專利名稱：無(wú)線高頻整合測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)，特別是指一種無(wú)線高頻整合測(cè)試 系統(tǒng)及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
在競(jìng)爭(zhēng)激烈的時(shí)代，產(chǎn)品不只要求上市的速度要快，就連產(chǎn)品的 品質(zhì)也有這類要求，因此在產(chǎn)品測(cè)試上的速度以及準(zhǔn)確度，皆會(huì)影響 產(chǎn)品的品質(zhì)及顧客滿意度。目前無(wú)線高頻產(chǎn)品測(cè)試的方法，是在每一待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試工作平 臺(tái)上，配置一個(gè)可以測(cè)試該項(xiàng)待測(cè)產(chǎn)品所具備的多項(xiàng)特性參數(shù)的測(cè)試 裝置，使測(cè)試裝置可以一對(duì)一地測(cè)試單一待測(cè)產(chǎn)品，以防止同時(shí)測(cè)試 多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品時(shí)，尤其是在測(cè)試無(wú)線訊號(hào)產(chǎn)品時(shí)，會(huì)出現(xiàn)相互干擾的 問(wèn)題。為了以提高量測(cè)信號(hào)的穩(wěn)定正確性及加速待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試時(shí)間， 傳統(tǒng)的方法是要求制造商投注大量的費(fèi)用添購(gòu)測(cè)試裝置，以及對(duì)這些 測(cè)試裝置產(chǎn)生大量的維護(hù)費(fèi)用，這種測(cè)試方法大幅地提高了測(cè)試成本。為了解決對(duì)無(wú)線高頻產(chǎn)品的高測(cè)試成本問(wèn)題，出現(xiàn)了一種整合測(cè) 試系統(tǒng)，該系統(tǒng)是利用上述測(cè)試裝置加上最多兩個(gè)需依序轉(zhuǎn)換的待測(cè) 平臺(tái)，來(lái)完成所有的測(cè)試動(dòng)作，以縮短或減少人為放置待測(cè)產(chǎn)品的操 作時(shí)間，來(lái)降低測(cè)試裝置的添購(gòu)費(fèi)用及維護(hù)費(fèi)用。此整合測(cè)試系統(tǒng)針 對(duì)測(cè)試裝置欲執(zhí)行測(cè)試時(shí)，必須在其中一個(gè)待測(cè)試平臺(tái)依序地測(cè)試完 待測(cè)產(chǎn)品的每項(xiàng)特性參數(shù)后，才能轉(zhuǎn)換至另一個(gè)待測(cè)試平臺(tái)依序地測(cè) 試完另一待測(cè)產(chǎn)品的每項(xiàng)特性參數(shù)。然而，這樣的測(cè)試方法，卻只能 減少操作員擺放待測(cè)產(chǎn)品的時(shí)間，卻也無(wú)法解決測(cè)試裝置的閑置過(guò)久 的問(wèn)題。
此外，由于測(cè)試裝置的添購(gòu)費(fèi)用以及其維護(hù)費(fèi)用，相對(duì)于測(cè)試裝 置的可測(cè)試功能性而言，可測(cè)試的特性參數(shù)越多，則費(fèi)用就越高。因 此相對(duì)地，只好犧牲待測(cè)產(chǎn)品的可測(cè)試的特性參數(shù)，以達(dá)到降低測(cè)試 成本以及縮短測(cè)試時(shí)間的目的，但另一方面，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)卻可能出現(xiàn) 無(wú)法完全兼顧的現(xiàn)象。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供一種無(wú)線高頻整合測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法， 該方法是通過(guò)控制單元并搭配測(cè)試切換單元，來(lái)切換多個(gè)測(cè)試待測(cè)產(chǎn) 品的測(cè)試路徑，并根據(jù)每一待測(cè)單元的測(cè)試需求，來(lái)隨機(jī)地測(cè)試待測(cè) 產(chǎn)品，以減少添購(gòu)測(cè)試裝置的費(fèi)用、避免測(cè)試待測(cè)產(chǎn)品時(shí)之間的相互 干擾、大幅降低測(cè)試裝置閑置的時(shí)間以及待測(cè)產(chǎn)品的平均測(cè)試時(shí)間。為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種無(wú)線高頻整合測(cè)試系統(tǒng)，其技術(shù) 特征如下多個(gè)待測(cè)單元，且每一待測(cè)單元可依據(jù)其測(cè)試需求來(lái)提出一測(cè)試要求；一控制單元，可接收該測(cè)試要求，并根據(jù)該測(cè)試要求來(lái)執(zhí)行一測(cè) 試程序，進(jìn)而產(chǎn)生一控制訊號(hào)；一測(cè)試切換單元，可接收該控制訊號(hào)，并據(jù)以切換至提出測(cè)試要 求之該待測(cè)單元；以及一測(cè)試裝置，受該控制單元的控制，可通過(guò)該測(cè)試切換單元來(lái)電 性連接所述的待測(cè)單元以進(jìn)行測(cè)試。為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種無(wú)線高頻整合測(cè)試方法，其技術(shù)特征如下判斷一整合測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)是否有一待測(cè)單元提出一測(cè)試要求；以及 根據(jù)該測(cè)試要求，執(zhí)行一測(cè)試程序，并產(chǎn)生一控制訊號(hào)； 根據(jù)該控制訊號(hào)，決定一測(cè)試裝置所需測(cè)試的測(cè)試路徑；以及
根據(jù)該測(cè)試程序及所決定之測(cè)試路徑，來(lái)執(zhí)行該待測(cè)單元內(nèi)之待 測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試，并產(chǎn)生一測(cè)試結(jié)果。綜上所述，本發(fā)明的控制單元會(huì)先判斷整合測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)是否有待 測(cè)單元根據(jù)其測(cè)試需求，來(lái)隨機(jī)地提出一測(cè)試要求。接著，控制單元會(huì)根據(jù)待測(cè)單元所提出的測(cè)試要求，來(lái)執(zhí)行測(cè)試程序，并產(chǎn)生控制訊 號(hào)。測(cè)試切換單元?jiǎng)t會(huì)進(jìn)一步地根據(jù)控制單元所提供的控制訊號(hào)，由 多個(gè)測(cè)試路徑中，選擇其中一個(gè)相對(duì)應(yīng)至提出測(cè)試要求的待測(cè)單元的 測(cè)試路徑，使測(cè)試裝置能進(jìn)一步地測(cè)試此待測(cè)單元內(nèi)的待測(cè)產(chǎn)品。通過(guò)上述技術(shù)特征，本發(fā)明所提供的優(yōu)點(diǎn)在于，利用控制單元來(lái) 控制此整合測(cè)試系統(tǒng)作待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試。本發(fā)明所提供的另一優(yōu)點(diǎn)在于，在此整合測(cè)試系統(tǒng)下，具有多個(gè) 待測(cè)單元，可測(cè)試多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品，以減少添購(gòu)測(cè)試裝置的費(fèi)用。本發(fā)明所提供的再一優(yōu)點(diǎn)在于，每一待測(cè)單元可測(cè)試一待測(cè)產(chǎn)品 的多項(xiàng)特性參數(shù)。本發(fā)明所提供的再一優(yōu)點(diǎn)在于，利用控制單元并搭配測(cè)試切換單 元，來(lái)切換多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試路徑。本發(fā)明所提供的再一優(yōu)點(diǎn)在于，此整合測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行某項(xiàng)特性 參數(shù)的測(cè)試時(shí)，無(wú)須依序地測(cè)試所有的待測(cè)產(chǎn)品，且無(wú)須等到每一待 測(cè)產(chǎn)品皆完成此項(xiàng)特性參數(shù)的測(cè)試后，才能執(zhí)行下一特性參數(shù)的測(cè)試。 反之，即是隨機(jī)動(dòng)態(tài)分時(shí)多任務(wù)來(lái)完成所有數(shù)個(gè)待測(cè)產(chǎn)品不同特性參 數(shù)的測(cè)試動(dòng)作。本發(fā)明所提供的再一優(yōu)點(diǎn)在于，由于利用測(cè)試切換單元來(lái)切換測(cè) 試路徑，因此可以避免在測(cè)試無(wú)線高頻的待測(cè)產(chǎn)品時(shí)，彼此之間相互 干擾，以提高待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試準(zhǔn)確度。本發(fā)明所提供的再一優(yōu)點(diǎn)在于，由于此整合測(cè)試系統(tǒng)系根據(jù)每一 待測(cè)單元的測(cè)試需求，來(lái)隨機(jī)地測(cè)試待測(cè)產(chǎn)品，因此可以大幅降低測(cè) 試裝置閑置的時(shí)間，也大幅縮減待測(cè)產(chǎn)品的平均測(cè)試時(shí)間。


圖1為本發(fā)明內(nèi)容的整合測(cè)試系統(tǒng)之方塊示意圖； 圖2為本發(fā)明內(nèi)容的控制單元控制測(cè)試裝置及測(cè)試切換單元之方 塊示意圖；以及圖3為本發(fā)明內(nèi)容的整合測(cè)試方法的流程圖。圖中符號(hào)說(shuō)明控制單元10第一待測(cè)單元21第一待測(cè)裝置211第一輔助測(cè)試單元213第二待測(cè)單元22第二待測(cè)裝置221第二輔助測(cè)試單元223第N待測(cè)單元23第N待測(cè)裝置231第N輔助測(cè)試單元233指令傳輸單元30測(cè)試裝置40測(cè)試切換單元50切換控制電路510第一切換開(kāi)關(guān)521第二切換開(kāi)關(guān)522第三切換開(kāi)關(guān)523 第四切換開(kāi)關(guān)524第五切換開(kāi)關(guān)525第六切換開(kāi)關(guān)526第七切換開(kāi)關(guān)527第一測(cè)試路徑531第二測(cè)試路徑532第三測(cè)試路徑533第四測(cè)試路徑534第五測(cè)試路徑535第六測(cè)試路徑536第七測(cè)試路徑537第八測(cè)試路徑538具體實(shí)施方式
本發(fā)明所提供的整合測(cè)試系統(tǒng)，是以相同的計(jì)算機(jī)協(xié)議控制來(lái)支 持分布式裝置的測(cè)試及不同芯片組的測(cè)試，且適用于所有產(chǎn)品測(cè)試的 工作平臺(tái)，尤其是適用于無(wú)線高頻產(chǎn)品的測(cè)試。請(qǐng)參考圖1所示，為本發(fā)明內(nèi)容的整合測(cè)試系統(tǒng)之方塊示意圖。整合測(cè)試系統(tǒng)包含一控制單元10、多個(gè)待測(cè)單元(第一待測(cè)單元21至 第N待測(cè)單元23)、指令傳輸單元30、測(cè)試裝置40及測(cè)試切換單元 50。上述的每一待測(cè)單元分別包含一待測(cè)裝置及一輔助測(cè)試單元，即 第一待測(cè)單元21包含一第一待測(cè)裝置211及一第一輔助測(cè)試單元213， 第二待測(cè)單元22包含一第二待測(cè)裝置221及一第二輔助測(cè)試單元223， 第N待測(cè)單元23包含一第N待測(cè)裝置231及一第N輔助測(cè)試單元233。上述的待測(cè)裝置(第一待測(cè)裝置211至第N待測(cè)裝置231)用以 放置所需測(cè)試的待測(cè)產(chǎn)品，亦即為量測(cè)待測(cè)產(chǎn)品的工作平臺(tái)。而上述 的輔助測(cè)試單元(第一輔助測(cè)試單元213至第N輔助測(cè)試單元233) 為計(jì)算機(jī)裝置，且每一輔助測(cè)試單元分別連結(jié)于其所對(duì)應(yīng)的待測(cè)裝置。
因此，當(dāng)?shù)谝淮郎y(cè)裝置211上的待測(cè)產(chǎn)品需要量測(cè)時(shí)，第一待測(cè)裝置211會(huì)藉由第一輔助測(cè)試單元213，來(lái)提出一測(cè)試要求至控制單元10。 當(dāng)?shù)诙郎y(cè)裝置221上的待測(cè)產(chǎn)品需要量測(cè)時(shí)，第二待測(cè)裝置221會(huì) 藉由第二輔助測(cè)試單元223，來(lái)提出一測(cè)試要求至控制單元10。同理， 第N待測(cè)裝置231上的待測(cè)產(chǎn)品需要量測(cè)時(shí)，第N待測(cè)裝置231會(huì)藉 由第N輔助測(cè)試單元233，來(lái)提出一測(cè)試要求至控制單元10?？刂茊卧?0通過(guò)上述的指令傳輸單元30來(lái)連結(jié)于每一待測(cè)單元 (第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元23)，且根據(jù)每一待測(cè)單元所提 出的測(cè)試要求，來(lái)執(zhí)行測(cè)試程序，以及分別產(chǎn)生一控制訊號(hào)，以控制 測(cè)試裝置40及測(cè)試切換單元50。因此控制單元10亦為一計(jì)算機(jī)裝置。 而控制單元10與每一測(cè)試單元(第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元23) 之間的連結(jié)，以網(wǎng)絡(luò)作為連結(jié)媒介，因此指令傳輸單元30可以為一集 線器(hub)。測(cè)試裝置40連結(jié)于上述的控制單元10以及測(cè)試切換單元50，用 以根據(jù)控制單元IO的控制，來(lái)隨機(jī)地測(cè)量每一待測(cè)單元(第一待測(cè)單 元21至第N待測(cè)單元23)，故測(cè)試裝置40可以為一綜合測(cè)試儀(one-box tester, OBT) 、 一 Agilent N4010A或ACE IQ View/Flex等。而測(cè)試切 換單元50則連結(jié)于控制單元10及每一待測(cè)單元(第一待測(cè)單元21至 第N待測(cè)單元23)，測(cè)試切換單元50會(huì)根據(jù)控制單元10所提供的控 制訊號(hào)來(lái)開(kāi)放測(cè)試的路徑，且測(cè)試路徑各自獨(dú)立且相互絕緣，而此測(cè) 試的路徑是根據(jù)上述的待測(cè)裝置(第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元 23)所提出的測(cè)試要求來(lái)決定。也就是說(shuō)，假設(shè)當(dāng)上述的其中一個(gè)待測(cè)單元根據(jù)其測(cè)試需求而提 出一測(cè)試要求至控制單元10時(shí)，控制單元10會(huì)執(zhí)行測(cè)試程序，并控 制測(cè)試切換單元50開(kāi)放此待測(cè)單元相對(duì)應(yīng)的測(cè)試路徑，使測(cè)試裝置40 得以測(cè)試此待測(cè)單元。如此一來(lái)，本發(fā)明所提供的整合測(cè)試系統(tǒng)僅需 要一個(gè)測(cè)試裝置40，通過(guò)測(cè)試切換單元50不斷地切換測(cè)試路徑，便能
測(cè)試多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品，以大幅降低添購(gòu)測(cè)試裝置40的費(fèi)用，以及往后維 護(hù)測(cè)試裝置40的費(fèi)用。請(qǐng)參考圖2所示，為本發(fā)明內(nèi)容的控制單元控制測(cè)試裝置及測(cè)試 切換單元之方塊示意圖。測(cè)試切換單元50由一切換控制電路510及多 個(gè)切換開(kāi)關(guān)所組成。而切換開(kāi)關(guān)的數(shù)量隨著使用者的需求而決定，且 排列成一樹(shù)狀結(jié)構(gòu)。以本實(shí)施例來(lái)看，測(cè)試切換單元50內(nèi)包含七個(gè)切換開(kāi)關(guān)，分別為 第一切換開(kāi)關(guān)521、第二切換開(kāi)關(guān)522、第三切換開(kāi)關(guān)523、第四切換 開(kāi)關(guān)524、第五切換開(kāi)關(guān)525、第六切換開(kāi)關(guān)526及第七切換開(kāi)關(guān)527， 每一切換開(kāi)關(guān)皆連結(jié)于切換控制電路510。其中，第一切換開(kāi)關(guān)521連 結(jié)于第二切換開(kāi)關(guān)522與第三切換開(kāi)關(guān)523，第二切換開(kāi)關(guān)522連結(jié)于 第四切換開(kāi)關(guān)524及第五切換開(kāi)關(guān)525，第三切換開(kāi)關(guān)523則連結(jié)于第 六切換開(kāi)關(guān)526及第七切換開(kāi)關(guān)527，因此在測(cè)試切換單元50的輸出 端，可支持八個(gè)測(cè)試路徑，且此八個(gè)測(cè)試路徑皆為各自獨(dú)立且相互絕 緣，分別為第一測(cè)試路徑531、第二測(cè)試路徑532、第三測(cè)試路徑533、 第四測(cè)試路徑534、第五測(cè)試路徑535、第六測(cè)試路徑536、第七測(cè)試 路徑537及第八測(cè)試路徑538。每一測(cè)試路徑分別對(duì)應(yīng)至其中一個(gè)待測(cè) 單元，即測(cè)試路徑有八個(gè)，待測(cè)單元亦為八個(gè)。當(dāng)控制單元10輸出一控制訊號(hào)來(lái)控制切換控制電路510，切換控 制電路510會(huì)進(jìn)一步地控制每一切換開(kāi)關(guān)的切換動(dòng)作，進(jìn)而決定測(cè)試 切換單元50的輸出端所開(kāi)放的測(cè)試路徑。當(dāng)測(cè)試切換單元50決定出 一測(cè)試路徑時(shí)，測(cè)試裝置40則會(huì)執(zhí)行此測(cè)試路徑所對(duì)應(yīng)的待測(cè)單元的 測(cè)試。為了更進(jìn)一步地闡述本發(fā)明的內(nèi)容，請(qǐng)圖l至圖3所示，其中圖3 為本發(fā)明內(nèi)容的整合測(cè)試方法的流程圖。當(dāng)整合測(cè)試系統(tǒng)啟動(dòng)后，測(cè) 試系統(tǒng)內(nèi)部的元件皆會(huì)回到初始化狀態(tài)，如步驟S310。本發(fā)明實(shí)施例
預(yù)設(shè)整合測(cè)試系統(tǒng)之初始化狀態(tài)，為先開(kāi)放第一測(cè)試路徑531。接著，整合測(cè)試系統(tǒng)會(huì)進(jìn)一步地偵測(cè)其內(nèi)部其中的一個(gè)待測(cè)單元 (第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元23)是否依據(jù)其測(cè)試需求來(lái)提出 一測(cè)試要求，如步驟S320。由于本實(shí)施例預(yù)設(shè)第一測(cè)試路徑531先開(kāi) 放，且則整合測(cè)試系統(tǒng)會(huì)先由第一測(cè)試路徑531所對(duì)應(yīng)之第一待測(cè)單 元21開(kāi)始偵測(cè)是否有測(cè)試要求提出。若第一待測(cè)單元尚未提出測(cè)試要 求，表示待測(cè)產(chǎn)品可能尚未置入第一待測(cè)裝置211內(nèi)，甚至任一待測(cè) 裝置內(nèi)亦無(wú)任何待測(cè)產(chǎn)品置入，此時(shí)，整合測(cè)試系統(tǒng)會(huì)繼續(xù)等待，直 到待測(cè)產(chǎn)品已至少置入第一待測(cè)裝置211內(nèi)，且第一待測(cè)裝置211也 通過(guò)第一輔助測(cè)試單元213提出測(cè)試要求至控制單元10。若第一待測(cè) 單元已提出測(cè)試要求至控制單元10時(shí)，控制單元10會(huì)執(zhí)行測(cè)試程序， 并根據(jù)測(cè)試要求產(chǎn)生一控制訊號(hào)，如步驟S330。測(cè)試切換單元50會(huì)根據(jù)此控制訊號(hào)來(lái)開(kāi)放其中一個(gè)測(cè)試路徑，再 加上第一測(cè)試路徑為預(yù)設(shè)開(kāi)放的測(cè)試路徑，因此測(cè)試裝置40會(huì)進(jìn)一步 地測(cè)試第一待測(cè)裝置211內(nèi)之待測(cè)產(chǎn)品的某一特性參數(shù)，并產(chǎn)生一測(cè) 試結(jié)果，如步驟S340。接著，整合測(cè)試系統(tǒng)會(huì)進(jìn)一步地判斷所有的待 測(cè)單元(第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元23)的待測(cè)產(chǎn)品具有所有 的特性參數(shù)是否已測(cè)試完畢，如步驟S350。若所有待測(cè)單元內(nèi)待測(cè)產(chǎn)品所有的特性參數(shù)尚未測(cè)試完畢，則回 到步驟S320，控制單元IO會(huì)繼續(xù)等待下一個(gè)待測(cè)單元提出測(cè)試要求， 以進(jìn)一步地測(cè)試下一個(gè)待測(cè)單元內(nèi)待測(cè)產(chǎn)品的特性參數(shù)。若所有待測(cè) 單元內(nèi)之待測(cè)產(chǎn)品所有的特性參數(shù)已測(cè)試完畢，則結(jié)束測(cè)試程序，如 步驟S360。其中，每一待測(cè)單元(第一待測(cè)單元21至第N待測(cè)單元23)皆 具有量測(cè)上述的待測(cè)產(chǎn)品多項(xiàng)特性參數(shù)(multi-function)的能力，且可 隨機(jī)地根據(jù)其測(cè)試需求來(lái)提出測(cè)試要求。也就是說(shuō)，此整合測(cè)試系統(tǒng) 在執(zhí)行某項(xiàng)特性參數(shù)的測(cè)試時(shí)，無(wú)須依序地由第一待測(cè)單元21執(zhí)行至第N待測(cè)單元23，且無(wú)須等到每一待測(cè)單元皆完成此項(xiàng)特性參數(shù)的測(cè) 試后，才能執(zhí)行下一特性參數(shù)的測(cè)試。如此一來(lái)，便可以大幅地降低 測(cè)試裝置40閑置的時(shí)間，以及降低測(cè)試待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試時(shí)間。本發(fā)明所提供的附圖僅提供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加 以限制。以上所述，僅為本發(fā)明之較佳可行實(shí)施例，非因此即局限本 發(fā)明之專利范圍，故舉凡運(yùn)用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及圖標(biāo)內(nèi)容所為之等效結(jié) 構(gòu)變化，均同理包含于本發(fā)明之范圍內(nèi)，合予陳明。
權(quán)利要求
1.一種整合測(cè)試系統(tǒng)，其應(yīng)用于無(wú)線或高頻的領(lǐng)域，其特征在于包含多個(gè)待測(cè)單元，且每一待測(cè)單元可依據(jù)其測(cè)試需求來(lái)提出一測(cè)試要求；一控制單元，可接收該測(cè)試要求，并根據(jù)該測(cè)試要求來(lái)執(zhí)行一測(cè)試程序，進(jìn)而產(chǎn)生一控制訊號(hào)；一測(cè)試切換單元，可接收該控制訊號(hào)，并據(jù)以切換至提出測(cè)試要求之該待測(cè)單元；以及一測(cè)試裝置，受該控制單元的控制，可通過(guò)該測(cè)試切換單元來(lái)電性連接所述的待測(cè)單元以進(jìn)行測(cè)試。
2. 如權(quán)利要求l所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于每一待測(cè)單元 還包含一待測(cè)裝置以及一輔助測(cè)試單元。
3. 如權(quán)利要求2所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該待測(cè)裝置連 接該輔助測(cè)試單元，向該控制單元提出該測(cè)試要求。
4. 如權(quán)利要求2所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的輔助測(cè) 試單元為計(jì)算機(jī)裝置。
5. 如權(quán)利要求1所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試切換單元還包含至少一個(gè)切換開(kāi)關(guān)，用以切換該測(cè)試裝置與所述的測(cè)試單元之一 之間的測(cè)試路徑；以及一個(gè)切換控制電路，根據(jù)該控制訊號(hào)來(lái)控制該切換開(kāi)關(guān)之切換動(dòng)作。
6. 如權(quán)利要求5所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的切換開(kāi) 關(guān)之連結(jié)為樹(shù)狀結(jié)構(gòu)排列。
7. 如權(quán)利要求5所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于每一切換開(kāi)關(guān) 提供兩種測(cè)試路徑。
8. 如權(quán)利要求1所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該整合測(cè)試系 統(tǒng)進(jìn)一步包含一指令傳輸單元，用以作為所述的待測(cè)單元及該控制單 元的連結(jié)橋梁，使所述的待測(cè)單元得以隨機(jī)地將測(cè)試要求傳送至該控 制單元。
9. 如權(quán)利要求8所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該指令傳輸單 元為一集線器。
10. 如權(quán)利要求1所述的整合測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試裝置 為一綜合測(cè)試儀。
11. 一種測(cè)試切換單元，設(shè)置于一無(wú)線或高頻領(lǐng)域之整合測(cè)試系 統(tǒng)內(nèi)，其特征在于包含有多個(gè)切換開(kāi)關(guān)，用以形成多個(gè)各自獨(dú)立且相互絕緣的測(cè)試路徑；以及一個(gè)切換控制電路，電性連結(jié)于所述的切換開(kāi)關(guān)，用以控制該切 換開(kāi)關(guān)之切換動(dòng)作。
12. 如權(quán)利要求ll所述的測(cè)試切換單元，其特征在于所述的切換 開(kāi)關(guān)之間的連結(jié)以樹(shù)狀結(jié)構(gòu)排列。
13. 如權(quán)利要求11所述的測(cè)試切換單元，其特征在于每一切換開(kāi) 關(guān)決定兩種測(cè)試路徑。
14. 一種整合測(cè)試方法，其特征在于包含 判斷一整合測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)是否有一待測(cè)單元提出一測(cè)試要求；以及 根據(jù)該測(cè)試要求，執(zhí)行一測(cè)試程序，并產(chǎn)生一控制訊號(hào)； 根據(jù)該控制訊號(hào)，決定一測(cè)試裝置所需測(cè)試的測(cè)試路徑；以及 根據(jù)該測(cè)試程序及所決定之測(cè)試路徑，來(lái)執(zhí)行該待測(cè)單元內(nèi)之待 測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試，并產(chǎn)生一測(cè)試結(jié)果。
15. 如權(quán)利要求14所述的整合測(cè)試方法，其特征在于該待測(cè)單元 是根據(jù)其測(cè)試需求來(lái)提出該測(cè)試要求，以進(jìn)一步產(chǎn)生該控制訊號(hào)。
16. 如權(quán)利要求15所述的整合測(cè)試方法，其特征在于該測(cè)試裝置 是根據(jù)該待測(cè)單元之需求，來(lái)測(cè)試該待測(cè)產(chǎn)品不同的特性參數(shù)。
17. 如權(quán)利要求14所述的整合測(cè)試方法，其特征在于該待測(cè)單元 將該測(cè)試要求傳送至一控制單元，以執(zhí)行該測(cè)試程序及產(chǎn)生該控制訊號(hào)。
18. 如權(quán)利要求17所述的整合測(cè)試方法，其特征在于該測(cè)試要求 是通過(guò)網(wǎng)絡(luò)傳送至該控制單元。
19. 如權(quán)利要求14所述的整合測(cè)試方法，其特征在于該測(cè)試應(yīng)用 于無(wú)線或高頻的領(lǐng)域。
全文摘要
一種無(wú)線高頻整合測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法，包含控制單元、多個(gè)待測(cè)單元、測(cè)試裝置及測(cè)試切換單元。本發(fā)明以控制單元并搭配測(cè)試切換單元，來(lái)切換多個(gè)測(cè)試待測(cè)無(wú)線高頻產(chǎn)品的測(cè)試路徑，并根據(jù)每一待測(cè)單元的測(cè)試需求，來(lái)隨機(jī)地測(cè)試待測(cè)無(wú)線高頻產(chǎn)品，以減少添購(gòu)昂貴測(cè)試裝置的費(fèi)用、避免測(cè)試多個(gè)待測(cè)無(wú)線高頻產(chǎn)品時(shí)之間的相互干擾、大幅降低測(cè)試裝置閑置的時(shí)間以及待測(cè)產(chǎn)品的平均測(cè)試時(shí)間。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101118264SQ20061010868
公開(kāi)日2008年2月6日 申請(qǐng)日期2006年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月3日
發(fā)明者吳俊明, 朱昱達(dá), 林伯亮, 洪儀城, 洪和誠(chéng), 蔡坤霖 申請(qǐng)人:環(huán)隆電氣股份有限公司