專利名稱：一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及電子測試系統(tǒng)領域，主要用于數(shù)字電路板的測試與故障診 斷需要，具體涉及一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法。
背景技術：
隨著裝備信息化程度的不斷加強，數(shù)字電路已經成為電子裝備的重要 組成部分。其質量直接影響到裝備整機的質量，其生產、維修和檢驗周期， 直接影響到整機的研制速度和綜合指標。因此，對數(shù)字電路的測試和故障 診斷技術進行研究已經成為現(xiàn)代測試技術研究的重要領域。但是，大多數(shù) 的測試系統(tǒng)都是針對整臺設備或系統(tǒng)設計的，針對電路板進行測試的自動 測試方法還不多見。
許多測試系統(tǒng)中的測試向量生成主要依靠工程測試人員憑借自己的豐 富經驗和理論知識完成，這不僅對測試人員的素質要求較高，而且測試速 度慢、可信度低，尤其是隨著系統(tǒng)的日趨復雜，測試周期長，無法排除測 試結果中的人為因素，無法實現(xiàn)集成電路大批量自動測試?；谟嬎銠C自
動測試生成方法是從Eldred于1959年提議采用推導測試的技術開始，目前 國際上已經在數(shù)字電路測試生成方面提出了許多算法。其中，有代表的主 要有 一維敏化法、布爾差分法、D算法、九值D算法、PODEM和FAN 算法。上述方法都是建立在SSA模型基礎上的，而且都沿用了通路敏化的 思想。而且對于時序電路來說，其主要由存儲元件(如觸發(fā)器)和組合邏輯電路(如組合邏輯門)組成，電路的輸出不僅與當前的輸入有關，還與 電路的歷史狀態(tài)有關，因此其測試生成遠比組合電路的測試生成復雜。目 前對時序電路而言，比較有效的測試生成方法主要有擴展的向后驅趕
(Extended Back-Trace, EBT)算法、FASTEST算 去、CONTEST算法等。 不過，這些算法實現(xiàn)起來較困難，很多都是停留在理論研究層面，實際系 統(tǒng)并沒有得到應用。

發(fā)明內容
為解決對任意數(shù)字電路板都可以測試、提高測試的可靠性與效率的技 術問題，本發(fā)明設計了一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，可以根 據(jù)被測電路的不同自動生成向量進行測量，可以十分方便地實現(xiàn)測試端口 方向的任意配置，滿足不同類型電路板的測試需求。
本發(fā)明實現(xiàn)發(fā)明目的采用的技術方案是， 一種數(shù)字電路板自動生成向 量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的 上位機中實現(xiàn)的，測試方法首先對被測電路進行自動測試生成并得到相應 測試向量表，其次根據(jù)所生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序 關系執(zhí)行測試過程，最后讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較， 判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成并得到相
應測試向量表的具體過程是
A) 、將被測電路的數(shù)據(jù)信息文件以編碼形式存入指定的系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；
B) 、根據(jù)編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑， 并將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端
口地址；C) 、對找出的D通路進行一致性檢査，刪除錯誤向量和冗余向量的真 值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；
D) 、重復步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值 表的個數(shù)；
E) 、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關系存入系 統(tǒng)數(shù)據(jù)庫，等待下位機執(zhí)行測試程序。
本發(fā)明的有益效果是測試能力強、測試生成系統(tǒng)得到的測試向量可以 自動轉化為被測電路的測試程序，提高了系統(tǒng)的執(zhí)行效率，使系統(tǒng)可以十 分方便地應用于新型電路板的試驗測試。
下面結合附圖對本發(fā)明進行詳細說明。


圖l是本發(fā)明的方法流程圖。
具體實施例方式
參看圖l， 一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安 裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的上位機中實現(xiàn)的，上述的測試方 法首先對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表，其次根據(jù)所 生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序關系執(zhí)行測試過程，最后 讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障， 其中所說的對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表的具體過 程是
A) 、將被測電路的數(shù)據(jù)信息文件以編碼形式存入指定的系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中;
B) 、根據(jù)編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，并將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端
口地址；
C) 、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗余向量的真 值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；
D) 、重復步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值 表的個數(shù)；
E) 、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關系存入系 統(tǒng)數(shù)據(jù)庫，等待下位機編寫并執(zhí)行測試程序。
上述的步驟B中將故障響應信息以測試向量表的形式存儲到電路端口 地址的過程是從輸出端向輸入端進行信息傳輸?shù)摹?br> 上述的步驟A中的數(shù)據(jù)信息文件可以來自計算機輔助設計軟件生成的 文件，也可以根據(jù)定義好的數(shù)據(jù)格式進行手動輸入。
上述的步驟D中重復步驟B和步驟C的次數(shù)是根據(jù)被測電路D通路故 障的數(shù)目和實際電路中邏輯門的數(shù)量共同決定的。
本發(fā)明的測試方法的完整過程是首先對被測電路進行自動測試并生 成，根據(jù)得到的測試向量自動編寫測試程序。根據(jù)測試程序，上位機首先 對測試端口進行方向配置，然后按照時序關系執(zhí)行測試，并讀取來自被測 電路的響應信息，通過與標準向量信息進行對比，判斷被測電路的故障。
其中數(shù)字電路板自動測試向量生成方法主要表現(xiàn)在首先對被測電路 進行D路通路敏化，找到電路的D通路，然后對D通路進行一致性檢査， 刪除錯誤向量和冗余向量，最后得到被測電路的測試向量，并存入系統(tǒng)模 型數(shù)據(jù)庫，經過格式轉換后送到自動測試系統(tǒng)用以執(zhí)行測試任務。如果按照傳統(tǒng)D算法思想，先敏化路徑然后再統(tǒng)一進行一致性檢查的 話，產生的敏化路徑的數(shù)量將達到天文數(shù)字，測試向量生成將變成一個"不 可能完成"的任務。因此必須在每一步回溯時，進行一致性檢查，及時刪 除不符合要求的D立方(D立方是一個壓縮的真值表，可以作為電路的測 試向量)，減少計算機的計算量，加快測試向量生成的速度。
本發(fā)明的測試方法的可測對象包含多時鐘、含有復雜功能的時序電路。 本測試方法的算法思想在傳統(tǒng)D算法的基礎上進行很大的改進。主要表現(xiàn) 在以下四個方面
(1) 、 D通路不再是從輸入端開始向輸出端敏化，而是從輸出端向輸 入端進行回溯敏化。生成的敏化通路較長，測試向量覆蓋的測試路徑多， 可以在滿足同樣故障覆蓋率的要求下，盡量減少測試中間節(jié)點的個數(shù)。
(2) 、采用每完成一步敏化，立即進行一致性檢査的策略。另外，在 每一步敏化后，進行一致性檢查過程中添加選擇策略，控制每次生成的D 立方的個數(shù)，降低敏化路徑的計算量，提高測試向量生成速度。
(3) 、為了實現(xiàn)時序電路測試生成，讓D立方攜帶時序信息。在每次 路徑敏化時，只要將D方程中的延時信息與本次敏化所需的D立方中的延 時信息疊加即可。
(4) 、采用多個時鐘棧，解決電路的多時鐘問題。
權利要求
1、一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的上位機與執(zhí)行測試程序的下位機的配合下實現(xiàn)的，其特征在于所述的測試方法首先對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表，其次根據(jù)所生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序關系執(zhí)行測試過程，最后讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表的具體過程是A)、將被測電路的數(shù)據(jù)信息文件以編碼形式存入指定的系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；B)、根據(jù)編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，并將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端口地址；C)、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗余向量的真值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；D)、重復步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值表的個數(shù)；E)、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關系存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫，等待下位機編寫并執(zhí)行測試程序。
2、 根據(jù)權利要求1所述的一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法， 其特征在于所述的步驟B中將故障響應信息以測試向量表的形式存儲到 電路端口地址的過程是從輸出端向輸入端進行信息傳輸?shù)摹?br> 3、 根據(jù)權利要求1所述的一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法， 其特征在于所述的步驟A中的數(shù)據(jù)信息文件可以來自計算機輔助設計軟 件生成的文件，也可以根據(jù)定義好的數(shù)據(jù)格式進行手動輸入。
4、 根據(jù)權利要求1所述的一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法， 其特征在于所述的步驟D中重復步驟B和步驟C的次數(shù)是根據(jù)被測電路 D通路故障的數(shù)目和實際電路中邏輯門的數(shù)量共同決定的。
全文摘要
一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，解決對任意數(shù)字電路板都可以測試、提高測試的可靠性與效率的技術問題，采用的技術方案是，本方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的上位機與執(zhí)行測試程序的下位機的配合下實現(xiàn)的，以上測試方法首先對被測電路進行自動測試并生成得到相應測試向量表，其次根據(jù)所生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序關系執(zhí)行測試過程，最后讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障。本發(fā)明的優(yōu)點是測試能力強、測試生成系統(tǒng)得到的測試向量可以自動轉化為被測電路的測試程序，提高了系統(tǒng)的執(zhí)行效率，使系統(tǒng)可以十分方便地應用于新型電路板的試驗測試。
文檔編號G01R31/28GK101614788SQ20091007489
公開日2009年12月30日 申請日期2009年7月17日 優(yōu)先權日2009年7月17日
發(fā)明者呂曉明, 王振生, 連光耀, 鄧大權, 星 陳, 黃考利 申請人:中國人民解放軍63908部隊