專利名稱：一種總線參數(shù)校正方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試^支術(shù)，特別涉及在接入節(jié)點(diǎn)用級(jí)耳關(guān)方式組網(wǎng)時(shí)，用測(cè)試接 入設(shè)備對(duì)總線的測(cè)量參數(shù)校正的方法及系統(tǒng)，以及測(cè)試線連接是否正確的判斷 方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電信網(wǎng)絡(luò)基本上由接入層、匯聚層和骨干層構(gòu)成。其中接入層負(fù)責(zé)提供各 種類型用戶的接入，包括雙絞線接入、光纖接入或者無(wú)線接入。其中接入層由 于涉及眾多的設(shè)備和用戶環(huán)路，因而是整個(gè)網(wǎng)絡(luò)中最容易發(fā)生故障部分，并且 也是電信網(wǎng)絡(luò)中故障定位和維修都相對(duì)困難的環(huán)節(jié)。以目前廣泛應(yīng)用的xDSL ( X Digital Subscriber Line,各種數(shù)字用戶線)為 例，如ADSL ( Asymmetrical Digital Subscriber Loop,非對(duì)稱凄史字用戶線^各)、 ADSL2+ ( Asymmetrical Digital Subscriber Loop 2+，非3于稱數(shù)字用戶線3各二代 增強(qiáng))、SHDSL (Super High Speed DSL,超高速數(shù)字用戶線路)、VDSL (Very High Rate DSL,甚高速數(shù)字用戶線路)、VDSL2 (Very High Rate DSL 2，甚高 速數(shù)字用戶線路二代)等基于雙絞線的數(shù)字用戶線為例，接入層為保障xDSL 接入業(yè)務(wù)正常運(yùn)行，需要及時(shí)診斷出影響業(yè)務(wù)的各類故障，因此需要對(duì)用戶線 路參數(shù)(如線路電壓參數(shù)、線路電阻參數(shù)、線路電容參數(shù)、線路背景噪音、 線路對(duì)地平衡度等)、用戶終端設(shè)備、局端設(shè)備(如DSLAM ( Data Subscriber Line Access Mulitiplexer，數(shù)字用戶線路接入復(fù)用器)端口 、 BRAS ( Broadband Remote Access Server,寬帶接入服務(wù)器)、DHCP (Dynamic Host Configuration Protocol,動(dòng)態(tài)主機(jī)配置協(xié)議)服務(wù)器等)等進(jìn)行測(cè)量。依據(jù)這些測(cè)量數(shù)據(jù)， 可以了解線路、用戶終端及局端設(shè)備的運(yùn)行情況，并及時(shí)定位出影響業(yè)務(wù)運(yùn)行
的故障，以便及時(shí)將故障修復(fù)。因此接入層應(yīng)該提供測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總線，但由于種種原因，目前在網(wǎng)上運(yùn)行的大部分DSLAM設(shè)備并不提供測(cè)試總線，也不支持抓線功能(所述抓線 功能指根據(jù)控制命令自動(dòng)將被測(cè)用戶的線路連接到測(cè)試設(shè)備)，為了對(duì)給這些 DSLAM設(shè)備及相關(guān)的用戶進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，現(xiàn)有技術(shù)中采用了借助測(cè)試接入設(shè) 備(如TAM ( Test Access Matrix,測(cè)試接入矩陣)、AMDF ( Automatic Main Distribution Fram，自動(dòng)配線架)等)實(shí)現(xiàn)將無(wú)測(cè)試總線xDSL用戶接入到測(cè)試 設(shè)備。具體參見圖l借助測(cè)試接入設(shè)備實(shí)現(xiàn)接入的結(jié)構(gòu)示意圖所示。圖2為測(cè)試接入設(shè)備工作結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，在測(cè)試接入設(shè)備中，被 接入的用戶分布在不同的測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)，接入節(jié)點(diǎn)如圖中所示的接入節(jié)點(diǎn)1、 接入節(jié)點(diǎn)2......接入節(jié)點(diǎn)N。因此同一個(gè)地理位置通常會(huì)存在較多的測(cè)試接入設(shè)備節(jié)點(diǎn)。每一個(gè)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)都會(huì)引出一組測(cè)試總線，所有測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)的 測(cè)試總線最后都必須接入到測(cè)試設(shè)備，然后測(cè)試設(shè)備通過(guò)測(cè)試總線對(duì)用戶線路 進(jìn)行測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)一，在收斂節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的方案。圖3為在收斂節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的方案下的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示， 每一個(gè)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線接入到一個(gè)測(cè)試總線收^t節(jié)點(diǎn)上，該測(cè)試總線 收斂節(jié)點(diǎn)內(nèi)部通過(guò)繼電器實(shí)現(xiàn)將多條測(cè)試總線收斂為 一條測(cè)試總線的功能，然 后接入到測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試。但發(fā)明人在發(fā)明過(guò)程中注意到，該方案中因?yàn)橐黾右粋€(gè)測(cè)試總線收斂節(jié) 點(diǎn)，因此需要多占用機(jī)拒空間；同時(shí)還因?yàn)槊恳粋€(gè)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)都引出一條測(cè) 試總線到測(cè)試總線收斂節(jié)點(diǎn)，導(dǎo)致電纜較多，增加了安裝空間和安裝工作量?，F(xiàn)有技術(shù)二，級(jí)聯(lián)測(cè)試方案。圖4為級(jí)聯(lián)測(cè)試方案下的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，每一個(gè)測(cè)試接 入節(jié)點(diǎn)都包含一個(gè)入總線端口和出總線端口 ，入總線端口與出總線端口以及本 節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線連接到一起。如從測(cè)試設(shè)備來(lái)的測(cè)試總線接入接入節(jié)點(diǎn)1的入
總線端口 ，接入節(jié)點(diǎn)1的出總線端口與接入節(jié)點(diǎn)2的入總線端口使用電纜連接， 依次下去，接入節(jié)點(diǎn)i-l的出總線端口與接入節(jié)點(diǎn)i的入總線端口使用電纜連 接，最后形成級(jí)^:測(cè)試總線。但發(fā)明人在發(fā)明過(guò)程中注意到，該方案中由于每一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線 完全級(jí)聯(lián)在一起，因此當(dāng)測(cè)試設(shè)備對(duì)某一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的用戶進(jìn)行測(cè)試時(shí)，其他 的接入節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線同樣連接在這條測(cè)試總線上，這必然會(huì)對(duì)測(cè)試的結(jié)果造 成一定的誤差。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明實(shí)施例提供了 一種總線參數(shù)校正方法及系統(tǒng)，用以解決在接入節(jié)點(diǎn) 用級(jí)聯(lián)方式組網(wǎng)時(shí)，提供校正參數(shù)以減小測(cè)試誤差。在解決所述問(wèn)題時(shí)，本發(fā)明實(shí)施例利用了每一接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí) 的測(cè)試參數(shù)作為校正參數(shù)；基于同一構(gòu)思，利用了每一接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)的測(cè) 試參數(shù)性質(zhì)，本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷方法及系 統(tǒng)，用以解決在接入節(jié)點(diǎn)用級(jí)聯(lián)方式組網(wǎng)時(shí)，判斷出每一節(jié)點(diǎn)的入總線與出總 線的測(cè)試線連接是否正確。本發(fā)明實(shí)施例提供了 一種總線參數(shù)校正方法，包括如下步驟獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)； 根據(jù)所述測(cè)試參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種總線參數(shù)校正系統(tǒng)，包括測(cè)試設(shè)備、至少兩個(gè) 接入節(jié)點(diǎn)、測(cè)試線，還包括獲取裝置、校正裝置，其中測(cè)試設(shè)備對(duì)至少 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試；接入節(jié)點(diǎn)之間通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)；獲取裝置，與校正裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連，用于獲取j妄入節(jié)點(diǎn)在開路和 /或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；校正裝置，與獲取裝置、測(cè)試設(shè)備相連，用于利用所述獲取裝置獲取的測(cè)
試參數(shù)對(duì)所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。由上述可知，由于對(duì)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)采用了級(jí)聯(lián)方式接入到測(cè)試設(shè)備中，因 此使得電纜大量較少，同時(shí)獲取測(cè)試總線開路與短路時(shí)的線路參數(shù)在以后的測(cè) 量中用于對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)，有效的減小了測(cè)試結(jié)果的誤差。本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷方法，包括如下步驟獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻；根據(jù)所述第一線、第二線的線間電阻判斷測(cè)試線連接是否正確。本發(fā)明實(shí)施例又提供了 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷系統(tǒng)，包括測(cè)試設(shè)備、至少兩個(gè)接入節(jié)點(diǎn)、測(cè)試線，還包括獲取裝置、提取裝置、判斷裝置，其中測(cè)試設(shè)備對(duì)至少 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試； 接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)；獲取裝置，與提取裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連，用于獲耳又接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí) 的測(cè)試參數(shù)；提取裝置，與判斷裝置相連，用于從所述獲取裝置獲取的測(cè)試參數(shù)中提取 測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻；判斷裝置，用于4艮據(jù)所述提取裝置提取的第一線、第二線的線間電阻判斷 測(cè)試線連接是否正確。由于在測(cè)試中入總線端口與出總線端口的電纜不能4妄反，因此在實(shí)施測(cè)試 時(shí)，通過(guò)獲取每一接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線的線 間電阻；并根據(jù)第一線、第二線的線間電阻判斷測(cè)試線連接是否正確，從而保 證了測(cè)試中電纜連接的正確。


圖1為背景技術(shù)中所述借助測(cè)試接入設(shè)備實(shí)現(xiàn)接入的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為背景技術(shù)中所述測(cè)試接入設(shè)備工作結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為背景技術(shù)中所述在收斂節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的方案下的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為背景技術(shù)中所述級(jí)聯(lián)測(cè)試方案下的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例中所述總線參數(shù)校正方法實(shí)施流程示意圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例中所述總線參數(shù)校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例中所述總線參數(shù)校正系統(tǒng)實(shí)例結(jié)構(gòu)示意圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例中所述測(cè)試線連接是否正確的判斷方法實(shí)施流程示意圖；圖9為本發(fā)明實(shí)施例中所述測(cè)試線連接是否正確的判斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
進(jìn)行說(shuō)明。在級(jí)聯(lián)測(cè)試方案下，每一個(gè)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)都包含一個(gè)入總線端口和出總線 端口，入總線端口與出總線端口以及本節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線連接到一起。如從測(cè)試 設(shè)備來(lái)的測(cè)試總線接入接入節(jié)點(diǎn)1的入總線端口 ，接入節(jié)點(diǎn)1的出總線端口與 接入節(jié)點(diǎn)2的入總線端口使用電纜連接，依此下去，接入節(jié)點(diǎn)i-l的出總線端 口與接入節(jié)點(diǎn)i的入總線端口使用電纜連接，最后形成級(jí)聯(lián)測(cè)試總線。在該測(cè)試環(huán)境中，進(jìn)行校正的實(shí)施可以按如下方式進(jìn)^"。圖5為總線參數(shù)校正方法實(shí)施流程示意圖，實(shí)施中，測(cè)試設(shè)備對(duì)至少兩個(gè) 接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試，接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)，如圖所 示，可以包括如下步驟步驟501、獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；步驟502、根據(jù)所述測(cè)試參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。具體實(shí)施中，先按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)，組網(wǎng)時(shí)可以如下將測(cè)試設(shè)備的 測(cè)試總線與第一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)入總線端口相連，第一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通
過(guò)測(cè)試線與第二個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，第二個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口 通過(guò)測(cè)試線與第三個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，依次類推，直到需測(cè)試的接 入節(jié)點(diǎn)連接完畢；接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)^t妄入總線端口與用戶矩陣相連；步驟501在上述連接環(huán)境下，獲取接入節(jié)點(diǎn)開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)具 體可以為斷開需要獲取測(cè)量參數(shù)的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線 端口的連接后，使用測(cè)試設(shè)備對(duì)接入節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，獲取到的測(cè)試結(jié)果作為該 接入節(jié)點(diǎn)的開路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；斷開需要獲取測(cè)量參數(shù)的接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口 、接入總線端口的連接， 通過(guò)接入總線端口自環(huán)測(cè)試線，利用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，獲取的測(cè)試結(jié)果作為 該接入節(jié)點(diǎn)的短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)。實(shí)施中，接入節(jié)點(diǎn)之間通過(guò)測(cè)試線連接，其中測(cè)試線由第一線、第二線構(gòu) 成，通常也稱為A線、B線；所述測(cè)試參數(shù)可以包括A線對(duì)地電阻、B線對(duì)地 電阻、AB線間電阻、A線對(duì)地電容、B線對(duì)地電容、AB線間電容、線路衰減、 線路長(zhǎng)度其中一個(gè)或者這些參數(shù)的組合。本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種總線參數(shù)校正系統(tǒng)，下面結(jié)合附圖對(duì)校正系統(tǒng) 的具體實(shí)施方式
進(jìn)行說(shuō)明。圖6為總線參數(shù)校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，校正系統(tǒng)中包括測(cè)試設(shè) 備、測(cè)試線、獲取裝置、校正裝置、至少兩個(gè)接入節(jié)點(diǎn)，其結(jié)構(gòu)關(guān)系為測(cè)試設(shè)備對(duì)至少一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試，接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí) 聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)；獲取裝置與校正裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連；校正裝置與獲取 裝置、測(cè)試^:備相連。其中獲取裝置用于獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；校正裝置用于利用所述獲取裝置獲取的測(cè)試參數(shù)對(duì)所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)量 結(jié)果進(jìn)行校正。
具體的，在按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)時(shí)，其結(jié)構(gòu)關(guān)系是測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總 線與第一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)入總線端口相連，第一個(gè)^妄入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通過(guò)測(cè)試線與下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通過(guò)測(cè)試線與再下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，依此類推； 接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)接入總線端口與用戶接入矩陣相連；實(shí)施中，所述獲取裝置可以包括開路獲取模塊、和/或短路獲取模塊，以及 開關(guān)模塊，其中開關(guān)模塊，與接入節(jié)點(diǎn)相連，用于控制所連接的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、 出總線端口、接入總線端口之間的連接與斷開；開路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線端口的連接，觸發(fā)所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行 測(cè)試后，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的開路測(cè)量的測(cè)試參數(shù)；短路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)入總線端口使測(cè)試線自環(huán)，觸發(fā) 所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試后，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的短路測(cè)量的測(cè) 試參數(shù)。下面再舉一例用于闡明如何實(shí)施參數(shù)的校正。圖7為總線參數(shù)校正系統(tǒng)實(shí)例結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，系統(tǒng)中包括測(cè)試設(shè) 備、測(cè)試總線、測(cè)試接入設(shè)備，測(cè)試設(shè)備中包括兩個(gè)接入節(jié)點(diǎn)(接入節(jié)點(diǎn)1、 接入節(jié)點(diǎn)2)。本實(shí)施例中以兩個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的實(shí)施為例進(jìn)行"i兌明，^旦易知，由本 實(shí)施例可以推廣至含若干接入節(jié)點(diǎn)的系統(tǒng)環(huán)境中進(jìn)行實(shí)施。具體的，實(shí)施中，以繼電器裝置作為開關(guān)模塊為例進(jìn)行說(shuō)明，開關(guān)模塊與 接入節(jié)點(diǎn)相連，用于控制所連接的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入 總線端口之間的連接與斷開。本例中，是在每一個(gè)測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)的內(nèi)部測(cè)試總 線中增加一個(gè)繼電器裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)開關(guān)模塊的功能的，其結(jié)構(gòu)關(guān)系為測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總線與接入節(jié)點(diǎn)l入總線端口相連，接入節(jié)點(diǎn)1的出總線
端口通過(guò)測(cè)試線與接入節(jié)點(diǎn)2的入總線端口相連，接入節(jié)點(diǎn)2的出總線端口通 過(guò)測(cè)試線與下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，依此類推，接入節(jié)點(diǎn)間由測(cè)試線連接，測(cè)試線由第一線、第二線構(gòu)成，也稱A、 B線；接入節(jié)點(diǎn)1、接入節(jié)點(diǎn)2都分別通過(guò)各自的接入總線端口與各自的用戶矩 陣相連；繼電器裝置分別與所在的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線 端口連接。實(shí)施中，繼電器裝置主要完成以下功能一般情況下，使入總線與出總線處于常連通狀態(tài)，而使與接入總線的連接 處于斷開狀態(tài)；根據(jù)測(cè)試設(shè)備發(fā)送的命令控制指定接入節(jié)點(diǎn)將用戶線路收斂到測(cè)試總線 上時(shí)，指定接入節(jié)點(diǎn)的入總線與接入總線處于連通狀態(tài)，而與出總線處于斷開 狀態(tài)；根據(jù)測(cè)試設(shè)備發(fā)送的命令控制指定接入節(jié)點(diǎn)的入總線與出總線和接入總 線都斷開；根據(jù)測(cè)試設(shè)備發(fā)送的命令控制指定接入節(jié)點(diǎn)的入總線自環(huán)，并與接入總線 和出總線斷開。實(shí)施例中以繼電器為例進(jìn)行說(shuō)明，但并不僅限于繼電器裝置，只要能夠?qū)?現(xiàn)幾個(gè)連接端口之間的連接與斷開功能的裝置，都可以用以實(shí)現(xiàn)開關(guān)模塊。在上述測(cè)試環(huán)境中，則對(duì)接入節(jié)點(diǎn)到測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總線進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)的 實(shí)施中可以具體為Al 、測(cè)試設(shè)備發(fā)送命令控制指定測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)將入總線與出總線和接入總 線都斷開；A2、測(cè)試設(shè)備對(duì)測(cè)試總線進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試總線開路時(shí)的線路參數(shù),例 如A線對(duì)地電阻、B線對(duì)地電阻、AB線間電阻、A線對(duì)地電容、B線對(duì)地 電容、AB線間電容、線路衰減、線路長(zhǎng)度等；Bl、測(cè)試設(shè)備發(fā)送命令控制指定測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)將入總線自環(huán)，并與出總線和接入總線都斷開；B2、測(cè)試設(shè)備對(duì)測(cè)試總線進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試總線短路時(shí)的線路參數(shù),例 如A線對(duì)地電阻、B線對(duì)地電阻、AB線間電阻、A線只于地電容、B線對(duì)地 電容、AB線間電容、線路衰減、線路長(zhǎng)度等；C、測(cè)試設(shè)備將測(cè)試總線開路與短路的線路參數(shù)保存到測(cè)試設(shè)備內(nèi)部的存 儲(chǔ)裝置中，當(dāng)測(cè)試設(shè)備在對(duì)用戶線路進(jìn)行測(cè)試后，就可以利用內(nèi)部存儲(chǔ)裝置保 存的測(cè)試總線開路與短路的線路參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正，在校正時(shí)，采用常 規(guī)的方法使用該參數(shù)進(jìn)行校正即可，例如用測(cè)量結(jié)果中的電容減去測(cè)試總線 的開路參數(shù)中的電容后，作為修正后的電容結(jié)果。由于在測(cè)試中入總線端口與出總線端口的電纜不能接反，因本發(fā)明實(shí)施例 還提供了 一種為了檢測(cè)入總線端口電纜與出總線端口的電纜是否接反的方法， 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
進(jìn)行說(shuō)明。圖8為測(cè)試線連接是否正確的判斷方法實(shí)施流程示意圖，應(yīng)用于在測(cè)試設(shè) 備對(duì)至少一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方 式進(jìn)行組網(wǎng)的測(cè)試系統(tǒng)中，接入節(jié)點(diǎn)間由測(cè)試線連接，測(cè)試線由第一線、第二 線構(gòu)成，也稱A、 B線時(shí)，如圖所示，可以包括如下步驟步驟801、獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線A、 B線的線間電阻；步驟802、才艮據(jù)A、 B線的線間電阻判斷測(cè)試線連4妄是否正確。具體實(shí)施中，先按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)，組網(wǎng)時(shí)可以如下將測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總線與第一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)入總線端口相連，第一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通 過(guò)測(cè)試線與下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口 通過(guò)測(cè)試線與再下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，依此類推； 接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)接入總線端口與用戶矩陣相連；步驟801在上述環(huán)境下，獲取每一接入節(jié)點(diǎn)短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)具體可以為 斷開需要獲取測(cè)量參數(shù)的接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口 、接入總線端口的連接，
通過(guò)入總線端口使測(cè)試線自環(huán)；利用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，獲取的測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；獲取測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線，即A、 B線的線間電阻。 實(shí)施中，可以根據(jù)所述A、 B線的線間電阻是否處于自混范圍來(lái)判斷測(cè)試 線連接是否正確。當(dāng)A、 B線的線間電阻處于自混范圍判斷測(cè)試線連接正確；當(dāng)A、 B線的 線間電阻不處于自混范圍則可判斷測(cè)試線連接4普誤。實(shí)施中自混范圍可以是指A、 B線的線間電阻小于2000歐姆的范圍。本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷系統(tǒng)，下面結(jié)合附 圖對(duì)判斷系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
進(jìn)行說(shuō)明。圖9為測(cè)試線連接是否正確的判斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，判斷系統(tǒng) 包括測(cè)試設(shè)備、至少一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)、測(cè)試線、獲取裝置、提取裝置、判斷裝置， 其結(jié)構(gòu)關(guān)系為測(cè)試設(shè)備對(duì)至少 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試，接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí) 聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)。獲取裝置與提取裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連；提取裝置，與判 斷裝置、獲取裝置相連，其工作關(guān)系可以為獲取裝置獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)；提取裝置從所述獲取裝置獲取 的測(cè)試參數(shù)中提取測(cè)試線的第一線、第二線，也即A、 B線的線間電阻；判斷 裝置根據(jù)所述提取裝置提取測(cè)試線A、 B線的線間電阻判斷測(cè)試線連接是否正 確。具體的，在按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)時(shí)，其結(jié)構(gòu)關(guān)系是測(cè)試設(shè)備的測(cè)試總線與第 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)入總線端口相連，第 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通過(guò)測(cè)試線與下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口通過(guò)測(cè) 試線與再下一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口相連，依次類推；接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)接入總線端口與用戶矩陣相連；
實(shí)施中，獲取裝置可以包括短路獲取模塊和開關(guān)^t塊，其中開關(guān)模塊，與接入節(jié)點(diǎn)相連，用于控制所連接的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線端口之間的連接與斷開；短路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)入總線端口^f吏測(cè)試線自環(huán)；觸發(fā) 所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的短路測(cè)量的測(cè)試 參數(shù)。判斷裝置可以包括第一判斷模塊、第二判斷模塊，其中 第一判斷模塊，用于在所述A、 B線的線間電阻處于自混范圍時(shí)，判斷測(cè) 試線連接正確；第二判斷模塊，用于在所述A、 B線的線間電阻不處于自混范圍時(shí)，判斷 測(cè)試線連接錯(cuò)誤。即為了檢測(cè)入總線端口電纜與出總線端口的電纜是否接反，根據(jù)測(cè)試設(shè) 備發(fā)送的命令控制指定測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)將入總線自環(huán)，并與接入總線和出總線斷 開；測(cè)試設(shè)備對(duì)測(cè)試總線進(jìn)行測(cè)試，得到線路的AB線間電阻；測(cè)試設(shè)備檢查 AB線間電阻是否處于自混范圍(小于2000歐姆)；如果AB線間電阻處于自混 范圍(小于2000歐姆)，則認(rèn)為電纜接法正確，否則認(rèn)為電纜接反。由上述實(shí)施例可知，本發(fā)明實(shí)施例提供了能夠自動(dòng)獲耳又測(cè)試總線開路與短 路時(shí)的總線線路參數(shù)，用于以后測(cè)量結(jié)果校準(zhǔn)的方案，還提供了自動(dòng)檢測(cè)測(cè)試 接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口電纜與出總線端口的電纜是否接反的方案。由于在測(cè)試 接入節(jié)點(diǎn)時(shí)采用了級(jí)聯(lián)方式接入到測(cè)試設(shè)備中，從而使得用于測(cè)試的電纜減少；由于提供了開路與短路時(shí)的測(cè)量參數(shù)用于校正，并且自動(dòng)獲取測(cè)試總線開 路與短路時(shí)的線路參數(shù)，在以后的測(cè)量中用于對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)，因而減少了測(cè)試接入節(jié)點(diǎn)的測(cè)試總線電纜對(duì)測(cè)試結(jié)果的誤差；所提供的自動(dòng)判斷電纜是否接反的方案中，通過(guò)獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè) 試參數(shù)中測(cè)試線的A、 B線的線間電阻；并根據(jù)A、 B線的線間電阻判斷測(cè)試
線連接是否正確，從而保證了測(cè)試中電纜連接的正確，進(jìn)一步增加了測(cè)量的可 靠性和準(zhǔn)確性。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā) 明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及 其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種測(cè)試總線參數(shù)的校正方法，其特征在于，包括如下步驟獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；根據(jù)所述測(cè)試參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。
2、 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述接入節(jié)點(diǎn)在開路時(shí)的測(cè) 試參數(shù)獲取具體為斷開所述接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線端口的連接，獲 取測(cè)試設(shè)備測(cè)試的測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)開路時(shí)的測(cè)試參數(shù)。
3、 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)的測(cè) 試參數(shù)獲取具體為斷開所述接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)接入總線端 口自環(huán)測(cè)試線，獲取測(cè)試設(shè)備測(cè)試的測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)短路時(shí)測(cè)試參 數(shù)。
4、 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，接入節(jié)點(diǎn)之間通過(guò)測(cè)試線連 接，其中測(cè)試線包括第一線、第二線；所述測(cè)試參數(shù)包括第一線對(duì)地電阻、第二線對(duì)地電阻、第一線與第二線間 的電阻、第一線對(duì)地電容、第二線對(duì)地電容、第一線與第二線間的電容、線鴻_ 衰減、線路長(zhǎng)度其中一個(gè)或者其組合。
5、 一種測(cè)試總線參數(shù)校正系統(tǒng)，其特征在于，包括測(cè)試設(shè)備、至少兩個(gè) 接入節(jié)點(diǎn)、測(cè)試線，還包括獲取裝置、校正裝置，其中測(cè)試設(shè)備對(duì)至少 一 個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試； 接入節(jié)點(diǎn)之間通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)；獲取裝置，與校正裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連，用于獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和 /或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；校正裝置，與獲取裝置、測(cè)試設(shè)備相連，用于利用所述獲取裝置獲取的測(cè) 試參數(shù)對(duì)所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。
6、 如權(quán)利要求5所述的校正系統(tǒng)，其特征在于，所述獲取裝置包括開路獲取模塊、和/或短路獲取模塊，以及開關(guān)模塊，其中開關(guān)模塊，與接入節(jié)點(diǎn)相連，用于控制所連接的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、 出總線端口、接入總線端口之間的連接與斷開；開路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的入總線端口、出總線端口、接入總線端口的連接，觸發(fā)所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行 測(cè)試后，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的開路測(cè)量的測(cè)試參數(shù)；短路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)入總線端口使測(cè)試線自環(huán)，觸發(fā) 所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試后，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的短路測(cè)量的測(cè) 試參數(shù)。
7、 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷方法，其特征在于，包括如下步驟 獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻； 根據(jù)所述第一線、第二線的線間電阻判斷測(cè)試線連接是否正確。
8、 如權(quán)利要求7所述的判斷方法，其特征在于， 所述獲取接入節(jié)點(diǎn)短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)具體為斷開所述接入節(jié)點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)入總線端口 使測(cè)試線自環(huán)；獲取測(cè)試設(shè)備測(cè)試的測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)； 獲取所述測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻。
9、 如權(quán)利要求7所述的判斷方法，其特征在于，根據(jù)所述第一線、第二 線的線間電阻是否處于自混范圍來(lái)判斷測(cè)試線連接是否正確。
10、 如權(quán)利要求8中所述的判斷方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一線、 第二線的線間電阻是否處于自混范圍來(lái)判斷測(cè)試線連接是否正確，具體為處于自混范圍則為連接正確，否則為連接錯(cuò)誤。
11、 如權(quán)利要求9所述的判斷方法，其特征在于，所述自混范圍指第一線、第二線的線間電阻小于2000歐姆。
12、 一種測(cè)試線連接是否正確的判斷系統(tǒng)，其特征在于，包括測(cè)試設(shè)備、 至少兩個(gè)接入節(jié)點(diǎn)、測(cè)試線，還包括獲取裝置、提取裝置、判斷裝置，其中測(cè)試設(shè)備對(duì)至少 一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試； 接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)；獲取裝置，與提取裝置、每一接入節(jié)點(diǎn)相連，用于獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí) 的測(cè)試參數(shù)；提取裝置，與判斷裝置相連，用于從所述獲取裝置獲取的測(cè)試參數(shù)中提取 測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻；判斷裝置，用于沖艮據(jù)所述4是^^裝置4是取的第一線、第二線的線間電阻判斷 測(cè)試線連接是否正確。
13、 如權(quán)利要求12所述的判斷系統(tǒng)，其特征在于，所述獲取裝置包括短 路獲取模塊和開關(guān)模塊，其中開關(guān)模塊，與接入節(jié)點(diǎn)相連，用于控制所連接的接入節(jié)點(diǎn)的入總線端口、 出總線端口、接入總線端口之間的連接與斷開；短路獲取模塊，用于控制所述開關(guān)模塊斷開需獲取所述測(cè)量參數(shù)的接入節(jié) 點(diǎn)的出總線端口、接入總線端口的連接，通過(guò)入總線端口使測(cè)試線自環(huán)；觸發(fā) 所述測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，獲取所述測(cè)試結(jié)果作為該接入節(jié)點(diǎn)的短路測(cè)量的測(cè)試 參數(shù)。
14、 如權(quán)利要求12所述的判斷系統(tǒng)，其特征在于，所述判斷裝置包括第 一判斷模塊、第二判斷模塊，其中第一判斷模塊，用于在所述第一線、第二線的線間電阻處于自混范圍時(shí)， 判斷測(cè)試線連接正確；第二判斷模塊，用于在所述第 一線、第二線的線間電阻不處于自混范圍時(shí)， 判斷測(cè)試線連接錯(cuò)誤。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用測(cè)試接入設(shè)備對(duì)總線的測(cè)量參數(shù)校正的方法及系統(tǒng)，以及測(cè)試線連接是否正確的判斷方法及系統(tǒng)。在測(cè)試設(shè)備對(duì)至少一個(gè)接入節(jié)點(diǎn)總線進(jìn)行測(cè)試，接入節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試線按照級(jí)聯(lián)方式進(jìn)行組網(wǎng)時(shí)，包括獲取接入節(jié)點(diǎn)在開路和/或短路時(shí)的測(cè)試參數(shù)；根據(jù)測(cè)試參數(shù)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行校正。另外，在測(cè)試線連接是否正確的判斷中，獲取接入節(jié)點(diǎn)在短路時(shí)測(cè)試參數(shù)中測(cè)試線的第一線、第二線的線間電阻；根據(jù)第一線、第二線的線間電阻判斷測(cè)試線連接是否正確。使用本發(fā)明，能大量減少用于測(cè)試的電纜，同時(shí)有效的減小了測(cè)試結(jié)果的誤差。能夠判斷測(cè)試線連接是否正確，保證了測(cè)試中電纜連接的正確。
文檔編號(hào)G01R31/08GK101118272SQ20071014595
公開日2008年2月6日 申請(qǐng)日期2007年9月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月7日
發(fā)明者徐瑞林 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司