專利名稱：光學(xué)元件檢測裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)元件加工領(lǐng)域，尤其涉及加工后光學(xué)元件尺寸的檢測裝置和方法。
背景技術(shù)：
隨著光電行業(yè)的快速發(fā)展，光學(xué)鏡片被設(shè)計成各種形狀以滿足不同產(chǎn)品之需要。光學(xué)鏡 片的加工技術(shù)也得到迅速發(fā)展，人們可通過不同的加工方式得到所需要的光學(xué)鏡片。
在很多應(yīng)用場合中，例如相機鏡片、眼鏡鏡片、放大鏡及望遠鏡鏡片等，通常需要把光 學(xué)鏡片加工成圓形。光學(xué)鏡片加工成圓形的過程中，通常需要切割和滾圓工序。切割工序是 指選材后從整塊的原材料如光學(xué)玻璃坯體中切取適當(dāng)大小的待加工坯體的過程。目前的滾圓 技術(shù)，就是把方形光學(xué)鏡片進行滾圓處理，使光學(xué)鏡片具有圓形邊緣以滿足光學(xué)應(yīng)用。
在實際生產(chǎn)中，需要對切割后和滾圓后的光學(xué)元件進行檢測，以確定光學(xué)元件的形狀和 尺寸是否符合規(guī)格?，F(xiàn)有技術(shù)中，對光學(xué)元件的檢測通常采用人工抽檢的方式。作業(yè)人員采 用游標(biāo)卡尺等量測工具抽檢產(chǎn)品的尺寸。采用上述方式進行檢測，需要消耗大量的時間，效 率低下。在實際的檢測中，容易造成光學(xué)元件的污染，須增加清洗的步驟，降低生產(chǎn)的效率
有鑒于此，有必要提供一種能夠快速地進行光學(xué)元件檢測的裝置和方法，并能夠避免在 檢測的過程中對光學(xué)元件產(chǎn)生污染。

發(fā)明內(nèi)容
以下將以實施例說明一種光學(xué)元件的檢測裝置和方法。
一種光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其包括多個間隔設(shè)置的篩板與多個刮板，每個篩板中 形成有多個通孔，每個刮板滑動安裝于一相應(yīng)的篩板，用于沿篩板表面滑動使放置在該篩板 上的光學(xué)元件通過該篩板內(nèi)的通孔而到達下一篩板上，該篩板中的通孔的孔徑大于所述下一 篩板中的通孔的孔徑。
一種采用所述光學(xué)檢測裝置進行光學(xué)元件檢測的方法，其包括如下步驟將待檢測的光 學(xué)元件置于具有最大通孔孔徑的篩板上；驅(qū)動刮板在篩板的表面滑動使得待檢測的光學(xué)元件 通過篩板的通孔落入通孔孔徑小于所述篩板的篩板的表面上。
通過采用檢測裝置進行光學(xué)元件尺寸的檢測，可以實現(xiàn)多個光學(xué)元件的同時檢測，可以 改變現(xiàn)有技術(shù)中進行抽檢的檢測方法，可以進行全部光學(xué)元件的檢測，提高了產(chǎn)品檢測的效率和準(zhǔn)確度。另外，在檢測的過程中避免了操作人員與光學(xué)元件的接觸，防止了檢測過程中 對光學(xué)元件的污染，避免了后續(xù)的清洗制程，降低了產(chǎn)品制作的成本。


圖l是本技術(shù)方案實施例提供的光學(xué)元件檢測裝置的立體圖。
圖2是本技術(shù)方案實施例提供的光學(xué)元件檢測裝置沿著II-II方向的剖面圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合附圖對本技術(shù)方案提供的光學(xué)元件的檢測裝置和方法作進一步的詳細說明。
請參閱圖1及圖2，本技術(shù)方案實施例提供一種光學(xué)元件的檢測裝置100，其包括第一篩 板110、第一刮板120、第二篩板130、第二刮板140、收集槽150和支撐桿160。
第一篩板110具有相對的第一表面1101和第二表面1102，第一篩板110內(nèi)開設(shè)有多個貫穿 第一表面1101與第二表面1102的第一通孔113。本實施例中，多個第一通孔113按均勻分布于 第一篩板IIO。多個第一通孔113的大小相同，第一通孔113的孔徑與待檢測光學(xué)元件容許的 最大容許尺寸相等(光學(xué)元件檢測時，具有一定的容許公差，設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)尺寸與容許公差之 和即為容許的最大尺寸，標(biāo)準(zhǔn)尺寸與容許公差之差即為容許的最小尺寸)。
本實施例中，第一篩板lIO的周邊相對的兩側(cè)分別形成有第一側(cè)壁I 1 l和第二側(cè)壁l 12， 第一側(cè)壁lll、第二側(cè)壁112和第一篩板110形成收容槽114。本實施例中，第一篩板lll呈長 方形，兩個第一側(cè)壁112相互平行，且與第一篩板110垂直。第一側(cè)壁lll的一遠離第一篩板 110的端面上設(shè)置有滑槽115。
第一刮板120包括第一主體部121和與第一主體部121的兩端相連的兩個第一滾輪122。第 一主體部121為板狀結(jié)構(gòu)，第一主體部121平行于第一多孔板111的寬度方向設(shè)置。第一主體 部121的長度與收容槽114的寬度相等，第一主體部121與第一篩板110的第一表面1101相接觸 或與第一表面1101相距較小距離，所述距離應(yīng)小于待檢測的光學(xué)元件的厚度。
第一滾輪122可滾動的收容于第一滑槽115內(nèi)，使得第一刮板120運動時，主體部121與第 一表面1101的距離不發(fā)生變化。第一滾輪122的形狀與滑槽115的形狀相配合。
第二篩板130的結(jié)構(gòu)與第一篩板110的結(jié)構(gòu)相近，第二篩板的周邊形成有第三側(cè)壁131和 第四側(cè)壁132，第三側(cè)壁131的端面1311上設(shè)置有第二滑槽135。不同之處在于，第二篩板 131設(shè)置的第二通孔133的孔徑與待檢測光學(xué)元件的容許的最小尺寸相等。第一篩板lll和第 二篩板131相互間隔并相互平行，在垂直于它們的方向上相互重疊。
第二刮板140與第一刮板120的結(jié)構(gòu)相同，第二刮板140具有第二主體部141和兩個第二滾 輪142，第二滾輪142滾動的收容于第二滑槽135內(nèi)。收集槽150具有收容空間，用于收容光學(xué)元件，其大小與第一收容槽114的大小相等。收 集槽150設(shè)置靠近于設(shè)置的通孔孔徑小的篩板。
在第一篩板110與第二篩板130之間和第二篩板130與收集槽150之間分別設(shè)置有支撐桿 160，設(shè)置支撐桿160的根數(shù)和長度實際情況確定。本實施例中，在第一篩板110和第二篩板 130之間設(shè)置有4根支撐桿160，第二篩板130和收集槽150之間設(shè)置有4根支撐桿160，支撐桿 160分別設(shè)置于第一篩板110、第二篩板130和收集槽150的四個頂點處，使得第一篩板IIO、 第二篩板130和收集槽150相互平行并相距一段距離。
為了實現(xiàn)檢測裝置100能夠檢測兩種以上不同尺寸的光學(xué)元件，可以在設(shè)置更多的篩板 和刮板。在篩板上根據(jù)實際檢測的光學(xué)元件的尺寸設(shè)計多孔板的孔徑的大小，將多個篩板按 照孔徑大小的一次排列，使得孔徑最大的篩板處于最上端，孔徑最小的篩板處于最下端。各 篩板上設(shè)置的通孔的孔徑可以根據(jù)實際檢測的鏡片的尺寸進行確定，即可實現(xiàn)在同一檢測裝 置檢測不同尺寸大小的光學(xué)元件。
當(dāng)然，為了實現(xiàn)檢測過程的自動化，也可以將第一刮板120和第二刮板140與驅(qū)動裝置相 連，通過驅(qū)動裝置驅(qū)動第一刮板120和第二刮板140分別在第一篩板110和第二篩板130的表面 內(nèi)運動。
采用檢測裝置100對光學(xué)元件的尺寸進行檢測，包括以下步驟
第一步，將待檢測的光學(xué)元件置于具有最大通孔孔徑的第一篩板iio上。
本實施例中待檢測的光學(xué)元件包括完成滾圓或切割制程的光學(xué)元件，所述的光學(xué)元件呈 薄片狀。
第二步，驅(qū)動刮板在篩板的表面滑動使得待檢測的光學(xué)元件通過篩板的通孔落入通孔孔 徑小于所述篩板的篩板的表面上。
具體地，驅(qū)動第一刮板120在第一篩板110表面滑動使得被檢測的光學(xué)元件通過第一篩板 110的第一通孔113而落入第二篩板130的表面上。
第一篩板110設(shè)置的第一通孔113的大小為光學(xué)元件容許的最大尺寸作為直徑，這樣，第 一篩板110上待檢測的光學(xué)元件符合尺寸小于容許的最大尺寸的光學(xué)元件即可通過第一通孔 113，而到達第二篩板130。
通過驅(qū)動第一刮板120在第一篩板110表面1101上運動，可以使得第一篩板110內(nèi)的光學(xué) 元件隨著第一刮板120運動而產(chǎn)生運動，使得待檢測的光學(xué)元件在運動過程中到達多個第一 通孔l 13所在位置，從而完成第一篩板lIO的檢測。
第三步，驅(qū)動第二刮板140在第二篩板130表面滑動使得被檢測的光學(xué)元件通過第二篩板
5130的第二通孔133而落入收集槽150內(nèi)。第二篩板130設(shè)置的第二通孔133的大小為光學(xué)元件 容許的最小尺寸作為直徑，這樣，第二篩板130上待檢測的光學(xué)元件符合尺寸大于容許的最 小尺寸的光學(xué)元件不能通過第二通孔133，尺寸小于容許的最小尺寸的光學(xué)元件通過第二通 孔133。
因此，最后留在第二篩板130內(nèi)的光學(xué)元件即為尺寸合格的光學(xué)元件，留在第一篩板 IIO上的光學(xué)元件為尺寸偏大的光學(xué)元件，通過第二通孔133落入到收容槽150內(nèi)的光學(xué)元件 為尺寸偏小的光學(xué)元件。
當(dāng)檢測裝置100具有更多的篩板和刮板時，本實施例的檢測光學(xué)元件尺寸的方法進一步 包括按照次序依次驅(qū)動刮板在對應(yīng)的篩板的表面滑動，使得對應(yīng)篩板上的光學(xué)元件尺寸小于 對應(yīng)的篩板設(shè)置的通孔的光學(xué)元件通過所述通孔，而達到通孔尺寸更小的篩板，直至檢測 結(jié)束。通過采用檢測裝置100進行光學(xué)元件尺寸的檢測，可以實現(xiàn)多個光學(xué)元件的同時檢測 ，可以改變現(xiàn)有技術(shù)中進行抽檢的檢測方法，可以進行全部光學(xué)元件的檢測，提高了產(chǎn)品檢 測的效率和準(zhǔn)確度。另外，在檢測的過程中避免了操作人員與光學(xué)元件的接觸，防止了檢測 過程中對光學(xué)元件的污染，避免了后續(xù)的清洗制程，降低了產(chǎn)品制作的成本。
可以理解的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做出其它 各種相應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其包括多個間隔設(shè)置的篩板與多個刮板，每個篩板中形成有多個通孔，每個刮板滑動安裝于一相應(yīng)的篩板，用于沿篩板表面滑動使放置在該篩板上的光學(xué)元件通過該篩板內(nèi)的通孔而到達下一篩板上，該篩板中的通孔的孔徑大于所述下一篩板中的通孔的孔徑。
2.如權(quán)利要求l所述的光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其特征在于，所述篩板相對兩側(cè)分別形成有第一側(cè)壁，第一側(cè)壁的端面上形成有滑槽，所述刮板兩端設(shè)有滾輪，所述滾輪分別可滾動的收容于所述滑槽內(nèi)。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其特征在于，所述篩板周圍還形成有兩相對設(shè)置的第二側(cè)壁，所述第一側(cè)壁、第二側(cè)壁及所述篩板圍成一收容槽，所述收容槽用于收容光學(xué)元件。
4.如權(quán)利要求l所述的光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其特征在于，進一步包括多根支撐桿，所述多個篩板固定于所述支撐桿。
5.如權(quán)利要求l所述的光學(xué)元件檢測裝置，其特征在于，進一步包括驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動所述刮板滑所述篩板表面滑動。
6.如權(quán)利要求l所述的光學(xué)元件檢測裝置，其特征在于，在靠近所述多個篩板中通孔直徑最小的篩板處設(shè)置有收集槽，用于收集自該篩板中脫落的光學(xué)元件。
7.一種采用如權(quán)利要求1至6任一項所述光學(xué)檢測裝置進行光學(xué)元件檢測的方法，其包括如下步驟將待檢測的光學(xué)元件置于具有最大通孔孔徑的篩板上；驅(qū)動刮板在篩板的表面滑動使得待檢測的光學(xué)元件通過篩板的通孔落入通孔孔徑小于所述篩板的篩板的表面上。
全文摘要
一種光學(xué)元件尺寸的檢測裝置，其包括多個間隔設(shè)置的篩板與多個刮板，每個篩板中形成有多個通孔，每個刮板滑動安裝于一相應(yīng)的篩板，用于沿篩板表面滑動使放置在該篩板上的光學(xué)元件通過該篩板內(nèi)的通孔而到達下一篩板上，該篩板中的通孔的孔徑大于所述下一篩板中的通孔的孔徑。本發(fā)明還涉及一種光學(xué)元件尺寸的檢測方法。
文檔編號G01B5/08GK101684997SQ200810304609
公開日2010年3月31日 申請日期2008年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月23日
發(fā)明者王仲培 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司