專利名稱：光學(xué)裂紋粒挑選器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)裂紋粒挑選器，其能夠光學(xué)地從諸如糙米、精白米等原料稻谷中確定和挑選出可去除的裂紋粒。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)上，已知光學(xué)裂紋粒挑選器裝置光學(xué)地檢測和挑選具有一個或多個穿入顆粒內(nèi)部的裂紋的米粒(之后稱為“裂紋?！保癱racked grain”)，例如JP2005-265519A和JP 3642172B中公開的。通常，上述米粒中的裂紋沿著基本上垂直于米?？v向方向的方向上延伸。如圖10中的實例所示，一種傳統(tǒng)的光學(xué)裂紋粒挑選器100包括斜槽200，用于向下傾倒原料米粒；和，光學(xué)檢測裝置300和挑選裝置400，設(shè)置在接近斜槽200的底端位于沿原料米粒下降的向下軌跡G位置上。光學(xué)檢測裝置300具有發(fā)射器300a，設(shè)置在下降軌跡G的一側(cè)上，其朝向下降軌跡G上的光學(xué)檢測位置P發(fā)射近直線的激光光束；和CCD(電荷耦合器件)攝像機300b，設(shè)置在下降軌跡G的另一側(cè)上，用于檢測光學(xué)檢測位置P處的光。這種光學(xué)裂紋粒挑選器100把原料米粒沿斜槽200向下送出，并在它們通過下降軌跡G上的光學(xué)檢測點P時用光學(xué)檢測裝置300照射原料米粒，以便使用CCD攝像機300b拍攝穿過顆粒的光，并且使用單獨設(shè)置的裂紋粒識別裝置500處理信號并根據(jù)接收到的光數(shù)據(jù)識別裂紋粒，以及使用挑選裝置400挑選出識別的裂紋粒以去除。
然而，以上描述的光學(xué)裂紋粒挑選器100具有下述的問題。特別是，裂紋粒識別裝置500根據(jù)接收的光數(shù)據(jù)識別每個米粒的總體圖像(總體視覺圖像)，并且，每當在這樣識別的每個顆粒的圖像中檢測到對應(yīng)于裂紋的數(shù)據(jù)的線性暗影時識別裂紋粒。但是，每個米粒都具有胚芽部分，有時外表也會出現(xiàn)表面裂紋(之后稱為“劃痕(scratches)”)，而眾所周知的，胚芽部和劃痕是會不利地影響識別裂紋粒時的識別精確性的。換句話說，當米粒中存在胚芽部和劃痕時，它們表現(xiàn)為暗影，就像裂紋一樣，由于此原因，沒有裂紋的正常顆粒會被錯誤地識別為裂紋粒，導(dǎo)致生產(chǎn)率下降。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種光學(xué)裂紋粒挑選器，光學(xué)地識別原料米粒中混雜的裂紋粒時，不會由于存在胚芽部和/或表面劃痕而錯誤地將沒有裂紋的正常顆粒識別為裂紋粒。
本發(fā)明的一種光學(xué)裂紋粒挑選器從多個米粒中挑選裂紋粒。該光學(xué)裂紋粒挑選器包括傳送裝置，用于傳送按多個行排列的米粒；光學(xué)檢測裝置，包括發(fā)光部，用于向從傳送裝置噴射的米粒的運動軌跡上的光檢測位置發(fā)射平面光束，和攝像機，用于檢測光檢測位置上通過每個米粒的光，該發(fā)光部包括第一色光發(fā)射器和第二色光發(fā)射器，分別用于發(fā)射不同波長的第一色光和第二色光，該第一色光發(fā)射器包括一對發(fā)光單元，該一對發(fā)光單元設(shè)置使得其光軸和攝像機光軸之間形成基本相同的內(nèi)角，或者包括設(shè)置在攝像機的光軸上的單個發(fā)光單元，該第二色光發(fā)射器包括光軸設(shè)置成與攝像機的光軸不一致的單個發(fā)光單元，該攝像機設(shè)置來使得在光檢測位置上其光軸與米粒運動軌跡基本垂直并具有分別用于接收第一色光和第二色光的第一光接收部和第二光接收部；裂紋粒確定裝置，用于通過根據(jù)攝像機的第一光接收部和第二光接收部接收的光檢測每個米粒中的裂紋來確定米粒中的裂紋粒；以及，挑選/分離裝置，用于挑選并分離由裂紋粒確定裝置確定出的裂紋粒。
該第一色光和第二色光包括波長為600nm-710nm的紅光、波長為500nm-580nm的綠光、和波長為420nm-520nm的藍光中的兩種。
該第一色光發(fā)射器的一對發(fā)光單元的各自的光軸和所述攝像機光軸之間形成的內(nèi)角不大于70度。
第一色光發(fā)射器的一對發(fā)光單元可以設(shè)置為相對于包含攝像機光軸的平面對稱。
第一色光發(fā)射器和第二色光發(fā)射器可以由發(fā)光二極管構(gòu)成。
攝像機的第一光接收部和第二光接收部分別可以包括分開設(shè)置的第一CCD傳感器和第二CCD傳感器。
第一CCD傳感器和第二CCD傳感器可以是彩色CCD線傳感器，并且攝像機設(shè)置有光散射裝置，用于將光檢測位置處通過米粒的光散射為第一色和第二色，以輸入到相應(yīng)的彩色CCD線傳感器中。
裂紋粒確定裝置可以分別根據(jù)第一光接收部接收的光和第二光接收部接收的光生成每個米粒的第一圖像和第二圖像，可以根據(jù)第一圖像和第二圖像的光量差檢測每個米粒中的裂紋。
根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器，裂紋確定裝置上安裝的識別單元根據(jù)由CCD攝像機中構(gòu)造的第一CCD檢測的通過米粒的光形成顯示裂紋、胚芽部和劃痕的第一米粒圖像，并根據(jù)由CCD攝像機中構(gòu)造的第二CCD檢測的通過顆粒的光形成顯示胚芽部和劃痕的第二米粒圖像，通過計算該兩個圖像之間光量的差消除胚芽部和劃痕的圖像并獲取(識別)只顯示裂紋的裂紋圖像，并且根據(jù)裂紋圖像確定該顆粒是否是裂紋粒。由此，當識別裂紋粒時，不會由于胚芽部和劃痕的圖像影像而將沒有裂紋的正常顆粒誤識別為裂紋粒，因此可以正確挑選出去除的裂紋粒，從而改善成品收率。


圖1是本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器的垂直側(cè)剖圖；圖2是本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器主要部件的放大圖；圖3a和3b是本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器的斜槽的剖視圖；圖4是本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器的CCD攝像機內(nèi)部的示意結(jié)構(gòu)圖；圖5是本發(fā)明光學(xué)裂紋粒挑選器的裂紋確定裝置框圖；圖6a和6b是通過本發(fā)明光學(xué)裂紋粒挑選器的操作獲得的第一米粒圖像和第二米粒圖像；圖7示出了本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器操作中從第一米粒圖像中減去第二米粒圖像的過程；圖8a-8e詳細示出了圖7所示的減去過程；圖9示出了本發(fā)明第一色發(fā)射器的變形；圖10示出了傳統(tǒng)光學(xué)裂紋粒挑選器的垂直側(cè)剖圖。
具體實施例方式
現(xiàn)將參考附圖給出本發(fā)明較佳實施例的詳細描述。
圖1是本發(fā)明的光學(xué)裂紋粒挑選器1的垂直側(cè)剖圖。圖2是光學(xué)裂紋粒挑選器1主要部件的放大圖。光學(xué)裂紋粒挑選器1包括容納原料米粒K的原料槽2，用于將原料槽2中排出的原料顆粒連續(xù)送到之后描述的斜槽3的振動進料器4，以及向下傾斜的斜槽3。在本實施例中，斜槽3的向下傾斜的角度是45度。斜槽3的傾斜面上形成了多個沿向下方向上的相鄰凹槽，以使每個原料米K的顆粒沿其較長方向排列，并能向下傾倒米(見圖3a)。在本實施例中，凹槽3a的寬度W對應(yīng)米粒K的寬度，或者為3.3毫米。光學(xué)檢測裝置6和挑選裝置6a依次沿稻谷下降軌跡G設(shè)置在斜槽3的底部附近。
光學(xué)檢測裝置6包括位于米粒下降軌跡G的光檢測點P一側(cè)的光發(fā)射器7，，以及位于另一側(cè)的CCD攝像機8(見圖2)。光發(fā)射器7包括第一色光發(fā)射器9，其朝向光檢測點P發(fā)射第一色彩(本實施例中為綠光)的光，以及第二色光發(fā)射器10，其發(fā)射不同于第一色光發(fā)射器9的色彩的光(本實施例中為紅光)。第一色光發(fā)射器9包括設(shè)置在CCD攝像機8光軸11一側(cè)的一個光發(fā)射器12，和設(shè)置在CCD攝像機8光軸11另一側(cè)的另一光發(fā)射器13。光發(fā)射器12和另一光發(fā)射器13設(shè)置為使得一方面光發(fā)射器12的光軸(光路)12a和CCD攝像機8的光軸11形成的內(nèi)角α1與另一方面光發(fā)射器13的光軸(光路)13a和CCD攝像機8的光軸11形成的內(nèi)角α2基本上相同。本實施例中，內(nèi)角α1和內(nèi)角α2都為25度。應(yīng)當注意，即使由于CCD攝像機8和光發(fā)射器7安裝中的定位誤差而導(dǎo)致內(nèi)角α1，α2稍微不同，內(nèi)角α1和內(nèi)角α2都在以上描述的基本相同的角度范圍內(nèi)。同時，第二色光發(fā)射器10定位為使得第二色光發(fā)射器10的光軸10a與攝像機8的光軸11不一致。
形成第一色光發(fā)射器9的光發(fā)射器12和另一光發(fā)射器13，以及第二色光發(fā)射器10，每個都能向光檢測點P發(fā)射定向光。盡管例如可以使用線激光發(fā)射器作為這些光發(fā)射器，但是更優(yōu)選使用LED(發(fā)光二極管)用于該目的，因為其發(fā)射的光只有很小的橫向差別。在使用LED時，每個光發(fā)射器都包括如圖2所示的LED元件13b和聚光透鏡13c，其中LED元件13b發(fā)射的光被聚光透鏡13c匯聚成如圖2所示的虛線表示，從而按直線向光檢測點P發(fā)射。
使用LED的第一色光發(fā)射器9使用500nm至580nm的綠光，本實施例中使用的該LED元件具有520nm的中心波長和50nm的半寬。同樣使用LED的第二色光發(fā)射器10使用600nm至710nm的紅光，本實施例中使用的該LED元件具有630nm的中心波長和18nm的半寬。應(yīng)當注意，在本實施例中，按照如上所述，只要第一色光發(fā)射器9和第二色光發(fā)射器10發(fā)射彼此不同色彩的光就足夠了。因此，除了如上所述在本實施例中使用綠光和紅光的組合，還可以使用400nm至520nm波長的藍光的組合。之后描述將第一色光發(fā)射器9和第二色光發(fā)射器10的光量的調(diào)整。
在CCD攝像機8的內(nèi)部，如圖2和4所示，按照光進入CCD攝像機8的方向順序，設(shè)置了二向棱鏡(分光裝置)15、彩色CCD線傳感器(第一CCD傳感器)16和另一彩色CCD線傳感器(第二線傳感器)17。從通過光檢測點P處米谷K的光中由二向棱鏡(分光裝置)15的分光作用產(chǎn)生的紅光通過彩色CCD線傳感器16來檢測，而從通過光檢測點P處米粒K的光中由二向棱鏡(分光裝置)15的分光作用產(chǎn)生的綠光通過彩色CCD線傳感器17來檢測。彩色CCD線傳感器16和17每個都連接到裂紋確定裝置18，從而將與檢測到的通過米粒的光有關(guān)的數(shù)據(jù)(以電信號的形式)發(fā)送到裂紋確定裝置18。
彩色CCD線傳感器16和17，如圖3b示意性表示，都包括成線(單一橫線)連接的多個光接收部，利用分配到斜槽3的多個凹槽(通道)的每個凹槽中的多個光接收部，使得能夠接收從經(jīng)凹槽通道3a下落的米粒K通過的光。另外，通過將透鏡14、二向棱鏡15、彩色CCD線傳感器16和彩色CCD線傳感器17集成在單個單元中，以透過相同米粒K后檢測到的兩種不同顏色的光為基礎(chǔ)形成的米粒的兩個圖像之間沒有差別。
本實施例的挑選裝置6a為高壓噴氣裝置6a，用于像氣槍一樣形成高壓氣流。但是，作為替代，也可以將使用螺線管的彈簧承載機構(gòu)用作挑選裝置6a。高壓噴氣裝置6a提供有噴嘴6b，在噴嘴6b中，多個噴氣部件6c按照一個噴氣部件6c與每個凹槽(通道)3a對準的方式連接(見圖3b)，從而向在光檢測點P之下的位置的米粒的下落軌跡G噴射高壓氣體。噴嘴6b的噴氣部件6c每個都通過管道連接的方式連接到螺線管閥，每個螺線管閥都與高壓氣源相通。螺線管閥都連接到噴射閥驅(qū)動裝置25，并在接收到來自噴射閥驅(qū)動裝置25的噴氣信號后立即打開和關(guān)閉，由此像氣槍一樣通過快速噴射高壓氣將不合適的顆粒從下降軌跡G中移除。
如圖5所示，裂紋確定裝置18包括連接到構(gòu)造于CCD攝像機8內(nèi)部的每個彩色CCD線傳感器16和17的輸入/輸出電路(I/O)19，連接到輸入/輸出電路19的圖像處理電路20，連接到圖像處理電路20的中央處理單元(CPU)21和讀/寫存儲器(RAM)22，連接到中央處理單元21的只讀存儲器(ROM)23，和另一輸入/輸出電路(I/O)24。另外，輸入/輸出電路24連接到噴射閥驅(qū)動裝置25。本實施例中，識別單元18a表示圖像處理單元20、中央處理單元21、讀/寫存儲器22和只讀存儲器23。
接下來，描述本發(fā)明的操作。
原料米粒K通過作為傳送裝置5的振動進料器4的振動連續(xù)從原料槽2供給斜槽3的上游端部。供給斜槽3的原料米粒K進入凹槽3a，并在米粒方向(定向)伸直時被向下排到該端部，使得米粒沿它們的縱向排列。由此排出的原料米粒K在上述的定向上沿下落軌跡G下落，并在它們通過關(guān)檢測點P時通過一直發(fā)光的第一色光發(fā)射器9發(fā)射的綠光和第二色光發(fā)射器10發(fā)射的紅光進行照射。
CCD攝像機8檢測從在光檢測點P處以綠光和紅光照射的顆粒K通過的光。所透過的光隨后在通過CCD攝像機8的透鏡14后由二向棱鏡15分為綠光和紅光。綠色透過光由彩色CCD線傳感器17掃描(接收)，紅色透過光由彩色CCD線傳感器16掃描(接收)。
彩色CCD線傳感器16掃描的接收光信號(紅色)通過裂紋確定裝置18的I/O 19連續(xù)發(fā)送到圖像處理電路20。圖像處理電路20根據(jù)檢測到的通過米粒的紅光形成光檢測點P處米粒的圖像。以從米粒通過的紅光為基礎(chǔ)生成的顆粒圖像成為圖6a所示的第一顆粒圖像，其中示出了米粒的整體形狀中的裂紋、胚芽部和劃痕。這些第一米粒圖像連續(xù)存儲在RAM22中。
對比地，彩色CCD線傳感器17掃描的接收光信號(綠色)通過裂紋確定裝置18的I/O19連續(xù)發(fā)送到圖像處理電路20。圖像處理電路20根據(jù)檢測到的通過米粒的綠光形成光檢測點P處米粒的圖像。以從米粒通過的綠光為基礎(chǔ)形成的米粒圖像成為圖6a所示的第二米粒圖像，其中只示出了米粒的整體形狀中的胚芽部和劃痕，而裂紋不出現(xiàn)。
在第二米粒圖像中不出現(xiàn)裂紋(即，未檢測到)是因為光發(fā)射器12和另一光發(fā)射器13發(fā)出的光從相對CCD攝像機8光軸11相同的角度(內(nèi)角α1＝內(nèi)角α2)照射到米粒(裂紋粒)K的裂紋上，從而由裂紋折射(refract)的光產(chǎn)生的陰影被相互抵消了，而只從一個傾斜方向照射米粒(裂紋粒)時，光被裂紋折射，暗影出現(xiàn)在顆粒的表面上。應(yīng)當注意，米粒的裂紋通常沿基本垂直于米?？v向的方向延伸。因此，斜槽3排出的米粒中的裂紋基本在包括光檢測點P處CCD攝像機8的光軸11的平面內(nèi)延伸。只要內(nèi)角α1，α2為70度或更小產(chǎn)生的效果都一樣。一旦內(nèi)角超過70度，裂紋的暗影突出，不能完全抵消，而且劃痕和胚芽部的檢測精確度也下降。應(yīng)當注意，第二顆粒圖像(圖6b)連續(xù)存儲在RAM 22中。
接著，從RAM 22中讀取第一米粒圖像和第二米粒圖像，進行計算處理，從第一米粒圖像的光量(示出了裂紋、胚芽部和劃痕)中減去第二米粒圖像的光量(只示出了胚芽部和劃痕)(見圖7)。該減去過程抵消了胚芽部和劃痕，從而只有裂紋保留在獲得的圖像中。通過該處理可以獲得只包含裂紋的裂紋圖像。
應(yīng)當注意，需要預(yù)先調(diào)節(jié)第一色光發(fā)射器9和第二色光發(fā)射器10的光量，使得通過減去處理，胚芽部的圖像(光量)、劃痕的圖像(光量)以及米粒的外廓彼此抵消，盡可能不再保留，只保留裂紋的圖像。在胚芽部的圖像(光量)、劃痕的圖像(光量)以及米粒外廓的模糊軌跡遺留的情況下，這些可以使用一閾值將它們數(shù)字化，以區(qū)分這些光量和裂紋圖像的光量，從而只保留裂紋圖像。
現(xiàn)參考圖8a-8e詳細描述圖7所示的減去處理。為了描述方便，繪出了上述第一米粒圖像(示出了裂紋、胚芽部和劃痕)中米粒以及上述第二米粒圖像(只示出了胚芽部和劃痕)中相同的米粒的截面光量(波形)(連續(xù)感應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)序列)，使用這些光量(波形)詳細描述減去過程。
首先，圖8b示出了第一米粒圖像和第二米粒圖像的截面處的光量(波形)?？梢詮膱D中看出，波形中檢測了裂紋、胚芽部和劃痕。接著，計算了圖8b所示兩波形之間的差。結(jié)果，得到了圖8c所示的波形，由此兩米粒圖像中胚芽部和劃痕彼此抵消，檢測到了對應(yīng)裂紋的下陷的波形。接著，將圖8c所示裂紋波形高度從負區(qū)域上升到正區(qū)域，產(chǎn)生圖8d所示的波形。進一步，對圖8d所示波形進行微分處理，以銳化裂紋的波形。圖8e中示出了該過程產(chǎn)生的波形。由此，以米粒的截面為單元(即，連續(xù)感應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)序列)進行包括第一米粒圖像和第二米粒圖像的光量減去處理，只保留了裂紋的圖像。
接著，CPU 21對上述保留裂紋的圖像的像素數(shù)量進行計數(shù)。所計數(shù)的數(shù)量隨后與識別裂紋并預(yù)先設(shè)置在ROM 23中的閾值進行比較，具體地，與識別裂紋的像素的連續(xù)數(shù)量進行比較。如果比較結(jié)果表明保留裂紋的圖像的像素數(shù)量等于或超過閾值，那么有問題的米粒確定為(識別為)裂紋米粒。對比地，如果計數(shù)數(shù)量在閾值之下，那么裂紋被抵消，有問題的米粒不認為是裂紋米粒。
接著，一旦認定有問題的米粒是裂紋米粒后，CPU 21通過I/O 24向噴射閥驅(qū)動電路25輸出信號。在預(yù)定延遲周期后，噴射閥驅(qū)動電路25向高壓噴氣裝置6a的螺線管閥輸出噴氣信號，該高壓噴氣裝置6a對應(yīng)于檢測裂紋米粒的凹槽(通道)并操作螺線管閥，由此通過從相應(yīng)的噴嘴6b(氣槍)的噴氣部件6c噴氣使得裂紋米粒從上述下落軌跡G中挑選出來。可選地，此處，可以通過已知方法(例如JP-3722354-B)檢測裂紋米粒的中心等處，將信號輸出到對應(yīng)檢測中心位置的螺線管閥，并且朝向裂紋米粒的中心噴氣，從而更可靠地挑選裂紋米粒。
由此，如上所述，本發(fā)明能夠抵消米粒中胚芽部和劃痕的圖像，獲得只包含裂紋的裂紋圖像。其結(jié)果是，當挑選去除的裂紋米粒時，不會由于胚芽部和劃痕的圖像將沒有裂紋的正常米粒誤識別為裂紋米粒。因此，可以正確識別并挑選去除裂紋米粒，從而改善成品收率。
應(yīng)當注意，盡管上述實施例中第一色光發(fā)射器9包括光發(fā)射器12和另一光發(fā)射器13，第一色光發(fā)射器9還可以包括單個光發(fā)射器(見圖9)。如果第一色光發(fā)射器9只包括單個光發(fā)射器，則內(nèi)角必須為0，第一色光發(fā)射器9的光軸必須與CCD攝像機8的光軸一致，從而能夠獲得與本發(fā)明上述相同的效果。
此外，在通過本發(fā)明的減去處理抵消胚芽部和劃痕的圖像獲得裂紋的圖像時，盡管在上述實施例中從第一米粒圖像中減去了第二米粒圖像，也可以相反地從第二米粒圖像中減去第一米粒圖像，獲得裂紋的圖像。
進一步，盡管上述實施例中CCD傳感器包括兩個彩色CCD線傳感器17和16，作為替代，CCD傳感器還可以包括單個彩色CCD線傳感器。在這種情況下，通過例如，替代地在彩色CCD線傳感器的相鄰光接收部件上安裝可以透過綠光的過濾器和可以透過紅光的過濾器，可以根據(jù)接收的每種顏色的光來形成上述第一和第二米粒圖像。
另外，作為本發(fā)明的變形，第一的色光發(fā)射器9和第二色光發(fā)射器10可以交替發(fā)光，每個光接收傳感器(CCD傳感器)都配置為接收單一顏色(單一波長)的光并且兩個CCD傳感器接收兩個色光發(fā)射器各自發(fā)出的光，從而根據(jù)這樣獲得的接收的光數(shù)據(jù)形成上述的第一和第二米粒圖像。
在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，本發(fā)明有許多明顯不同的實施例，因此應(yīng)當理解本發(fā)明并不限于具體的實施例，除非所附權(quán)利要求進行了限定。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)裂紋粒挑選器，用于從多個米粒中挑選裂紋粒，包括傳送裝置，用于傳送按多個行排列的米粒；光學(xué)檢測裝置，包括發(fā)光部，用于向從傳送裝置噴射的米粒的運動軌跡上的光檢測位置發(fā)射平面光束，和攝像機，用于檢測光檢測位置上通過每個米粒的光，所述發(fā)光部包括第一色光發(fā)射器和第二色光發(fā)射器，分別用于發(fā)射不同波長的第一色光和第二色光，所述第一色光發(fā)射器包括一對發(fā)光單元，該一對發(fā)光單元設(shè)置使得其光軸和攝像機光軸之間形成基本相同的內(nèi)角，或者包括設(shè)置在攝像機的光軸上的單個發(fā)光單元，所述第二色光發(fā)射器包括光軸設(shè)置成與攝像機的光軸不一致的單個發(fā)光單元，所述攝像機設(shè)置來使得在光檢測位置上其光軸與米粒運動軌跡基本垂直并具有分別用于接收第一色光和第二色光的第一光接收部和第二光接收部；裂紋粒確定裝置，用于通過根據(jù)攝像機的第一光接收部和第二光接收部接收的光檢測每個米粒中的裂紋來確定米粒中的裂紋粒；以及挑選/分離裝置，用于挑選并分離由裂紋粒確定裝置確定出的裂紋粒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，第一色光和第二色光包括波長為600nm-710nm的紅光、波長為500nm-580nm的綠光、和波長為420nm-520nm的藍光中的兩種。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，所述第一色光發(fā)射器的一對發(fā)光單元的各自的光軸和所述攝像機光軸之間形成的內(nèi)角不大于70度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，所述第一色光發(fā)射器的一對發(fā)光單元設(shè)置為相對于包含所述攝像機光軸的平面對稱。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，第一色光發(fā)射器和第二色光發(fā)射器由發(fā)光二極管構(gòu)成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，所述攝像機的第一光接收部和第二光接收部分別包括分開設(shè)置的第一CCD傳感器和第二CCD傳感器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，所述第一CCD傳感器和第二CCD傳感器是彩色CCD線傳感器，并且所述攝像機設(shè)置有光散射裝置，用于將光檢測位置處通過米粒的光散射為第一色和第二色，以輸入到相應(yīng)的彩色CCD線傳感器中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裂紋粒挑選器，其中，所述裂紋粒確定裝置分別根據(jù)第一光接收部接收的光和第二光接收部接收的光生成每個米粒的第一圖像和第二圖像，并根據(jù)第一圖像和第二圖像的光量差檢測每個米粒中的裂紋。
全文摘要
一種光學(xué)裂紋粒挑選器，光學(xué)地識別原料米粒中混雜的裂紋粒時，不會由于存在胚芽部和/或表面劃痕而將沒有裂紋的正常顆粒誤識別為裂紋粒。裂紋粒識別單元中的識別部可以根據(jù)由CCD攝像機中構(gòu)造的第一CCD傳感器接收的通過顆粒的光形成第一米粒圖像(具有胚芽部和劃痕)，并根據(jù)由CCD攝像機中構(gòu)造的第二CCD傳感器接收的通過顆粒的光形成第二米粒圖像(具有裂紋、胚芽部和劃痕)，并通過計算兩個米粒圖像之間光量的差獲取裂紋圖像并識別裂紋粒。
文檔編號G01N21/85GK101088633SQ20071010918
公開日2007年12月19日 申請日期2007年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年6月15日
發(fā)明者伊藤隆文, 原正純, 惠木正博, 土井貴廣 申請人:株式會社佐竹