專(zhuān)利名稱(chēng)：漏電檢測(cè)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種安裝在電源插頭/電源插座內(nèi)、用于檢測(cè)插頭/插座電源輸出端火線或零線是否漏電的漏電檢測(cè)電路。
背景技術(shù)：
隨著家用電器的日益普及，家用電器的使用安全日益受到人們的重視。為了保證家用電器的使用安全，避免由于家用電器漏電造成人身傷害，目前，大多數(shù)的電源插座內(nèi)部設(shè)置有漏電檢測(cè)電路，用于檢測(cè)電源插座電源輸出端火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象。但是，在電源插頭內(nèi)設(shè)置漏電檢測(cè)電路，檢測(cè)電源插頭電源輸出端火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象的生產(chǎn)廠家?guī)缀鯖](méi)有。
另外，不同生產(chǎn)廠家研制的設(shè)置在電源插座內(nèi)的漏電檢測(cè)電路也各不相同，其工作原理也不相同，電路復(fù)雜程度也不相同。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可廣泛應(yīng)用于電源插座/插頭內(nèi)的、用于檢測(cè)電源輸出端火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象的漏電檢測(cè)電路。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案一種漏電檢測(cè)電路，它主要由光耦、可控硅和電阻構(gòu)成；所述光耦的一個(gè)輸入端通過(guò)電阻與電源插頭/插座電源輸出線的屏蔽層相連，光耦的另一個(gè)輸入端通過(guò)二極管/電阻分別與電源輸出線中的火線、零線相連；光耦的一個(gè)輸出端與可控硅的門(mén)極相連，另一輸出端與可控硅的陽(yáng)極相連；所述可控硅與焊接在電源插頭/插座內(nèi)部電路板上的內(nèi)置有鐵芯的線圈串聯(lián)后并聯(lián)在電源插頭/插座電源輸出線中的火線和零線之間。
該漏電檢測(cè)電路還包括一顯示電路，該顯示電路由電阻和發(fā)光二極管串聯(lián)構(gòu)成，該顯示電路并聯(lián)在電源輸出線中的火線、零線之間。
該漏電檢測(cè)電路它還設(shè)有一模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)，模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)的一端通過(guò)電阻與電源輸出線中的火線相連，另一端與電源輸出線的屏蔽層相連。
本實(shí)用新型還提供了另一種漏電檢測(cè)電路，它主要由光耦、可控硅、二極管整流橋和電阻構(gòu)成；
所述光耦的一個(gè)輸入端通過(guò)電阻與電源插頭/插座電源輸出線的屏蔽層相連，光耦的另一個(gè)輸入端通過(guò)二極管/電阻分別與電源輸出線中的火線、零線相連；光耦的一個(gè)輸出端與可控硅的門(mén)極相連，另一輸出端與可控硅的陽(yáng)極相連；所述可控硅的陽(yáng)極與整流橋直流輸出端的正極相連，可控硅的陰極與整流橋直流輸出端的負(fù)極相連；焊接在電源插頭/插座內(nèi)部電路板上的內(nèi)置有鐵芯的線圈的一端與電源火線相連，另一端通過(guò)所述二極管整流橋與電源零線相連。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)出電源插頭/插座電源輸出線是否存在漏電現(xiàn)象。


圖1為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路具體電路圖圖2為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的另一具體電路圖圖3為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖圖4為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖圖5為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖圖6為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖具體實(shí)施方式
如圖1所示，本實(shí)用新型公開(kāi)的漏電檢測(cè)電路主要由光耦I(lǐng)C、可控硅SCR和電阻構(gòu)成。光耦I(lǐng)C的輸入端1通過(guò)電阻R2與插頭/插座電源輸出線的屏蔽層L相連，光耦I(lǐng)C的輸入端2通過(guò)二極管D5、D6分別與插頭/插座電源輸出線中的火線HOT、零線WHITE相連；光耦I(lǐng)C的輸出端6與可控硅SCR的門(mén)極相連，光耦I(lǐng)C的輸出端4與可控硅SCR的陽(yáng)極相連；同時(shí)，焊接在電源插頭/插座電路板上的可使插頭/插座電源輸出端是否有電力輸出的線圈SOL與可控硅SCR串聯(lián)后并聯(lián)在插頭/插座電源輸出線的火線HOT和零線WHITE之間。
如圖所示，當(dāng)電源插頭/插座電源輸出線中的火線或零線不存在漏電現(xiàn)象時(shí)，光耦I(lǐng)C輸入端的發(fā)光二極管不導(dǎo)通，光耦輸出端也就沒(méi)有電壓產(chǎn)生，與光耦輸出端相連可控硅SCR也就不導(dǎo)通，線圈SOL中沒(méi)有電流流過(guò)，電源插頭/插座正常工作。
當(dāng)與家用電器LOAD相連的插頭/插座電源輸出線漏電時(shí)，即插頭/插座電源輸出線中的火線HOT或零線WHITE漏電時(shí)，屏蔽層L帶電，則屏蔽層L、電阻R2、光耦I(lǐng)C的輸入端1、2、二極管D5或D6與電源火線HOT或零線WHITE形成電流回路，使光耦I(lǐng)C導(dǎo)通，光耦I(lǐng)C的輸出端導(dǎo)通，產(chǎn)生電壓，觸發(fā)可控硅SCR導(dǎo)通，線圈SOL中有電流流過(guò)，產(chǎn)生磁場(chǎng)，使內(nèi)置在線圈SOL中的鐵芯動(dòng)作，切斷電源插頭/插座的電源輸出，保證負(fù)載即家用電器LOAD的安全。本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的工作原理是通過(guò)光耦I(lǐng)C檢測(cè)電源插頭/插座電源輸出線中的火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象，如果存在漏電現(xiàn)象，光耦I(lǐng)C導(dǎo)通，其輸出端導(dǎo)通，產(chǎn)生觸發(fā)電壓，觸發(fā)與焊接在電源插頭/插座內(nèi)部電路板上的線圈相連的可控硅SCR導(dǎo)通，使線圈內(nèi)有電流流過(guò)，產(chǎn)生磁場(chǎng)，使內(nèi)置在線圈中的鐵芯動(dòng)作，通過(guò)鐵芯的動(dòng)作，切斷電源插頭/插座電源輸入端與輸出端的電力連接，切斷用電設(shè)備的電源。
為了顯示電源插頭/插座的工作狀態(tài)，如圖所示，本實(shí)用新型還設(shè)有顯示電路，該顯示電路由電阻R4、發(fā)光二極管LED和二極管D5串聯(lián)構(gòu)成，該顯示電路并聯(lián)在電源插頭/插座電源火線HOT、零線WHITE之間。
為了模擬漏電現(xiàn)象，檢測(cè)本實(shí)用新型工作是否正常，如圖所示，本實(shí)用新型還設(shè)有模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)TEST，該模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)TEST的一端通過(guò)電阻R3與電源輸出線中的火線相連，另一端與電源輸出線的屏蔽層L相連。按壓模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)TEST，使其閉合，電源輸出線中的火線HOT與屏蔽層L直接連通、模擬火線漏電故障，漏電檢測(cè)電路中的光耦I(lǐng)C檢測(cè)到這一現(xiàn)象后，光耦I(lǐng)C立即導(dǎo)通，其輸出端使可控硅SCR導(dǎo)通，與SCR串聯(lián)的線圈SOL內(nèi)有電流流過(guò)，產(chǎn)生磁場(chǎng)，使內(nèi)置其中的鐵芯動(dòng)作，通過(guò)鐵芯的動(dòng)作，切斷電源插頭/插座電源輸入端與輸出端的電力連接，切斷用電設(shè)備的電源。
圖2為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的另一具體電路圖。它與圖1所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別僅僅在于光耦I(lǐng)C的輸入端2通過(guò)電阻R5、R6與電源插頭/插座電源輸出端的火線HOT、零線WHITE相連。
圖2所示的漏電檢測(cè)電路與圖1所示的漏電檢測(cè)電路的工作原理完全相同。
圖3為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖。它與圖1所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別僅僅在于圖1中的顯示電路是由電阻R4、發(fā)光二極管LED、與光耦I(lǐng)C輸入端相連的二極管D5串聯(lián)構(gòu)成；圖3中的顯示電路是由電阻R4、發(fā)光二極管LED、二極管D7串聯(lián)構(gòu)成。
圖3所示的顯示電路與圖1所示的顯示電路的工作原理、連接關(guān)系、電路構(gòu)成完全相同。
圖4為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖。它與圖2所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別僅僅在于圖2中的顯示電路是由電阻R4、發(fā)光二極管LED、與光耦I(lǐng)C輸入端相連的電阻R5串聯(lián)構(gòu)成；圖4中的顯示電路是由電阻R4、發(fā)光二極管LED、二極管D7串聯(lián)構(gòu)成。
圖4所示的顯示電路與圖2所示的顯示電路的工作原理、連接關(guān)系完全相同。
圖4所示的漏電檢測(cè)電路與圖3所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別僅僅在于圖4中的光耦I(lǐng)C的輸入端2是通過(guò)電阻R5、R6與電源輸出線中的火線HOT、零線WHITE相連的。
圖5為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖。如圖所示，其工作原理也是通過(guò)光耦I(lǐng)C檢測(cè)電源插頭/插座電源輸出線中的火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象，如果存在漏電現(xiàn)象，光耦I(lǐng)C導(dǎo)通，其輸出端導(dǎo)通，產(chǎn)生觸發(fā)電壓，觸發(fā)與一可控硅SCR導(dǎo)通，通過(guò)可控硅SCR使焊接在電源插頭/插座內(nèi)部電路板上的線圈SOL內(nèi)有電流流過(guò)，產(chǎn)生磁場(chǎng)，使內(nèi)置在線圈中的鐵芯動(dòng)作，通過(guò)鐵芯的動(dòng)作，切斷電源插頭/插座電源輸入端與輸出端的電力連接，切斷用電設(shè)備的電源。
圖5所示的漏電檢測(cè)電路與圖1所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別在于線圈SOL的一端與電源火線HOT相連，另一端通過(guò)整流橋D與電源零線WHITE相連，可控硅SCR的門(mén)極仍然與光耦的輸出端4相連，光耦的另一輸出端6與可控硅SCR的陽(yáng)極相連，同時(shí)，可控硅SCR的陽(yáng)極與整流橋D直流輸出端的正極相連，可控硅SCR的陰極與整流橋D直流輸出端的負(fù)極相連。
圖5所示的漏電檢測(cè)電路也包括一顯示電路，該顯示電路由電阻R4和發(fā)光二極管KED串聯(lián)構(gòu)成；該顯示電路的一端與二極管整流橋直流輸出端的正極相連，另一端與電源輸出線中的零線相連。
圖6為本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的又一具體電路圖。它與圖5所示的漏電檢測(cè)電路的區(qū)別僅僅在于光耦I(lǐng)C的輸入端2通過(guò)電阻R5、R6與電源插頭/插座電源輸出端的火線HOT、零線WHITE相連。
以上所述是本實(shí)用新型漏電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)原理和具體電路圖，任何基于本實(shí)用新型技術(shù)方案基礎(chǔ)上的等效變換，均屬于本實(shí)用新型保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種漏電檢測(cè)電路，其特征在于它主要由光耦、可控硅和電阻構(gòu)成；所述光耦的一個(gè)輸入端通過(guò)電阻與電源插頭/插座電源輸出線的屏蔽層相連，光耦的另一個(gè)輸入端通過(guò)二極管/電阻分別與電源輸出線中的火線、零線相連；光耦的一個(gè)輸出端與可控硅的門(mén)極相連，另一輸出端與可控硅的陽(yáng)極相連；所述可控硅與焊接在電源插頭/插座電路板上的內(nèi)置有鐵芯的線圈串聯(lián)后并聯(lián)在電源插頭/插座電源輸出線中的火線和零線之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于它還包括一顯示電路，該顯示電路由電阻和發(fā)光二極管串聯(lián)構(gòu)成，該顯示電路并聯(lián)在電源插頭/插座電源輸出線中的火線、零線之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于它還設(shè)有一模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)，該模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)的一端通過(guò)電阻與電源輸出線中的火線相連，另一端與電源輸出線的屏蔽層相連。
4.一種漏電檢測(cè)電路，其特征在于它主要由光耦、可控硅、二極管整流橋和電阻構(gòu)成；所述光耦的一個(gè)輸入端通過(guò)電阻與電源插頭/插座電源輸出線的屏蔽層相連，光耦的另一個(gè)輸入端通過(guò)二極管/電阻分別與電源輸出線中的火線、零線相連；光耦的一個(gè)輸出端與可控硅的門(mén)極相連，另一輸出端與可控硅的陽(yáng)極相連；所述可控硅的陽(yáng)極與整流橋直流輸出端的正極相連，可控硅的陰極與整流橋直流輸出端的負(fù)極相連；焊接在電源插頭/插座電路板上的內(nèi)置有鐵芯的線圈的一端與電源火線相連，另一端通過(guò)所述二極管整流橋與電源零線相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于它還包括一顯示電路，該顯示電路由電阻和發(fā)光二極管串聯(lián)構(gòu)成；該顯示電路的一端與二極管整流橋直流輸出端的正極相連，另一端與電源輸出線中的零線相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的漏電檢測(cè)電路，其特征在于它還設(shè)有一模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)，該模擬試驗(yàn)開(kāi)關(guān)的一端通過(guò)電阻與電源輸出線中的火線相連，另一端與電源輸出線的屏蔽層相連。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種漏電檢測(cè)電路，它主要由光耦、可控硅和電阻構(gòu)成。光耦的一個(gè)輸入端通過(guò)電阻與電源輸出線的屏蔽層相連，光耦的另一個(gè)輸入端通過(guò)二極管/電阻分別與電源輸出線中的火線、零線相連；光耦的一個(gè)輸出端與可控硅的門(mén)極相連，另一輸出端與可控硅的陽(yáng)極相連。所述可控硅與焊接在電路板上的內(nèi)置有鐵芯的線圈串聯(lián)后并聯(lián)在電源輸出線中的火線和零線之間。本實(shí)用新型通過(guò)光耦檢測(cè)電源插頭/插座電源輸出線中的火線或零線是否存在漏電現(xiàn)象，如果存在漏電現(xiàn)象，光耦導(dǎo)通，其輸出端產(chǎn)生觸發(fā)電壓，觸發(fā)與線圈相連的可控硅導(dǎo)通，使線圈內(nèi)有電流流過(guò)，產(chǎn)生磁場(chǎng)，通過(guò)內(nèi)置其中的鐵芯動(dòng)作，切斷電源輸出，切斷用電設(shè)備的電源。
文檔編號(hào)G01R31/02GK2793741SQ20052011873
公開(kāi)日2006年7月5日 申請(qǐng)日期2005年9月12日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月12日
發(fā)明者章龍 申請(qǐng)人:上海益而益電器制造有限公司