專利名稱:高度儀的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及一種高度儀,尤其涉及一種用于檢測光學元件的高度及深度等參數的高度儀
背景技術:
近年來,隨著多媒體技術的飛速發(fā)展,對搭載在數碼相機、攝像機及帶有攝像功能的手 機等上的光學元件的需求越來越大。而這種需求增大本身又要求光學元件更進一步小型化和 低成本。光學元件的模壓成型制程,特別是塑料光學元件,如微型鏡片、鏡筒及鏡座等產品 ,通常采用注射成型。采用注射成型生產產品,大大提高生產效率及產量,降低成本。
生產過程中,光學元件完成注射成型后需要檢測其高度及深度等相關參數以確保產品的 精度。目前,生產過程中通常采用高度儀檢測光學元件的高度及深度等相關參數。高度儀相 對于傳統(tǒng)的精密檢測工具,具有測試精度高,不易受干擾,便于維護等優(yōu)點,另外,通過與 電子技術結合將檢測值通過數字信號來表示,可方便該檢測值的讀取與傳輸。Tomas Fischer等人在2006年IEEE系統(tǒng)、儀器及檢測技術的國際研討會(Instrumentation and Measurement Technology Conference)上發(fā)表的論文A Novel Optical Method of Dimension Measurement of Objects with Circular Cross—section中揭示了^^禾中鏡片等光 學元件的高度檢測方法。
然而, 一般的高度儀只設置一個探針,當檢測鏡片、鏡筒及鏡座等光學元件的不同位置 的高度時,因所檢測位置的形狀不一致,所以需要更換直徑不同的探針。隨著光學元件檢測 數量的增加,更換探針的次數更加頻繁,因而造成生產過程中用來更換探針的時間增多,這 極大地降低了生產效率及產量,增加了制造成本。
發(fā)明內容
有鑒于此,提供一種檢測過程中免換探針的高度儀實為必要。
一種高度儀,其包括 一個承載臺, 一個固定于所述承載臺上的支架, 一個設置于所述 支架上的傳動裝置及檢測裝置,以及一個與所述傳動裝置及檢測裝置電連接的控制裝置,所 述承載臺具有一承載面,其用于承載待檢測的光學元件,所述支架用于固定所述傳動裝置及 檢測裝置,所述檢測裝置用于檢測所述傳動裝置與支架之間的相對運動距離,所述控制裝置 用于控制所述傳動裝置及對所述檢測裝置的輸出進行數字顯示,其中,所述高度儀進一步包
括一個相對所述承載臺設置的探針轉換器及裝載于其上的多個直徑不同的探針,所述探針用 于檢測光學元件,所述探針轉換器與所述傳動裝置連接,并可隨其一起運動以改變所述探針 轉換器與所述承載臺的相對距離,所述探針轉換器可以旋轉以切換多個直徑不同的探針來選 擇性地對承載于承載臺上的光學元件進行檢測。
相對于現(xiàn)有技術,所述高度儀進一步包括一個裝載多個直徑不同的探針的探針轉換器, 所述探針轉換器可以旋轉以切換多個直徑不同的探針來選擇性地對承載于承載臺上的光學元 件進行檢測,從而避免了檢測鏡片、鏡筒及鏡座等光學元件的不同位置的高度時,因所檢測 位置的形狀不一致而更換直徑不同的探針,因而節(jié)省了時間,極大地提高了生產效率及產量 ,降低了制造成本。
圖l為本發(fā)明實施例提供的一種高度儀的結構示意圖。
圖2為圖1所示高度儀的俯視示意圖。
具體實施例方式
下面將結合附圖對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
請參閱圖l,本發(fā)明實施例提供的一種高度儀10包括一個承載臺11, 一個固定于所述承 載臺上的支架12, 一個設置于所述支架12上的傳動裝置13及檢測裝置14, 一個與所述傳動裝 置13連接的一個探針轉換器15,多個裝載于所述探針轉換器15上的直徑不同的探針16,以及 一個與所述傳動裝置13及檢測裝置14電連接的控制裝置17。
所述承載臺11具有一承載面l 11 ,其用于承載待檢測的光學元件l8。
所述支架12包括一沿如圖1雙向箭頭所示方向延伸的滑軌121及一安裝部122,所述安裝 部122用于固定所述傳動裝置13及檢測裝置14。
所述傳動裝置13包括一驅動機構20及一運動機構30。所述驅動機構20包括一個齒輪21 , 一個與所述齒輪21互相嚙合的齒條22,以及一臺與所述齒輪21相連接的電機23。所述運動機 構30與所述齒條22連接。所述電機23將輸出軸的轉動力矩傳遞給所述齒輪21,所述齒輪21驅 動所述齒條22在所述滑軌121上滑動,所述齒條22帶動所述運動機構30沿如圖1雙向箭頭所示 方向作升降運動。
所述檢測裝置14用于檢測所述齒條22與所述滑軌121之間的相對運動距離,并將檢測結 果輸出至所述控制裝置17。
所述控制裝置17包括一控制電路(圖未示), 一顯示屏171及多個操作按鈕。所述控制 電路用于控制所述電機23的轉速以及接收所述檢測裝置14的輸出信號并將輸出信號轉換為數
字信號進行數字顯示。所述多個操作按鈕包括歸零鈕172、慢速上升鈕173、慢速下降鈕174 、快速上升鈕175及快速下降鈕176。
所述探針轉換器15具有多個安裝部151,所述多個安裝部151之間間距相等且呈圓周排布 于所述探針轉換器15上。所述安裝部151具有帶有內螺紋的安裝孔,所述探針16具有外螺紋 ,所述探針16旋入所述安裝孔內并固定于所述探針轉換器15上。所述探針轉換器15與所述運 動機構30連接,所述運動機構30驅動所述探針轉換器15及所述探針16沿如圖1雙向箭頭所示 方向作升降運動,以改變所述探針轉換器15及所述探針16與所述承載臺11的相對距離。所述 探針轉換器15可以旋轉以切換多個直徑不同的探針16來選擇性地對裝載在承載臺11上的光學 元件18進行檢測。所述探針轉換器15可以逆時針方向旋轉,也可以順時針方向旋轉。
本實施例的高度儀10由于進一步包括一個裝載多個直徑不同的探針16的探針轉換器15, 探針轉換器15可以旋轉以切換多個直徑不同的探針16來選擇性地對裝載在承載臺11上的光學 元件18進行檢測,從而避免了檢測鏡片、鏡筒及鏡座等光學元件的不同位置的高度時,因所 檢測位置的形狀不一致而更換直徑不同的探針16,因而節(jié)省了時間,極大地提高了生產效率 及產量,降低了制造成本。
請再次參閱圖l,本發(fā)明實施例還提供一種采用所述高度儀10檢測光學元件18的檢測方 法,其包括以下步驟
1) 根據待檢測光學元件18的特征參數將多個直徑不同的探針16安裝在探針轉換器15上 以檢測光學元件18。
2) 通過操作控制裝置17上的按鈕使探針與承載臺11接觸,待顯示屏171的讀數不發(fā)生變 化時,觀察讀數是否為零,如果讀數不為零,操作歸零鈕172使顯示屏171的讀數為零。
3) 根據所要檢測的光學元件18的平面181的高度,選擇性的操作慢速上升鈕173或快速 上升鈕175使探針上升到平面181的上方,旋轉探針轉換器15選擇直徑合適的探針同時移動光 學元件18使平面181位于所選擇的探針的正下方,選擇性的操作慢速下降鈕174或快速下降鈕 176使所選擇的探針下降到與平面l81接觸,繼續(xù)操作慢速下降鈕l74同時觀察顯示屏171的讀 數,待讀數不發(fā)生變化時所觀察到的讀數即為所檢測平面181的高度。
4) 重復前一操作步驟檢測平面182及平面183的高度。
另外,本領域技術人員還可以在本發(fā)明精神內做其它變化,當然,這些依據本發(fā)明精神 所做的變化,都應包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內。
權利要求
1.一種高度儀,其包括一個承載臺,一個固定于所述承載臺上的支架,一個設置于所述支架上的傳動裝置及檢測裝置,以及一個與所述傳動裝置及檢測裝置電連接的控制裝置,所述承載臺具有一承載面,其用于承載待檢測的光學元件,所述支架用于固定所述傳動裝置及檢測裝置,所述檢測裝置用于檢測所述傳動裝置與支架之間的相對運動距離,所述控制裝置用于控制所述傳動裝置及對所述檢測裝置的輸出進行數字顯示,其特征在于,所述高度儀進一步包括一個相對所述承載臺設置的探針轉換器及裝載于其上的多個直徑不同的探針,所述探針用于檢測光學元件,所述探針轉換器與所述傳動裝置連接,并可隨其一起運動以改變所述探針轉換器與所述承載臺的相對距離,所述探針轉換器可以旋轉以切換多個直徑不同的探針來選擇性地對承載于承載臺上的光學元件進行檢測。
2.如權利要求l所述的高度儀,其特征在于,所述探針轉換器具有 多個安裝部,所述多個安裝部用于安裝所述多個直徑不同的探針。
3.如權利要求2所述的高度儀,其特征在于,所述安裝部具有帶有 內螺紋的安裝孔,所述探針具有外螺紋,所述探針旋入所述安裝孔內并固定于所述探針轉換 器上。
4.如權利要求2所述的高度儀,其特征在于,所述多個安裝部之間 間距相等且呈圓周排布于所述探針轉換器上。
5.如權利要求l所述的高度儀,其特征在于,所述傳動裝置包括一 驅動機構及一運動機構,所述驅動機構驅動所述運動機構在垂直于所述承載面的方向上作升 降運動。
6.如權利要求5所述的高度儀,其特征在于,所述探針轉換器與所 述運動機構連接,所述探針轉換器可以旋轉并且由所述運動機構驅動在垂直于所述承載面的 方向上作升降運動。
7.如權利要求5所述的高度儀,其特征在于,所述驅動機構包括 一個齒輪, 一個與所述齒輪互相嚙合的齒條,以及一臺與所述齒輪相連接的電機,所述電機 將輸出軸的轉動力矩傳遞給所述齒輪,所述齒輪驅動所述齒條運動。
8.如權利要求7所述的高度儀,其特征在于,所述支架包括一沿垂直于所述承載面的方向延伸的線性滑軌,所述齒條在滑軌上滑動。
9.如權利要求8所述的高度儀,其特征在于,所述檢測裝置用于檢測所述齒條與所述滑軌之間的相對運動距離,并將檢測結果輸出至所述控制裝置。
10.如權利要求9所述的高度儀,其特征在于,所述控制裝置用于控制所述電機的轉速以及對所述檢測裝置的輸出進行數字顯示。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種高度儀,其包括一個承載臺,一個固定于承載臺上的支架,一個設置于支架上的傳動裝置及檢測裝置,以及一個與傳動裝置及檢測裝置電連接的控制裝置,承載臺具有一承載面,其用于承載待檢測的光學元件,支架用于固定傳動裝置及檢測裝置,檢測裝置用于檢測傳動裝置與支架之間的相對運動距離,控制裝置用于控制傳動裝置及對檢測裝置的輸出進行數字顯示,高度儀進一步包括一個相對承載臺設置的探針轉換器及裝載于其上的多個探針,探針用于檢測光學元件,探針轉換器與傳動裝置連接,并可隨其一起運動以改變探針轉換器與承載臺的相對距離,探針轉換器可以旋轉以切換多個探針來選擇性地對承載于承載臺上的光學元件進行檢測。
文檔編號G01B21/20GK101349555SQ200710201089
公開日2009年1月21日 申請日期2007年7月17日 優(yōu)先權日2007年7月17日
發(fā)明者郭原隆 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司