專利名稱：一種同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于鐵電與壓電材料測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種同時測量鐵電材料 電滯回線和應(yīng)變回線的方法和裝置。
背景技術(shù)：
鐵電與壓電材料具有較高的力電轉(zhuǎn)換效率及良好的性能可調(diào)控性，因而在電 子技術(shù)中獲得了廣泛應(yīng)用，從汽車的小點(diǎn)火系統(tǒng)到航空航天自適應(yīng)機(jī)翼的控制， 從微小馬達(dá)到微機(jī)電系統(tǒng)，都離不開鐵電材料。鐵電材料本構(gòu)關(guān)系的重要特征在 于遲滯回線。這不僅包括電滯回線(極化強(qiáng)度-電場回線)，而且包括應(yīng)變回線(應(yīng)
變-電場回線)，也稱之為蝴蝶回線(ButterflyLoop)。為了更好地研究鐵電材料的 力電耦合特性，同時測量鐵電材料的電滯回線和應(yīng)變回線顯得非常有意義。另外， 在與鐵電材料可靠性相關(guān)的疲勞研究過程中，同時測量電學(xué)參數(shù)和力學(xué)參數(shù)的變 化對于揭示鐵電體力電失效機(jī)理相當(dāng)重要。
在測量鐵電材料的電滯回線時，普遍采用的Sawyer-Tower電路，即采用待 測試樣品Cx與采樣標(biāo)準(zhǔn)電容C。串聯(lián)，其中C。值遠(yuǎn)大于Cx，通過測量標(biāo)準(zhǔn)電容 兩端的電壓就可以得出待測樣品的極化強(qiáng)度與電場強(qiáng)度的關(guān)系曲線。對于鐵電材 料的應(yīng)變測量，.現(xiàn)有的測量方法包括光纖法、激光干涉法、以及差動變壓器式位 移傳感器(linear variable differential transformer, LVDT)等。本發(fā)明也采用上述 Sawyer-Tower電路測量樣品的電滯回線，考慮該回路中施加電壓頻率較低，因而 采用LVDT方法測量應(yīng)變。
鐵電材料性能測試需要較高的準(zhǔn)確性和易用性，以及時效性。這對測試系統(tǒng) 提出了較高的要求。鐵電材料的電滯回線和應(yīng)變回線是最基本的表征鐵電材料性能的參數(shù)。然而目前國內(nèi)卻少見應(yīng)變回線測試儀器，更沒有兩者同步測試的系統(tǒng)。
而且現(xiàn)有商業(yè)化的電滯回線測量系統(tǒng)(美國Radiant公司和德國aixACT公司) 提供的產(chǎn)品附件多、測量時間較長、使用不便。如果能夠?qū)㈦姕鼐€和應(yīng)變回線 測量兩者結(jié)合起來，并進(jìn)行功能擴(kuò)展，則將大大節(jié)省測量時間，促進(jìn)工作的效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種同時測量鐵電體電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法 和測試裝置。
為了達(dá)到以上目的，本發(fā)明采用如下方案予以實(shí)現(xiàn)-
所述同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試裝置，包括測試信號輸出 部分、電滯回線測量部分、應(yīng)變回線測試部分、設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理四部分。
所述測試信號輸出部分由高壓信號源分別連接信號發(fā)生器、示波器和待測樣 品；所述信號發(fā)生器提供測試信號，并由高壓信號源放大后，輸出至待測樣品；
所述電滯回線測量部分包括標(biāo)準(zhǔn)電容和阻抗放大器，標(biāo)準(zhǔn)電容和阻抗放大器 分別連接至待測樣品和數(shù)據(jù)采集卡；電滯回線測量采用相對簡單的Sawyer-Tower 電路測量，阻抗放大器對標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號進(jìn)行放大，測量精度相對較高， 并且防止了較大電壓傳輸?shù)讲杉ǎ鸬搅朔糯蠛捅Ｗo(hù)的雙重作用；
所述應(yīng)變回線測試部分由LVDT位移傳感器和電橋放大器串聯(lián)組成，采用 LVDT方法測量鐵電材料的應(yīng)變，并通過比較儀臺架將LVDT穩(wěn)定在合適的位置， 使用電橋放大器對LVDT信號進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；
所述設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理部分將放大的應(yīng)變信號和標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電 壓信號同時輸入到數(shù)據(jù)采集卡中并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，同時輸出電滯回線和應(yīng)變回線 的圖文件和數(shù)據(jù)文件到計(jì)算機(jī)中。
所述同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法，包括電滯回線測試和應(yīng)變回線的測試；首先測試信號輸出部分采用程序控制信號發(fā)生器產(chǎn)生測試波 形信號，再經(jīng)高壓信號源放大后施加到測試回路中的待測樣品上；電滯回線測試
部分使用Sawyer-Tower電路將標(biāo)準(zhǔn)電容和待測樣品串聯(lián)，再將標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的 電壓信號由阻抗放大器進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；應(yīng)變回線測試部分采用 LVDT方法測試應(yīng)變，并通過比較儀臺架將LVDT穩(wěn)定在合適的位置，使用電橋 放大器對LVDT信號進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；上述輸入到數(shù)據(jù)采集卡中 的兩種信號由設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理部分的數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，同時輸 出電滯回線和應(yīng)變回線的圖文件和數(shù)據(jù)文件在計(jì)算機(jī)界面顯示，進(jìn)行人機(jī)交互。
所述信號發(fā)生器產(chǎn)生測試波形信號為頻率0.02Hz-10Hz的三角波。
所述高壓信號源提供給待測樣品的電流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)電容將其轉(zhuǎn)換成便于處理的 數(shù)值范圍內(nèi)的電壓信號；因鐵電材料具有較高阻抗，相應(yīng)的電流信號很微弱，加 之標(biāo)準(zhǔn)電容不宜過大，所以采用阻抗放大器對電壓信號進(jìn)行放大，再經(jīng)過數(shù)據(jù)采 集卡轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。
所述電滯回線測試部分使用的Sawyer-Tower電路中，樣品電量Q與極化強(qiáng) 度Ps成正比，艮卩Q-PsA,樣品電量與標(biāo)準(zhǔn)電容帶電量相等，而Q=CV，故 CSVS=C。V。，又阻抗放大器LF356N與標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)，其兩端電壓等于V。，故 PS=C。V。/A，因此只需將通過LF356N的電壓信號經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡采集到計(jì)算機(jī)讀 出數(shù)值，就可以計(jì)算出極化強(qiáng)度進(jìn)而測得樣品的電滯回線。
本發(fā)明的有益效果是
1.采用相對簡單的Sawyer-Tower電路測量電滯回線，并采用阻抗放大模塊 對標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號進(jìn)行放大，測量精度相對較高，并且防止了較大電壓 傳輸?shù)讲杉?，起到了放大和保護(hù)的雙重作用。利用計(jì)算機(jī)軟件程序?qū)﹄姕鼐€ 進(jìn)行補(bǔ)償處理，得到上下對稱的電滯回線。2. 采用LVDT位移傳感器測量鐵電材料的應(yīng)變，在低頻測試信號下實(shí)現(xiàn)了
實(shí)時測量。
3. 電滯回線與應(yīng)變回線兩者測試互不干擾，但同時采集數(shù)據(jù)，可通過軟件 實(shí)時對比分析樣品電學(xué)和力學(xué)性能變化。


圖1為測量裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2為測量電滯回線的電路示意圖。
圖3為測量電滯回線過程中阻抗放大器的電路圖。
圖4為測量應(yīng)變回線的示意圖。
圖5為設(shè)備控制和數(shù)據(jù)采集處理過程示意圖。
圖6a為同時測量得到的鐵電陶瓷樣品的電滯回線圖 ，
圖6b為同時測量得到的鐵電陶瓷樣品的應(yīng)變回線。
圖7a為使用計(jì)算機(jī)進(jìn)行補(bǔ)償后的電滯回線。
圖7b為使用計(jì)算機(jī)進(jìn)行補(bǔ)償后的應(yīng)變回線。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明提供一種同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法和測試 裝置，本裝置控制系統(tǒng)的源程序使用Labview編程，通過VISA遠(yuǎn)程控制 HP33220A信號發(fā)生器，并為脈沖波形、頻率、振幅、周期數(shù)等參數(shù)定義了設(shè)置 接口；同時通過DAQ進(jìn)行數(shù)據(jù)采集；軟件部分使用兩個DAQ，分別在觸發(fā)信號 和等待觸發(fā)兩個階段進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，可分別實(shí)現(xiàn)信號監(jiān)控和信號采集處理；程序 通過采樣點(diǎn)對電滯回線和應(yīng)變回線的信號偏移進(jìn)行調(diào)零，并自動保存ASCII數(shù)據(jù) 文件和回線圖；同時在界面上顯示極化強(qiáng)度、矯頑場等值和兩個回線。
圖5所示為設(shè)備控制和數(shù)據(jù)采集處理過程示意圖。實(shí)際測量過程為信號發(fā)生器101產(chǎn)生的波形信號經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡501輸入到計(jì)算機(jī)502，同時經(jīng)高壓信號 源102放大后施加于待測樣品2上，標(biāo)準(zhǔn)電容401兩端的電壓通過阻抗放大器402 放大后，再經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡501進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)502;同時LVDT位移 傳感器301感應(yīng)應(yīng)變，并將信號經(jīng)電橋放大器302放大后，再通過數(shù)據(jù)采集卡501 進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)502;最后將數(shù)據(jù)進(jìn)行軟件處理，得到極化強(qiáng)度、應(yīng) 變等數(shù)據(jù)，并得到電滯回線和應(yīng)變回線。 下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
如圖1所示的同時測量鐵電體電滯回線和應(yīng)變回線的測試裝置，包括測試信 號輸出部分l、電滯回線測量部分4、應(yīng)變回線測試部分3、設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集 處理部分5。
圖1中，測試信號輸出部分1的高壓信號源102分別連接信號發(fā)生器101、 示波器103和待測樣品2;電滯回線測量部分4的標(biāo)準(zhǔn)電容401和阻抗放大器402 分別連接至待測樣品2和數(shù)據(jù)采集卡501;電滯回線測量采用相對簡單的 Sawyer-Tower電路測量(如圖2、圖3所示)，阻抗放大器402對標(biāo)準(zhǔn)電容401 兩端的電壓信號進(jìn)行放大，并輸入到數(shù)據(jù)采集卡501中并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，從而使 測量精度相對提高，并且防止了較大電壓傳輸?shù)讲杉?，起到了放大和保護(hù)的雙 重作用；在Sawyer-Tower電路中，樣品電量Q與極化強(qiáng)度Ps成正比，即Q=PSA， 樣品電量與標(biāo)準(zhǔn)電容帶電量相等，而Q=CV，故CSVS=C。V。，又阻抗放大器LF356N 與標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)，其兩端電壓等于V。，故PfC。V。/A，因此只需將通過LF356N 的電壓信號經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡采集到計(jì)算機(jī)讀出數(shù)值，就可以計(jì)算出極化強(qiáng)度進(jìn)而測 得樣品的電滯回線。圖3所示阻抗放大器核心部分采用基于LF356N運(yùn)算放大器 的電路。
圖4所示為測量應(yīng)變回線的示意圖。應(yīng)變回線測試部分3由LVDT位移傳感器301放置在待測樣品2上，并通過比較儀臺架將LVDT穩(wěn)定在合適的位置， LVDT位移傳感器301和電橋放大器302串聯(lián)，電橋放大器302采集的數(shù)據(jù)信號 由電橋放大器302進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡501中進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，數(shù)據(jù)采集 卡501將此信號采集到計(jì)算機(jī)讀出數(shù)值，就可以計(jì)算出鐵電材料的應(yīng)變回線。 所述信號發(fā)生器產(chǎn)生測試波形信號為三角波。
所述高壓信號源提供給待測樣品的電流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)電容將其轉(zhuǎn)換成便于處理的 數(shù)值范圍內(nèi)的電壓信號；因鐵電材料具有較高阻抗，相應(yīng)的電流信號很微弱，加 之標(biāo)準(zhǔn)龜容不宜過大，所以采用阻抗放大器對電壓信號進(jìn)行放大，再經(jīng)過數(shù)據(jù)采 集卡轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。
信號發(fā)生器(HP33220A, CA, USA)提供頻率0.02Hz-10Hz， 2個周期的三角波 測試信號并由高壓信號源(Trek609B-3,USA)放大后，輸出至測量回路。
測量采用改進(jìn)的Sawyer-Tower方法，測量電路如圖2所示
阻抗放大模塊核心部分采用基于LF356N運(yùn)算放大器的電路，該電路圖如圖 3所示。
實(shí)施例1:
測試樣品使用PZT-5 (中科院聲學(xué)所)陶瓷樣品，樣品厚度d-lmm，電極面 積S=0.7854cm2，實(shí)驗(yàn)使用頻率0.2Hz， 2個周期的三角波作為測量信號。.操作時 放下LVDT使探頭與樣品電極表面接觸。觀察界面上Input Signal顯示波形，確 認(rèn)LVDT信號Displacement (綠色波形)介于線性區(qū)間內(nèi)。
點(diǎn)擊界面上Start按鈕開始測量，結(jié)束后得到第二個周期的電滯回線和應(yīng)變 回線，界面上同時顯示自發(fā)極化強(qiáng)度Ps、剩余極化強(qiáng)度Pr、以及矯頑場Ec的數(shù) 值，數(shù)據(jù)文件和回線圖以用戶名、樣品名、測試場強(qiáng)等參數(shù)作為文件名自動保存。 測量結(jié)果從圖6a、圖6b中可以看出，得到的原始回線是上下不對稱的，需要人工進(jìn)行補(bǔ)償。
采用差動變壓器式位移傳感器(linear variable differential transformer, LVDT) 測量鐵電材料(陶瓷、單晶)的應(yīng)變。 一般的LVDT在線性工作區(qū)內(nèi)分辨率都達(dá) 到微米級，本發(fā)明使用WlT3(Hottinger Baldwin Messtechnik， Germany)位移傳感 器測量應(yīng)變；輸出端連接一個AC電橋放大器AE501 (Hottinger Baldwin Messtechnik, Germany)放大信號通過數(shù)據(jù)采集卡輸入到計(jì)算機(jī)中。
實(shí)際使用中LVDT存在線性區(qū)域。本裝置有效線性區(qū)域?yàn)?.7mm，有效測試 信號區(qū)間為-10 +10V，則采集到的信號經(jīng)過換算公式d《035V(mm/V)即可得到 位移數(shù)值。
由于LVDT分辨率在lum量級，對工作環(huán)境的穩(wěn)定性要求較高，故本裝置 采用大理石底座的比較儀臺架固定LVDT:同時其上下可移動性也方便了調(diào)整 LVDT探頭進(jìn)入線性工作區(qū)域。
使用虛擬儀器軟件Labview進(jìn)行設(shè)備控制和數(shù)據(jù)采集處理
對于系統(tǒng)的軟件部分，主要實(shí)現(xiàn)兩個功能設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集。HP33220A 通過USB接口與PC相連，可以用Labview通過VISA進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。
數(shù)據(jù)采集使用PCI6221多功能數(shù)據(jù)采集卡(National Instruments, USA)，信 號發(fā)生器的測試電壓信號、電滯回線測量中采集到的電壓信號以及應(yīng)變回線中采 集到的電壓信號分別從三個模擬輸入通道同時進(jìn)行采集。圖5為本發(fā)明的設(shè)備控 制和數(shù)據(jù)采集處理過程示意圖。
本裝置控制系統(tǒng)的源程序使用Labview編程，為HP33220A信號發(fā)生器的脈 沖波形、頻率、振幅、周期數(shù)等參數(shù)定義了設(shè)置接口；同時可定義DAQ數(shù)據(jù)采 集的采樣率以得到適合的曲線。軟件部分使用Case結(jié)構(gòu)定義兩個DAQ，分別在 觸發(fā)信號和等待觸發(fā)兩個階段進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，可分別實(shí)現(xiàn)信號監(jiān)控和信號采集處理兩個功能。
通過編程對電滯回線和應(yīng)變回線的信號偏移進(jìn)行調(diào)零，并自動保存數(shù)據(jù)文件 和回線圖，同時在界面上顯示極化強(qiáng)度、矯頑場等數(shù)值和兩個回線。 實(shí)施例2:
測試樣品使用PZT-5 (中科院聲學(xué)所)陶瓷樣品，樣品厚度d-lmm，電極面 積S=0.7854cm2，實(shí)驗(yàn)使用頻率0.2Hz， 2個周期的三角波作為極化場強(qiáng)。測量前 點(diǎn)擊界面上Polarisation Centering和Strain Centering按鈕對回線進(jìn)行自動調(diào)零補(bǔ) 償，點(diǎn)擊界面上Strain Filter按鈕對應(yīng)變回線進(jìn)行濾波處理。圖7為使用計(jì)算機(jī)對 電滯回線和應(yīng)變回線進(jìn)行補(bǔ)償后的測量結(jié)果。界面上顯示出Ps-33.9219^iC/cm2， Pr=31.554|iC/cm2， Ec=U 1417kV/mm，并實(shí)時繪出兩條回線和測試信號(如圖 7a、圖7b所示)。
權(quán)利要求
1一種同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的裝置，包括測試信號輸出、電滯回線測試、應(yīng)變回線測試以及設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理四部分，其特征在于，所述測試信號輸出部分由高壓信號源分別連接信號發(fā)生器、示波器和待測樣品；所述信號發(fā)生器提供測試信號，并由高壓信號源放大后，輸出至待測樣品；所述電滯回線測量部分包括標(biāo)準(zhǔn)電容和阻抗放大器，標(biāo)準(zhǔn)電容和阻抗放大器分別連接至待測樣品和數(shù)據(jù)采集卡；電滯回線測量采用相對簡單的Sawyer-Tower電路測量，阻抗放大器對標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號進(jìn)行放大，測量精度相對較高，并且防止了較大電壓傳輸?shù)讲杉?，起到了放大和保護(hù)的雙重作用；所述應(yīng)變回線測試部分由LVDT位移傳感器和電橋放大器串聯(lián)組成，采用LVDT方法測量鐵電材料的應(yīng)變，并通過比較儀臺架將LVDT穩(wěn)定在合適的位置，使用電橋放大器對LVDT信號進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；所述設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理部分將放大的應(yīng)變信號和標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號同時輸入到數(shù)據(jù)采集卡中并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，同時輸出電滯回線和應(yīng)變回線的圖文件和數(shù)據(jù)文件到計(jì)算機(jī)中。
2.—種同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法，其特征在于，包 括電滯回線測試和應(yīng)變回線的測試；首先測試信號輸出部分采用程序控制信號發(fā) 生器產(chǎn)生測試波形信號，再經(jīng)高壓信號源放大后施加到測試回路中的待測樣品 上；電滯回線測試部分使用Sawyer-Tower電路將標(biāo)準(zhǔn)電容和待測樣品串聯(lián)，再 將標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號由阻抗放大器進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；應(yīng)變 回線測試部分采用LVDT方法測試應(yīng)變，并通過比較儀臺架將LVDT穩(wěn)定在合適 的位置，使用電橋放大器對LVDT信號進(jìn)行放大并輸入到數(shù)據(jù)采集卡中；上述輸 入到數(shù)據(jù)采集卡中的兩種信號由設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理部分的數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，同時輸出電滯回線和應(yīng)變回線的圖文件和數(shù)據(jù)文件在計(jì)算機(jī)界面顯 示，進(jìn)行人機(jī)交互。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法， 其特征在于，所述信號發(fā)生器產(chǎn)生測試波形信號為頻率0.02Hz-10Hz的三角波。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法， 其特征在于，所述高壓信號源提供給待測樣品的電流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)電容將其轉(zhuǎn)換成便于 處理的數(shù)值范圍內(nèi)的電壓信號；因鐵電材料具有較高阻抗，相應(yīng)的電流信號很微 弱，加之標(biāo)準(zhǔn)電容不宜過大，所以采用阻抗放大器對電壓信號進(jìn)行放大，再經(jīng)過 數(shù)據(jù)采集卡轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的測試方法， 其特征在于，所述電滯回線測試部分使用的Sawyer-Tower電路中，樣品電量Q 與極化強(qiáng)度Ps成正比，即Q-PsA，樣品電量與標(biāo)準(zhǔn)電容帶電量相等，而Q^CV， 故CsVsK:。V。，又阻抗放大器LF356N與標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)，其兩端電壓等于V。，故 PS=C。V。/A，因此只需將通過LF356N的電壓信號經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡采集到計(jì)算機(jī)讀 出數(shù)值，就可以計(jì)算出極化強(qiáng)度進(jìn)而測得樣品的電滯回線。向待測樣品施加電壓 時，采集卡同時采集來自阻抗放大器和電橋放大器的電壓信號，從而同時測量鐵 電材料電滯回線和應(yīng)變回線。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種同時測量鐵電材料電滯回線和應(yīng)變回線的方法和裝置，測量裝置包括測試信號輸出、電滯回線測試、應(yīng)變回線測試以及設(shè)備控制與數(shù)據(jù)采集處理四部分。信號發(fā)生器產(chǎn)生的波形信號經(jīng)高壓放大器放大后施加于待測樣品和標(biāo)準(zhǔn)電容組成的串聯(lián)回路中，標(biāo)準(zhǔn)電容兩端的電壓信號通過阻抗放大器輸入到采集卡中；同時將LVDT位移傳感器探測到的應(yīng)變信號輸入到數(shù)據(jù)采集卡；并通過計(jì)算機(jī)得到電滯回線和應(yīng)變回線。本發(fā)明解決了目前國內(nèi)鐵電壓電材料研究中，沒有同時測量電滯回線和應(yīng)變回線儀器的狀況。它實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)穩(wěn)定，效率高，同時具有較好的自定義性和擴(kuò)展性，可以大大節(jié)省實(shí)驗(yàn)時間。本發(fā)明的技術(shù)方案結(jié)構(gòu)原理簡單、器件制作及裝配容易、方便實(shí)用。
文檔編號G01B7/16GK101566660SQ20091008548
公開日2009年10月28日 申請日期2009年5月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月22日
發(fā)明者勇 張, 戴遐明, 李繼威, 鄧長生, 黃春林 申請人:清華大學(xué)