專利名稱：發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置。
背景技術(shù)：
半導(dǎo)體發(fā)光二極管具有體積小、壽命長、能耗低、瞬時啟動、顏色 豐富等優(yōu)點，是一種新型環(huán)保節(jié)能的冷光源。目前己廣泛應(yīng)用于指示燈、
顯示屏、交通信號燈等方面。而白光發(fā)光二極管由于色溫低、固體元件 特性強、耐震動、反應(yīng)時間快等特性必將逐漸取代白熾燈、日光燈，成
為節(jié)能環(huán)保的新一代照明燈具。按照現(xiàn)行的行業(yè)標準SJ2355.1發(fā)光二極 管發(fā)光波長與光譜半寬度的測試裝置，如圖1所示，它包括恒流源、單 色儀、探測器。測試方法為被測發(fā)光二極管由恒流源供電，當被測發(fā) 光二極管的正向工作電流達到規(guī)定值時，旋轉(zhuǎn)單色儀轉(zhuǎn)鼓，使指示器達 最大值，讀出波長數(shù)值，即為該器件的發(fā)光峰值波長。測出發(fā)光峰值后， 分別朝兩個方向再旋轉(zhuǎn)單色儀轉(zhuǎn)鼓，使指示器讀數(shù)為最大值一半時，讀 出最大值的兩個一半值，兩者之差即為光譜半寬度值。該測試方法過程 較為復(fù)雜、時間較長、測量值不夠準確。 發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目是為了克服現(xiàn)有發(fā)光二極管發(fā)光波長與光譜半寬度 的測試裝置所帶來測試方法過程較為復(fù)雜、測量時間較長、測量值不夠 準確的缺點，提供一種發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置， 符合有關(guān)發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測試標準。
本實用新型的技術(shù)方案是，發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，其特點是，包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器 和計算機，被測發(fā)光二極管置于積分球內(nèi)，用連接光纖連接積分球與分
光器件，發(fā)光二極管發(fā)出的光成像在CCD的感光面上，經(jīng)CCD探測器 內(nèi)的采樣、放大電路放大及A/D轉(zhuǎn)換后送入計算機數(shù)據(jù)處理。 所述的分光器件為衍射光柵。所述的積分球的直徑為180mm。 本實用新型的有益效果是裝置結(jié)構(gòu)簡單，用本裝置測試方法具有 操作簡便、快捷、測量準確可靠等優(yōu)點，可使用于LED生產(chǎn)企業(yè)，LED 檢測實驗室等方面。

圖1為行業(yè)標準SJ2355.1發(fā)光二極管發(fā)光波長與光譜半寬度的測試 原理圖2為本發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置測試原理 圖。
具體實施方式
發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，由圖2所示，其 特點是，包括積分球1、連接光纖3、分光器件4、 CCD探測器5和計 算機6 ，被測發(fā)光二極管2置于直徑為180mm的積分球1內(nèi)，用連接 光纖3連接積分球1與為衍射光柵的分光器件4，發(fā)光二極管2發(fā)出的 光成像在CCD的感光面上，經(jīng)CCD探測器內(nèi)的采樣、放大電路放大及 A/D轉(zhuǎn)換后送入計算機數(shù)據(jù)處理，得到被測發(fā)光二極管的光譜曲線。移 動光標，點擊光譜曲線的最大值處，根據(jù)軟件可讀出峰值輻射波長。再 將光標分別移到峰值輻射波長的兩側(cè)，分別讀出兩個峰值輻射波長的半 值，兩者相減即為輻射帶寬。
權(quán)利要求1. 一種發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，其特征在于，包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和計算機，被測發(fā)光二極管置于積分球內(nèi)，用連接光纖連接積分球與分光器件，發(fā)光二極管發(fā)出的光成像在CCD的感光面上，經(jīng)CCD探測器內(nèi)的采樣、放大電路放大及A/D轉(zhuǎn)換后送入計算機數(shù)據(jù)處理。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，其特征在于，所述的分光器件為衍射光柵。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，其特征在于，所述的積分球的直徑為180mm。
專利摘要本實用新型公開了一種發(fā)光二極管峰值輻射波長及輻射帶寬的測量裝置，其特點是，包括積分球、連接光纖、分光器件、CCD探測器和計算機，被測發(fā)光二極管置于積分球內(nèi)，用連接光纖連接積分球與分光器件，發(fā)光二極管發(fā)出的光成像在CCD的感光面上，經(jīng)CCD探測器內(nèi)的采樣、放大電路放大及A/D轉(zhuǎn)換后送入計算機數(shù)據(jù)處理。本實用新型的有益效果是裝置結(jié)構(gòu)簡單，用本裝置測試方法具有操作簡便、快捷、測量準確可靠等優(yōu)點，可使用于LED生產(chǎn)企業(yè)，LED檢測實驗室等方面。
文檔編號G01J3/12GK201297960SQ200820153980
公開日2009年8月26日 申請日期2008年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月14日
發(fā)明者航 于, 鴦 吳, 瑛 崔 申請人:上海市激光技術(shù)研究所