專利名稱：防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路和利用該電路進(jìn)行電子稱校正和檢測(cè)的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種校正數(shù)據(jù)的電子稱電路和一種電子稱校正和 檢測(cè)的方法。
背景技術(shù)：
目前，公知的電子秤系統(tǒng)構(gòu)造包括待測(cè)信號(hào)傳感器、模數(shù)轉(zhuǎn) 換器、微處理器、顯示器和校正系數(shù)存儲(chǔ)器組成。而微處理器則 包含有程序內(nèi)存、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、以及中央計(jì)算單元等。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，將傳感器與'待測(cè)信號(hào)接觸，傳感器將待測(cè)信號(hào) 的物理量轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，該電信號(hào)被模數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)， 被微處理器計(jì)算、處理或是進(jìn)一步轉(zhuǎn)換，并顯示在顯示器上。然 而促使微處理器計(jì)算、處理或是進(jìn)一步轉(zhuǎn)換的根源，就是來(lái)自與 程序內(nèi)存所存儲(chǔ)的指令，指令的總和及順序便成為程序。但是，很多包含有模數(shù)轉(zhuǎn)換器的集成電路在能夠正確顯示測(cè)量 值之前，都必須經(jīng)過(guò)校正手續(xù)，如此模數(shù)轉(zhuǎn)換器及微處理器方可 正確無(wú)誤的將該待測(cè)信號(hào)的物理量轉(zhuǎn)換成相對(duì)應(yīng)的數(shù)字結(jié)果顯示 出來(lái)。在電子式測(cè)量系統(tǒng)的校正程序中， 一般要使用具有標(biāo)準(zhǔn)物 理量之標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)物。傳感器接觸標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)物后發(fā)出 一標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)信 號(hào)，經(jīng)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后成為標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)并存儲(chǔ)于內(nèi)存沖，當(dāng)微處 理器執(zhí)行一般量測(cè)時(shí)，從內(nèi)存中取出校正用的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，并根據(jù) 量測(cè)信號(hào)計(jì)算出實(shí)際模擬量，因此，經(jīng)過(guò)校正之后，會(huì)產(chǎn)生相對(duì) 應(yīng)的校正系數(shù)，這些校正系數(shù)需要被存儲(chǔ)下來(lái)，同時(shí)必須能后被 微處理器讀取。如此，微處理器方可正確的運(yùn)行計(jì)算或轉(zhuǎn)換的功 能并形成精確的數(shù)值，因此，大多數(shù)的電路中的電子組件都需要外接一電子組件一電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPR0M),以提供存 儲(chǔ)這些校正參數(shù)的能力。現(xiàn)有的校正系數(shù)燒錄方式，如圖1所示的電路方框圖。該電路中包括一集成電路21、 一顯示器22、 一傳感器24和一電擦除 可編程只讀存儲(chǔ)器23;其中，集成電路21中包括一微處理器214，該微處理器214用于接收數(shù)字信號(hào)，并于下 述的一次可程序化內(nèi)存215上讀取指令集與存取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算 相應(yīng)于該數(shù)字信號(hào)的實(shí)際模擬量，--次可程序化內(nèi)存215,它直接連接該微處理器214，該一次可程序化內(nèi)存215中含有一程序指令集2151，一模數(shù)轉(zhuǎn)換器213,它直接連接于該微處理器214,用于接收 傳感24器發(fā)送的模擬信號(hào)，并將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，一串口接口電路212,它直接連接于該微處理器214,并可將 微處理器214輸出的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)傳送至電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器2 3 中，一時(shí)序控制鑫211，連接于該微處理器214,該微處理器214 經(jīng)由該時(shí)序控制器211輸出該實(shí)際模擬量的讀數(shù)，并將該讀數(shù)傳 送至顯示器22顯示。此集成電路21外接顯示器22、電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器 (EEPR0M) 23與傳感器24。集成電路21必須經(jīng)過(guò)校正程序之后 才能夠執(zhí)行一般量測(cè)程序，校正程序系以傳感器24直接接觸標(biāo)準(zhǔn) 量測(cè)物，傳感器24輸出標(biāo)準(zhǔn)倌號(hào)至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器213,此標(biāo)準(zhǔn) 信號(hào)為模擬信號(hào)，模擬數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換器213根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)輸出數(shù) 字標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)至微處理器214,經(jīng)過(guò)微處理器214的計(jì)算之后，標(biāo)準(zhǔn) 參數(shù)經(jīng)由串口接口電路212被存儲(chǔ)于電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器 23之中，而微處理器214在執(zhí)行任何指令時(shí)，都必須從一次可程 序化內(nèi)存215中讀取指令集。在完成校正程序之后，標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)被 存儲(chǔ)于電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器23之中，在進(jìn)行一般量測(cè)程序 時(shí)，傳感器24直接接觸待測(cè)量物，輸出量測(cè)信號(hào)至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換 器213,經(jīng)過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換后，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器213輸出數(shù)字量測(cè)信號(hào) 至微處理器214,微處理器214經(jīng)由串口接口電路212于電可擦除 可編程只讀存儲(chǔ)器23讀取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。經(jīng)過(guò)計(jì)算后，獲得相對(duì)應(yīng)于數(shù)字量測(cè)信號(hào)的實(shí)際測(cè)量值，微處理器214將由時(shí)序控制器211 輸出實(shí)際測(cè)量值至顯示器22之上。上述現(xiàn)有技術(shù)之電路中的微處理器214在計(jì)算待量測(cè)物至實(shí) 際測(cè)量值時(shí)，必須使用標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，而標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)是被存儲(chǔ)于電可擦 除可編程只讀存儲(chǔ)器23之中，雖然電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器2 3 較易于存取，但是它也很容易被改寫(xiě)。容易被改寫(xiě)的原因是電可 擦除可編程只讀存儲(chǔ)器2 3的？；腳曝露于外部，所以可以很方便的 用通用器件一讀寫(xiě)器接入曝露與外部的引腳，將數(shù)據(jù)讀出并更改 后重新寫(xiě)入。圖2是該電路測(cè)量和校正的步驟程序圖。從圖中可 以看出，現(xiàn)有的電子稱完全信任于外部的校正數(shù)據(jù)，由于外部的 存儲(chǔ)器很容易被改寫(xiě)，而又沒(méi)有檢測(cè)的步驟，外部數(shù)據(jù)被更改之 后，集成電路無(wú)法檢測(cè)數(shù)據(jù)是否曾經(jīng)被惡意更改。如果是普通的 家用廚房稱，沒(méi)有過(guò)高的要求，但若是商業(yè)用的計(jì)重稱、計(jì)價(jià)秤 等，關(guān)系到消費(fèi)者的利益，校正數(shù)據(jù)的保密以及防止改寫(xiě)就很重 要。若是利&熏心的投機(jī)商通過(guò)更改外部存貯器的數(shù)據(jù)來(lái)達(dá)到個(gè) 人違法獲利的目的，那對(duì)消費(fèi)者來(lái)說(shuō)，將是一種極大的損害。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種防改寫(xiě) 校正數(shù)據(jù)的電子稱電路和利用該電路進(jìn)行電子稱校正和檢測(cè)的方 法，以達(dá)到投機(jī)商無(wú)法任意更改電子稱的校正數(shù)據(jù)，從而保護(hù)消 費(fèi)者的合法權(quán)益。為了實(shí)現(xiàn)上述第一個(gè)目的，發(fā)明人提出了以下的技術(shù)方案 本方案防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路與現(xiàn)有技術(shù)一樣，包括一集 成電路、 一顯示器、 一傳感器和一電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器；其 中，集成電路中包括一微處理器，該微處理器用于接收數(shù)字信號(hào)，并于下述的一 次可程序化內(nèi)存上讀取指令集與存取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算相應(yīng)于該數(shù) 字信號(hào)的實(shí)際模擬量，——次可程序化內(nèi)存，它直接連接該微處理器，該一次可程 序化內(nèi)存中含有一程序指令集，一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，它直接連接于該微處理器，用于接收傳感器發(fā)送的模擬信號(hào)，并將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，一串口接口電路，它直接連接于該微處理器，并可將微處理 器輸出的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)傳送至電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器，一時(shí)序控制器，連接于該微處理器，該微處理器經(jīng)由該時(shí)序控制器輸出該實(shí)際模擬量的讀數(shù)，并將該讀數(shù)傳送至顯示器顯示；其改進(jìn)是所說(shuō)的一次可程序化內(nèi)存中含有的程序指令集中還 包括一參數(shù)記憶區(qū)，該參數(shù)記憶區(qū)包括量測(cè)指令集及校正指令集， 該指令集用于存儲(chǔ)標(biāo)定參數(shù)或校正用標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。為了實(shí)現(xiàn)上述第一個(gè)目的，發(fā)明人還提出了另一個(gè)的優(yōu)選技 術(shù)方案本方案與上述技術(shù)方案基本相同，其區(qū)僅在于所說(shuō)的集 成電路中還包括一電荷泵、 一開(kāi)關(guān)；該電荷泵的使能端與微處理 器相連，該開(kāi)關(guān)控制端直接與該微處理器連接，該開(kāi)關(guān)的一輸入 端與該電荷泵輸出端連接，其另 一輸入端與該微處理器的電源連 接，該開(kāi)關(guān)電路輸出端與該一次可程序化內(nèi)存連接，以提供該一 次可程序化內(nèi)存工作電壓及燒錄電壓。這樣就不需要再通過(guò)另外 的燒錄器即可以把校正系數(shù)燒錄入電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器中。 為了實(shí)現(xiàn)上述第二個(gè)目的，發(fā)明人提出了以下的技術(shù)方案 本方案所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路進(jìn)行校正和檢測(cè)的方 法，其特征是包含以下的步驟A) 由傳感器測(cè)量一標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)物，由模數(shù)轉(zhuǎn)換器將該傳感器之 量測(cè)模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，再輸出至微處理器，經(jīng)過(guò)微 處理器之計(jì)算后得到標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，微處理器存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)于一次可 程序化內(nèi)存之中設(shè)置的參數(shù)記憶區(qū)，并通過(guò)控制串口接口電路， 將標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)寫(xiě)入外部電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器之中；B) 運(yùn)行該一次可程序化內(nèi)存指令集中的校正模式，包括讀取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，找尋參數(shù)記憶區(qū)之存儲(chǔ)地址，確認(rèn)該存儲(chǔ)地址為空，對(duì)該存儲(chǔ)地址寫(xiě)入標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；C) 校正模式運(yùn)行時(shí)，微處理器根據(jù)一次可程序化內(nèi)存的使用 情況，向顯示器發(fā)送與內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存校正次數(shù)、內(nèi)存使 用情況相關(guān)的信息；D) 將標(biāo)定參數(shù)或標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)寫(xiě)入該一次可程序化內(nèi)存中的參數(shù) 記憶區(qū)以及與集成電路相連的電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)區(qū)中；E) 運(yùn)行該一次可程序化內(nèi)存指令集中的測(cè)量模式，測(cè)量模式 自我數(shù)據(jù)檢測(cè)，自我數(shù)據(jù)檢測(cè)將電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器中的校 正數(shù)據(jù)與內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存中的參數(shù)記憶區(qū)中的校正參數(shù)進(jìn) 行比較，以檢測(cè)外部存儲(chǔ)器中的校正數(shù)據(jù)與內(nèi)部一次可程序化內(nèi) 存中的參數(shù)記憶區(qū)中的校正參數(shù)是否在允許變化范圍之內(nèi)。另外，在執(zhí)行步驟C)時(shí)，向顯示器傳送的數(shù)據(jù)中，可以包含 以下一項(xiàng)或多項(xiàng)內(nèi)部一次可程序化的內(nèi)存的才交正地址；內(nèi)部一 次可程序化內(nèi)存的所程序化的次數(shù)；內(nèi)部 一 次可程序化內(nèi)存的所 用剩余可用的空間；內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存的所剩余可程序化的 次數(shù)；內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存校正程序化的次數(shù)；內(nèi)部一次可程 序化內(nèi)存校正程序化所剩的次數(shù)。上述集成電路中的微處理器可根據(jù)該一次可程序化內(nèi)存中的 參數(shù)地址，計(jì)算校正寫(xiě)入的次數(shù)、校正寫(xiě)入的的記憶區(qū)的所剩空 間、所剩校正次數(shù)等與校正次數(shù)相關(guān)的信息，并將次信息送顯示 器顯示，以供檢驗(yàn)人員記錄，以備后續(xù)檢查是否曾被更改做依據(jù)。 正常使用時(shí)，集成電路之微處理器于該內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存 中讀取校正參數(shù)，微處理器通過(guò)串口接口電路向外部電可擦除可 編程只讀存儲(chǔ)器讀取校正參數(shù)，微處理器將內(nèi)部與外部的校正數(shù) 據(jù)進(jìn)行比較，檢測(cè)兩者數(shù)據(jù)是否相同或在可變化范圍之內(nèi)，如若 不符合條件，將向顯示器顯示數(shù)據(jù)已被更改，隨后微處理器將進(jìn) 入休眠，拒絕進(jìn)入正常測(cè)量模式。本發(fā)明與現(xiàn)有的電子秤電路的區(qū)別在于，本發(fā)明在微處理器 的一次可程序化內(nèi)存中設(shè)置一部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)作為校正數(shù)據(jù)記憶區(qū)， 此校正數(shù)據(jù)記憶區(qū)可于校正參數(shù)時(shí)，向其一次性寫(xiě)入數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù) 一經(jīng)寫(xiě)入將不可更改，在寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)，微處理器將向顯示器發(fā)送 當(dāng)前校正地址、校正次數(shù)或所剩校正次數(shù)、所剩校正空間等一項(xiàng) 或幾項(xiàng)信息，此信息是微處理器通過(guò)計(jì)算目前內(nèi)部一次性可程序 化的內(nèi)存使用空間情況，通過(guò)換算而得出的信息，此信息由內(nèi)部 換算而來(lái)，不可被用戶更改。
因此可以看出，本發(fā)明的有益效果是 1 、根據(jù)本發(fā)明的電路生產(chǎn)的電子稱的內(nèi)部的數(shù)據(jù)為 一 次性寫(xiě) 入形式，無(wú)法更改，集成電路本身具有保密功能，具有防止讀取 數(shù)據(jù)的功能，即使芯片制造商也無(wú)法讀取與更改數(shù)據(jù)。其校正的 時(shí)候，會(huì)顯示自出廠以來(lái)被校正的次數(shù)，質(zhì)檢人員只要記錄質(zhì)檢 時(shí)的校正序號(hào)，在與上次校正時(shí)的序號(hào)相比，就可以得出用戶是 否私自校正或更改過(guò)數(shù)據(jù)，達(dá)到切實(shí)保護(hù)消費(fèi)者利益的目的；
2、 本發(fā)明的電子稱校正和檢測(cè)的方法使用方便簡(jiǎn)單，易于推 廣使用；
3、 本發(fā)明的電子稱電路中不使用高成本的電子元器件，因此 制造成本低，價(jià)格低廉。 '
為了使本發(fā)明便于理解和更加清晰，下面通過(guò)附圖和實(shí)施例對(duì) 其作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。


圖1是電子稱現(xiàn)有技術(shù)的電路方框示意圖。
圖2是使用圖1的電子稱進(jìn)行測(cè)量和校正的步驟流程圖。
圖3是本發(fā)明的電子稱的實(shí)施例一之電路方框示意圖。
圖4是本發(fā)明的電子稱的實(shí)施例二之電路方框示意圖。
圖5是使用本發(fā)明實(shí)施例的電子稱檢測(cè)和校正的步驟流程圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例1，參看圖3。本實(shí)施例的電子稱電路包括一集成電路 21、 一顯示器22、 一傳感器24和一電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器23; 其中，集成電路21中包括
一微處理器214，該微處理器214用于接收數(shù)字信號(hào)，并于下 述的一次可程序化內(nèi)存215上讀取指令集與存取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算 相應(yīng)于該數(shù)字信號(hào)的實(shí)際模擬量，
——次可程序化內(nèi)存215,它直接連接該微處理器214，該一 次可程序化內(nèi)存215中含有一程序指令集2151,
一模數(shù)轉(zhuǎn)換器213,它直接連接于該微處理器214,用于接收 傳感24器發(fā)送的模擬信號(hào)，并將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，
一串口接口電路212，它直接連接于該微處理器214，并可將 微處理器214輸出的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)傳送至電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器2 3 中，
一時(shí)序控制器211，連接于該微處理器214,該微處理器214 經(jīng)由該時(shí)序控制器211輸出該實(shí)際模擬量的讀數(shù)，并將該讀數(shù)傳 送至顯示器22顯示。另外，在上面所說(shuō)的一次可程序化內(nèi)存215 中含有的程序指令集2151中還包括一參數(shù)記憶區(qū)2152,該參數(shù)記 憶區(qū)2152包括量測(cè)指令集及校正指令集，該指令集用于存儲(chǔ)標(biāo)定 參數(shù)或校正用標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。
實(shí)施例2,參看圖4。本實(shí)施例與上述實(shí)施例的區(qū)別^又在于所 說(shuō)的集成電路21中還包括一電荷泵216、 一開(kāi)關(guān)217;該電荷泵 216的使能端f與微處理器214相連，該開(kāi)關(guān)217控制端a直接與 該微處理器214連接，該開(kāi)關(guān)217的一輸入端b與該電荷泵216 輸出端e連接，其另一輸入端c與該微處理器的電源連接，該開(kāi) 關(guān)電路輸出端d與該一次可程序化內(nèi)存215連接，以提供該一次 可程序化內(nèi)存工作電壓及燒錄電壓。這樣就不需要再通過(guò)另外的 燒錄器即可以把校正系數(shù)燒錄入電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器23中。
實(shí)施例3,參看圖5。本實(shí)施例為利用上述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù) 的電子稱電路進(jìn)行校正和檢測(cè)的方法，其特征是包含以下的步驟(I) 步驟401，開(kāi)始操作集成電路，進(jìn)入
U)步驟403 ，判斷是否開(kāi)始校正模式若"是"則進(jìn)入步驟 405,若"否，，則進(jìn)入步驟417;
(3) 步驟405為校正模式，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器提供標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)至微 處理器；然后執(zhí)行
(4) 步驟407，微處理器找尋標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)地址，這存儲(chǔ)地址 系位于一次可程序化內(nèi)存之中，在找到標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)地址之后， 進(jìn)入
(5) 步驟409,微處理器通過(guò)時(shí)序控制電路向顯示器發(fā)送與參數(shù) 存儲(chǔ)地址、校正次數(shù)相關(guān)的信息給用戶；然后執(zhí)行
(6) 步驟411，微處理器執(zhí)行程序化指令，在一次可程序化內(nèi)存 中存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，在完成標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)動(dòng)作之后，進(jìn)入
(7) 步驟413，微處理器確認(rèn)已存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)是否正確若 "是"，則進(jìn)入步驟415,若"否"則進(jìn)入步驟427，顯示錯(cuò)誤訊
息后進(jìn)入步驟429，結(jié)束校正程序；
(S)步驟415,微處理器通過(guò)串口接口電路向外部電可擦除可編 程只讀存儲(chǔ)器寫(xiě)入標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)并進(jìn)行確認(rèn)，確認(rèn)完畢后進(jìn)入
(9) 步驟429，結(jié)束校正程序；
在執(zhí)行步驟403判斷是否進(jìn)入校正模式時(shí)，若為"否"，則不 進(jìn)入自我校正模式，執(zhí)行
(10) 步驟417,開(kāi)始集成電路的量測(cè)模式，然后執(zhí)行步驟417， 微處理器查詢存儲(chǔ)與一次可程序化內(nèi)存中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，然后執(zhí)行
(II) 步驟419,微處理器通過(guò)串口接口電路從外部電可擦除可編 程只讀存儲(chǔ)器取得校正參數(shù)，完成讀取動(dòng)作之后，進(jìn)入
(1》步驟421，微處理器檢測(cè)內(nèi)外兩組標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)是否符合約定條 件，若"是"，則進(jìn)入步驟423,若否則進(jìn)入步驟427，顯示錯(cuò)誤 訊息后進(jìn)入步驟429,結(jié)束量測(cè)模式并停止集成電路工作；
妙步驟42 3,微處理器接收從模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器所提供之?dāng)?shù)字量 測(cè)信號(hào)，然后執(zhí)行
(14)步驟425，微處理器根據(jù)數(shù)字聯(lián)測(cè)信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)計(jì)算實(shí)際測(cè)量值，然后進(jìn)入
(15)步驟429,結(jié)束集成電路的量測(cè)模式。
在執(zhí)行上列各項(xiàng)步驟前，還可以把所說(shuō)的參數(shù)記憶區(qū)劃分為 多個(gè)分區(qū)，用于寫(xiě)入不同類型之標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，或提供校正用標(biāo)準(zhǔn)參 數(shù)的多次寫(xiě)入。
權(quán)利要求
1、一種防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路，包括一集成電路、一顯示器、一傳感器和一電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器；其中，集成電路中包括一微處理器，該微處理器用于接收數(shù)字信號(hào)，并于下述的一次可程序化內(nèi)存上讀取指令集與存取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算相應(yīng)于該數(shù)字信號(hào)的實(shí)際模擬量，一一次可程序化內(nèi)存，它直接連接該微處理器，該一次可程序化內(nèi)存中含有一程序指令集，一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，它直接連接于該微處理器，用于接收傳感器發(fā)送的模擬信號(hào)，并將該模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，一串口接口電路，它直接連接于該微處理器，并可將微處理器輸出的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)傳送至電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器，一時(shí)序控制器，連接于該微處理器，該微處理器經(jīng)由該時(shí)序控制器輸出該實(shí)際模擬量的讀數(shù)，并將該讀數(shù)傳送至顯示器顯示；其特征是所說(shuō)的一次可程序化內(nèi)存中含有的程序指令集中還包括一參數(shù)記憶區(qū)，該參數(shù)記憶區(qū)包括量測(cè)指令集及校正指令集，該指令集用于存儲(chǔ)標(biāo)定參數(shù)或校正用標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路，其 特征是所說(shuō)的集成電路中還包括一電荷泵、 一開(kāi)關(guān)；該電荷泵的 使能端與微處理器相連，該開(kāi)1關(guān)控制端直接與該微處理器連接， 該開(kāi)關(guān)的一輸入端與該電荷泵輸出端連接，其另一輸入端與該微 處理器的電源連接，該開(kāi)關(guān)電路輸出端與該一次可程序化內(nèi)存連 接，以提供該一次可程序化內(nèi)存工作電壓及燒錄電壓。這樣就不 需要再通過(guò)另外的燒錄器即可以把校正系數(shù)燒錄入電擦除可編程 只讀存儲(chǔ)器中。
3、 一種利用權(quán)利要求1或2所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子 稱電路進(jìn)行校正和檢測(cè)的方法，其特征是包含以下的步驟A)于微處理器之燒錄有指令集的一次可程序化內(nèi)存中設(shè)置一 參數(shù)記憶區(qū)；B) 運(yùn)行該一次可程序化內(nèi)存指令集中的校正模式，包括讀取 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，找尋參數(shù)記憶區(qū)之存儲(chǔ)地址，確認(rèn)該存儲(chǔ)地址為空， 對(duì)該存儲(chǔ)地址寫(xiě)入標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；C) 校正模式運(yùn)行時(shí)，微處理器根據(jù)一次寸程序化內(nèi)存的使用 情況，向顯示器發(fā)送與內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存校正次數(shù)、內(nèi)存使 用情況相關(guān)的信息；D) 將標(biāo)定參數(shù)或標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)寫(xiě)入該一次可程序化內(nèi)存中的參數(shù) 記憶區(qū)以及與集成電路相連的電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)區(qū)中；E) 運(yùn)行該一次可程序化內(nèi)存指令集中的測(cè)量模式，測(cè)量模式 自我數(shù)據(jù)檢測(cè)，自我數(shù)據(jù)檢測(cè)將電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器中的校 正數(shù)據(jù)與內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存中的參數(shù)記憶區(qū)中的校正參數(shù)進(jìn) 行比較，以檢測(cè)外部存儲(chǔ)器中的校正數(shù)據(jù)與內(nèi)部一次可程序化內(nèi) 存中的參數(shù)記憶區(qū)中的校正參數(shù)是否在允許變化范圍之內(nèi)。
4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路進(jìn)行 校正和檢測(cè)的方法，其特征是其執(zhí)行的具體步驟如下(1) 步驟401，開(kāi)始操作集成電路，進(jìn)入(2) 步驟403,判斷是否開(kāi)始校正模式若"是"則進(jìn)入步驟 4 05 ，若"否"則進(jìn)入步驟417;(3) 步驟405為校正模式，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器提供標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)至微 處理器；然后執(zhí)行(4) 步驟407,微處理器找尋標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)地址，這存儲(chǔ)地址 系位于一次可程序化內(nèi)存之中，在找到標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)地址之后， 進(jìn)入(5) 步驟409,微處理器通迚時(shí)序控制電路向顯示器發(fā)送與參數(shù) 存儲(chǔ)地址、校正次數(shù)相關(guān)的信氛、給用戶；然后執(zhí)行(6) 步驟411，微處理器執(zhí)行程序化指令，在一次可程序化內(nèi)存 中存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，在完成標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的存儲(chǔ)動(dòng)作之后，進(jìn)入(7) 步驟413，微處理器確認(rèn)已存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)是否正確若 "是"，則進(jìn)入步驟415,若"否，，則進(jìn)入步驟427 ,顯示錯(cuò)誤訊息后進(jìn)入步驟429,結(jié)束校正程序；(8) 步驟415，微處理器通過(guò)串口接口電路向外部電可擦除可編 程只讀存儲(chǔ)器寫(xiě)入標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)并進(jìn)行確認(rèn)，確認(rèn)完畢后進(jìn)入(9) 步驟429，結(jié)束校正程序；在執(zhí)行步驟403判斷是否進(jìn)入校正模式時(shí)，若為"否"，則不 進(jìn)入自我校正模式，執(zhí)行(10) 步驟417,開(kāi)始集成電路的量測(cè)模式，然后執(zhí)行步驟417, 微處理器查詢存儲(chǔ)與一次可程序化內(nèi)存中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，然后執(zhí)行(11) 步驟419,微處理器通過(guò)串口接口電路從外部電可擦除可編 程只讀存儲(chǔ)器取得校正參數(shù)，完成讀取動(dòng)作之后，進(jìn)入(12) 步驟421,微處理器檢測(cè)內(nèi)外兩組標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)是否符合約定條 件，若"是"，則進(jìn)入步驟423，若否則進(jìn)入步驟427，顯示錯(cuò)誤 訊息后進(jìn)入步驟42 ,結(jié)束量測(cè)模式并停止集成電路工作；(13) 步驟42 3,微處理器接收從模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器所提供之?dāng)?shù)字量 測(cè)信號(hào)，然后執(zhí)行(14) 步驟425 ，微處理器根據(jù)數(shù)字聯(lián)測(cè)信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)計(jì)算實(shí)際 測(cè)量值，然后進(jìn)入(15) 步驟429，結(jié)束集成電路的量測(cè)模式。
5、根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路 進(jìn)行校正和檢測(cè)的方法，其特征是在執(zhí)行各項(xiàng)步驟前，把所說(shuō)的 參數(shù)記憶區(qū)劃分為多個(gè)分區(qū)，用于寫(xiě)入不同類型之標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，或 提供校正用標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的多次寫(xiě)入。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路進(jìn)行 校正和檢測(cè)的方法，其特征是其步驟C)，向顯示器傳送的數(shù)據(jù)中， 包含以下一項(xiàng)或多項(xiàng)內(nèi)部一次可程序化的內(nèi)存的校正地址；內(nèi) 部一次可程序化內(nèi)存的所程序化的次數(shù)；內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存 的所用剩余可用的空間；內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存的所剩余可程序 化的次數(shù)；內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存校正程序化的次數(shù)；內(nèi)部一次 可程序化內(nèi)存校正程序化所剩的次數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種防改寫(xiě)校正數(shù)據(jù)的電子稱電路和進(jìn)行電子稱校正和檢測(cè)的方法。其電路包括集成電路、顯示器、傳感器和電擦除可編程只讀存儲(chǔ)器；其中，集成電路包括微處理器，一次可程序化內(nèi)存，模數(shù)轉(zhuǎn)換器，串口接口電路，時(shí)序控制器，其特征是一次可程序化內(nèi)存中含有的程序指令集中還包括一參數(shù)記憶區(qū)，該記憶區(qū)包括量測(cè)指令集及校正指令集。使用時(shí)，微處理器于內(nèi)部一次可程序化內(nèi)存中讀取校正參數(shù)，并通過(guò)串口接口電路向外部電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器讀取校正參數(shù)，并將內(nèi)部與外部的校正數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，檢測(cè)兩者數(shù)據(jù)是否相同或在容許的范圍內(nèi)，若不符合條件，將向顯示器顯示數(shù)據(jù)已被更改，隨后微處理器將進(jìn)入休眠，拒絕進(jìn)入正常測(cè)量模式。
文檔編號(hào)G01G23/00GK101303253SQ200710074340
公開(kāi)日2008年11月12日 申請(qǐng)日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者郭俊峰 申請(qǐng)人:深圳市寬恒科技有限公司