專利名稱：雷射測距裝置及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種雷射測距裝置，尤其是指一種利用液晶顯示模塊來達成測距的雷
射測距裝置及其控制方法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)今的雷射尺，為了維持測量光與參考光之間相位差的準(zhǔn)確性，一般在參考光 路上設(shè)置一快門機構(gòu)，如臺灣專利號1288230，公開一種利用快門機構(gòu)來遮蔽發(fā)射測量光時 所產(chǎn)生的噪聲，是在發(fā)射裝置發(fā)射測量信號時，在參考光路徑上設(shè)置快門機構(gòu)，利用該快門 機構(gòu)的動作來達到完全遮蔽測量光反射到參考光路徑的雜光，以避免接收裝置接收到雜光 的干擾，造成測量結(jié)果的精確度降低。但是，利用該快門機構(gòu)的方式，會因為啟動該快門機 構(gòu)需要相當(dāng)大的電流而使得電力消耗較大，且在動作時，因為機構(gòu)的作動亦會產(chǎn)生振動及 噪音，另外，當(dāng)目標(biāo)物是高反射物質(zhì)或在近距離時，會因為反射的測量信號強度太大而造成 接收裝置輸出的電信號飽和而無法由該電信號計算出距離。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點，提供一種具有靜音、低 耗電以及可以調(diào)整光強度的雷射測距裝置及其控制方法。 本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是，提供一種雷射測距裝置，用以測量
目標(biāo)物的距離，包括 發(fā)射組件，用以產(chǎn)生測量光； 第一液晶顯示模塊，具有透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)；
第二液晶顯示模塊，具有透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)； 接收組件，用以接收該測量光經(jīng)過該第二液晶顯示模塊的參考光與由該目標(biāo)物反 射該測量光的反射光，并且依據(jù)接收的這些光的強度大小，對應(yīng)輸出參考光電信號及反射 光電信號；以及 控制單元，用以控制該第一液晶顯示模塊為該不透光狀態(tài)及該第二液晶顯示模塊 為該透光狀態(tài)、該接收組件接收該參考光電信號，再控制該第一液晶顯示模塊為該透光狀 態(tài)及該第二液晶顯示模塊為該不透光狀態(tài)、以及比較該反射光電信號與一預(yù)定值，并且當(dāng) 該反射光電信號高于該預(yù)定值時，調(diào)降該第一液晶顯示模塊的透光度。
在本發(fā)明所述的雷射測距裝置中，更包括 第一驅(qū)動單元，用以設(shè)定該第一液晶顯示模塊的透光狀態(tài)及透光度；
第二驅(qū)動單元，用以設(shè)定該第二液晶顯示模塊的透光狀態(tài)及透光度；以及
聚焦透鏡，用以將該反射光會聚在該接收組件。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置中，該第一驅(qū)動單元及該第二驅(qū)動單元依據(jù)該控制 單元的控制信號以設(shè)定該第一液晶顯示模塊及該第二液晶顯示模塊的透光與不透光狀態(tài) 以及透光度。
在本發(fā)明所述的雷射測距裝置中，該控制單元更包括于調(diào)降該第一液晶顯示模塊 的透光度至該反射光電訊號低于該預(yù)定值時，由該參考光與該反射光的相位差，計算一距 離值。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置中，該控制單元是微處理器、復(fù)雜可編程邏輯組件、 或者現(xiàn)場可編程門陣列。 本發(fā)明還提供了一種雷射測距裝置的控制方法，用于測量目標(biāo)物的距離，該雷射
測距裝置包括發(fā)射組件、第一液晶顯示模塊、第二液晶顯示模塊、接收組件、以及控制單元，
當(dāng)該雷射測距裝置測量時，對目標(biāo)物發(fā)射調(diào)制的測量光，所述方法包括下列步驟 控制該第一液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)，及控制該第二液晶顯示模塊為透光狀
態(tài)； 接收由該測量光通過該第二液晶顯示模塊的參考光； 于接收該參考光后，控制該第一液晶顯示模塊為透光狀態(tài)，及該第二液晶顯示模 塊為不透光狀態(tài)； 接收由該目標(biāo)物反射該測量光的反射光；以及 比較該反射光的強度是否大于一預(yù)定值，若該反射光強度低于一預(yù)定值時，由接 收該參考光及接收該反射光的相位差，計算距離值，若該反射光強度高于該預(yù)定值時，控制 該第一液晶顯示模塊透光度降低，直到該反射光強度低于該預(yù)定值時，由接收該參考光及 接收該反射光的相位差，計算出距離值。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置的控制方法中，所述雷射測距裝置還包括第一驅(qū)動
單元和第二驅(qū)動單元，該控制該第一液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)，及控制該第二液晶顯示
模塊為透光狀態(tài)更包括該控制單元控制該第一驅(qū)動單元以設(shè)定該第一液晶顯示模塊為不
透光狀態(tài)，以及控制該第二驅(qū)動單元，以設(shè)定該第二液晶顯示模塊為透光狀態(tài)。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置的控制方法中，接收由該測量光通過該第二液晶顯
示模塊的參考光是由該接收組件接收該參考光。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置的控制方法中，更包括依據(jù)該參考光及反射光的光 強度，分別產(chǎn)生參考光電信號及反射光電信號。 在本發(fā)明所述的雷射測距裝置的控制方法中，比較該反射光的強度是否大于一預(yù) 定值是由該控制單元比較該反射光電信號與該預(yù)定值。 實施本發(fā)明的雷射測距裝置及其控制方法，具有以下有益效果因為利用液晶顯
示模塊，所以在動作時，僅需要極小的控制信號即可控制測量光的阻擋或通過，而可達到減
少耗電量及低噪音的功效，且因為液晶模塊的體積較小，更可以縮小裝置的體積，另外，當(dāng)
目標(biāo)物在近距離或是具有高反射的性質(zhì)時，透過設(shè)定液晶模塊的透光度，使該接收組件不
會因為光強度過高而到達飽和，而達到可增加測量的范圍及可測量目標(biāo)物的種類的功效。 為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉出實施例，
并配合附圖作詳細說明。


下面將結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明，附圖中
圖1是本發(fā)明實施例的一種雷射測距裝置的方塊 圖2是本發(fā)明實施例的雷射測距裝置接收參考光的動作示意 圖3是本發(fā)明實施例的雷射測距裝置接收反射光的動作示意 圖4是本發(fā)明實施例的一種雷射測距裝置的控制方法流程圖。
具體實施例方式
請參閱圖1 ，是本發(fā)明實施例的一種雷射測距裝置的方塊圖，本實施例的雷射測距裝置10包括發(fā)射組件101、第一驅(qū)動單元102、第二驅(qū)動單元103、第一液晶顯示模塊104、第二液晶顯示模塊105、接收組件106、聚焦透鏡107、以及控制單元108。
參閱圖l，該發(fā)射組件101，用以產(chǎn)生調(diào)制的測量光Ls。更具體來說，當(dāng)該雷射測距裝置10欲進行測量時，該控制單元108會控制該發(fā)射組件101對目標(biāo)物發(fā)出具有相位變化的該測量光Ls，而該測量光Ls會先經(jīng)過該第一液晶顯示模塊104，若該第一液晶顯示模塊104為不透光狀態(tài)，則該測量光Ls被該第一液晶顯示模塊104反射成為參考光Lm ;若該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)，則該測量光Ls會穿過該第一液晶顯示模塊104到達目標(biāo)物。于本實施例中，該發(fā)射組件101為雷射模塊。 該第一驅(qū)動單元102及該第二驅(qū)動單元103，用以分別設(shè)定該第一液晶顯示模塊104與該第二液晶顯示模塊105的透光狀態(tài)及透光度。于本實施例中，該第一、第二驅(qū)動單元是液晶顯示驅(qū)動集成電路(IC)。 該第一液晶顯示模塊104，具有透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)，其中該第一液晶顯示模塊104與該測量光Ls的行進方向具有一角度。具體來說，該第一液晶顯示模塊104依據(jù)該第一驅(qū)動單元102的設(shè)定，使該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)或不透光狀態(tài)，以藉由該第一液晶顯示模塊104控制該測量光Ls是否通過或阻擋，以控制該目標(biāo)物是否有反射光的發(fā)生，另外，因為該第一液晶顯示模塊104與該測量光Ls的光路有一角度的傾斜，因此該第一液晶顯示模塊104會反射該測量光Ls至該第二液晶顯示模塊105，其中該角度是由該發(fā)射組件101、該第一液晶顯示模塊104以及該接收組件106之間的相互位置來決定。于本實施例中，該第一液晶顯示模塊104為扭曲向列型液晶顯示屏(TN-LCD)或超扭曲向列型液晶顯示屏(STN-LCD)。 該第二液晶顯示模塊105，具有透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)，用以控制是否通過或阻擋該參考光Lm到達該接收組件106。具體來說，因該第一液晶顯示模塊104在不透光狀態(tài)時，會反射該測量光Ls而成為該參考光Lm，而在該第二液晶顯示模塊105為透光狀態(tài)時，該參考光Lm會穿過該第二液晶顯示模塊105到達該接收組件106，但是，即使在該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)下，通過的該測量光Ls仍然會有少許的反射而使得該接收組件106接收到該少許的反射光，而對該接收組件106在接收時產(chǎn)生干擾，因此，可以藉由控制該第二液晶顯示模塊105來阻擋該測量光Lm在該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)時因為反射所產(chǎn)生的干擾，意即在接收該反射光Lr的時候，阻擋任何由該第一液晶顯示模塊104所反射的光。于本實施例中，該第二液晶顯示模塊104為扭曲向列型LCD(TN-LCD)或超扭曲向列型LCD(STN-LCD)。 該接收組件106，用以接收該測量光Ls經(jīng)過該第二液晶顯示模塊105的參考光Lm與由該目標(biāo)物反射該測量光Ls的一反射光Lr，并且依據(jù)接收這些光的強度大小，對應(yīng)輸出參考光電信號及反射光電信號。該接收組件106設(shè)置于參考光Lm行進路徑上及反射光Lr路徑上，當(dāng)該第一液晶顯示模塊104為不透光狀態(tài)時，該發(fā)射組件101發(fā)出的測量光Ls碰到該第一液晶顯示模塊104，會因為該第一液晶顯示模塊104的不透光狀態(tài)，而使得該測量光Ls被反射至該第二液晶顯示模塊105，并且在該第二液晶顯示模塊105為透光狀態(tài)時，該測量光Ls可以通過該第二液晶顯示模塊105而到達該接收組件106，使該測量光Ls成為參考光Lm，而該接收組件106接收到該參考光Lm后，會因為該參考光Lm的光強度，對應(yīng)產(chǎn)生該參考光電信號。相同地，當(dāng)該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)時，該發(fā)射組件101發(fā)出的測量光Ls碰到該第一液晶顯示模塊104，會因為該第一液晶顯示模塊104的透光狀態(tài)，而使得該測量光Ls通過該第一液晶顯示模塊104而到達目標(biāo)物，該測量光Ls碰到目標(biāo)物而反射為反射光Lr，經(jīng)由該聚焦透鏡107將該反射光Lr會聚在該接收組件106上，而該接收組件106接收到該反射光Lr后，會因為該反射光Lr的光強度而輸出該反射光電信號，其中該電信號的大小，會對應(yīng)該參考光Lm的光強度大小而變化，并且該電信號會隨著該光的相位變化而對應(yīng)產(chǎn)生具有相位變化的電信號。于本實施例中，該接收組件106是雪崩二極管(APD)。 該聚焦透鏡107，用以將該反射光Lr會聚在該接收組件106。當(dāng)該反射光Lr由較遠的目標(biāo)物反射回來時，透過該聚焦透鏡107將該平行的反射光Lr會聚在該接收組件106上，使該接收組件106能藉由該聚焦透鏡107接收到由更遠的目標(biāo)物反射回來的該反射光Lr。該聚焦透鏡107于本實施例中是凸透鏡，于一實施例中是非球面鏡。值得一提的是，該聚焦透鏡可以是單透鏡或是一組合透鏡。于一實施例中，該聚焦透鏡是透鏡組。
控制單元108，用以在該發(fā)射組件101發(fā)射該測量光Ls時，先控制該第一液晶顯示模塊104為該不透光狀態(tài)及該第二液晶顯示模塊105為該透光狀態(tài)以使該接收組件106接收該參考光電信號，再控制該第一液晶顯示模塊104為該透光狀態(tài)及該第二液晶顯示模塊105為該不透光狀態(tài)以接收該反射光電信號、以及比較該反射光電信號與一預(yù)定值，并且在該反射光電信號高于該預(yù)定值時，調(diào)整該第一液晶顯示模塊104的透光度至該反射光電信號低于該預(yù)定值時，再次接收該參考光Lm與該反射光Lr，并由兩者的相位差，計算出距離值。于本實施例中，該控制單元108是微處理器(MCU)。于一實施例中，該控制單元108可以是復(fù)雜可編程邏輯組件(CPLD)或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)。 以下將說明雷射測距裝置10在進行測量時的動作情形，請參閱圖2及圖3所示，分別顯示本發(fā)明實施例的雷射測距裝置10在接收參考光Lm與接收反射光Lr時的動作示意圖，如圖2所示，該控制單元108在該雷射測距裝置10被觸發(fā)進行測量目標(biāo)物距離時，控制該發(fā)射組件101發(fā)出調(diào)制的該測量光Ls，使該測量光Ls具有連續(xù)相位變化，舉例來說，該測量光Ls會被調(diào)制成具有一頻率的正弦波，因此在一個正弦波的周期內(nèi)，該測量光Ls的相位會連續(xù)的變化。 于發(fā)出測量光Ls的同時，該控制單元108控制該驅(qū)動單元102、103，以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104為不透光狀態(tài)，及該第二液晶顯示模塊105為透光狀態(tài)，因此，該測量光Ls在到達該第一液晶顯示模塊104時，會因為該第一液晶顯示模塊104與該測量光Ls的行進方向呈一角度，因此該測量光Ls被反射到該接收組件106，以產(chǎn)生該參考光電信號并且輸入至該控制單元108。 之后，請參閱圖3，該控制單元108控制該驅(qū)動單元102、 103，以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)，及該第二液晶顯示模塊105為不透光狀態(tài)，因此該測量光Ls通過該第一液晶顯示模塊104到達目標(biāo)物，并且該目標(biāo)物反射的該反射光Lr經(jīng)過聚焦透鏡107的會聚效果，使該反射光Lr會聚在該接收組件106，而因為此時的該第二液晶顯示模塊105為不透光狀態(tài)，因此，即使在該測量光Ls通過該第一液晶顯示模塊104時所產(chǎn)生的些許反射光Lr，也會被阻擋遮蔽，而不致于成為該接收組件106接收的噪聲，造成干擾而影響測量的結(jié)果。 而于該接收組件106接收該反射光Lr后，輸出該反射光電信號至該控制單元108，并且該控制單元108將輸入的該反射光電信號與一預(yù)定值比較，若該反射光電信號低于一預(yù)定值時，則由接收到該參考光電信號與接收到該反射光電信號的相位差，計算出目標(biāo)物的距離值，若該反射光電信號高于該預(yù)定值時，則該控制單元108控制該第一驅(qū)動單元102，以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104的透光度降低，以使該反射光電信號值降低，直到該反射光電信號低于該預(yù)定值時，則該控制單元108重新控制該第一液晶顯示模塊104與該第二液晶顯示模塊105的透光狀態(tài)，以再次接收該參考光電信號及該反射光電信號，并由該接收的相位差，計算出目標(biāo)物的距離。 接著說明本發(fā)明實施例的雷射測距裝置的控制方法。請參閱圖4，是本發(fā)明實施例的一種雷射測距裝置10的控制方法流程圖，用于測量一目標(biāo)物的距離，其中該雷射測距裝置10包括發(fā)射組件101、第一驅(qū)動單元102、第二驅(qū)動單元103、第一液晶顯示模塊104、第二液晶顯示模塊105、接收組件106、聚焦透鏡107、以及控制單元108，當(dāng)該雷射測距裝置10測量時，對目標(biāo)物發(fā)射調(diào)制的測量光，該控制方法包括下列步驟 步驟一、控制該第一液晶顯示模塊104為不透光狀態(tài)，及控制該第二液晶顯示模塊105為透光狀態(tài)。如步驟S401，具體來說，此步驟是該控制單元108會控制該第一驅(qū)動單元102以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104為不透光狀態(tài)，以及控制該第二驅(qū)動單元103，以設(shè)定該第二液晶顯示模塊105為透光狀態(tài)，以讓該測量光Ls經(jīng)過該第一液晶顯示模塊104的反射，而通過該第二液晶顯示模塊105。 步驟二、接收由該測量光Ls通過該第二液晶顯示模塊105的一參考光Lm。如步驟S402，此步驟是由該接收組件106接收該參考光Lm，并且依據(jù)該參考光Lm的光強度，對應(yīng)輸出參考光電信號，其中該參考光電信號會對應(yīng)該參考光Lm而成為調(diào)制的信號，例如是正弦波的信號。 步驟三、于接收該參考光Lm后，控制該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)，及該第二液晶顯示模塊105為不透光狀態(tài)。如步驟S403，此步驟在該接收組件106接收到該參考光Lm后，該控制單元108控制該第一驅(qū)動單元102以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104為透光狀態(tài)，以及控制該第二驅(qū)動單元103以設(shè)定該第二液晶顯示模塊105為不透光狀態(tài)，使該測量光Ls得以透過該第一液晶顯示模塊104，到達目標(biāo)物，并且因為該第二液晶顯示模塊105的不透光，使得該測量光Ls通過該第一液晶顯示模塊104而反射的少許雜光被阻擋遮蔽。
步驟四、接收由該目標(biāo)物反射該測量光Ls的反射光Lr。如步驟S404，此步驟該反射光Lr經(jīng)過該聚焦透鏡107后，會聚在該接收組件106上，由該接收組件106感測該反射光Lr，并且產(chǎn)生反射光電信號輸入至該控制單元108。 步驟五、比較該反射光Lr的強度是否大于一預(yù)定值，若該反射光Lr強度低于預(yù)定值時，由接收該參考光Lm及接收該反射光Lr的相位差，計算距離值，若該反射光Lr強度高于該預(yù)定值時，控制該第一液晶顯示模塊104透光度降低，直到該反射光Lr強度低于該預(yù)定值時由該參考光Lm及該反射光Lr的相位差，計算出目標(biāo)物的距離值。如步驟S405、步驟S406及步驟S407，此步驟該控制單元108于接收到該反射光電信號時，將該反射光電信號值與一預(yù)定值進行比較，以判斷該反射光電信號值是否大于該預(yù)定值(步驟S405)，若該反射光電信號值小于該默認值時，表示該反射光Lr強度適當(dāng)，因此控制單元108由該參考光電信號與該反射光電信號的相位差，計算出該距離值(步驟S407)，相反地，若該反射光電信號值大于該預(yù)定值時，判定該接收組件106接收的該反射光Lr強度太強，造成該接收組件106產(chǎn)生的該反射光電信號飽和，因此，該控制單元108控制該第一驅(qū)動單元102以設(shè)定該第一液晶顯示模塊104的透光度降低(步驟S406)，直至該反射光電信號低于該預(yù)定值時，由該參考光電信號及該反射光電信號的相位差，計算出該目標(biāo)物的距離值。
于一實施例中，該步驟一與步驟三對調(diào)；該步驟二與步驟四對調(diào)，亦可計算出該目標(biāo)物的距離值。 由上述可知本發(fā)明利用液晶顯示模塊的透光狀態(tài)與不透光狀態(tài)來做為光開關(guān)閥，并且控制該液晶顯示模塊，使得接收組件106在各自接收參考光Lm與反射光Lr時，不會互相干擾而提高計算的準(zhǔn)確率，并且利用接收組件106接收光信號所產(chǎn)生的電信號與預(yù)定值進行比較從而判斷接收組件106的電信號是否飽合，而在超過預(yù)定值時，藉由調(diào)整液晶顯示模塊的透光度，來使得測量光Ls強度降低，進而降低會聚在該接收組件106的反射光Lr強度，使該接收組件106可以輸出適當(dāng)?shù)姆瓷涔怆娦盘?，再藉由該光信號的相位差，精確的算出目標(biāo)物距離，因此，本發(fā)明因為利用液晶顯示模塊，所以在動作時，僅需要極小的控制信號即可控制測量光Ls的阻擋或通過，而可達到減少耗電量及低噪音的功效，且因為液晶模塊的體積較小，更可以縮小裝置的體積，另外，當(dāng)目標(biāo)物在近距離或是具有高反射的性質(zhì)時，透過設(shè)定液晶模塊的透光度，使該接收組件106不會因為光強度過高而到達飽和，而達到可增加測量的范圍及可測量目標(biāo)物的種類的功效。 本發(fā)明雖以實施例揭露如上，但其并非用以限定本發(fā)明的范圍，本技術(shù)領(lǐng)域的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可做些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種雷射測距裝置，用以測量目標(biāo)物的距離，其特征在于，包括發(fā)射組件，用以產(chǎn)生測量光；第一液晶顯示模塊，包括透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)；第二液晶顯示模塊，包括透光狀態(tài)及不透光狀態(tài)；接收組件，用以接收該測量光經(jīng)過該第二液晶顯示模塊的參考光與由該目標(biāo)物反射該測量光的反射光，并且依據(jù)接收的這些光的強度大小，對應(yīng)輸出參考光電信號及反射光電信號；以及控制單元，用以控制該第一液晶顯示模塊為該不透光狀態(tài)及該第二液晶顯示模塊為該透光狀態(tài)、該接收組件接收該參考光電信號，再控制該第一液晶顯示模塊為該透光狀態(tài)及該第二液晶顯示模塊為該不透光狀態(tài)、以及比較該反射光電信號與一預(yù)定值，并且當(dāng)該反射光電信號高于該預(yù)定值時，調(diào)降該第一液晶顯示模塊的透光度。
2. 如權(quán)利要求1所述的雷射測距裝置，其特征在于，更包括 第一驅(qū)動單元，用以設(shè)定該第一液晶顯示模塊的透光狀態(tài)及透光度； 第二驅(qū)動單元，用以設(shè)定該第二液晶顯示模塊的透光狀態(tài)及透光度；以及 聚焦透鏡，用以將該反射光會聚在該接收組件。
3. 如權(quán)利要求2所述的雷射測距裝置，其特征在于，該第一驅(qū)動單元及該第二驅(qū)動單 元依據(jù)該控制單元的控制信號以設(shè)定該第一液晶顯示模塊及該第二液晶顯示模塊的透光 與不透光狀態(tài)以及透光度。
4. 如權(quán)利要求1所述的雷射測距裝置，其特征在于，該控制單元更包括于調(diào)降該第一 液晶顯示模塊的透光度至該反射光電訊號低于該預(yù)定值時，由該參考光與該反射光的相位 差，計算一距離值。
5. 如權(quán)利要求1所述的雷射測距裝置，其特征在于，該控制單元是微處理器、復(fù)雜可編 程邏輯組件、或者現(xiàn)場可編程門陣列。
6. —種雷射測距裝置的控制方法，用于測量目標(biāo)物的距離，其特征在于，該雷射測距裝 置包括發(fā)射組件、第一液晶顯示模塊、第二液晶顯示模塊、接收組件、以及控制單元，當(dāng)該雷 射測距裝置測量時，對目標(biāo)物發(fā)射調(diào)制的測量光，所述方法包括下列步驟控制該第一液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)，及控制該第二液晶顯示模塊為透光狀態(tài)； 接收由該測量光通過該第二液晶顯示模塊的參考光；于接收該參考光后，控制該第一液晶顯示模塊為透光狀態(tài)，及該第二液晶顯示模塊為 不透光狀態(tài)；接收由該目標(biāo)物反射該測量光的反射光；以及比較該反射光的強度是否大于一預(yù)定值，若該反射光強度低于一預(yù)定值時，由接收該 參考光及接收該反射光的相位差，計算距離值，若該反射光強度高于該預(yù)定值時，控制該第 一液晶顯示模塊透光度降低，直到該反射光強度低于該預(yù)定值時，由接收該參考光及接收 該反射光的相位差，計算出距離值。
7. 如權(quán)利要求6所述的雷射測距裝置的控制方法，其特征在于，所述雷射測距裝置還 包括第一驅(qū)動單元和第二驅(qū)動單元，該控制該第一液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)，及控制該 第二液晶顯示模塊為透光狀態(tài)更包括該控制單元控制該第一驅(qū)動單元以設(shè)定該第一液晶 顯示模塊為不透光狀態(tài)，以及控制該第二驅(qū)動單元，以設(shè)定該第二液晶顯示模塊為透光狀態(tài)。
8. 如權(quán)利要求6所述的雷射測距裝置的控制方法，其特征在于，接收由該測量光通過 該第二液晶顯示模塊的參考光是由該接收組件接收。
9. 如權(quán)利要求8所述的雷射測距裝置的控制方法，其特征在于，更包括依據(jù)該參考光 及反射光的光強度，分別產(chǎn)生參考光電信號及反射光電信號。
10. 如權(quán)利要求9所述的雷射測距裝置的控制方法，其特征在于，比較該反射光的強度 是否大于一預(yù)定值是由該控制單元比較該反射光電信號與該預(yù)定值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種雷射測距裝置及其控制方法，該雷射測距裝置包括發(fā)射組件，第一及第二液晶顯示模塊、接收組件、聚焦透鏡以及控制單元，其中在測量時，該發(fā)射組件發(fā)射測量光，并同時控制該第一液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)及第二液晶顯示模塊為透光狀態(tài)以使該接收組件接收參考光，再控制第一液晶顯示模塊為透光狀態(tài)及第二液晶顯示模塊為不透光狀態(tài)以接收目標(biāo)物的反射光、當(dāng)該反射光大于一預(yù)定值時，調(diào)整第一液晶顯示模塊的透光度至該反射光低于該預(yù)定值時，由該參考光與該反射光的相位差，計算距離值。
文檔編號G01S7/48GK101738616SQ20081018482
公開日2010年6月16日 申請日期2008年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月27日
發(fā)明者羅印龍, 蔡宗岳 申請人:亞洲光學(xué)股份有限公司