專利名稱：環(huán)境光檢測系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種環(huán)境光檢測系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種可調(diào)整積分時(shí)段 的環(huán)境光檢測系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品，無論是電腦顯示器、液晶電視、等離子體電
視或是手機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機(jī)及掌上游戲機(jī)的顯示屏幕， 以至于自動提款機(jī)(ATM)的觸摸屏，均廣泛地運(yùn)用平面顯示器的技術(shù)。因 此，大幅提升了消費(fèi)者對于平面顯示器畫面的色彩及亮度敏銳度的要求?；?于上述需求，現(xiàn)今的顯示器大多組裝了可感應(yīng)外部光線的光檢測系統(tǒng)，使得 平面顯示器在外在環(huán)境光線變化時(shí)，可適當(dāng)變化畫面的亮度與色彩，從而讓 消費(fèi)者無論在何種情況下，均可獲得較佳的視覺效果。
請參考圖1，圖1示出顯示裝置所使用的傳統(tǒng)環(huán)境光檢測系統(tǒng)。環(huán)境光 檢測系統(tǒng)100包含檢光電路180、讀出線125及積分電路190。檢光電路180 包含光感應(yīng)元件(photo-inducing element) 110及讀出元件(readout element) 120。在優(yōu)選實(shí)施例中，光感應(yīng)元件110為光感應(yīng)晶體管(phototransistor)， 讀出元件120為讀出晶體管(readouttransistor)。積分電路190包含放大器 130、反饋電容Cfb及可控制開關(guān)150。檢光電路180設(shè)置于像素單元101內(nèi)， 像素單元101是由相鄰的柵極線105、 115與相鄰的數(shù)據(jù)線106、 116所界定 的區(qū)域。光感應(yīng)元件110耦接于柵極線105與讀出元件120之間，讀出元件 120還耦接于柵極線115及讀出線125。讀出元件120可控制由光感應(yīng)元件 110感應(yīng)的光感應(yīng)電流Iph輸出，光感應(yīng)電流Iph可經(jīng)由讀出線125而被饋入 積分電路190。反饋電容Cfb配合放大器130將由光感應(yīng)電流Iph所累積的 電荷轉(zhuǎn)換為讀出電壓Vout。讀出電壓Vout與光感應(yīng)電流Iph的積分關(guān)系式 可表示為下式其中，To為積分起始時(shí)間，Td為積分時(shí)段?？煽刂崎_關(guān)150接收控制 信號Sctrl，以在積分時(shí)段Td結(jié)束時(shí)，執(zhí)行反饋電容Cfb的放電操作，從而 復(fù)位讀出電壓Vout。在傳統(tǒng)環(huán)境光檢測系統(tǒng)100的操作中，積分時(shí)段Td為 固定的積分時(shí)段，在積分時(shí)段Td內(nèi)，反饋電容Cfb由光感應(yīng)電流Iph持續(xù)累 積電荷，使得讀出電壓Vout持續(xù)增加。
請參考圖2，圖2示出圖1所示環(huán)境光檢測系統(tǒng)100對應(yīng)于不同光感應(yīng) 電流的讀出電壓Vout與時(shí)間的關(guān)系示意圖。如圖2所示，關(guān)系曲線210、 220 及230分別對應(yīng)于光感應(yīng)電流Iphl、 Iph2及Iph3，光感應(yīng)電流由小至大依序 為Iphl、 Iph2、 Iph3，如圖所示的三積分時(shí)段也小至大依序地標(biāo)示為Tdl、 Td2、 Td3。在積分時(shí)段為Tdl時(shí)，對應(yīng)于光感應(yīng)電流Iphl、 Iph2及Iph3， 由積分電路190所產(chǎn)生的讀出電壓Vout分別為VI、 V2及V3，此三讀出電 壓Vout均未達(dá)到飽和電壓Vsat，所以可用以分辨相對應(yīng)的環(huán)境光照度。在 積分時(shí)段為Td2時(shí)，對應(yīng)于光感應(yīng)電流Iphl、 Iph2及Iph3，由積分電路190 所產(chǎn)生的讀出電壓Vout分別為Vlx、 Vsat及Vsat，也就是說，對應(yīng)于光感 應(yīng)電流Iph2及Iph3.的讀出電壓Vout已達(dá)到飽和電壓Vsat，所以就無法分辨 光感應(yīng)電流Iph2及Iph3相對應(yīng)的環(huán)境光照度。在積分時(shí)段為Td3時(shí)，對應(yīng) 于光感應(yīng)電流Iphl、 Iph2及Iph3，由積分電路190所產(chǎn)生的讀出電壓Vout 均為飽和電壓Vsat，所以對應(yīng)于光感應(yīng)電流Iphl、 Iph2及Iph3的讀出電壓 Vout就無法分辨相對應(yīng)的環(huán)境光照度。
因此，若利用環(huán)境光檢測系統(tǒng)100檢測高照度范圍的環(huán)境光，除非設(shè)定 足夠小的積分時(shí)段，否則經(jīng)積分電路190在積分時(shí)段執(zhí)行積分操作后，所產(chǎn) 生的讀出電壓Vout幾乎均為飽和電壓Vsat，如此就無法用以分辨高照度范 圍的環(huán)境光。然而，當(dāng)設(shè)定足夠小的積分時(shí)段以分辨高照度范圍的環(huán)境光時(shí)， 對于低照度范圍的環(huán)境光而言，所產(chǎn)生的讀出電壓Vout將會太小，因而降低 信號噪聲比(S/Nratio)，導(dǎo)致環(huán)境光檢測系統(tǒng)100的噪聲耐受度低。
還有一種用于檢測大范圍環(huán)境光照度的光檢測系統(tǒng)，通常要利用數(shù)個(gè)不 同感光靈敏度的光檢測元件，以檢測不同照度范圍的環(huán)境光，譬如利用高感光靈敏度的光檢測元件以檢測低照度的環(huán)境光，而高照度的環(huán)境光則利用低 感光靈敏度的光檢測元件檢測?；蛘呖衫脭?shù)個(gè)不同電容值的反饋電容來配 合放大器產(chǎn)生讀出電壓，譬如利用高電容值的反饋電容，以產(chǎn)生對應(yīng)于高照 度的環(huán)境光的讀出電壓，而對應(yīng)于低照度的環(huán)境光，則利用低電容值的反饋 電容以產(chǎn)生讀出電壓。然而，此種使用多個(gè)可供選擇的檢光相關(guān)構(gòu)件的光檢 測系統(tǒng)，以產(chǎn)生對應(yīng)于不同環(huán)境光照度的讀出電壓，會顯著增加系統(tǒng)復(fù)雜度 并提高生產(chǎn)成本。

發(fā)明內(nèi)容
依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，公開一種環(huán)境光檢測方法，用以避免因產(chǎn)生具有 飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，此方法包含以下步驟提供
多個(gè)積分時(shí)段；執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；根據(jù)檢光信號，從所述多 個(gè)積分時(shí)段選擇積分時(shí)段；以及對檢光信號在被選擇的積分時(shí)段執(zhí)行積分程 序以產(chǎn)生讀出信號。
上述環(huán)境光檢測方法中，提供所述多個(gè)積分時(shí)段的步驟可包含提供第 一積分時(shí)段及第二積分時(shí)段，且該第一積分時(shí)段大于該第二積分時(shí)段。
上述環(huán)境光檢測方法還可包含以下步驟設(shè)定預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度；以及根 據(jù)被選擇的該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算輸出信號；其中根據(jù)該檢光信號， 從所述多個(gè)積分時(shí)段選擇該積分時(shí)段的步驟包含當(dāng)該檢光信號的強(qiáng)度小于 該預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)，選擇該第一積分時(shí)段；且對該檢光信號在被選擇的該 積分時(shí)段執(zhí)行該積分程序以產(chǎn)生該讀出信號的步驟包含對該檢光信號在該 第一積分時(shí)段執(zhí)行該積分程序，以產(chǎn)生電壓值低于飽和電壓值的該讀出信號。
上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該檢光信號，從所述多個(gè)積分時(shí)段選擇該 積分時(shí)段的步驟可包含當(dāng)該檢光信號的強(qiáng)度不小于該預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)， 選擇該第二積分時(shí)段；且對該檢光信號在被選擇的該積分時(shí)段執(zhí)行該積分程 序以產(chǎn)生該讀出信號的步驟包含對該檢光信號在該第二積分時(shí)段執(zhí)行該積 分程序以產(chǎn)生電壓值低于飽和電壓值的該讀出信號。
上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)被選擇的該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該 輸出信號的步驟可包含將該讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值除以 被選擇的該積分時(shí)段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信號。依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還公開一種環(huán)境光檢測系統(tǒng)，用以避免因產(chǎn)生具 有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，此系統(tǒng)包含檢光電路、積 分時(shí)段控制電路、以及積分電路。檢光電路用以執(zhí)行光檢測程序產(chǎn)生檢光信 號。積分時(shí)段控制電路耦合于檢光電路，用以根據(jù)檢光信號產(chǎn)生控制信號。 積分電路耦合于檢光電路及積分時(shí)段控制電路，用以根據(jù)控制信號調(diào)整積分 時(shí)段，及在積分時(shí)段內(nèi)對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號。上述環(huán)境光檢測系統(tǒng)還可包含比較電路，耦合于該檢光電路與該積分 時(shí)段控制電路之間，用以比較該檢光信號的強(qiáng)度與預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度產(chǎn)生比較 信號；以及信號處理電路，耦合于該積分電路及該積分時(shí)段控制電路，用以 根據(jù)該讀出信號及被調(diào)整的該積分時(shí)段計(jì)算輸出信號；其中該積分時(shí)段控制 電路根據(jù)該比較信號產(chǎn)生該控制信號。依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還公開一種環(huán)境光檢測方法，用以避免因產(chǎn)生具 有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，此方法包含以下步驟設(shè) 定第一預(yù)設(shè)電壓值，執(zhí)行第一光檢測程序以產(chǎn)生第一檢光信號，在第一積分 時(shí)段內(nèi)，對第一檢光信號執(zhí)行第一積分程序以產(chǎn)生第一讀出信號，以及根據(jù) 第一讀出信號及第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整第一積分時(shí)段以產(chǎn)生第二積分時(shí)段，其 中第一預(yù)設(shè)電壓值實(shí)質(zhì)上小于飽和電壓值。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第一讀出信號及該第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整 該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟可為當(dāng)該第一讀出信號的電 壓值不小于該第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，縮短該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí) 段。上述環(huán)境光檢測方法還可包含以下步驟執(zhí)行第二光檢測程序以產(chǎn)生第 二檢光信號；在該第二積分時(shí)段內(nèi)，對該第二檢光信號執(zhí)行第二積分程序以 產(chǎn)生第二讀出信號；以及若該第二讀出信號的電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值，則根據(jù)該第二積分時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算輸出信號。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第二積分時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算該輸出信號的步驟可包含將該第二讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值 除以該第二積分時(shí)段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信號。上述環(huán)境光檢測方法還可包含以下步驟設(shè)定第二預(yù)設(shè)電壓值，其中該 第二預(yù)設(shè)電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第一讀出信號及該第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整 該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟可包含:根據(jù)該第一讀出信號、 該第一預(yù)設(shè)電壓值及該第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積 分時(shí)段。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第一讀出信號、該第一預(yù)設(shè)電壓值及該 第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟可為當(dāng) 該第一讀出信號的電壓值不小于該第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，縮短該第一積分時(shí)段 以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第一讀出信號、該第一預(yù)設(shè)電壓值及該 第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟可為當(dāng) 該第一讀出信號的電壓值不大于該第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，延長該第一積分時(shí)段 以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。上述環(huán)境光檢測方法還可包含以下步驟執(zhí)行第二光檢測程序以產(chǎn)生第 二檢光信號；在該第二積分時(shí)段內(nèi)，對該第二檢光信號執(zhí)行第二積分程序以 產(chǎn)生第二讀出信號；以及若該第二讀出信號的電壓值介于該第一預(yù)設(shè)電壓值 與該第二預(yù)設(shè)電壓值之間，則根據(jù)該第二積分時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算輸 出信號。上述環(huán)境光檢測方法中，根據(jù)該第二積分時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算該 輸出信號的步驟可包含將該第二讀出信號的該電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積 值除以該第二積分時(shí)段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信號。依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還公開一種環(huán)境光檢測方法，用以避免因產(chǎn)生具 有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，此方法包含以下步驟執(zhí) 行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號，在積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí)行積分程序以 產(chǎn)生讀出信號，將讀出信號與預(yù)定范圍進(jìn)行比較，以及若讀出信號落于預(yù)定 范圍，則根據(jù)積分時(shí)段及讀出信號計(jì)算輸出信號。上述環(huán)境光檢測方法中，將該讀出信號的該電壓值與該預(yù)設(shè)電壓范圍進(jìn) 行比較的步驟可為將該讀出信號的該電壓值與預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較；且若 該讀出信號的該電壓值落于該預(yù)設(shè)電壓范圍，則根據(jù)該積分時(shí)段及該讀出信 號計(jì)算該輸出信號為若該讀出信號的電壓值小于該預(yù)設(shè)電壓值，則根據(jù)該積 分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號。上述環(huán)境光檢測方法中，將該讀出信號的該電壓值與該預(yù)設(shè)電壓范圍進(jìn) 行比較的步驟可為將該讀出信號的該電壓值與第一預(yù)設(shè)電壓值及第二預(yù)設(shè) 電壓值進(jìn)行比較；且若該讀出信號的該電壓值落于該預(yù)設(shè)電壓范圍，則根據(jù) 該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號為若該讀出信號的該電壓值介于該 第一預(yù)設(shè)電壓值及該第二預(yù)設(shè)電壓值之間，則根據(jù)該積分時(shí)段及該讀出信號 計(jì)算該輸出信號。依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，還公開一種環(huán)境光檢測系統(tǒng)，用以避免因產(chǎn)生具 有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，此系統(tǒng)包含檢光電路、積 分電路、比較電路、以及積分時(shí)段控制電路。檢光電路用以執(zhí)行光檢測程序 產(chǎn)生檢光信號。積分電路耦合于檢光電路以接收檢光信號，用以根據(jù)第一控 制信號調(diào)整積分時(shí)段，及在積分時(shí)段內(nèi)對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出 信號。比較電路耦合于積分電路，用以比較讀出信號與至少一個(gè)預(yù)設(shè)電壓值 以產(chǎn)生至少一個(gè)比較信號。積分時(shí)段控制電路耦合于比較電路，用以根據(jù)至 少一個(gè)比較信號產(chǎn)生第二控制信號。上述環(huán)境光檢測系統(tǒng)中，該比較電路可包含第一電壓比較器，耦合于 該積分電路，用以比較該讀出信號與第一預(yù)設(shè)電壓值以產(chǎn)生第一比較信號。上述環(huán)境光檢測系統(tǒng)中，該積分時(shí)段控制電路可用以根據(jù)該第一比較信 號產(chǎn)生該第二控制信號。上述環(huán)境光檢測系統(tǒng)中，該比較電路還可包含第二電壓比較器，耦合 于該積分電路，用以比較該讀出信號與第二預(yù)設(shè)電壓值產(chǎn)生第二比較信號， 該第二預(yù)設(shè)電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值。上述環(huán)境光檢測系統(tǒng)中，該積分時(shí)段控制電路可用以根據(jù)該第一比較信 號及該第二比較信號產(chǎn)生該第二控制信號。本發(fā)明能夠避免因產(chǎn)生具有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照 度，也能夠避免因產(chǎn)生的讀出信號電壓太小而顯著降低噪聲耐受度，適用于 檢測大范圍環(huán)境光照度。


圖1為用于顯示裝置的傳統(tǒng)環(huán)境光檢測系統(tǒng)。圖2為圖1所示環(huán)境光檢測系統(tǒng)對應(yīng)于不同光感應(yīng)電流的讀出電壓與時(shí)間的關(guān)系示意圖。圖3為本發(fā)明環(huán)境光檢測系統(tǒng)的實(shí)施例的功能方塊示意圖。圖4為本發(fā)明環(huán)境光檢測系統(tǒng)的另一實(shí)施例的功能方塊示意圖。圖5為本發(fā)明環(huán)境光檢測方法的實(shí)施例的流程圖。圖6為本發(fā)明環(huán)境光檢測方法的另一實(shí)施例的流程圖。其中，附圖標(biāo)記說明如下-100、300、400環(huán)境光檢測系統(tǒng)101像素單元105、115柵極線106、116數(shù)據(jù)線110光感應(yīng)元件120讀出元件125讀出線130放大器150可控制開關(guān)180檢光電路190積分電路210、220、230關(guān)系曲線310、410檢光電路320、420積分電路330、430積分時(shí)段控制電路350、450比較電路360、460信號處理電路480背光系統(tǒng)485脈沖寬度調(diào)制信號產(chǎn)生電路490驅(qū)動電路495背光模塊500、600方法Cft反饋電容Iph光感應(yīng)電流Sctrl 控制信號 Sout 輸出信號 Tdl、 Td2、 Td3 積分時(shí)段 Vout 讀出電壓 510-550、 605-645步驟具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明更顯而易懂，下文依本發(fā)明的環(huán)境光檢測系統(tǒng)及相關(guān)方法， 特舉實(shí)施例配合附圖作詳細(xì)說明，但所提供的實(shí)施例并不用以限制本發(fā)明所 涵蓋的范圍，而方法流程步驟編號更非用以限制其執(zhí)行的先后次序，任何由 方法步驟重新組合的執(zhí)行流程，所產(chǎn)生具有均等功能及效果的方法，均為本 發(fā)明所涵蓋的范圍。請參考圖3，圖3為依本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的環(huán)境光檢測系統(tǒng)300的功能 方塊示意圖。環(huán)境光檢測系統(tǒng)300主要包含檢光電路310、積分電路320、積 分時(shí)段控制電路330、比較電路350及信號處理電路360。檢光電路310可以 包含如圖l所示的光感應(yīng)元件及讀出元件，其中光感應(yīng)元件用以檢測環(huán)境光 照度以產(chǎn)生檢光信號。光感應(yīng)元件可為光感應(yīng)薄膜晶體管(photo-inducingthin film transistor)、光感應(yīng)P型金屬氧化物晶體管(photo-inducing PMOS transistor)、光感應(yīng)N型金屬氧化物晶體管(photo-inducing NMOS transistor)、 光感應(yīng)雙極晶體管(photo-inducing bipolar transistor)或檢光二極管 (photodiode)。讀出元件耦合于光感應(yīng)元件，用以控制檢光信號的輸出。讀 出元件可為薄膜晶體管、P型金屬氧化物晶體管、N型金屬氧化物晶體管或 雙極晶體管。比較電路350耦合于檢光電路310，用以接收檢光信號，將檢光信號的 強(qiáng)度與至少一個(gè)預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度比較，以產(chǎn)生至少一個(gè)比較信號。積分時(shí)段 控制電路330耦合于比較電路350，用以接收該至少一個(gè)比較信號以產(chǎn)生控 制信號。積分電路320耦合于檢光電路310及積分時(shí)段控制電路330，用以 分別接收檢光信號及控制信號，并根據(jù)控制信號對檢光信號執(zhí)行積分程序以 產(chǎn)生讀出信號，.執(zhí)行積分程序的積分時(shí)段即受控于此控制信號，控制信號也 可用以控制積分電路320執(zhí)行復(fù)位操作以復(fù)位讀出信號。信號處理電路360耦合于積分電路320及積分時(shí)段控制電路330，用以 分別接收讀出信號及控制信號，并根據(jù)控制信號執(zhí)行信號處理程序?qū)⒆x出信 號轉(zhuǎn)換為輸出信號Sout，此信號處理程序可以將讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比 例值的乘積值除以積分時(shí)段的積分時(shí)間值而產(chǎn)生輸出信號Sout，也可以直接 將讀出信號的電壓值除以積分時(shí)段的積分時(shí)間值而產(chǎn)生輸出信號Sout。請參考圖4，圖4是根據(jù)本發(fā)明環(huán)境光檢測系統(tǒng)另一實(shí)施例示出的功能 方塊示意圖。環(huán)境光檢測系統(tǒng)400包含檢光電路410、積分電路420、積分時(shí) 段控制電路430、比較電路450及信號處理電路460。檢光電路410可以包含 如圖l所示的光感應(yīng)元件及讀出元件。光感應(yīng)元件用以檢測環(huán)境光照度以產(chǎn) 生檢光信號，光感應(yīng)元件可為光感應(yīng)薄膜晶體管、光感應(yīng)P型金屬氧化物晶 體管、光感應(yīng)N型金屬氧化物晶體管、光感應(yīng)雙極晶體管或檢光二極管。讀 出元件耦合于光感應(yīng)元件，用以控制檢光信號的輸出，讀出元件可為薄膜晶 體管、P型金屬氧化物晶體管、N型金屬氧化物晶體管或雙極晶體管。積分電路420耦合于檢光電路410及積分時(shí)段控制電路430，用以分別 接收檢光信號及控制信號，并根據(jù)控制信號對檢光信號執(zhí)行積分程序，以產(chǎn) 生讀出信號。執(zhí)行積分程序的積分時(shí)段即受控于控制信號，控制信號也可用 以控制積分電路420執(zhí)行復(fù)位操作，以復(fù)位讀出信號。比較電路450包含第一電壓比較器及第二電壓比較器，耦合于積分電路 420以接收讀出信號，利用第一電壓比較器比較讀出信號的電壓值與第一預(yù) 設(shè)電壓值以產(chǎn)生第一比較信號，第一預(yù)設(shè)電壓值實(shí)質(zhì)上為小于飽和電壓的電 壓值，用以避免因所產(chǎn)生的讀出信號的電壓值為飽和電壓而無法分辨環(huán)境光 照度。此外，利用第二電壓比較器比較讀出信號的電壓值與第二預(yù)設(shè)電壓值 以產(chǎn)生第二比較信號，用以避免因所產(chǎn)生的讀出信號的電壓值太小而降低環(huán) 境光檢測系統(tǒng)400的噪聲耐受度，其中第二預(yù)設(shè)電壓值小于第一預(yù)設(shè)電壓值。 在一個(gè)實(shí)施例中，比較電路450可以只包含第一電壓比較器，而只用以避免 所產(chǎn)生的讀出信號的電壓值為飽和電壓而無法分辨環(huán)境光照度。積分時(shí)段控制電路430耦合于比較電路450，接收第一比較信號及第二 比較信號，用以產(chǎn)生控制信號，根據(jù)控制信號可控制積分程序的積分時(shí)段及 復(fù)位操作。舉例而言，當(dāng)讀出信號的電壓值大于第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，根據(jù)第 一比較信號所產(chǎn)生的控制信號可縮短積分時(shí)段，而當(dāng)讀出信號的電壓值小于第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，根據(jù)第二比較信號所產(chǎn)生的控制信號可延長積分時(shí)段， 當(dāng)完成積分時(shí)段的積分程序時(shí)，可根據(jù)控制信號執(zhí)行復(fù)位操作以復(fù)位讀出信號。積分時(shí)段控制電路430也可另外產(chǎn)生輸出使能信號，用于當(dāng)讀出信號的電壓值落于第一預(yù)設(shè)電壓值與第二預(yù)設(shè)電壓值之間時(shí)，產(chǎn)生用于使能的輸出 使能信號。在另一實(shí)施例中，比較電路450可包含窗口比較器(window comparator), 用以比較讀出信號的電壓值與介于第一預(yù)設(shè)電壓值及第二預(yù)設(shè)電壓值間的預(yù) 設(shè)電壓范圍，而產(chǎn)生第一比較信號及第二比較信號。譬如，當(dāng)讀出信號落于 預(yù)設(shè)電壓范圍時(shí)，第一比較信號及第二比較信號均為低電平信號；當(dāng)讀出信 號大于第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，第一比較信號為高電平信號而第二比較信號為低 電平信號；當(dāng)讀出信號小于第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，第一比較信號為低電平信號 而第二比較信號為高電平信號。所以，當(dāng)?shù)谝槐容^信號為高電平信號而第二 比較信號為低電平信號時(shí)，積分時(shí)段控制電路430產(chǎn)生用以縮短積分時(shí)段的 控制信號；當(dāng)?shù)谝槐容^信號為低電平信號而第二比較信號為高電平信號時(shí)， 積分時(shí)段控制電路430產(chǎn)生用以延長積分時(shí)段的控制信號；當(dāng)?shù)谝槐容^信號 及第二比較信號均為低電平信號時(shí)，積分時(shí)段控制電路430可將輸出使能信 號使能，以將輸出操作使能。請注意，第一比較信號及第二比較信號對應(yīng)于 不同讀出信號的電平高低，并不限于上述狀況，凡是利用第一比較信號及第 二比較信號對應(yīng)于不同讀出信號的電平高低，以調(diào)整積分時(shí)段的電路技術(shù)均 為本發(fā)明所涵蓋的范圍。信號處理電路460耦合于積分電路420及積分時(shí)段控制電路430，用以 分別接收讀出信號及輸出使能信號。當(dāng)輸出使能信號被使能時(shí)，信號處理電 路460執(zhí)行信號處理程序?qū)⒆x出信號轉(zhuǎn)換為輸出信號Sout，此信號處理程序 可以將讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值除以積分時(shí)段的積分時(shí)間值 而產(chǎn)生輸出信號Sout，也可以直接將讀出信號的電壓值除以積分時(shí)段的積分 時(shí)間值而產(chǎn)生輸出信號Sout。請繼續(xù)參考圖4，所產(chǎn)生的輸出信號Sout可用以控制后級電路的操作， 譬如用以控制顯示裝置的背光系統(tǒng)480。背光系統(tǒng)480包含脈沖寬度調(diào)制信 號產(chǎn)生電路485、驅(qū)動電路490及背光模塊495。脈沖寬度調(diào)制信號產(chǎn)生電路 485可耦合至信號處理電路460，以接收輸出信號Sout，并根據(jù)輸出信號Sout調(diào)整所產(chǎn)生的脈沖寬度調(diào)制信號的工作周期。驅(qū)動電路490耦合于脈沖寬度 調(diào)制信號產(chǎn)生電路485，用以接收脈沖寬度調(diào)制信號，并產(chǎn)生相對應(yīng)的驅(qū)動 信號以驅(qū)動背光模塊495輸出最佳背光亮度。請參考圖5，圖5為根據(jù)本發(fā)明環(huán)境光檢測方法500所示出的流程圖。 此方法流程包含下列步驟步驟510:提供多個(gè)積分時(shí)段；步驟520:執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；步驟530:根據(jù)檢光信號，從所述多個(gè)積分時(shí)段選擇積分時(shí)段； 步驟540:在被選擇的積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀 出信號；以及步驟550:根據(jù)被選擇的積分時(shí)段及讀出信號，計(jì)算輸出信號。在上述環(huán)境光檢測方法500的流程中，步驟510所述的提供多個(gè)積分時(shí) 段，可包含提供第一積分時(shí)段、第二積分時(shí)段及預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度，其中第一 積分時(shí)段大于第二積分時(shí)段。步驟520所述的執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信 號，可以是利用光感應(yīng)元件檢測環(huán)境光照度以產(chǎn)生檢光信號，檢光信號的輸 出可由讀出元件控制。步驟530所述的根據(jù)檢光信號，從所述多個(gè)積分時(shí)段 選擇積分時(shí)段，可以是當(dāng)檢光信號的強(qiáng)度小于預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)，選擇第一 積分時(shí)段，當(dāng)檢光信號的強(qiáng)度不小于預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)，選擇第二積分時(shí)段。 而步驟540所述的在被選擇的積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生 讀出信號，包含在被選擇的第一積分時(shí)段或第二積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí) 行積分程序以產(chǎn)生電壓值低于飽和電壓值的讀出信號，還可包含在積分程序 完成后，復(fù)位讀出信號。步驟550所述的根據(jù)被選擇的積分時(shí)段及讀出信號計(jì)算輸出信號可為正 規(guī)化程序，用以將讀出信號的電壓值除以被選擇的積分時(shí)段的積分時(shí)間值而 產(chǎn)生輸出信號，或?qū)⒆x出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值除以被選擇的 積分時(shí)段的積分時(shí)間值而產(chǎn)生輸出信號。所以，依本發(fā)明的環(huán)境光檢測方法 500可通過選擇適當(dāng)?shù)姆e分時(shí)段以產(chǎn)生電壓值低于飽和電壓值的讀出信號， 再根據(jù)讀出信號及被選擇的積分時(shí)段計(jì)算出對應(yīng)于所檢測環(huán)境光照度的輸出 信號。請參考圖6，圖6為顯示依本發(fā)明另一實(shí)施例的環(huán)境光檢測方法600的流程圖。此方法流程包含下列步驟步驟605:設(shè)定第一預(yù)設(shè)電壓值及第二預(yù)設(shè)電壓值，其中第一預(yù)設(shè)電壓 值大于第二預(yù)設(shè)電壓值；步驟610:將積分時(shí)段設(shè)定為預(yù)設(shè)積分時(shí)段；步驟615:執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；步驟620:在積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號； 步驟625:比較讀出信號的電壓值與第一及第二預(yù)設(shè)電壓值，若讀出信 號的電壓值落于第一預(yù)設(shè)電壓值與第二預(yù)設(shè)電壓值之間，則執(zhí)行步驟640， 若讀出信號的電壓值不小于第一預(yù)設(shè)電壓值，則執(zhí)行步驟630，若讀出信號 的電壓值不大于第二預(yù)設(shè)電壓值，則執(zhí)行步驟635;步驟630:縮短積分時(shí)段，執(zhí)行步驟615; 步驟635:延長積分時(shí)段，執(zhí)行步驟615;以及 步驟640:根據(jù)積分時(shí)段及讀出信號計(jì)算相對應(yīng)的輸出信號。 在上述環(huán)境光檢測方法600的流程中，步驟605所述的第一預(yù)設(shè)電壓值 小于飽和電壓值，其后的步驟615至635可將讀出信號的電壓值限縮于第一 預(yù)設(shè)電壓值及第二預(yù)設(shè)電壓值之間，以避免因所產(chǎn)生的讀出信號的電壓值為 飽和電壓而無法分辨環(huán)境光照度，也避免因所產(chǎn)生的讀出信號的電壓值太小 而顯著降低噪聲耐受度。步驟615所述的執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號， 為利用光感應(yīng)元件檢測環(huán)境光照度以產(chǎn)生檢光信號，檢光信號的輸出可由讀 出元件控制。步驟620所述的在積分時(shí)段內(nèi)，對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn) 生讀出信號，包含在被縮短或被延長的積分時(shí)段內(nèi)，利用積分電路對檢光信 號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號，還可包含在積分程序完成后，復(fù)位讀出信 號。步驟625所述的比較讀出信號的電壓值與第一及第二預(yù)設(shè)電壓值，包含 利用第一電壓比較器比較讀出信號的電壓值與第一預(yù)設(shè)電壓值，以產(chǎn)生第一 比較信號，及利用第二電壓比較器比較讀出信號的電壓值與第二預(yù)設(shè)電壓值， 以產(chǎn)生第二比較信號，再根據(jù)第一及第二比較信號判斷讀出信號的電壓值是 否落于第一及第二預(yù)設(shè)電壓值之間、是否不小于第一預(yù)設(shè)電壓值、或是否不 大于第二預(yù)電壓值?；蛘?，在一個(gè)實(shí)施例中，步驟625可包含利用窗口比較 器來比較讀出信號的電壓值與第一及第二預(yù)設(shè)電壓值，以產(chǎn)生第一比較信號及第二比較信號，再根據(jù)第一及第二比較信號判斷讀出信號的電壓值是否落 于第一及第二預(yù)設(shè)電壓值之間的電壓范圍、是否不小于第一預(yù)設(shè)電壓值、或 是否不大于第二預(yù)電壓值。當(dāng)讀出信號的電壓值不小于第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，則執(zhí)行步驟630的縮短積分時(shí)段程序，以避免因產(chǎn)生具有飽和電壓值的讀出信號而導(dǎo)致無法分辨環(huán) 境光照度的情況。當(dāng)讀出信號的電壓值不大于第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，則執(zhí)行步驟635的延長積分時(shí)段程序，以避免因產(chǎn)生電壓值太小的讀出信號而導(dǎo)致低 噪聲耐受度的情況。當(dāng)讀出信號的電壓值落于第一及第二預(yù)設(shè)電壓值之間時(shí)， 則執(zhí)行步驟640所述的根據(jù)積分時(shí)段及讀出信號計(jì)算相對應(yīng)的輸出信號。步 驟640可為正規(guī)化程序，用以將讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值除 以積分時(shí)段的積分時(shí)間值從而產(chǎn)生相對應(yīng)的輸出信號，或直接將讀出信號的 電壓值除以積分時(shí)段的積分時(shí)間值從而產(chǎn)生相對應(yīng)的輸出信號。所以，依本 發(fā)明的環(huán)境光檢測方法600可通過調(diào)整積分時(shí)段來產(chǎn)生電壓值落于預(yù)設(shè)電壓 范圍的讀出信號，再根據(jù)讀出信號及被調(diào)整的積分時(shí)段計(jì)算出對應(yīng)于所檢測 環(huán)境光照度的輸出信號。綜上所述，依本發(fā)明的環(huán)境光檢測系統(tǒng)及環(huán)境光檢測方法，只利用額外 的積分時(shí)段控制相關(guān)電路，提供適當(dāng)積分時(shí)段來避免因產(chǎn)生具有飽和電壓值 的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，也可以避免因產(chǎn)生的讀出信號電壓太小 而顯著降低噪聲耐受度，所以可適用于檢測大范圍環(huán)境光照度。換句話說， 通過提供簡單的積分時(shí)段控制相關(guān)電路，環(huán)境光檢測系統(tǒng)就可執(zhí)行大范圍環(huán) 境光照度的檢測程序。雖然本發(fā)明己以實(shí)施例公開如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任何本 發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可 作各種更動與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種環(huán)境光檢測方法，包含以下步驟提供多個(gè)積分時(shí)段；執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；根據(jù)該檢光信號，從所述多個(gè)積分時(shí)段選擇積分時(shí)段；以及對該檢光信號在被選擇的該積分時(shí)段執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號。
2. 如權(quán)利要求1所述的環(huán)境光檢測方法，其中提供所述多個(gè)積分時(shí)段的 步驟包含提供第一積分時(shí)段及第二積分時(shí)段，且該第一積分時(shí)段大于該第 二積分時(shí)段。
3. 如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光檢測方法，還包含以下步驟 設(shè)定預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度；以及根據(jù)被選擇的該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算輸出信號； 其中根據(jù)該檢光信號，從所述多個(gè)積分時(shí)段選擇該積分時(shí)段的步驟包含: 當(dāng)該檢光信號的強(qiáng)度小于該預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)，選擇該第一積分時(shí)段；且對 該檢光信號在被選擇的該積分時(shí)段執(zhí)行該積分程序以產(chǎn)生該讀出信號的步驟 包含對該檢光信號在該第一積分時(shí)段執(zhí)行該積分程序，以產(chǎn)生電壓值低于 飽和電壓值的該讀出信號。
4. 如權(quán)利要求3所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該檢光信號，從所述 多個(gè)積分時(shí)段選擇該積分時(shí)段的步驟包含當(dāng)該檢光信號的強(qiáng)度不小于該預(yù) 設(shè)光信號強(qiáng)度時(shí)，選擇該第二積分時(shí)段；且對該檢光信號在被選擇的該積分 時(shí)段執(zhí)行該積分程序以產(chǎn)生該讀出信號的步驟包含對該檢光信號在該第二 積分時(shí)段執(zhí)行該積分程序以產(chǎn)生電壓值低于飽和電壓值的該讀出信號。
5. 如權(quán)利要求3所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)被選擇的該積分時(shí)段 及該讀出信號計(jì)算該輸出信號的步驟包含將該讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)比 例值的乘積值除以被選擇的該積分時(shí)段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信號。
6. —種環(huán)境光檢測系統(tǒng)，包含檢光電路，用以執(zhí)行光檢測程序產(chǎn)生檢光信號；積分時(shí)段控制電路，耦合于該檢光電路，用以根據(jù)該檢光信號產(chǎn)生控制 信號；以及積分電路，耦合于該檢光電路及該積分時(shí)段控制電路，用以根據(jù)該控制 信號調(diào)整積分時(shí)段，及在被調(diào)整的該積分時(shí)段內(nèi)對該檢光信號執(zhí)行積分程序 以產(chǎn)生讀出信號。
7. 如權(quán)利要求6所述的環(huán)境光檢測系統(tǒng)，還包含比較電路，耦合于該檢光電路與該積分時(shí)段控制電路之間，用以比較該 檢光信號的強(qiáng)度與預(yù)設(shè)光信號強(qiáng)度產(chǎn)生比較信號；以及信號處理電路，耦合于該積分電路及該積分時(shí)段控制電路，用以根據(jù)該 讀出信號及被調(diào)整的該積分時(shí)段計(jì)算輸出信號；其中該積分時(shí)段控制電路根據(jù)該比較信號產(chǎn)生該控制信號。
8. —種環(huán)境光檢測方法，包含以下步驟 設(shè)定第一預(yù)設(shè)電壓值；執(zhí)行第一光檢測程序以產(chǎn)生第一檢光信號；在第一積分時(shí)段內(nèi)，對該第一檢光信號執(zhí)行第一積分程序以產(chǎn)生第一讀 出信號；以及根據(jù)該第一讀出信號及該第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生第 二積分時(shí)段；其中該第一預(yù)設(shè)電壓值實(shí)質(zhì)上小于飽和電壓值。
9. 如權(quán)利要求8所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第一讀出信號及該 第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟為當(dāng)該 第一讀出信號的電壓值不小于該第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，縮短該第一積分時(shí)段以 產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。
10. 如權(quán)利要求8所述的環(huán)境光檢測方法，還包含以下步驟 執(zhí)行第二光檢測程序以產(chǎn)生第二檢光信號；在該第二積分時(shí)段內(nèi)，對該第二檢光信號執(zhí)行第二積分程序以產(chǎn)生第二 讀出信號；以及若該第二讀出信號的電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值，則根據(jù)該第二積分 時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算輸出信號。
11. 如權(quán)利要求IO所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第二積分時(shí)段及 該第二讀出信號計(jì)算該輸出信號的步驟包含將該第二讀出信號的電壓值與 預(yù)設(shè)比例值的乘積值除以該第二積分時(shí)段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信號。
12. 如權(quán)利要求8所述的環(huán)境光檢測方法，還包含以下步驟 設(shè)定第二預(yù)設(shè)電壓值，其中該第二預(yù)設(shè)電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值。
13. 如權(quán)利要求12所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第一讀出信號及該第一預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟包含 根據(jù)該第一讀出信號、該第一預(yù)設(shè)電壓值及該第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積 分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。
14. 如權(quán)利要求13所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第一讀出信號、該第一預(yù)設(shè)電壓值^:該第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟為當(dāng)該第一讀出信號的電壓值不小于該第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)， 縮短該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。
15. 如權(quán)利要求13所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第一讀出信號、該第一預(yù)設(shè)電壓值及該第二預(yù)設(shè)電壓值調(diào)整該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段的步驟為當(dāng)該第一讀出信號的電壓值不大于該第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)， 延長該第一積分時(shí)段以產(chǎn)生該第二積分時(shí)段。
16. 如權(quán)利要求13所述的環(huán)境光檢測方法，還包含以下步驟 執(zhí)行第二光檢測程序以產(chǎn)生第二檢光信號；在該第二積分時(shí)段內(nèi)，對該第二檢光信號執(zhí)行第二積分程序以產(chǎn)生第二 讀出信號；以及若該第二讀出信號的電壓值介于該第一預(yù)設(shè)電壓值與該第二預(yù)設(shè)電壓值 之間，則根據(jù)該第二積分時(shí)段及該第二讀出信號計(jì)算輸出信號。
17. 如權(quán)利要求16所述的環(huán)境光檢測方法，其中根據(jù)該第二積分時(shí)段及 該第二讀出信號計(jì)算該輸出信號的步驟包含將該第二讀出信號的該電壓值與預(yù)設(shè)比例值的乘積值除以該第二積分對段的積分時(shí)間值，而產(chǎn)生該輸出信 號。
18. —種環(huán)境光檢測方法，包含以下步驟-執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；在積分時(shí)段內(nèi)，對該檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號； 將該讀出信號的電壓值與預(yù)設(shè)電壓范圍進(jìn)行比較；以及 若該讀出信號的該電壓值落于該預(yù)設(shè)電壓范圍，則根據(jù)該積分時(shí)段及該 讀出信號計(jì)算輸出信號。
19. 如權(quán)利要求18所述的環(huán)境光檢測方法，其中將該讀出信號的該電壓 值與該預(yù)設(shè)電壓范圍進(jìn)行比較的步驟為將該讀出信號的該電壓值與預(yù)設(shè)電 壓值進(jìn)行比較；且若該讀出信號的該電壓值落于該預(yù)設(shè)電壓范圍，則根據(jù)該 積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號為若該讀出信號的電壓值小于該預(yù)設(shè) 電壓值，則根據(jù)該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號。
20. 如權(quán)利要求18所述的環(huán)境光檢測方法，其中將該讀出信號的該電壓 值與該預(yù)設(shè)電壓范圍進(jìn)行比較的步驟為將該讀出信號的該電壓值與第一預(yù) 設(shè)電壓值及第二預(yù)設(shè)電壓值進(jìn)行比較；且若該讀出信號的該電壓值落于該預(yù) 設(shè)電壓范圍，則根據(jù)該積分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號為若該讀出信 號的該電壓值介于該第一預(yù)設(shè)電壓值及該第二預(yù)設(shè)電壓值之間，則根據(jù)該積 分時(shí)段及該讀出信號計(jì)算該輸出信號。
21. —種環(huán)境光檢測系統(tǒng)，包含 檢光電路，用以執(zhí)行光檢測程序產(chǎn)生檢光信號；積分電路，耦合于該檢光電路以接收該檢光信號，用以根據(jù)第一控制信 號調(diào)整積分時(shí)段，及在被調(diào)整的該積分時(shí)段內(nèi)對該檢光信號執(zhí)行積分程序以 產(chǎn)生讀出信號；比較電路，耦合于該積分電路，用以比較該讀出信號與至少一個(gè)預(yù)設(shè)電 壓值以產(chǎn)生至少一個(gè)比較信號；以及積分時(shí)段控制電路，耦合于該比較電路，用以根據(jù)該至少一個(gè)比較信號 產(chǎn)生第二控制信號。
22. 如權(quán)利要求21所述的環(huán)境光檢測系統(tǒng)，其中該比較電路包含第一 電壓比較器，耦合于該積分電路，用以比較該讀出信號與第一預(yù)設(shè)電壓值以 產(chǎn)生第一比較信號。
23. 如權(quán)利要求22所述的環(huán)境光檢測系統(tǒng)，其中該積分時(shí)段控制電路用 以根據(jù)該第一比較信號產(chǎn)生該第二控制信號。
24. 如權(quán)利要求22所述的環(huán)境光檢測系統(tǒng)，其中該比較電路還包含第 二電壓比較器，耦合于該積分電路，用以比較該讀出信號與第二預(yù)設(shè)電壓值 產(chǎn)生第二比較信號，該第二預(yù)設(shè)電壓值小于該第一預(yù)設(shè)電壓值。
25. 如權(quán)利要求24所述的環(huán)境光檢測系統(tǒng)，其中該積分時(shí)段控制電路用 以根據(jù)該第一比較信號及該第二比較信號產(chǎn)生該第二控制信號。
全文摘要
本發(fā)明提供一種環(huán)境光檢測系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)主要包含檢光電路，用以執(zhí)行光檢測程序產(chǎn)生檢光信號；積分時(shí)段控制電路，用以根據(jù)檢光信號產(chǎn)生控制信號；以及積分電路，用以根據(jù)控制信號調(diào)整積分時(shí)段，及在被調(diào)整的積分時(shí)段內(nèi)對檢光信號執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號。本發(fā)明還提供一種環(huán)境光檢測方法，主要包含提供多個(gè)積分時(shí)段；執(zhí)行光檢測程序以產(chǎn)生檢光信號；根據(jù)檢光信號，從多個(gè)積分時(shí)段選擇積分時(shí)段；以及對檢光信號在被選擇的積分時(shí)段執(zhí)行積分程序以產(chǎn)生讀出信號。本發(fā)明能夠避免因產(chǎn)生具有飽和電壓值的讀出信號而無法分辨環(huán)境光照度，并避免因產(chǎn)生的讀出信號電壓太小而降低噪聲耐受度，適用于檢測大范圍環(huán)境光照度。
文檔編號G01J1/10GK101221068SQ200810008519
公開日2008年7月16日 申請日期2008年1月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月23日
發(fā)明者劉柏源, 江明峰, 賴明升, 陳紀(jì)文 申請人:友達(dá)光電股份有限公司