專利名稱：光度計和操作方法
技術領域：
本發(fā)明關于一種光度計，該光度計適合于快速分析多個小
容量樣本，尤其是在醫(yī)療分析領域中。本發(fā)明還涉及操作的方法，以 使用光度計獲得多個分析測量值。
背景技術：
公知的光度計允許測量在包含于盤中的樣本的化學反應期 間所發(fā)射的光，該盤被稱為微量滴定井或盤。已經(jīng)開發(fā)了系統(tǒng)來檢驗 樣本實例，比如血樣，例如在試管盤或孩i孔板中把試劑添加到樣本中。
試劑分子與樣本中的某些成分反應且聯(lián)接到該某些成分上。通常移去 樣本的剩余部分且進一步添加比如基質(zhì)的試劑以《I起束縛分子的部 分發(fā)冷光。試劑的反應時間通常是試驗的重要參數(shù)，且在反應樣本為 發(fā)光探測做好準備之前需要在嚴格的時限中孵化。所發(fā)射光的強度和 光譜分布表示用于試驗的樣本成分的濃度。在應用到探測器之前光發(fā) 射可以穿過光譜過濾器被供給。因此，知道樣本實例類型、試劑類型 和因此產(chǎn)生的譜圖，就可以確定某些化學物質(zhì)的在樣本實例中的存 在?？梢栽诜蛛x室中用不同的試劑進行分離試驗以試驗樣本中的其它 組分。在化學反應中的最后步驟處光度計:深測且量化光發(fā)射。測量值 與分析物是成比例的，因此能夠使用該測量值做定量分析。使用光(也 稱為化學發(fā)光)的優(yōu)點在于增加靈敏度。當在尋找腫瘤標記物、某種荷 爾蒙和毒素、污染物或藥物的存在時，這種方法尤其有益。還公知的是，希望最小化進入光度計的測量區(qū)域中的背景 光的量。通過最小化背景光的來自描述樣本的組分濃度的發(fā)冷光信號 的量，可以精煉分析結(jié)果。
在許多環(huán)境中，需要高效進行樣本試驗以每小時處理許多
樣本。已經(jīng)研發(fā)了用于處理大量樣本的復雜系統(tǒng)，但是這些系統(tǒng)昂貴、 巨大、難于使用，且對許多環(huán)境不適用。正確校準系統(tǒng)在獲得正確結(jié) 果方面也是重要的，并且希望提供一種系統(tǒng)，該系統(tǒng)提供自校準以確 保正確操作。希望提供可以克服在現(xiàn)有技術的裝置中的這些限制的系 統(tǒng)。
發(fā)明簡介本發(fā)明的一個方面在于通過提供一種系統(tǒng)來克服現(xiàn)有技術 的光度計的缺點，為了以簡單且有效的方式檢驗多個樣本該系統(tǒng)提供 了一種簡單布置。本發(fā)明提供了增加的范圍和靈敏度，特別地，本發(fā) 明在CLIA(化學發(fā)光免疫分析法)中是有用的。光度計允許CLIA微帶 讀取，并且對任何規(guī)模的實驗室(不只是大規(guī)模的實驗室)都是有用的。 光度計以每帶多個井的方式讀取打散(break-apart)井，且立刻和自動地 計算結(jié)果。系統(tǒng)可以允許使用者編程許多種的輝光型CLIA,其中能 夠存儲試驗以易于喚回。系統(tǒng)的處理能力可以提供點對點、線性和對 數(shù)回歸以及對數(shù)分對數(shù)(loglogit)模式。而且，本發(fā)明的一個方面在于 提供具有校準系統(tǒng)的光度計，以用于維持系統(tǒng)在隨之的測量中的正確 操作。此外，本發(fā)明的方面涉及提供允許緊湊和有效的系統(tǒng)設計的光 發(fā)射系統(tǒng)。進一步，本發(fā)明的方面涉及在裝置的操作中消除光的交叉 污染的能力。本發(fā)明的光度計是獨立的(self-contained)3帶CLIA(化學 發(fā)光免疫分析法)儀器。微帶包含指定用于坯料(blank)、校準器、控制 器和樣本的井。光度計測定度數(shù)(一個井接一個井地)，然后基于校準 器表達分析物的濃度。根據(jù)本發(fā)明的光度計包括具有內(nèi)部的殼體，穿過保護蓋可 以接近內(nèi)部。把光子測量和探測系統(tǒng)提供在殼體中。光軌設置在殼體 中的支撐件上，承載器與該殼體成接口連接。承載器具有隨其提供的 多個井，其中為了從那里測量光子選擇性地把每一個井都定位在與探測系統(tǒng)關聯(lián)的預定測量位置處。提供驅(qū)動系統(tǒng)以選#^生地沿著光軌移 位承載器，這是選擇性地在X方向和Y方向上移動承載器的軌道凹槽 的系統(tǒng)，以選擇性地把每一個井都定位在測量位置中的承載器中。光 度計可以包括用于放大和數(shù)字化數(shù)據(jù)以及用于處理數(shù)據(jù)的適當處理 系統(tǒng)。光度計可以進一步包括用于自動校準探測系統(tǒng)的參考光源。還 可以提供用于確保承載器的在光軌系統(tǒng)中的正確定位的承載器位置 探測系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種校準系統(tǒng)，該校準系 統(tǒng)包括被定位的參考光源以把光發(fā)射到擴散器(diffliser)中。定位光探 測器以測量從擴散器所發(fā)射的光，由此產(chǎn)生與探測系統(tǒng)關聯(lián)的參考光 信號。此后，把參考光信號與隨后從相同的參考光源所探測的光做比 較，以便允許生成用于在參考光源的當前測量值和參考光信號之間的 任何探測誤差的校準因數(shù)。本發(fā)明還涉及以預定的方式在X-Y方向上選擇性地移動承 載器以把多個井選擇性地定位在提供于光度計中的測量位置處的方 法。更特別地，該方法包括步驟在與多個軌道凹槽關聯(lián)的初始位置 處定位承載器，該承載器具有定位于其中的多個井，其中承載器包括 與凹槽成接口連接的引導構件以能夠沿著凹槽移動。承載器還與驅(qū)動 系統(tǒng)成接口連接，該驅(qū)動系統(tǒng)能夠允許相對于驅(qū)動系統(tǒng)的Y軸線運 動，且用于引起承載器的X軸線運動。 一系列軌道包括沿著X軸線指
沿著單個軸線移動承載器且與承載器關聯(lián)的引導構件聯(lián)合軌道系統(tǒng) 的連接部分引起在Y軸線方向上的運動。還提供了校準光度計的方法，該方法包括步驟提供參考 光源，且聯(lián)合光探測器利用參考光源初始產(chǎn)生參考測量值。存儲參考 測量值。在把要測量的新樣本引入光度計中之前，打開參考光源且測 量所發(fā)射的光，以由此生成當前測量值。把當前測量值與參考測量值 作比較，并且如果當前測量值與參考測量值相差預定量，那么生成校準因數(shù)，且使用光度計把校準因數(shù)應用到當前測量值上。在本文中當聯(lián)合附圖閱讀下列描述時本發(fā)明的其它方面將 變得顯而易見。
附圖的簡要描述此后，關于附圖來描述本發(fā)明，在附圖上描繪根據(jù)本發(fā)明
實例的自動光度計的實施例，附圖顯示了

圖1顯示了根據(jù)本發(fā)明的光度計的實例的透視圖，其中帶 有光度計的蓋，圖2顯示了根據(jù)本發(fā)明的光度計的各個系統(tǒng)的透視圖，其
中為了清晰移去了蓋和其它結(jié)構，圖2A顯示了如在圖2中所示的承載器的底部的透視圖，
圖3顯示了用于引起承載器的沿著X軸線和Y軸線的運動
的光軌系統(tǒng)的頂視圖，圖4是光軌系統(tǒng)的側(cè)視圖，顯示了本發(fā)明實例的井隔離系
統(tǒng)，其中為了清晰移去了一些部分，圖5是根據(jù)本發(fā)明實例的光探測系統(tǒng)的透視圖，和圖6顯示了與本發(fā)明實例相關的校準系統(tǒng)的分解局部視圖。
優(yōu)選實施例的描述在圖1中，顯示了根據(jù)本發(fā)明的光度計的實例的透視圖。 根據(jù)本發(fā)明的該實例，光度計10包括帶有內(nèi)部的殼體，穿過入口 11 能夠進入該內(nèi)部，該入口具有與其關聯(lián)的保護蓋或翻板13。保護蓋 13設計成密封殼體的內(nèi)部，其中由任何外部的光來執(zhí)行測量。把光子 測量探測器定位在殼體中，且提供用于樣本承載器的支撐平臺。沿著 X軸線和Y軸線選擇性地移位承載器的系統(tǒng)選擇性地移動承載器以自 動地在提供于承載器中的多個井上執(zhí)行測量?？梢园延糜诜糯蠛蛿?shù)字 化數(shù)據(jù)且用于處理數(shù)據(jù)的電子模塊提供在殼體中。在使用中，為了測量包含于其中的樣本，把具有被提供在其中的多個微井(microwell)的 承載器引進入口 11中。為了顯示被測量數(shù)據(jù)的示值讀數(shù)、機器功能 或所希望的其它信息，可以提供LCD顯示器15。為了控制光度計IO 的操作，可以提供多個開關或其它適當?shù)闹聞悠?7。經(jīng)由板上圖形打 印系統(tǒng)19還可以提供測量數(shù)據(jù)的打印記錄。參考剩余的附圖，為了清晰把系統(tǒng)顯示成殼體被移去了的 狀態(tài)。如此后將要描述的，系統(tǒng)包括在讀取面積上方延伸的帶隔離組 件12，為了讀取多個微帶16，把帶承載器14選擇性地移動到該讀取 面積中。典型地，用于(各種)免疫分析的樣式是96個微井的盤(比如 在12x8的陣列中)。所以，市面上的其它光度計設計成處理這種盤構
造。代替它們，使用根據(jù)本實例的光度計替來讀取微帶。本發(fā)明使得 小規(guī)模實驗室能夠使用更合算的讀取器以在室內(nèi)做這些檢驗而不用
把它們送出到更大的實驗室。帶16具有多個微井18,把要被分析的 患者樣本提供到該微井中以用于在光度計10中讀取。如所需的，光 度計10適用于許多不同類型的分析。使用者可以選擇把微帶承載器 14裝載有一個、二個或三個帶(或者長度上是八個井或者長度上是十 二個井)，或者許多分離的井。使用獨特的光軌自動拉動帶穿過光學系 統(tǒng)，以用于使得承載器能夠通過驅(qū)動運動的僅僅一個線性軸線而穿過 樣本的整個陣列一排排來索引。操作不需要帶的從左到右的手動運 動。光軌22規(guī)定承載器14的正確運動。為了使用簡單，總是以預編 程的次序來測定通過光度計的測量。這使得數(shù)據(jù)能夠以系統(tǒng)的方式被 集合，以用于經(jīng)由系統(tǒng)的適當軟件控制的記錄和數(shù)據(jù)釆集與處理。作 為實例，光度計10可以包括板上軟件以當執(zhí)行測量時計算RLU，s、 多點校準、回歸曲線以及裝置操作的控制。系統(tǒng)還可以包括用于存儲 測量數(shù)據(jù)的存儲器，比如用于存儲使用者輸入的檢驗的非易失性存儲 器，以使得能夠易于使用。使用編碼器可以控制承載器14的運動以 精確地定位井18，以用于當井與探測系統(tǒng)對準時讀取與此后將要描述 的探測系統(tǒng)關聯(lián)的讀數(shù)。如此后將要描述的，把探測系統(tǒng)居中在微井中且除去由鄰近的微井所發(fā)射的所有光子污染。參考圖2和圖3，更
詳細地顯示了光軌22。帶承載器14與驅(qū)動梭式系統(tǒng)24成接口連接， 該驅(qū)動梭式系統(tǒng)24具有承載驅(qū)動銷28的驅(qū)動支撐塊26。承載器14 包括定位成與驅(qū)動銷28成接口連接的驅(qū)動凹槽30。承載器14還包括 前導銷和后導銷32，該前導銷和后導銷在光軌22中對準，更特別地 在形成于光軌22上的凹槽40中對準。光軌22提供井索引系統(tǒng)，它 以預定的方式移動承載器14以用于自動讀取在定位在承載器14中的 多個帶16中的多個井18。光軌提供簡單的、但是有效的系統(tǒng)，以選 擇性地把多個井18移動到42處的讀取位置中，在該位置處提供孔口 以聯(lián)合光學系統(tǒng)20讀取在每一個井18中的分析物的發(fā)光度。驅(qū)動銷 28通過必需的運動移動承載器14以在多個帶16中的每一個帶中讀取 每一個井18。光軌22提供運動的兩個軸線(X， Y),其中由驅(qū)動梭式 系統(tǒng)24來提供運動控制的一個機械軸線。借助驅(qū)動系統(tǒng)50沿著光軌 22的邊緣以線性運動選擇性地移動梭式塊26,該驅(qū)動系統(tǒng)包括被聯(lián) 接的馬達52以選擇性地驅(qū)動被連到梭式塊26上的螺桿54。當螺桿 54旋轉(zhuǎn)時，以如由箭頭56所示的線性運動選擇性地移動梭式塊26。 經(jīng)由所聯(lián)接的驅(qū)動皮帶58可以把馬達52聯(lián)接到螺桿54上以驅(qū)動編 碼器滑輪60。所以，通過驅(qū)動馬達52選擇性地旋轉(zhuǎn)編碼器滑輪60以 依次引起螺桿54旋轉(zhuǎn)，和梭式塊26的對應運動。編碼器滑輪60包 括多個孔口 62,把該孔口布置成與光學傳感器系統(tǒng)64成接口連接， 以允許編碼器滑輪60的通過馬達52的精確運動。所以，該驅(qū)動布置 使得梭式塊26和驅(qū)動銷28能夠精確索引，并且與它們成接口連接的 帶承載器14也能夠?qū)鼐_索引。光軌22還允許Y運動以實現(xiàn)讀取定位成4皮此鄰近的多個帶 16。如在圖2和圖3中所見的，形成于光軌22中的引導凹槽40包括 與在承載器14上的導銷32和導銷34成接口連接的多個軌道。如在 圖2A中所見的，導銷32和導銷34相對彼此錯位，使得前導銷32初 始定位在一個軌道凹槽40中，而后導銷34初始定位在不同的軌道凹槽46中。在操作中，當驅(qū)動梭式塊26和驅(qū)動銷28時，承載器將線 性移動，使得把第一帶井選擇性地移動到讀取位置42。當?shù)竭_第一帶 或第一排的端部井時，驅(qū)動系統(tǒng)繼續(xù)操作以把承載器移動到成角的連 接凹槽48中的一個連接凹槽處，在光軌22的一系列軌道凹槽中把成 角的連接凹槽提供在預定位置處。連接凹槽48規(guī)定承載器14的Y軸 線運動，該承載器能夠經(jīng)由安裝凹槽30相對于驅(qū)動銷28滑動。以這 種方式，自動地再次定位承載器14,使得第二帶井然后能夠位于沿著 讀取位置42的路徑。然后，馬達使驅(qū)動系統(tǒng)的方向反向以按相反的 次序讀取第二排井。相似地，在讀取了第二排的最后井18之后，軌 道部40再次規(guī)定承載器14的經(jīng)由成角的連接凹槽48的自動Y軸線 運動，以沿著讀取位置42的路徑定位第三排井18。在讀取了剩余井 18中的每一個井之后，驅(qū)動系統(tǒng)于是可以允許承載器改變方向且返回 到光度計10的前部，以便使用者可以從入口 11移去承載器14，且如 所需的重復該過程。光軌系統(tǒng)22以簡單的布置規(guī)定所需的承載器14 的X-Y運動，以用于在讀取位置42處精確地定位每一個井18。在本實例中，以緊湊布置形成光度計10,使得該光度計易 于處理和使用。在本實例中，光度計10連續(xù)規(guī)定連續(xù)讀取直到井18 的三個帶16。帶16可以或者是八井構造或者是十二井構造，但是其 它構造或井數(shù)也是可以考慮的。光度計10具有大致等于承載器14的 尺寸兩倍的長度，這提供了緊湊的裝置。首先把帶16裝載到承載器 14中，且把承載器14定位在光度計10上的光軌20上。為了讀取每 一個井18,除了任何外部光以外把井與鄰近井完全隔離是必要的。帶 隔離組件12提供這種功能以用于正確讀取每一個井。如在圖4中所 見的，帶隔離組件12包括滑板60，在操作期間承載器14在該滑板下 方移動?；?0定位在導架61上，而該導架依次定位在與螺釘64 和偏置彈簧66關聯(lián)的支撐柱62上。偏置彈簧66在保持把偏置力向 下引導抵著承載器14和定位在其中的井18的同時，當承載器在滑板 和導架下方移動時該偏置彈簧66允許該滑板60和導架61的有限的向上移動。這確?；?0在讀取位置處與每一個井的正確密封。一
般成角度地定位滑板60，以致從前到后減小在其下方的空間，并且當 承載器14在其下方移動時使滑板向上偏斜。滑板可以具有向上成角 的前凸緣以用于承載器14在其下方平穩(wěn)地進入。作為實例，帶16的 在滑板60下方的移動可以把滑板舉起大約0.025英寸，由此在帶16 中在每一個井18的頂部處產(chǎn)生光密封表面。當承載器14到達用于讀 取在第一井18中的第一樣本的位置時，滑板密封所有其它的井，以 便防止在讀取每一個井18的期間在井18之間的串擾(cross-talk)。印 刷電路板63具有用于控制各個部件的操作和用于控制測量過程等等 的電路。參考圖5，在先前所描述的讀取位置42處定位承載器14, 使得把一個井定位成鄰近光纖電纜70，與光纖安裝塊72關聯(lián)地安裝 該光纖電纜。作為實例，光纖70可以是3.0 mm直徑的實心塑料光纖， 以有效地把來自患者樣本的光傳輸?shù)焦怆姳对龉?4?？梢园压怆姳对?管聯(lián)接到用于以公知的方式測量從樣本所發(fā)射的光的探測器系統(tǒng)上。 探測器系統(tǒng)可以提供快速的響應時間、足夠的測量靈敏度，且不受石茲 和電磁擾動或振動的影響。探測器可以具有低持續(xù)時間的剩磁，以使 得能夠快速讀取多個井。例如，在兩個測量之間的時間間隔是秒數(shù)量 級的。在沒有外部光源串擾或污染的情況下，經(jīng)由安裝塊72精確定 位光纖70以與讀取井配準(register)。為了確保以所希望的順序正確配準和讀:f又多個井18，光度 計10還可以具有位置確認系統(tǒng)，以防止當與驅(qū)動系統(tǒng)成接口連接時 承載器的誤定位。在本實例中，承載器包括基準孔或檢查孔80(見圖 2A)以確保承載器在光軌中的正確定位?？?0和如在圖6中所示的參 考LED82—起使用，例如，把該參考LED安裝在光軌下方。在讀取 新的一組井18之前，把承載器14定位在光軌上且移動到用于讀取的 位置中。此時，打開參考LED82,且測定讀數(shù)。如果檢查孔80與光 纖電纜70對準，那么承載器誤定位且被拒絕或運回到入口 11,使用如果承載器14處于它的正確位置中，那
么將自動進行讀數(shù)。光度計10還可以包括自動校準系統(tǒng)以確保隨即的正確讀 取。如在圖6中所見的，把參考LED82定位在光纖電纜70的下方且 與該光纖電纜70對準。參考LED 82可以是沿著軸線90發(fā)射受控光 和預定光的隔離電路，然后，該光可以經(jīng)由光纖70和探測系統(tǒng)被探 測到。例如，參考LED 82可以發(fā)射510 nm的精確(precise)綠光，或 其它適當?shù)牟ㄩL。把光傳輸?shù)桨啄猃垑K84中。白尼龍(或其它適當?shù)?材料)塊84規(guī)定由LED 82所發(fā)射的光均勻分配。直接抵著尼龍塊84 安裝光電二極管86。光電二極管86監(jiān)測穿過塊所發(fā)射的光且調(diào)節(jié)到 LED 82的輸入電壓。這產(chǎn)生了調(diào)節(jié)從參考LED 82所發(fā)射的光的強度 的閉環(huán)系統(tǒng)。把該系統(tǒng)安裝在光軌下方，且穿過在光軌中的孔口輸送 來自參考LED82的光，該光在光纖70的輸入側(cè)下方直接對準。在由 適當控制系統(tǒng)操作的期間，選擇性地打開或關閉LED 82。在把新的光度計校準到公知的標準之后，打開參考LED82 且測量讀數(shù)。把LED的強度調(diào)節(jié)到限定水準。把參考LED的最終讀 數(shù)存儲在光度計中以用于隨后檢查，以確保在每一側(cè)使用之前正確校 準。每當使用光度計IO進行新檢驗時，都能夠通過使用參考LED82 來檢查校準。裝置可以自動測定參考LED的讀數(shù)，并且如果新的讀數(shù) 關于參考LED的被存儲的最終讀數(shù)而言不在預定的范圍中，那么可以 計算因數(shù)以因此調(diào)節(jié)所有的今后讀數(shù)。這將確保儀器基于到公知標準 的初始校準繼續(xù)提供準確的結(jié)果。應該注意的是，本發(fā)明提供了緊湊布置，且簡單和有效地 使用本發(fā)明以執(zhí)行發(fā)光度測量。由于直接在產(chǎn)品井上方實施光子探測 且過后立刻借助于光電倍增管放大該光子探測，所以裝置提供了帶有 高靈每文度的可靠測量。提供井隔離系統(tǒng)以消除可能的光污染，且光軌 系統(tǒng)規(guī)定了承載器的簡單且有效的移動，以用于快速自動地讀取多個 井。光度計的自校準和其它特性如所希望地產(chǎn)生了非常合算的且使用簡單的系統(tǒng)。盡管本發(fā)明已經(jīng)聯(lián)合特定實施例進行了描述，但是明顯 的是，按照在前描述許多替換、修改、排列和變形對本領域中的那些 普通技術人員而言都將是顯而易見的。因此，本發(fā)明意在包括落入所 附權利要求的范圍中的所有這些替換、修改和變形。
權利要求
1.一種光度計，其包括殼體，其具有可以經(jīng)由保護蓋而被接近的內(nèi)部，光子測量探測系統(tǒng)，其設置在所述殼體中，定位在預定的測量位置處，軌道系統(tǒng)，其設置在所述殼體中的支撐件上，所述軌道系統(tǒng)包括在第一方向上延伸的第一部分和在大致正交的第二方向上延伸的第二部分，承載器，其用于承載成多排的多個井，所述承載器具有隨其提供的引導構件，所述引導構件可定位在所述軌道系統(tǒng)中以沿其軌道運動，驅(qū)動系統(tǒng)，其用于選擇性地在第一方向上移動所述承載器，其中所述軌道系統(tǒng)設計成借助于所述第二部分引起所述承載器在所述大致正交的第二方向上的運動，并且所述承載器相對于所述驅(qū)動系統(tǒng)在所述第二方向上是可移動的，而所述多個井選擇性地定位在所述測量位置處以從那里測量光子。
2. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述探測器包 括光纖電纜，所述光纖電纜定位成在所述測量位置處接收從所述井所 發(fā)射的光子，其中所述光子被引導到光電倍增管和探測電路。
3. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述光度計還 包括井隔離系統(tǒng)，以用于在所述測量位置處繞著所述井密封且密封鄰 近的井以防止來自任何其它井的光的串擾。
4. 根據(jù)權利要求3所述的光度計，其特征在于，所述井隔離系 統(tǒng)包括滑板，所述滑板在它的底部上具有密封表面，所述滑板在所述 殼體中的所述支撐件上方被可調(diào)節(jié)地間隔，所述滑板具有作用在其上 的偏置構件，以用于在井位于該滑板下時迫使所述滑板與該井密封接 觸。
5. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述驅(qū)動系統(tǒng) 包括梭式塊，所述梭式塊聯(lián)接到驅(qū)動構件上以使該梭式塊在第一方向 上選擇性地運動，所述梭式塊具有接合構件以用于與所述承載器選擇 性的接合，以當所述梭式塊運動時使所述承載器在所述第一方向上移 動。
6. 根據(jù)權利要求5所述的光度計，其特征在于，所述接合構件接合所述承載器，以允許所述承載器在所述第二方向上的相對運動。
7. 根據(jù)權利要求5所述的光度計，其特征在于，所述驅(qū)動構件 包括螺紋螺釘，所述螺紋螺釘與所述梭式塊中的螺紋孔口成接口連 接，使得當所述螺紋螺釘旋轉(zhuǎn)時，所述梭式塊能夠在所述第一方向上 移動。
8. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述驅(qū)動系統(tǒng) 包括編碼器以把所述梭式塊定位在預定位置處，以便使所述多個井中 的每一個井都被選擇性地定位在所述測量位置處。
9. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述承載器包 括檢查孔，所述檢查孔與提供在所述測量位置處的光源協(xié)作以核實所 述承載器相對于所述測量位置的正確定位。
10. 根據(jù)權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述驅(qū)動系統(tǒng) 包括編碼器以把所述梭式塊定位在預定位置處，以便使所述多個井中 的每一個井都被選擇性地定位在所述測量位置處。
11. 一種以預定的方式在X-Y方向上選擇性地移動承載器以把多 個井選擇性地定位在設置于光度計中的測量位置處的方法，所述方法 包括步驟在與多個軌道凹槽關聯(lián)的初始位置處定位承載器，該承載器具有 位于其中的多個井的多個帶，且聯(lián)接到驅(qū)動系統(tǒng)上，其中所述承載器 包括引導構件，該引導構件與所述凹槽成接口連接以能夠沿著所述凹 槽移動，且所述承載器以 一定的方式聯(lián)接到所述驅(qū)動系統(tǒng)上以允許相 對于所述驅(qū)動系統(tǒng)的Y軸線運動，操作所述驅(qū)動系統(tǒng)以引起所述承載器的沿著X軸線的單個軸線運動，其中一系列軌道包括沿著x軸線指向的部分和提供所述承載器在Y軸線方向上的運動的連^:部分，和在所述光度計中的預定測量位置處選擇性地把所述多個井中的 每一個井都定位在所述多個帶的每一個帶中。
12. —種校準光度計的方法，所述方法包括步驟 提供參考光源，聯(lián)合光探測器利用所述參考光源初始地產(chǎn)生參考測量值， 存儲所述參考測量值，隨后選擇性地打開所述參考光源且測量所發(fā)射的光，以由此生成 當前測量值，把所述當前測量值與所述參考測量值作比較，且如果所述當前測量值與所述參考測量值相差達預定量，那么生成校準因數(shù)，且如果生成所述校準因數(shù)，那么利用所述光度計把所述校準因數(shù)應用到當前測量值上。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光度計和方法，該方法提供以自動的方式簡單且有效地測量在多個帶中的多個井?？梢园压舛扔嬍褂迷贑LIA(化學發(fā)光免疫分析法)中。光度計允許CLIA微帶讀取，并且以每帶多個井的方式讀取打散井，且立刻并自動地計算結(jié)果。光度計具有把多個帶中的多個井選擇性地定位在測量位置處的自動承載器定位系統(tǒng)，其中與定位系統(tǒng)關聯(lián)的驅(qū)動系統(tǒng)沿著運動的單個軸線驅(qū)動承載器。光軌系統(tǒng)自動地提供承載器的Y軸線運動。光度計可以具有校準系統(tǒng)，以用于維持系統(tǒng)在隨之的測量中的正確操作。
文檔編號G01N21/13GK101563594SQ200780037055
公開日2009年10月21日 申請日期2007年7月26日 優(yōu)先權日2006年8月2日
發(fā)明者G·弗里曼, T·阿爾梅特 申請人:阿瓦尼斯實驗室科技公司