專利名稱：點燈測試機的環(huán)保燈箱的制作方法
技術領域：
本發(fā)明是關于一種點燈測試機的環(huán)保燈箱，尤指一種無需使用含大量高污染物質(如汞)的熒光燈管的環(huán)保燈箱，以符合即將于2006年7月起實施的歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(ROHS)對于電子電機設備(如點燈測試機)中所具有危害物質含量的嚴格規(guī)定。
背景技術：
在液晶面板的整個制造過程中，利用光學檢測的方法檢查液晶面板的質量是否符合制程標準是非常重要的，如玻璃基板的表面質量。一旦發(fā)現(xiàn)不符合制程標準的液晶面板或半成品，就必須立即進行補救，以免浪費寶貴的制程時間與材料成本。而在目前所應用的各種光學檢測機臺中，點燈測試機(light-on inspecting device)常被應用于檢測驅動電路是否正確地形成，其利用一個燈箱(仿真背光模塊)與兩偏光板(分別位于待測的液晶面板或半成品的上下兩側)模擬液晶面板提供其顯示數(shù)據(jù)時的狀態(tài)。
但是，在目前業(yè)界所使用的點燈測試機中，其提供光源的燈箱是使用復數(shù)個高亮度熒光燈，以提供足夠亮度的光源供檢測用。而當這些高亮度熒光燈的使用壽命將屆而必須被丟棄時，這些「高亮度熒光燈」因其內(nèi)部具有大量的高污染物質(如汞)，其回收處理的成本極高且容易對環(huán)境造成無可挽回的污染。
此外，將于2006年7月起實施的歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(ROHS)對于電子電機設備中所具有危害物質的含量有非常嚴格的規(guī)定，且此指令(ROHS)亦規(guī)定無法符合其規(guī)定的電子電機設備及其產(chǎn)制品將被禁止于歐洲地區(qū)或其它同樣實施ROHS指令的國家境內(nèi)制造、販賣或進出口等。其部分規(guī)定摘錄于下「一般用途直管日光燈的汞含量不得超過--鹵素磷酸鹽型10毫克--三磷酸鹽一般型5毫克--三磷酸鹽長效型8毫克」很明顯地，目前業(yè)界所使用的點燈測試機的燈箱所使用的復數(shù)個含大量高污染物質的高亮度熒光燈管不符合上述的規(guī)定。因此，目前業(yè)界所使用的點燈測試機很有可能會被禁止于歐洲地區(qū)或其它同樣實施ROHS指令的國家境內(nèi)制造、販賣或進出口等。還嚴重的是，其產(chǎn)制品(即液晶面板)亦有極大的機會會因而無法于歐洲地區(qū)或其它同樣實施ROHS指令的國家制造、販賣或進出口等。
所以，為了減少環(huán)境的負擔，且使液晶面板能于歐洲地區(qū)或其它同樣實施ROHS指令的國家境內(nèi)制造、販賣或進出口，業(yè)界需要一種無需使用含大量高污染物質(如汞)的熒光燈管的環(huán)保燈箱，以應用于液晶面板制造過程中不可或缺的點燈測試機里。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種點燈測試機的環(huán)保燈箱，以減少環(huán)境污染。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的點燈測試機的環(huán)保燈箱，提供檢測一待測物時所需的光源，包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
本發(fā)明提供的點燈測試機，用于檢測一待測物，包括一待測物輸入部，用于放置預備接受檢測的待測物；一待測物輸出部，用于放置完成檢測的待測物；一待測物檢測部，位于該待測物輸入部與該待測物輸出部之間，且至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一探針部、一第二偏光板及一光偵測器，以檢測該待測物；以及一待測物承載裝置，承載預備接受檢測的待測物由該待測物輸入部移動至該待測物檢測部，且將完成檢測的待測物由該待測物檢測部移動至該待測物輸出部；其中，該環(huán)保燈箱提供檢測該待測物所需的光源，且該環(huán)保燈箱所提供的光源在依序通過該第一偏光板、與該探針部電連接的待測物與該第二偏光板后，進入該光偵測器；該探針部電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于該待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
所述的點燈測試機，其中該待測物為一未經(jīng)打線接合制程的液晶面板。
所述的點燈測試機，其中該光偵測器為一電荷耦合組件。
本發(fā)明提供的點燈測試機，用于檢測一待測物，還包括一待測物輸入部，用于放置預備接受檢測的待測物；一待測物輸出部，用于放置完成檢測的待測物；一待測物檢測部，位于該待測物輸入部與該待測物輸出部之間，且至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一第二偏光板及一光偵測器，以檢測該待測物；以及一待測物承載裝置，承載預備接受檢測的待測物由該待測物輸入部移動至該待測物檢測部，且將完成檢測的待測物由該待測物檢測部移動至該待測物輸出部；
其中，該環(huán)保燈箱提供檢測該待測物所需的光源，且該環(huán)保燈箱所提供的光源在依序通過該第一偏光板、該待測物與該第二偏光板后，進入該光偵測器；該待測物電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于該待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱提供檢測所需的光源，其包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
所述的點燈測試機，其中該待測物為一經(jīng)過打線接合制程的液晶面板。
所述的點燈測試機，其中該光偵測器為一電荷耦合組件。
詳細地說，本發(fā)明是提供檢測一待測物時所需的光源，包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于此燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元。其中，此等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由此出光面而照射于此待測物。
本發(fā)明的點燈測試機，用于檢測一待測物，包括一待測物輸入部、一待測物檢測部、一待測物輸出部以及一待測物承載裝置。其中，此待測物輸入部用于放置預備接受檢測的待測物，此待測物輸出部則用于放置完成檢測的待測物，而此待測物檢測部位于此待測物輸入部與此待測物輸出部之間，且此待測物承載裝置承載預備接受檢測的待測物由此待測物輸入部移動至此待測物檢測部并將完成檢測的待測物由此待測物檢測部移動至此待測物輸出部。此待測物檢測部至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一探針部、一第二偏光板及一光偵測器，且其環(huán)保燈箱提供檢測此待測物所需的光源。當檢測進行時，此環(huán)保燈箱所提供的光源依序通過此第一偏光板、與此探針部電連接的待測物與此第二偏光板后，而進入此光偵測器。此外，此探針部電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于此待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
本發(fā)明的點燈測試機，用于檢測一待測物，包括一待測物輸入部、一待測物檢測部、一待測物輸出部以及一待測物承載裝置。其中，此待測物輸入部用于放置預備接受檢測的待測物，此待測物輸出部則用于放置完成檢測的待測物，而此待測物檢測部位于此待測物輸入部與此待測物輸出部之間，且此待測物承載裝置承載預備接受檢測的待測物由此待測物輸入部移動至此待測物檢測部并將完成檢測的待測物由此待測物檢測部移動至此待測物輸出部。此待測物檢測部至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一第二偏光板及一光偵測器，且其環(huán)保燈箱提供檢測此待測物所需的光源。當檢測進行時，此環(huán)保燈箱所提供的光源依序通過此第一偏光板、此待測物與此第二偏光板后，而進入此光偵測器。此外，此待測物電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于此待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
因此，由使用本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱，目前廣泛應用于液晶面板制造過程的檢測步驟的點燈測試機便不再需要使用那些含有大量高污染物質(如汞)的熒光燈管做為其光源，而可使用其它種類的環(huán)保光源(如發(fā)光二極管或無汞平面光源)。如此，那些目前已經(jīng)被應用于液晶面板制造過程的檢測步驟的點燈測試機便可大幅地減低它們對環(huán)境所造成的污染(廢棄熒光燈管內(nèi)所含的汞)以及它們在運作時所消耗的能源。此外，由使用本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱，這些點燈測試機便可符合將于2006年7月起實施的歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(ROHS)的嚴格規(guī)定，使得由這些點燈測試機進行檢測的液晶面板或其它產(chǎn)品仍可順利地于歐洲及其它同樣實施ROHS規(guī)定的國家銷售，而不致遭受到禁止進口或禁止銷售的限制。
本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱可利用任何裝置以均勻化其發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布，其較佳利用一擴散板均勻化其發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱可于其內(nèi)部任何位置還包括一光學透鏡層，此光學透鏡層較佳位于其發(fā)光單元與其擴散板之間。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱可利用任何種類的光學透鏡層以擴散其發(fā)光單元所提供的光源，此光學透鏡層較佳排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱的光學透鏡層的復數(shù)個菲涅耳透鏡可與其發(fā)光單元間存在有任何類型的對應關系，其光學透鏡層的復數(shù)個菲涅耳透鏡較佳為一對一對應于其發(fā)光單元。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱可具有任何種類的發(fā)光單元，其較佳為發(fā)光二極管、無汞平面光源、場發(fā)射顯示單元(FED)或任何可提供白色光源的發(fā)光體。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱的可提供白色光源的復數(shù)個發(fā)光單元可包括任何種類的發(fā)光二極管，其較佳包括復數(shù)個白色發(fā)光二極管、復數(shù)個均由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成的發(fā)光二極管單元或一由復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管組合而成的白光發(fā)光數(shù)組。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱所使用的復數(shù)個發(fā)光二極管可由任何類型的冷卻方式冷卻，其較佳利用一包括散熱片及冷卻風扇的氣冷式冷卻方式、一利用導熱流體的水冷式冷卻方式或一應用至少一散熱芯片的冷卻方式。
本發(fā)明的點燈測試機可應用于檢測任何種類的液晶面板，此液晶面板較佳為一未經(jīng)打線接合制程的液晶面板或一已經(jīng)過打線接合制程的液晶面板。本發(fā)明的點燈測試機可使用任何種類的光偵測器，其較佳為一電荷耦合組件或一光電二極管。本發(fā)明的點燈測試機可使用任何類型的探針部，其較佳為一探針卡。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱可利用任何裝置以均勻化其發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布，其較佳利用一擴散板均勻化其發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱可于其內(nèi)部任何位置還包括一光學透鏡層，此光學透鏡層較佳位于其發(fā)光單元與其擴散板之間。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱可利用任何種類的光學透鏡層以擴散其發(fā)光單元所提供的光源，此光學透鏡層較佳排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱的光學透鏡層的復數(shù)個菲涅耳透鏡可與其發(fā)光單元間存在有任何類型的對應關系，其光學透鏡層的復數(shù)個菲涅耳透鏡較佳為一對一對應于其發(fā)光單元。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱可具有任何種類的發(fā)光單元，其較佳為發(fā)光二極管、無汞平面光源、場發(fā)射顯示單元或任何可提供白色光源的發(fā)光體。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱的可提供白色光源的復數(shù)個發(fā)光單元可包括任何種類的發(fā)光二極管，其較佳包括復數(shù)個白色發(fā)光二極管、復數(shù)個均由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成的發(fā)光二極管單元或一由復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管組合而成的白光發(fā)光數(shù)組。本發(fā)明的點燈測試機所使用的環(huán)保燈箱所使用的復數(shù)個發(fā)光二極管可由任何類型的冷卻方式冷卻，其較佳利用一包括散熱片及冷卻風扇的氣冷式冷卻方式、一利用導熱流體的水冷式冷卻方式或一應用至少一散熱芯片的冷卻方式。


圖1為本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的立體示意圖。
圖2為圖1中，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的待測物檢測部的示意圖。
圖3A至圖3C為本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱的可能態(tài)樣的示意圖。
圖4A至圖4D為本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱的可能態(tài)樣的示意圖。
圖5為本發(fā)明第二較佳實施例的點燈測試機的立體示意圖。
具體實施例方式
圖1為本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的立體示意圖，其包括待測物輸入部11、待測物檢測部12、待測物輸出部13以及待測物承載裝置111。當本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機檢測一待測物時，如一未經(jīng)打線接合(wire bonding)制程的液晶面板，預備接受檢測的待測物141被放置于位于待測物輸入部11的待測物承載裝置111上。接著，待測物141被待測物承載裝置111承載，而由待測物輸入部11被移動至待測物檢測部12，以接受檢測，而待測物檢測部12的構造則如圖2所示。
此時，探針卡23便移動其位置，以使其所具有的各個探針分別電連接于待測物142上各個相對應的位置。探針卡23另電連接于一訊號產(chǎn)生器(圖中未示)，以輸入各種檢測訊號于待測物142，使待測物142產(chǎn)生對應的檢測圖案。而由這些不同類型的檢測圖案，使用者便可檢測出待測物142是否具有任何缺陷。
如圖2所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的待測物檢測部12具有環(huán)保燈箱21、第一偏光板22、探針卡23、第二偏光板24及光偵測器25，而當待測物142接受檢測時，環(huán)保燈箱21所提供的光源會依序通過第一偏光板22、與探針卡23電連接的待測物142與第二偏光板24后，而進入光偵測器25里。在此較佳實施例中，光偵測器25為一電荷耦合組件(CCD)偵測器。
另一方面，環(huán)保燈箱21容納復數(shù)個白光發(fā)光二極管212于其中，以提供白色光源，且其出光面還設有擴散板211，以均勻化復數(shù)個白光發(fā)光二極管212所提供的白色光源的光強度分布。此外，第一偏光板22的偏極化方向系垂直于第二偏光板24的偏極化方向。
最后，當待測物142檢測完畢時，待測物承載裝置111便承載待測物142，使其從待測物檢測部12被移動至待測物輸出部13，以準備執(zhí)行后續(xù)的制程。
如前所述，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21是提供檢測待測物所需的白色光源，所以其提供白色光源的方式并非僅限于前述的白色發(fā)光二極管，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21亦可使用其它方式提供白色光源，如下所述
如圖3A所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有復數(shù)個紅光發(fā)光二極管311、復數(shù)個綠光發(fā)光二極管312及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管313于其中，以分別提供紅光、綠光及藍光。而經(jīng)由適當?shù)墓鈱W設計以后，前述的紅光、綠光及藍光便可適當?shù)鼗旌隙纬砂坠?白色光源)。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于其出光面設有擴散板211，以均勻化前述因混合而產(chǎn)生的白色光源的光強度分布。
如圖3B所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有復數(shù)個分別由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一綠光發(fā)光二極管及至少一藍光發(fā)光二極管構成的白色發(fā)光單元32于其中。而這些位于各白色發(fā)光單元32內(nèi)部的紅光發(fā)光二極管、綠光發(fā)光二極管及藍光發(fā)光二極管所分別產(chǎn)生的紅光、綠光及藍光可經(jīng)過適當?shù)墓鈱W設計而混合形成白光(白色光源)。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于其出光面設有擴散板211，以均勻化復數(shù)個白色發(fā)光單元32所提供的白色光源的光強度分布。
如圖3C所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有一無汞平面光源(Flat Fluorescent Lamp，F(xiàn)FL)33于其中，以提供白色光源。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于其出光面設有擴散板211，以均勻化無汞平面光源33所提供的白色光源的光強度分布。
另一方面，為了還進一步地提供一具有還均勻的光強度的白色光源，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱可還包括一光學透鏡層于其復數(shù)個白色發(fā)光單元與其擴散板之間。此光學透鏡層可由復數(shù)個菲涅耳透鏡(Fresnel lens)構成，以使這些白色發(fā)光單元所提供的白色光源因被這些菲涅耳透鏡「擴散」而具有還均勻的光強度分布。此外，這些菲涅耳透鏡較佳一對一對應于復數(shù)個白色發(fā)光單元，以提升其「擴散」復數(shù)個白色發(fā)光單元所提供的白色光源的能力。
如圖4A所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有復數(shù)個白光發(fā)光二極管41于其中以提供白光光源。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21并于其出光面設有擴散板211，以均勻化復數(shù)個白光發(fā)光二極管41所提供的白光光源的光強度分布。另一方面，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于擴散板211與復數(shù)個白色發(fā)光二極管41之間設有一由復數(shù)個菲涅耳透鏡構成的光學透鏡層213，以使復數(shù)個白色發(fā)光二極管41所提供的白色光源還進一步地被「擴散」，使得本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21可提供具有還均勻的光強度分布的白色光源。
如圖4B所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有復數(shù)個紅光發(fā)光二極管421、復數(shù)個綠光發(fā)光二極管422及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管423于其中，以分別提供紅光、綠光及藍光。而經(jīng)由適當?shù)墓鈱W設計以后，前述的紅光、綠光及藍光便可適當?shù)鼗旌隙纬砂坠?白色光源)。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21并于其出光面設有擴散板211，以均勻化前述因混合而形成的白色光源的光強度分布。另一方面，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于擴散板211與前述的三種發(fā)光二極管之間設有一由復數(shù)個菲涅耳透鏡構成的光學透鏡層213，以使前述因混合而形成的白色光源還進一步地被「擴散」，使得本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21可提供具有還均勻的光強度分布的白色光源。
如圖4C所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有復數(shù)個分別由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一綠光發(fā)光二極管及至少一藍光發(fā)光二極管構成的白色發(fā)光單元43于其中。而這些位于各白色發(fā)光單元43內(nèi)部的紅光發(fā)光二極管、綠光發(fā)光二極管及藍光發(fā)光二極管所分別產(chǎn)生的紅光、綠光及藍光可經(jīng)過適當?shù)墓鈱W設計而混合形成白光(白色光源)。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21并于其出光面設有擴散板211，以均勻化白色發(fā)光單元43所提供的白色光源的光強度分布。另一方面，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于擴散板211與復數(shù)個白色發(fā)光單元43之間設有一由復數(shù)個菲涅耳透鏡構成的光學透鏡層213，以使復數(shù)個白色發(fā)光單元43所提供的白色光源還進一步地被「擴散」，使得本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21可提供具有還均勻的光強度分布的白色光源。
如圖4D所示，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21容納有一無汞平面光源44于其中，以提供白色光源。此外，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21并于其出光面設有擴散板211，以均勻化無汞平面光源44所提供的白色光源的光強度分布。另一方面，本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21還于擴散板211與無汞平面光源44之間設有一由復數(shù)個菲涅耳透鏡構成的光學透鏡層213，以使無汞平面光源44所提供的白色光源還進一步地被「擴散」，使得本發(fā)明第一較佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱21可提供具有還均勻的光強度分布的白色光源。
圖5為本發(fā)明第二較佳實施例的點燈測試機的立體示意圖，其包括待測物輸入部51、待測物檢測部52、待測物輸出部53以及待測物承載裝置511。當本發(fā)明第二較佳實施例的點燈測試機檢測一待測物時，如一經(jīng)過打線接合(wire bonding)制程的液晶面板，預備接受檢測的待測物541被放置于位于待測物輸入部51的待測物承載裝置511上。接著，待測物541被待測物承載裝置511承載，由待測物輸入部51被移動至待測物檢測部52，以接受檢測。
此時，待測物542電連接于一訊號產(chǎn)生器(圖中未示)，以輸入各種檢測訊號于待測物542，使待測物542產(chǎn)生對應的檢測圖案。而由這些不同類型的檢測圖案，使用者便可檢測出待測物542是否具有任何缺陷。
如圖5所示，本發(fā)明第二較佳實施例的點燈測試機的待測物檢測部52具有環(huán)保燈箱521、第一偏光板522、第二偏光板523及光偵測器524，而當檢測待測物542接受檢測時，待測物542位于第一偏光板522及第二偏光板523之間。此時，環(huán)保燈箱521所提供的光源會依序通過第一偏光板522、待測物542與第二偏光板523后，而進入光偵測器524。其中，第一偏光板522的偏極化方向垂直于第二偏光板523的偏極化方向。
最后，當待測物542檢測完畢時，待測物承載裝置511便承載待測物542，使其從待測物檢測部52被移動至待測物輸出部53，以準備執(zhí)行后續(xù)的制程。
在本發(fā)明第二較佳實施例的點燈測試機中，環(huán)保燈箱可容納有復數(shù)個白光發(fā)光二極管于其中，以提供白色光源。此外，環(huán)保燈箱的出光面還可設有一擴散板，以均勻化復數(shù)個白光發(fā)光二極管所提供的白色光源的光強度分布。
另一方面，本發(fā)明第二佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱亦可具有其它可提供白色光源的構造，例如(1)容納復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個綠光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管于其中；(2)容納復數(shù)個分別由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一綠光發(fā)光二極管及至少一藍光發(fā)光二極管構成的白色發(fā)光單元于其中；或(3)容納一無汞平面光源于其中。
也就是說，本發(fā)明第二佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱與前述的本發(fā)明第一佳實施例的點燈測試機的環(huán)保燈箱一樣，其亦可具有如前述圖3A至圖3C與圖4A至圖4D所示的結構，以提供白色光源。
綜上所述，由使用本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱，目前廣泛應用于液晶面板制造過程的檢測步驟的點燈測試機便不再需要使用那些含有大量高污染物質(如汞)的熒光燈管做為其光源，而可使用其它種類的環(huán)保光源(如發(fā)光二極管或無汞平面光源)。如此，那些目前已經(jīng)被應用于液晶面板制造過程的檢測步驟的點燈測試機便可大幅地減低它們對環(huán)境所造成的污染(廢棄熒光燈管內(nèi)所含的汞)以及它們在運作時所消耗的能源。此外，由使用本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱，這些點燈測試機便可符合將于2006年7月起實施的歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(ROHS)的嚴格規(guī)定，使得由這些點燈測試機進行檢測的液晶面板或其它產(chǎn)品仍可順利地于歐洲及其它同樣實施ROHS規(guī)定的國家銷售，而不致遭受到禁止進口或禁止銷售的限制。
上述實施例僅為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權利范圍自應以申請專利范圍所述為準，而非僅限于上述實施例。
權利要求
1.一種點燈測試機的環(huán)保燈箱，提供檢測一待測物時所需的光源，包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
2.如權利要求1所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
3.如權利要求2所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
4.如權利要求3所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
5.如權利要求4所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
6.如權利要求2所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
7.如權利要求2所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
8.如權利要求7所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
9.如權利要求8所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
10.如權利要求2所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
11.如權利要求2所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
12.如權利要求1所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
13.如權利要求12所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
14.如權利要求13所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
15.如權利要求6所述的點燈測試機的環(huán)保燈箱，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
16.一種點燈測試機，用于檢測一待測物，包括一待測物輸入部，用于放置預備接受檢測的待測物；一待測物輸出部，用于放置完成檢測的待測物；一待測物檢測部，位于該待測物輸入部與該待測物輸出部之間，且至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一探針部、一第二偏光板及一光偵測器，以檢測該待測物；以及一待測物承載裝置，承載預備接受檢測的待測物由該待測物輸入部移動至該待測物檢測部，且將完成檢測的待測物由該待測物檢測部移動至該待測物輸出部；其中，該環(huán)保燈箱提供檢測該待測物所需的光源，且該環(huán)保燈箱所提供的光源在依序通過該第一偏光板、與該探針部電連接的待測物與該第二偏光板后，進入該光偵測器；該探針部電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于該待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
17.如權利要求16所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
18.如權利要求17所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
19.如權利要求18所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
20.如權利要求19所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
21.如權利要求20所述的點燈測試機，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
22.如權利要求18所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
23.如權利要求18所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
24.如權利要求23所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
25.如權利要求24所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
26.如權利要求18所述的點燈測試機，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
27.如權利要求18所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
28.如權利要求17所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
29.如權利要求28所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
30.如權利要求29所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
31.如權利要求22所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
32.如權利要求16所述的點燈測試機，其中該待測物為一未經(jīng)打線接合制程的液晶面板。
33.如權利要求16所述的點燈測試機，其中該光偵測器為一電荷耦合組件。
34.一種點燈測試機，用于檢測一待測物，包括一待測物輸入部，用于放置預備接受檢測的待測物；一待測物輸出部，用于放置完成檢測的待測物；一待測物檢測部，位于該待測物輸入部與該待測物輸出部之間，且至少包括一環(huán)保燈箱、一第一偏光板、一第二偏光板及一光偵測器，以檢測該待測物；以及一待測物承載裝置，承載預備接受檢測的待測物由該待測物輸入部移動至該待測物檢測部，且將完成檢測的待測物由該待測物檢測部移動至該待測物輸出部；其中，該環(huán)保燈箱提供檢測該待測物所需的光源，且該環(huán)保燈箱所提供的光源在依序通過該第一偏光板、該待測物與該第二偏光板后，進入該光偵測器；該待測物電連接于一訊號產(chǎn)生器，以于該待測物產(chǎn)生至少一檢測圖案。
35.如權利要求34所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱提供檢測所需的光源，其包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于該燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元；其中，該等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由該出光面而照射于該待測物。
36.如權利要求35所述的點燈測試機，其中該環(huán)保燈箱還包括一位于該出光面的擴散板，以均勻化該等發(fā)光單元所提供的光源的光強度分布。
37.如權利要求36所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
38.如權利要求37所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
39.如權利要求38所述的點燈測試機，其中該等菲涅耳透鏡為一對一對應于該等發(fā)光單元。
40.如權利要求36所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為發(fā)光二極管。
41.如權利要求36所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為白光發(fā)光二極管。
42.如權利要求41所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該擴散板之間。
43.如權利要求42所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
44.如權利要求36所述的點燈測試機，其中每一該等發(fā)光單元由至少一紅光發(fā)光二極管、至少一藍光發(fā)光二極管及一綠光發(fā)光二極管組合而成。
45.如權利要求36所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元包括復數(shù)個紅光發(fā)光二極管、復數(shù)個藍光發(fā)光二極管及復數(shù)個藍光發(fā)光二極管。
46.如權利要求35所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光單元為無汞平面光源。
47.如權利要求46所述的點燈測試機，其中該點燈測試機的環(huán)保燈箱還包括一光學透鏡層，該光學透鏡層位于該等發(fā)光單元與該出光面之間。
48.如權利要求47所述的點燈測試機，其中該光學透鏡層排列有復數(shù)個菲涅耳透鏡。
49.如權利要求40所述的點燈測試機，其中該等發(fā)光二極管利用氣冷式或水冷式冷卻方式冷卻。
50.如權利要求34所述的點燈測試機，其中該待測物為一經(jīng)過打線接合制程的液晶面板。
51.如權利要求34所述的點燈測試機，其中該光偵測器為一電荷耦合組件。
全文摘要
本發(fā)明是關于一種點燈測試機的環(huán)保燈箱，尤指一種無需使用含大量高污染物質(如汞)的熒光燈管的環(huán)保燈箱，以符合即將于2006年7月起實施的歐盟電子電機設備中危害物質禁用指令(ROHS)對于電子電機設備中所具有危害物質含量的嚴格規(guī)定。本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱，包括一具有一出光面的燈箱本體；以及復數(shù)個容置于此燈箱本體內(nèi)的發(fā)光單元。其中，此等發(fā)光單元所提供的光源經(jīng)由此出光面而照射于此待測物。因此，一具有本發(fā)明的點燈測試機的環(huán)保燈箱的點燈測試機可減低其對環(huán)境所造成的污染及其在運作時所消耗的能源。
文檔編號G01N21/88GK101075024SQ200610082478
公開日2007年11月21日 申請日期2006年5月17日 優(yōu)先權日2006年5月17日
發(fā)明者陳宏力, 葉馨雯 申請人:宏瀨科技股份有限公司, 葉馨雯