的一種實(shí)施方式的右視結(jié)構(gòu)示意圖3為本發(fā)明的安裝基架的一種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖4為本發(fā)明的安裝基架的一種實(shí)施方式的左視剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)于本發(fā)明的x射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置進(jìn)行詳細(xì)說明。
如圖1和圖2所示， 一種X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)礦物樣品中的礦物品位， 該X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置包括安裝基架1、樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置3和探測(cè)裝 置；所述的樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置3和探測(cè)裝置固定安裝于安裝基架l上，并且X 射線發(fā)生裝置3與樣品承載裝置相通，探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通。
所述的X射線發(fā)生裝置3與樣品承載裝置相通包括X射線發(fā)生裝置3所發(fā)出的X射線直接 照射樣品承載裝置的樣品；所述的探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通包括樣品承載裝置中的樣品受X射線激發(fā)后所發(fā)出的二次X射線傳輸?shù)教綔y(cè)裝置。X射線發(fā)生裝置3包括X光管。
如圖2和圖3所示，所述的安裝基架l為一回轉(zhuǎn)體，包括中空孔101、安裝法蘭102和探 測(cè)裝置安裝件103;中空孔101設(shè)于安裝基架1的軸向中部；安裝法蘭102設(shè)于安裝基架1的 一個(gè)端面上并與中空孔101垂直，安裝法蘭102的外側(cè)面設(shè)有樣品承載裝置安裝孔1021; 探測(cè)裝置安裝件103設(shè)于安裝基架1與中空孔101平行的外表面。
所述的安裝基架中空孔101包括具有同一中心線的臺(tái)階孔，并且靠近兩端部的臺(tái)階孔 直徑大于中部的臺(tái)階孔1012;其中，遠(yuǎn)離安裝法蘭的端部臺(tái)階孔1011內(nèi)徑與X射線發(fā)生裝 置3相適應(yīng)，設(shè)有安裝法蘭端部臺(tái)階孔1013與探測(cè)裝置安裝件103相連通。設(shè)有安裝法蘭 端部的臺(tái)階孔1013與探測(cè)裝置安裝件103通過通孔1032相連通。
所述的安裝法蘭102既可以設(shè)為與整個(gè)安裝基架1一體的，也可以設(shè)為與整個(gè)安裝基 架1分體的。所謂分體的指的是安裝法蘭102是個(gè)獨(dú)立的單元，其通過連接件固定連接于 安裝基架l的一個(gè)端面上。
所述的探測(cè)裝置安裝件103包括與中空孔101中心線平行的導(dǎo)槽1031。所述的導(dǎo)槽 1031用于安裝探測(cè)裝置，在導(dǎo)槽1031的側(cè)壁設(shè)有安裝孔，通過該安裝孔將探測(cè)裝置固定 在安裝基架l上。
如圖l、圖2、圖3和圖4所示，所述的探測(cè)裝置包括一個(gè)或者多于一個(gè)。多個(gè)探測(cè)裝 置均勻布置于安裝基架l上。
所述的探測(cè)裝置包括六個(gè)。其中三個(gè)探測(cè)裝置安裝于安裝基架l的一側(cè)，另三個(gè)探測(cè) 裝置安裝于與上述三個(gè)探測(cè)裝置相對(duì)應(yīng)的安裝基架l的另一側(cè)。
所述的探測(cè)裝置包括分光裝置401和X射線探測(cè)器402，其中分光裝置401與X射線探測(cè) 器402連接。對(duì)礦物樣品激發(fā)的二次X射線經(jīng)過分光裝置401到達(dá)X射線探測(cè)器402，由X射 線探測(cè)器402最終完成對(duì)于被測(cè)礦物樣品的品位分析。
所述探測(cè)裝置中的分光裝置401與安裝基架1的探測(cè)裝置安裝件103相連接。即分光裝 置401安裝于安裝基架1的探測(cè)裝置安裝件103的導(dǎo)槽1031中，并且通過緊固件將分光裝置 401固定于安裝基架1上。
所述的樣品承載裝置包括樣品進(jìn)口202、樣品出口203和樣品承載盒體201;所述的樣 品進(jìn)口202和樣品出口203分別設(shè)于樣品承載盒體201的上部和下部，即樣品進(jìn)口202和樣 品出口203分別設(shè)于樣品承載盒體201對(duì)稱的兩端，以便于流體樣品或者顆粒狀樣品通過 樣品進(jìn)口202進(jìn)入樣品承載盒體201內(nèi)，而且在對(duì)于被測(cè)樣品探測(cè)完成后，被測(cè)樣品可以 通過樣品出口 203被輸送出樣品承載盒體201 。所述的樣品承載盒體201與安裝基架1的安裝法蘭102相連接，并且樣品承載盒體201 與X射線發(fā)生裝置3在同一軸線上。
樣品承載盒體201可以通過鉸接安裝于安裝基架1的安裝法蘭102上，即在樣品承載盒 體201與安裝基架1的安裝法蘭102相連接處設(shè)有鉸鏈或者鉸軸，從而可以方便的打開或者 關(guān)閉樣品承載盒體201。樣品承載盒體201也可以固定安裝于安裝基架1的安裝法蘭102 上。
樣品承載盒體201與X射線發(fā)生裝置3在同一軸線上，以便于X射線發(fā)生裝置3的發(fā)射窗 口與樣品承載盒體201正對(duì)，X射線發(fā)生裝置3發(fā)出的X射線直接照射到輸入樣品承載盒體 201中的樣品。
本發(fā)明的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置屬于X射線熒光分析儀的重要部分，本發(fā)明的工作 原理如下X射線發(fā)生裝置3發(fā)出的X射線直接照射到輸入樣品承載裝置中的被測(cè)樣品，該 被測(cè)的流體樣品或者顆粒狀樣品通過樣品進(jìn)口202進(jìn)入樣品承載盒體201內(nèi)，而且在對(duì)于 被測(cè)樣品探測(cè)完成后，被測(cè)樣品可以通過樣品出口203被輸送出樣品承載盒體201。被測(cè) 樣品在X射線的激發(fā)下發(fā)出二次熒光，該二次熒光通過分光裝置401到達(dá)X射線探測(cè)器 402，由X射線探測(cè)器402最終完成對(duì)于被測(cè)礦物樣品的品位分析。
本發(fā)明的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置通過上述的設(shè)計(jì)，將X射線發(fā)生裝置3和探測(cè)裝置以 及樣品承載裝置整合到安裝基架l上，使X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置具有結(jié)構(gòu)緊湊簡單、可 以方便的同時(shí)安裝多個(gè)探測(cè)裝置、測(cè)量的準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn)。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此， 任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替 換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書的 保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)礦物樣品中的礦物品位，其特征在于，該裝置包括安裝基架、樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置；所述的樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置固定安裝于安裝基架上，并且X射線發(fā)生裝置與樣品承載裝置相通，探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的安裝基架包 括中空孔、安裝法蘭和探測(cè)裝置安裝件；中空孔設(shè)于安裝基架軸向中部；安裝法蘭設(shè)于 安裝基架的一個(gè)端面上并與中空孔垂直，安裝法蘭的外側(cè)面設(shè)有樣品承載裝置安裝孔； 探測(cè)裝置安裝件設(shè)于安裝基架與中空孔平行的外表面。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的安裝基架中 空孔包括具有同一中心線的臺(tái)階孔，并且靠近兩端部的臺(tái)階孔直徑大于中部的臺(tái)階孔； 其中，遠(yuǎn)離安裝法蘭的端部臺(tái)階孔內(nèi)徑與X射線發(fā)生裝置相適應(yīng)，設(shè)有安裝法蘭端部臺(tái)階 孔與探測(cè)裝置安裝件相連通。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的探測(cè)裝 置安裝件包括與中空孔中心線平行的導(dǎo)槽。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的探測(cè)裝置包 括一個(gè)或者多于一個(gè)。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的探測(cè)裝置包 括六個(gè)。
7、 根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的探測(cè)裝 置包括分光裝置和X射線探測(cè)器，其中分光裝置與X射線探測(cè)器連接。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述探測(cè)裝置中的 分光裝置與安裝基架的探測(cè)裝置安裝件相連接。
9、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的樣品承載裝 置包括樣品進(jìn)口、樣品出口和樣品承載盒體；所述的樣品進(jìn)口和樣品出口分別設(shè)于樣品 承載盒體的上部和下部；所述的樣品承載盒體與安裝基架的安裝法蘭相連接，并且樣品 承載盒體與X射線發(fā)生裝置在同一軸線上。
10、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的X射線發(fā)生 裝置與樣品承載裝置相通包括X射線發(fā)生裝置所發(fā)出的X射線直接照射樣品承載裝置的樣品；所述的探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通包括樣品承載裝置中的樣品受X射線激發(fā)后所發(fā) 出的二次X射線傳輸?shù)教綔y(cè)裝置。
全文摘要
本發(fā)明的一種X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置，屬于載流X射線熒光品位分析技術(shù)領(lǐng)域。該X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置用于檢測(cè)礦物樣品中的礦物品位，其包括安裝基架、樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置；所述的樣品承載裝置、X射線發(fā)生裝置和探測(cè)裝置固定安裝于安裝基架上，并且X射線發(fā)生裝置與樣品承載裝置相通，探測(cè)裝置與樣品承載裝置相通。本發(fā)明的X射線熒光激發(fā)檢測(cè)裝置通過上述的設(shè)計(jì)，具有結(jié)構(gòu)緊湊簡單、可以方便的同時(shí)安裝多個(gè)探測(cè)裝置、測(cè)量的準(zhǔn)確度高的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N23/223GK101614684SQ20091008989
公開日2009年12月30日 申請(qǐng)日期2009年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月27日
發(fā)明者周俊武, 寧 徐, 曾榮杰, 趙建軍 申請(qǐng)人:北京礦冶研究總院