專利名稱：雙光束激光粒度儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種激光儀器，具體地說是雙光束激光粒度儀。
背景技術(shù)：
目前國產(chǎn)激光粒度儀均使用單一光束垂直照射樣品池，由于樣品池的反射
折射等原因，可測的最大散射角為135度，測量范圍在0.1微米以上。因此為了
將測試范圍擴大到納米粒度，必須克服樣品池的干擾。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的技術(shù)任務(wù)是針對以上不足之處，提供一種采用雙光束，克服 了樣品池后向散射干擾的雙光束激光粒度儀。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是該激光粒度儀包括氦氖 激光器、電動光闌、擴束鏡和傅立葉透鏡，氦氖激光器后依次設(shè)置有電動光闌、 擴束鏡和傅立葉透鏡，反射鏡一設(shè)置在傅立葉透鏡的后側(cè)，反射鏡二設(shè)置在光 學(xué)導(dǎo)軌中與反射鏡一相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌中設(shè)置有與反射鏡二相對應(yīng)的樣品池， 樣品池與反射鏡二之間設(shè)置有垂直光學(xué)導(dǎo)軌的半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器的 前方設(shè)置有反射鏡三，反射鏡三與樣品池相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌的頂部設(shè)置有探測 器組，光學(xué)導(dǎo)軌的端部設(shè)置有陣列光電探測器。
反射鏡二反射光束垂直照射樣品池，反射鏡三反射光束從后方傾斜照射樣
品池，二光束的夾角在30度至60度之間，可測量的后向散射角度最大為175 度。
所述的樣品池為矩形立方體，四面透光，空心部分厚度3—IO毫米。 所述的光電探測器組是由若干光電探測單元組成，沿光學(xué)導(dǎo)軌方向直線形 排列。
氦氖激光器照射樣品池獲得顆粒的前向散射與側(cè)向散射信息。 半導(dǎo)體激光器從樣品池后方傾斜照射樣品池，獲得顆粒后向散射信息。
光束功率均大于2mw?？蓽y后向散射最大角度175度。 采用四面透光的樣品池，以便于獲得樣品全方位的散射信息。 采用直線形排列的光電探測器組，有效提高了散射光的接收范圍，利于加 工制造和減小儀器體積。
本實用新型的雙光束激光粒度儀和現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下特點
1、 有效克服了樣品池的光學(xué)干擾，提高了后向散射光的測量精度；
2、 可測的散射角度由135度增大到175度；
3、 測試顆粒粒度下限由100納米延伸到50納米。以下結(jié)合附圖
對本實用新型進(jìn)一步說明。 附圖為雙光束激光粒度儀光路示意圖。
圖中1、氦氖激光器，2、電動光闌，3、擴束鏡，4、傅立葉透鏡，5、反 射鏡一，6、反射鏡二， 7、反射鏡三，8、半導(dǎo)體激光器，9、樣品池，10、探 測器組，11、光學(xué)導(dǎo)軌，12、陣列光電探測器。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進(jìn)一步說明，但不作為對本實 用新型的限定。
本實用新型的雙光束激光粒度儀，其結(jié)構(gòu)包括氦氖激光器l、電動光闌2、 擴束鏡3和傅立葉透鏡4，氦氖激光器1后依次設(shè)置有電動光闌2、擴束鏡3和 傅立葉透鏡4，反射鏡一 5設(shè)置在傅立葉透鏡4的后側(cè)，反射鏡二 6設(shè)置在光學(xué) 導(dǎo)軌11中與反射鏡一 5相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌11中設(shè)置有與反射鏡二 6相對應(yīng)的 樣品池9，樣品池9與反射鏡二 6之間設(shè)置有垂直光學(xué)導(dǎo)軌11的半導(dǎo)體激光器 8，半導(dǎo)體激光器8的上方設(shè)置有反射鏡三7，反射鏡三7與樣品池9相對應(yīng)， 光學(xué)導(dǎo)軌11的頂部設(shè)置有探測器組10，光學(xué)導(dǎo)軌11的端部設(shè)置有陣列光電探
測器12。
反射鏡二 6反射光束垂直照射樣品池9，反射鏡三7反射光束從后方傾斜照 射樣品池9， 二光束的夾角在30度至60度之間，可測量的后向散射角度最大為 175度。
所述的樣品池9為矩形立方體，四面透光，空心部分厚度3—10毫米。 所述的光電探測器組IO是由若干光電探測單元組成，沿光學(xué)導(dǎo)軌方向直線 形排列。
其中，氦氖激光器1發(fā)出的光束經(jīng)擴束鏡3和傅立葉變換鏡4后成為匯聚 激光束，功率大于2mw;半導(dǎo)體激光器8發(fā)出的光束為準(zhǔn)直激光束功率大于 2mw。
使用時，電動光闌2打開，氦氖激光器1照射樣品池9，探測器組10與陣 列光電探測器12接受前向散射與側(cè)向散射；電動光闌2關(guān)閉、半導(dǎo)體激光器8 點亮照射樣品池9，探測器組IO接收后向散射光和部分前向散射光；將先后兩 次探測的信號處理，即可得到全方位的顆粒散射譜，根據(jù)全方位散射譜即可計 算出顆粒的粒度分布。本實用新型測量的最大散射角175度，可測量的最小粒 度為50納米。
本實用新型的操作非常簡單方便，測試一次小于2分鐘。
權(quán)利要求1、雙光束激光粒度儀，包括氦氖激光器、電動光闌、擴束鏡和傅立葉透鏡，其特征在于氦氖激光器后依次設(shè)置有電動光闌、擴束鏡和傅立葉透鏡，反射鏡一設(shè)置在傅立葉透鏡的后側(cè)，反射鏡二設(shè)置在光學(xué)導(dǎo)軌中與反射鏡一相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌中設(shè)置有與反射鏡二相對應(yīng)的樣品池，樣品池與反射鏡二之間設(shè)置有垂直光學(xué)導(dǎo)軌的半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器的前方設(shè)置有反射鏡三，反射鏡三與樣品池相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌的頂部設(shè)置有探測器組，光學(xué)導(dǎo)軌的端部設(shè)置有陣列光電探測器。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于反射鏡二反射光 束垂直照射樣品池，反射鏡三反射光束從后方傾斜照射樣品池，二光束的夾角 在30度至60度之間，可測量的后向散射角度最大為175度。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于樣品池為矩形立 方體，四面透光，空心部分厚度3—10毫米。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙光束激光粒度儀，其特征在于光電探測器組是 由若干光電探測單元組成，沿光學(xué)導(dǎo)軌方向直線形排列。
專利摘要本實用新型公開了一種雙光束激光粒度儀，屬于激光儀器，其結(jié)構(gòu)包括氦氖激光器、電動光闌、擴束鏡和傅立葉透鏡，氦氖激光器后依次設(shè)置有電動光闌、擴束鏡和傅立葉透鏡，反射鏡一設(shè)置在傅立葉透鏡的后側(cè)，反射鏡二設(shè)置在光學(xué)導(dǎo)軌中與反射鏡一相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌中設(shè)置有與反射鏡二相對應(yīng)的樣品池，樣品池與反射鏡二之間設(shè)置有垂直光學(xué)導(dǎo)軌的半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器的前方設(shè)置有反射鏡三，反射鏡三與樣品池相對應(yīng)，光學(xué)導(dǎo)軌的頂部設(shè)置有探測器組，光學(xué)導(dǎo)軌的端部設(shè)置有陣列光電探測器。本實用新型的雙光束激光粒度儀和現(xiàn)有技術(shù)相比，可測試的最大散射角為175度，因而可以大大提高激光粒度儀的分析精度。
文檔編號G01N15/02GK201060153SQ20072002570
公開日2008年5月14日 申請日期2007年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月27日
發(fā)明者任中京, 邱立志 申請人:任中京