專利名稱：集成電路元件測(cè)試插座、插座基板、測(cè)試機(jī)及其制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路元件測(cè)試設(shè)備及其制作方法，尤其涉及其中 的集成電路元件測(cè)試插座者。
背景技術(shù)：
一般集成電路元件在進(jìn)行終端測(cè)試(Final Test)時(shí)，集成電路元件的電 性接點(diǎn)或接腳需要與測(cè)試插座(Socket)中的探針做壓合的動(dòng)作。因此，測(cè) 試信號(hào)可通過(guò)探針傳至測(cè)試臺(tái)(Tester)而判讀集成電路元件的好壞。公知所 使用的測(cè)試插座(Socket)，其探針嵌在插座基底而呈懸臂狀，測(cè)試時(shí)，極 容易因集成電路元件置入測(cè)試插座時(shí)刮除集成電路元件腳位或焊點(diǎn)上的 焊錫而導(dǎo)致使用壽命(Life Time)與合格率(Yidd)下降以及探針損傷，同時(shí)， 因探針?lè)e蓄過(guò)多刮落的焊錫亦造成集成電路元件卡料現(xiàn)象。為了解決此問(wèn) 題，己有技術(shù)TW447178披露了一種非懸臂式的彈簧探針(pogo pin)結(jié)構(gòu)， TW539128中披露一種以彈簧探針為基礎(chǔ)的測(cè)試插座，TW485243披露一 種以彈簧探針為基礎(chǔ)的插座基板。前述的已有技術(shù)雖然改善了懸臂式探針 的不利，然而卻仍未解決當(dāng)集成電路元件放入測(cè)試插座時(shí)若方位偏差而造 成的探針損傷與卡料問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種集成電路元件測(cè)試插座(Socket)， 包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部設(shè)有多個(gè)彈 性接觸端子。另外，定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，此定位導(dǎo)持承座具 有中央開(kāi)口，用以接受并導(dǎo)正待測(cè)的集成電路元件的方位，在此中央開(kāi)口 的底部形成有多個(gè)容許彈性接觸端子穿出的端子孔。而且，另有鎖合元件
與彈性保持元件，將定位導(dǎo)持承座限制于凹陷部活動(dòng)。
因此，本發(fā)明的主要目的是提供一種集成電路元件測(cè)試插座，可導(dǎo)正 待測(cè)的集成電路元件的方位以有效解決刮錫問(wèn)題，且進(jìn)一步地增加彈性接 觸端子的使用壽命。
本發(fā)明的次要目的是提供一種集成電路元件測(cè)試插座，可有效增加測(cè) 試上的穩(wěn)定性，且更可以提升測(cè)試插座的使用壽命。
本發(fā)明的另一目的是提供一種插座基板，其設(shè)置有集成電路元件測(cè)試 插座，可導(dǎo)正待測(cè)的集成電路元件的方位以有效解決刮錫問(wèn)題，且進(jìn)一步 地增加彈性接觸端子的使用壽命。
本發(fā)明的另一 目的是提供一種插座基板，其設(shè)置有集成電路元件測(cè)試 插座，可有效增加測(cè)試上的穩(wěn)定性，且更可以提升測(cè)試插座的使用壽命。
本發(fā)明的另 一 目的是提供一種集成電路元件測(cè)試機(jī)，其設(shè)置有集成電 路元件測(cè)試插座，可有效解決刮錫問(wèn)題，且進(jìn)一步地增加彈性接觸端子的 使用壽命。
本發(fā)明的另一 目的是提供一種集成電路元件測(cè)試機(jī)，其設(shè)置有集成電 路元件測(cè)試插座，可有效增加測(cè)試上的穩(wěn)定性，且更可以提升測(cè)試插座的 使用壽命。
本發(fā)明的另一目的是提供一種集成電路元件測(cè)試插座的制作方法，此 集成電路元件測(cè)試插座可導(dǎo)正待測(cè)的集成電路元件的方位以有效解決刮 錫問(wèn)題，且進(jìn)一步地增加彈性接觸端子的使用壽命。
本發(fā)明的另一目的是提供一種集成電路元件測(cè)試插座的制作方法，集 成電路元件測(cè)試插座可有效增加測(cè)試上的穩(wěn)定性，且更可以提升測(cè)試插座 的使用壽命。


圖1是根據(jù)本發(fā)明所提出的第一實(shí)施例的一種集成電路元件測(cè)試插座 的示意圖。
圖2A是根據(jù)本發(fā)明所提出的第二實(shí)施例的另一種集成電路元件測(cè)試 插座的示意圖。
圖2B是根據(jù)本發(fā)明所提出的第二實(shí)施例的一種由至少一個(gè)導(dǎo)持元件 所組配而成的定位導(dǎo)持承座組成的示意圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明所提出的第三實(shí)施例的另一種集成電路元件測(cè)試插 座的示意圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明所提出的第四實(shí)施例的一種插座基板的示意圖。
圖5是根據(jù)本發(fā)明所提出的第五實(shí)施例的一種集成電路元件測(cè)試機(jī)的 示意圖。
主要元件標(biāo)記說(shuō)明
集成電路元件測(cè)試插座20、 30、40
插座本體21、 31、41
凹陷部211、 411
彈性接觸端子2111
定位導(dǎo)持承座22、 32、42
中央開(kāi)口221、
肩部222
螺栓231
螺孔232
定位導(dǎo)持元件321
端子孔2211
鎖合元件23、 33、43
彈性保持元件24、 34、44
定位導(dǎo)持承座組成32
導(dǎo)持元件 321
插座基板 500
集成電路元件測(cè)試機(jī) 600
分類機(jī) 601
測(cè)試臺(tái) 60具體實(shí)施例方式
由于本發(fā)明主要披露一種集成電路元件測(cè)試插座，其中所利用的集成 電路元件測(cè)試基本原理，已為所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員所能明了，故以下 文中的說(shuō)明，不再作完整描述。同時(shí)，以下文中所對(duì)照的附圖，是表達(dá)與 本發(fā)明特征有關(guān)的結(jié)構(gòu)示意圖，并未亦不需要依據(jù)實(shí)際尺寸完整繪制，盍 先敘明。
首先請(qǐng)參照?qǐng)D1，本發(fā)明所提供的第一較佳實(shí)施例，為一種集成電路 元件測(cè)試插座20 ，主要包含有插座本體21、定位導(dǎo)持承座22、鎖合元件 23和彈性保持元件24。插座本體21鄰近中央部位形成有一凹陷部211， 凹陷部211內(nèi)設(shè)有多個(gè)彈性接觸端子2111，并且凹陷部211內(nèi)可以容設(shè)此 定位導(dǎo)持承座22。定位導(dǎo)持承座22將受測(cè)的集成電路元件導(dǎo)正并予以適 當(dāng)定位，以避免方位不正的集成電路元件損傷彈性接觸端子2111或產(chǎn)生 錯(cuò)誤的測(cè)試結(jié)果。定位導(dǎo)持承座22具有中央開(kāi)口 221，用以接收集成電路 元件，在中央開(kāi)口 221的底部形成有多個(gè)容許彈性接觸端子2111穿出的 端子孔2211。另外，有鎖合元件23和彈性保持元件24，可以將定位導(dǎo)持 承座22限制于凹陷部211活動(dòng)。
上述的實(shí)施例中，鎖合元件23為多個(gè)螺栓231與插座本體21配合的 多個(gè)螺孔232，螺孔232可設(shè)于凹陷部211的底部，或設(shè)于鄰近于凹陷部 211與插座本體21的交界處。鎖合元件23鎖合時(shí)，定位導(dǎo)持承座22并未 完全貼合于凹陷部211，其間設(shè)有適當(dāng)?shù)拈g隙，可容許定位導(dǎo)持承座22 有微量的位移。另外，在定位導(dǎo)持承座22上，也可設(shè)有多個(gè)通孔(圖中未 示出)供螺栓231穿設(shè)后，鎖合于插座本體21的螺孔232。為了使集成電
路元件測(cè)試插座20的體積控制在某一設(shè)定的范圍，不要過(guò)于龐大，定位 導(dǎo)持承座22可進(jìn)一步凹設(shè)有肩部222供螺栓231頭部抵靠之。上述的肩 部222可設(shè)置于設(shè)置于定位導(dǎo)持承座22的四邊外墻處，或設(shè)置于通孔處 (圖中未示出)。
再者，在上述的實(shí)施例中，定位導(dǎo)持承座22的多個(gè)端子孔2211和多 個(gè)彈性接觸端子2111之間設(shè)有適當(dāng)?shù)拈g隙，因此可容許彈性接觸端子2111 在橫向的微量位移，以保護(hù)端子。
另外，在上述的實(shí)施例中，插座本體21的凹陷部211與定位導(dǎo)持承 座22呈近似的四邊形，以將定位導(dǎo)持承座22收容于凹陷部211內(nèi)。而定 位導(dǎo)持承座22的中央開(kāi)口部221形狀則可配合受測(cè)的集成電路元件的形 狀而設(shè)計(jì)。
另外，在上述的實(shí)施例中，多個(gè)彈性接觸端子2111可視需要排列于 插座本體21凹陷部211的底部四邊、底部?jī)蓪?duì)邊或底部?jī)舌忂叄岳?不同類型的集成電路元件的測(cè)試。相對(duì)地，在定位導(dǎo)持承座22的中央開(kāi) 口部221，對(duì)應(yīng)在插座本體21凹陷部211的底部四邊、底部?jī)蓪?duì)邊或底部 兩鄰邊的多個(gè)彈性接觸端子2111，亦設(shè)有多個(gè)端子孔2211。此外，多個(gè) 彈性接觸端子2111可選擇彈簧探針為宜，與集成電路元件接觸時(shí)，端子 兩端可沿著軸向伸縮運(yùn)動(dòng)。
上述的實(shí)施例中，彈性保持元件24容設(shè)于凹陷部211與定位導(dǎo)持承 座22之間，當(dāng)受測(cè)的集成電路元件置入定位導(dǎo)持承座22內(nèi)，可提供緩沖 作用避免彈性接觸端子2111或集成電路元件因撞擊而損壞，同時(shí)提供彈 性保持力，使定位導(dǎo)持承座22定位于適當(dāng)?shù)奈恢?。彈性保持元?4可以 為多個(gè)螺旋彈簧、或橡膠墊，或具有類似彈性的元件皆可。凹陷部可進(jìn)一 步設(shè)置適當(dāng)數(shù)量的容置孔212用以收容上述彈性保持元件24，此容置孔 212亦可依需要設(shè)置于配合的定位導(dǎo)持承座22的底面。
請(qǐng)參照?qǐng)D2A與2B，本發(fā)明進(jìn)一步提供第二較佳實(shí)施例，為另一種集 成電路元件測(cè)試插座30。此集成電路元件測(cè)試插座30的插座本體31、鎖 合元件33和彈性保持元件34的特征主要如前述第一實(shí)施例所述，然而其
定位導(dǎo)持承座32是由多個(gè)導(dǎo)持元件321所組配而成的，因此可提供更佳 的方位微調(diào)效果，在本實(shí)施例使用2個(gè)導(dǎo)持元件321。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，本發(fā)明進(jìn)一步提供第三較佳實(shí)施例，為另一種集成電路 元件測(cè)試插座40 ，其插座本體41形成有多個(gè)凹陷部411，用以容設(shè)多個(gè) 定位導(dǎo)持承座42，故可同時(shí)執(zhí)行大量與批次的集成電路元件測(cè)試作業(yè)。其 中的凹陷部411、定位導(dǎo)持承座42、鎖合元件43和彈性保持元件44的特 征主要如前述的第一實(shí)施例或第二實(shí)施例所述。
請(qǐng)參照?qǐng)D4，本發(fā)明進(jìn)一步提供第四較佳實(shí)施例，為一種插座基板500， 主要包含有至少一個(gè)集成電路元件測(cè)試插座，例如2個(gè)、4個(gè)、6個(gè)、8 個(gè)、12個(gè)或16個(gè)，目的在同一時(shí)間對(duì)多個(gè)集成電路元件進(jìn)行測(cè)試。而此 集成電路元件測(cè)試插座的特征主要如前述第一較佳實(shí)施例的集成電路元 件測(cè)試插座20所述；亦可以如第二較佳實(shí)施例的集成電路元件測(cè)試插座 30所述，集成電路元件測(cè)試插座30的定位導(dǎo)持承座32是由多個(gè)導(dǎo)持元件 321所組配而成；亦可以如第三較佳實(shí)施例的集成電路元件測(cè)試插座40 所述，其插座本體41形成有多個(gè)凹陷部411，用以容設(shè)多個(gè)定位導(dǎo)持承座 42。
請(qǐng)參照?qǐng)D5，本發(fā)明進(jìn)一步提供第五較佳實(shí)施例，為一種集成電路元 件測(cè)試機(jī)600，主要包含有分類機(jī)601(Handler)和測(cè)試臺(tái)602。更進(jìn)一步地， 測(cè)試臺(tái)602容設(shè)有至少一個(gè)插座基板500，此插座基板500的特征如前述 的第四較佳實(shí)施例所述。
本發(fā)明進(jìn)一步提供第六較佳實(shí)施例，為一種集成電路元件測(cè)試插座制 作方法，可用于制作集成電路元件測(cè)試插座20或集成電路元件測(cè)試插座 30，其步驟包含有
提供插座本體，其鄰近中央部位形成有凹陷部；
提供多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于插座本體的凹陷部；
提供定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于插座本體的凹陷部，定位導(dǎo)持承座具有中 央開(kāi)口，中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許彈性接觸端子穿出的端子孔；以 及
提供鎖合元件與彈性保持元件，將定位導(dǎo)持承座限制于插座本體。
上述的實(shí)施例中，插座本體、定位導(dǎo)持承座、鎖合元件和彈性保持元 件的特征主要如前述的第一較佳實(shí)施例或第二較佳實(shí)施例所述。
本發(fā)明進(jìn)一步提供第七較佳實(shí)施例，為一種集成電路元件測(cè)試插座40 的制作方法，其步驟包含有
提供插座本體41，此插座本體41形成有多個(gè)凹陷部411，而且在插 座本體多個(gè)凹陷部411內(nèi)設(shè)有多個(gè)彈性接觸端子，并且可以容設(shè)多個(gè)定位 導(dǎo)持承座42;
提供多個(gè)定位導(dǎo)持承座42，各定位導(dǎo)持承座42具有中央開(kāi)口，在中 央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許彈性接觸端子穿出的端子孔；以及
提供多個(gè)鎖合元件43與多個(gè)彈性保持元件44將多個(gè)定位導(dǎo)持承座42 固設(shè)于插座本體41。
上述的實(shí)施例中，插座本體41、定位導(dǎo)持承座42、鎖合元件43與彈 性保持元件44的特征主要如前述的第三較佳實(shí)施例所述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非用以限定本發(fā)明的權(quán)利范 圍；同時(shí)以上的描述，對(duì)于所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)可明了及實(shí)施，因 此其它未脫離本發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含 在權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1.一種集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于至少包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于該凹陷部；定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，該定位導(dǎo)持承座具有中央開(kāi)口以容置受測(cè)的集成電路元件，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及至少一個(gè)鎖合元件與至少一個(gè)彈性保持元件，將該定位導(dǎo)持承座限制于該凹陷部?jī)?nèi)活動(dòng)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于該鎖合 元件為多個(gè)螺栓與該插座本體對(duì)應(yīng)的多個(gè)螺孔。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于該定位 導(dǎo)持承座進(jìn)一步凹設(shè)有肩部供螺栓頭抵靠之。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于該定 位導(dǎo)持承座由多個(gè)導(dǎo)持元件所組配而成。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于上述 這些端子孔排列于定位導(dǎo)持承座的中央開(kāi)口部的底部四邊、底部?jī)蓪?duì)邊或 底部?jī)舌忂?，同時(shí)上述這些彈性接觸端子排列于該凹陷部的底部四邊、底 部?jī)蓪?duì)邊或底部?jī)舌忂叄疑鲜鲞@些彈性接觸端子的兩端可沿著軸向伸 縮。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于該彈 性保持元件為多個(gè)彈簧，同時(shí)上述這些彈簧容設(shè)于該凹陷部與該定位導(dǎo)持 承座之間。
7. —種集成電路元件測(cè)試插座，其特征在于包含插座本體，形成有多個(gè)凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于上述這些凹陷部； 多個(gè)定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于上述這些凹陷部，各定位導(dǎo)持承座具有中 央開(kāi)口，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的 端子孔；以及多個(gè)鎖合元件與多個(gè)彈性保持元件，將上述這些定位導(dǎo)持承座限制于 上述這些凹陷部活動(dòng)。
8. —種插座基板，主要包含有至少一個(gè)集成電路元件測(cè)試插座，其 特征在于該集成電路元件測(cè)試插座包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于該凹陷部；定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，該定位導(dǎo)持承座具有中央開(kāi)口，該 中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及至少一個(gè)鎖合元件與至少一個(gè)彈性保持元件，將該定位導(dǎo)持承座限制 于該凹陷部?jī)?nèi)活動(dòng)。
9. 一種插座基板，主要包含有至少一個(gè)集成電路元件測(cè)試插座，其 特征在于該集成電路元件測(cè)試插座包含 插座本體，形成有多個(gè)凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于上述這些凹陷部；多個(gè)定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于上述這些凹陷部，各定位導(dǎo)持承座具有中 央開(kāi)口 ，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的 端子孔；以及多個(gè)鎖合元件與多個(gè)彈性保持元件，將上述這些定位導(dǎo)持承座限制于 上述這些凹陷部活動(dòng)。
10. —種集成電路元件測(cè)試機(jī)，主要包含有分類機(jī)和測(cè)試臺(tái)，該測(cè)試 臺(tái)容設(shè)有插座基板，該插座基板包含有至少一個(gè)集成電路元件測(cè)試插座， 其特征在于-該集成電路元件測(cè)試插座包含 插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于該凹陷部；定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，該定位導(dǎo)持承座具有中央開(kāi)口，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以 及至少一個(gè)鎖合元件與至少一個(gè)彈性保持元件，將該定位導(dǎo)持承座限制 于該凹陷部?jī)?nèi)活動(dòng)。
11. 一種集成電路元件測(cè)試機(jī)，主要包含有分類機(jī)和測(cè)試臺(tái)，該測(cè)試 臺(tái)容設(shè)有插座基板，該插座基板包含有至少一個(gè)集成電路元件測(cè)試插座， 其特征在于該集成電路元件測(cè)試插座包含 插座本體，形成有多個(gè)凹陷部；多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于上述這些凹陷部；多個(gè)定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于上述這些凹陷部，各定位導(dǎo)持承座具有中 央開(kāi)口，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及多個(gè)鎖合元件與多個(gè)彈性保持元件，將上述這些定位導(dǎo)持承座限制于 上述這些凹陷部活動(dòng)。
12. —種集成電路元件測(cè)試插座的制作方法，其特征在于包含有 提供插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部； 提供多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于該凹陷部；提供定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，該定位導(dǎo)持承座具有中央開(kāi)口， 該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許該彈性接觸端子穿出的端子孔；以及提供至少一個(gè)鎖合元件與至少一個(gè)彈性保持元件，將該定位導(dǎo)持承座 限制于該凹陷部?jī)?nèi)活動(dòng)。
13. —種集成電路元件測(cè)試插座的制作方法，其特征在于包含 提供插座本體，形成有多個(gè)凹陷部； 提供多個(gè)彈性接觸端子，設(shè)于上述這些凹陷部；提供多個(gè)定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于上述這些凹陷部，各定位導(dǎo)持承座具 有中央開(kāi)口，該中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許該彈性接觸端子穿出的端 子孔；以及提供多個(gè)鎖合元件與多個(gè)彈性保持元件，將上述這些定位導(dǎo)持承座限 制于上述這些凹陷部活動(dòng)。
全文摘要
本發(fā)明披露一種集成電路元件測(cè)試插座(Socket)、插座基板(socketboard)、測(cè)試機(jī)(tester)及其制作方法，其中的測(cè)試插座包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部設(shè)有多個(gè)彈性接觸端子。另外，定位導(dǎo)持承座，容設(shè)于該凹陷部，此定位導(dǎo)持承座具有中央開(kāi)口，用以接受并導(dǎo)正待測(cè)的集成電路元件的方位，在此中央開(kāi)口的底部形成有多個(gè)容許彈性接觸端子穿出的端子孔。而且，另有鎖合元件與彈性保持元件，將定位導(dǎo)持承座限制于凹陷部活動(dòng)。
文檔編號(hào)G01R1/06GK101363873SQ20071014018
公開(kāi)日2009年2月11日 申請(qǐng)日期2007年8月8日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月8日
發(fā)明者朱華正, 溫進(jìn)光 申請(qǐng)人:京元電子股份有限公司