專利名稱：發(fā)光二極管溫度測試儀的制作方法
發(fā)光二極管溫度測試儀本發(fā)明涉及一種溫度測試儀，適用發(fā)光二極管的溫度測試。發(fā)光二極管(LED， light emitting diode)是一種小型，發(fā)光效率高的固 態(tài)光源，發(fā)光二極管為半導體器件，其使用壽命長，穩(wěn)定度高，發(fā)光效率 高，適合作為各種不同的光源。目前，生產(chǎn)和研發(fā)發(fā)光二極管時，需要測試發(fā)光二極管的工作溫度，以 便了解發(fā)光二極管的工作狀態(tài)。目前測試發(fā)光二極管溫度的方法是用傳感 器放在發(fā)光二極管上，用溫度表測試發(fā)光二極管的溫度，這種方法只能測 試到發(fā)光二極管的表面溫度，不能測試到發(fā)光二極管芯片的溫度，測試數(shù) 據(jù)和實際溫度有較大的誤差。為了克服現(xiàn)有測試方法的不足，本實發(fā)明提供一種新型的發(fā)光二極管 溫度測試儀，可以直接測試到發(fā)光二極管芯片的溫度。減小了普通溫度表 測試的誤差。本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是利用發(fā)光二極管芯片本身 的溫度特性當用lma的電流點發(fā)光二極管芯片時，溫度每升高rC時，發(fā) 光二極管芯片的電壓就會下降2. 2mv，本發(fā)明利用lma的電流測試發(fā)光二極 管的電壓，計算出發(fā)光二極管的實際溫度。本發(fā)明也同樣適用于普通二極 管的溫度測試本發(fā)明性能可靠，工作穩(wěn)定。 下面結合附圖
和實施例對本發(fā)明進一步說明。 圖l是發(fā)光二極管芯片的溫度曲線圖。圖2是本發(fā)明測試輸出電流的波形圖. 圖3是本發(fā)明實施例電路方框圖。圖l發(fā)光二極管芯片的溫度曲線圖，當溫度越高時，二極管芯片的芯片的 電壓越低。當用lma的電流點發(fā)光二極管芯片時，溫度每升高rC時，發(fā)光 二極管芯片的電壓就會下降2. 2mv。圖2是本發(fā)明測試輸出電流的波形圖，IF1是發(fā)光二極管的工作電流， 可以調整。根據(jù)不同的發(fā)光二極管可以設定成不同的值。IF2是溫度測試時 的電流，電流值是lma， Tl是測試電流的時間，T2是工作電流的時間，Tl 的時間只有T 2的時間的極少比例。圖3是本發(fā)明實施例電路方框圖，由電流調整1，電流控制2，電壓檢 測3，高精度峰值電壓表4，比較校準5，室溫檢測6，輸入控制7，通訊 接口8，顯示屏9幾部分組成。電流調整1用來調整發(fā)光二極管的工作電 流，根據(jù)不同的發(fā)光二極管可以設定成不同的值，受輸入控制7的控制， 電流控制2用來控制發(fā)光二極管lma的測試電流和工作電流。電壓檢測3 用來檢測lma測試電流時發(fā)光二極管的電壓。高精度峰值電壓表4用來測 試lma測試電流時發(fā)光二極管的電壓，然后送給比較校準5和室溫檢測6 測試的結果比較。得出數(shù)據(jù)值轉換后由顯示屏9顯示出來，測試儀的操作 控制由輸入控制7完成，通訊接口 8用來連接計算機之類的各種外部設備。
權利要求
1.一種發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在于所述的發(fā)光二極管溫度測試儀是用電壓檢測3，高精度峰值電壓表4，測試出發(fā)光二極管的電壓通過比較校準5和室溫檢測6校準后，然后轉換計算出發(fā)光二極管溫度。
2. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在其輸出的 電流中測試電流的時間占總時間的極小部分，工作電流的時間占總時間的 絕大部分。
3. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在于其至少 有一個室溫檢測7，用來測試環(huán)境溫度。和高精度峰值電壓表4測試結果 對比，得到準確的測試結果。
4. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在其至少有 一個通訊接口 8，可以和計算機之類的外部設備連接，也可以用于多臺測 試儀的連接。
5. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在于其至少 有一個電壓檢測3，用來檢測出發(fā)光二極管的測試電流工作下的電壓，區(qū) 分開發(fā)光二極管的工作電流下的電壓。
6. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在于其至少 有一個高精度峰值電壓表4，用來測試發(fā)光二極管的測試電流工作下的電 壓。
7. 根據(jù)權利要求1所述的發(fā)光二極管溫度測試儀，其特征在于其輸出 的測試電流是不變的，輸出的工作電流可以調整，根據(jù)不同的發(fā)光二極管 可以設定成不同的值。
全文摘要
一種新型的發(fā)光二極管溫度測試儀，可以直接測試到發(fā)光二極管芯片的溫度。減小了普通溫度表測試的誤差。本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是利用發(fā)光二極管芯片本身的溫度特性當用1mA的電流點發(fā)光二極管芯片時，溫度每升高1℃時，發(fā)光二極管芯片的電壓就會下降2.2mV，本發(fā)明利用1mA的電流測試發(fā)光二極管的電壓，計算出發(fā)光二極管的實際溫度。本發(fā)明也同樣適用于普通二極管的溫度測試。
文檔編號G01K7/01GK101236110SQ20071019914
公開日2008年8月6日 申請日期2007年12月5日 優(yōu)先權日2007年12月5日
發(fā)明者張興華 申請人:張興華