專利名稱：測試控制箱的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及測試儀器，具體涉及一種可用于測試電子器件和電器產(chǎn)品中的各種參數(shù)的Schuh2000測試控制箱。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，需要采用儀器對電子器件或電器產(chǎn)品中的各種參數(shù)進行測試，現(xiàn)有的測試方式是針對不同的參數(shù)或器件需要采用多種儀器來進行測試，測試周期長，測試效率低。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于，提供一種測試控制箱，采用這種控制箱，可以對電子器件或電器產(chǎn)品中的多種參數(shù)進行測試，測試效率高。
本實用新型提供的技術(shù)方案如下構(gòu)造一種測試控制箱，包括箱體，，還包括設(shè)置在箱體內(nèi)的控制主板、在主板的中間依次設(shè)有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡、兩塊數(shù)據(jù)總線控制卡、電源控制卡、雙治具卡、密碼卡和電壓表卡；在所述主板的四個周邊上還設(shè)有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應(yīng)用卡。
本實用新型具有如下優(yōu)點采用本實用新型提供的測試控制箱對電器產(chǎn)品的參數(shù)進行測試，用戶可按照需要測量的產(chǎn)品的規(guī)格要求，設(shè)計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現(xiàn)對治具各開關(guān)的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結(jié)果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。使用一臺測試控制箱，可完成電器產(chǎn)品中的多種參數(shù)的測試需要，測試效率高，測試成本低。


圖1是測試控制箱的外形結(jié)構(gòu)主視圖；圖2是測試控制箱的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
參照圖1、圖2，提供一種測試控制箱，包括箱體12，箱體正面設(shè)有提手11設(shè)置在箱體內(nèi)的控制主板10、在主板10的中間依次設(shè)有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡1、譯碼卡2、旗標控制卡3、數(shù)據(jù)總線控制卡4，電源控制卡5、雙治具卡6、密碼卡7和電壓表卡8；在主板10的四個周邊上還設(shè)有多個插卡卡座9，在卡座中插裝有周邊應(yīng)用卡。上述主板10和8種卡的型號和規(guī)格，生產(chǎn)廠家均有標準的產(chǎn)品出售，不再進一步提供詳細說明。
主板10是用于協(xié)調(diào)各主板控制卡、周邊卡及與電腦數(shù)據(jù)傳輸?shù)木€路板。
8塊主板控制卡結(jié)構(gòu)原理卡1、卡2為譯碼卡，負責將計算機傳過來的控制信號轉(zhuǎn)換成控制旗標(以下簡稱旗標)。在控制箱中，共有53個旗標，這些旗標用于對周邊卡的功能控制，及對數(shù)據(jù)傳輸?shù)牧飨蚩刂?由電腦傳送給控制箱還是由控制箱傳送給電腦)，通過計算機對這些旗標的設(shè)定來達到控制控制箱的目的。
卡3是旗標控制卡、卡4是數(shù)據(jù)總線控制卡，是數(shù)據(jù)傳送的通道，通道內(nèi)的數(shù)據(jù)流向由卡1、卡2譯碼后的三個旗標決定。通道的另一個作用是用于信號電平的轉(zhuǎn)換(計算機信號與控制箱電平不同)。
卡5是電源控制卡，為控制箱提供電源。其電源的通斷由POWER旗標控制。
卡6是雙治具卡。在測試過程中，為節(jié)約時間，可用兩個治具進行，一個治具在測試時，另一個治具上可以放置待測產(chǎn)品，不用等待產(chǎn)品測完后才放置產(chǎn)品，以合理分配時間。
該卡有兩個按鍵，具有鎖存功能。計算機可通過讀取該卡的狀態(tài)來判斷是否準備就緒，以判斷是否需要執(zhí)行測試。由兩個旗標清除該卡的狀態(tài)。
卡7與卡8分別是密碼卡和電壓表。
在上面所述的53個旗標中，有33個旗標是地址選擇旗標，分別對應(yīng)著主板卡的卡6、卡7、卡8和周邊卡的30個槽。地址旗標與其它旗標配合以完成對某一卡的控制。
控制箱與計算機由一條25芯線和一片計算機擴展卡(PCI-8255卡)連接。在25芯線中，控制信號占用8芯，數(shù)據(jù)信息占用16芯，另外一芯是地線。
整個過程就是計算機發(fā)送控制信號及數(shù)據(jù)信號給控制箱，控制箱經(jīng)譯碼卡譯碼后執(zhí)行控制命令，并將數(shù)據(jù)傳送給指定的控制卡或?qū)⒖刂瓶ǚ祷氐臄?shù)據(jù)傳給計算機。
周邊卡設(shè)計時將可用的旗標與地址旗標結(jié)合以達到對指定卡的控制效果。
由上面硬件可以看出，程序中只需編寫控制各類卡的模塊，每個模塊對應(yīng)著一個類型的周邊卡，在模塊內(nèi)記載著詳細的參數(shù)，關(guān)于這些參數(shù)的設(shè)定，提供設(shè)定界面，由用戶設(shè)定.模塊內(nèi)編寫一個控制函數(shù)，根據(jù)設(shè)定的參數(shù)執(zhí)行對周邊卡的控制。
其中模塊內(nèi)的控制函數(shù)就是由計算機向控制箱發(fā)送的控制信號，這些控制信號譯碼成旗標后執(zhí)行以控制周邊卡。
利用GPIB接口控制儀器用戶按照需要測量的產(chǎn)品的規(guī)格要求，設(shè)計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現(xiàn)對治具各開關(guān)的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結(jié)果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。
數(shù)據(jù)采集在計算機的擴展插槽上，安裝一片GPIB卡，該卡通過GPIB線連接一個或多個GPIB儀器。計算機利用該GPIB卡與GPIB儀器進行通信。
軟件設(shè)計中，把對儀器的控制與數(shù)據(jù)采集各用一模塊，便于控制和用戶操作。
GPIB模塊的設(shè)置模塊內(nèi)，提供地址輸入、命令輸入及其它參數(shù)設(shè)置界面，由地址決定要控制的儀器，輸入的命令實現(xiàn)需要的功能。
卡1、卡2是解碼卡，卡3是旗標控制卡?？?是總線控制卡。
現(xiàn)有的周邊控制卡共有四種，Power Relay Card(Relay8)、RelayCard(Relay16)、Multiplexer Card(Mul32)、Power card.
測量電器時，所需儀器較多，現(xiàn)以最簡單的例子，測量兩個電阻阻值，介紹一下這種控制箱的使用方法及處理流程。
現(xiàn)用周邊卡Multiplexer card，這是一片有32個Relay switch的開關(guān)，端口原理如下圖所示在這32個端口中，有24個High pin和8個Low pin組成，每一種的pin都有一根引線連接著同類pin的所有Relay，其電路如上圖，將這兩根引線分別連接到萬用表的輸入端上，再將兩個電阻的兩端分別接在Multi32卡的High pin(1腳-24腳)和Low pin(25腳-32腳)上，用戶編程序流程如下1、設(shè)定Multi32的High pin的2腳和Low pin25腳閉合以測量R1；2、將萬用表調(diào)至電阻檔并測電阻；3、Multi32的High pin的1腳和Low pin的26腳閉合以測量R2；4、將萬用表調(diào)至電阻檔并測電阻；假如該Multi32卡插在第一個插槽上，則第一步程序的具體的設(shè)置如下圖所示。
第二步萬用表的設(shè)定要根據(jù)儀器所支持的命令來設(shè)定。
第三步與第四步如同第一步與第二步。
Multiplexer卡控制程序模塊如下斷開Relay；//執(zhí)行函數(shù)，根據(jù)設(shè)定執(zhí)行結(jié)果將Relay閉合 //設(shè)定的槽//閉合后延長 用戶的注釋設(shè)定該條程序在程序執(zhí)行時是否有效，如果沒效，則不執(zhí)行。
//是將該卡打開還是閉合 //控制High pin的開關(guān)//控制Low pin的開關(guān)上面的執(zhí)行函數(shù)程序流程(僅給出控制部分)1.設(shè)定將其Relay閉合的旗標；(如果該旗標為清除狀態(tài)，則斷開Relay)程序讓電腦向控制口(8位)發(fā)送控制命令，指令經(jīng)MAIN1譯碼轉(zhuǎn)換成旗標，由MAIN2、MAIN3控制該旗標，使其保持設(shè)定狀態(tài)。
2.斷開所有的數(shù)據(jù)通道；3.設(shè)定打開由計算機向控制箱發(fā)送數(shù)據(jù)的通道的旗標.
這一步如同第一步，MAIN2、MAIN3所控制的這個旗標自動打開MAIN4中所需的數(shù)據(jù)通道(BUS)。
4.將High pin和Low pin的值由電腦通過另外16位數(shù)據(jù)線傳送到控制箱，這時數(shù)據(jù)總線(BUS，共16位)上記載著要控制的Relay信息；5.根據(jù)設(shè)定將周邊的某個槽(SLOT)打開，以將數(shù)據(jù)線上的控制信息作用到指定的Multiplexer卡上。至此，上面的Relay就會按要求閉合。上面的Multiplexer卡閉合后，進入測值模塊中；計算機執(zhí)行到測量值這一條程序時，將用戶設(shè)定的命令通過GPIB卡(與GPIB儀器連接的計算機擴展卡)送入到萬用表儀器，萬用表儀器接到該命令，自動測量并將結(jié)果送給計算機。計算機獲得回傳的數(shù)據(jù)，根據(jù)所設(shè)定的條件判斷、分析，將結(jié)果送到顯示器上或保存到數(shù)據(jù)庫中，以備用戶查驗。
權(quán)利要求1.一種測試控制箱，包括箱體(12)，其特征在于，還包括設(shè)置在所述箱體(12)內(nèi)的控制主板(10)、在主板的中間依次設(shè)有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡(1)、譯碼卡(2)、旗標控制卡(3)、數(shù)據(jù)總線控制卡(4)，電源控制卡(5)、雙治具卡(6)、密碼卡(7)和電壓表卡(8)；在所述主板的四個周邊上還設(shè)有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應(yīng)用卡。
專利摘要本實用新型公開了一種測試控制箱，包括箱體，還包括設(shè)置在箱體內(nèi)的控制主板、在主板的中間依次設(shè)有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡、兩塊數(shù)據(jù)總線控制卡、電源控制卡、雙治具卡、密碼卡和電壓表卡；在所述主板的四個周邊上還設(shè)有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應(yīng)用卡。本實用新型具有如下優(yōu)點采用本實用新型提供的測試控制箱對電器產(chǎn)品的參數(shù)進行測試，用戶可按照需要測量的產(chǎn)品的規(guī)格要求，設(shè)計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現(xiàn)對治具各開關(guān)的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結(jié)果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。使用一臺測試控制箱，可完成電器產(chǎn)品中的多種參數(shù)的測試需要，測試效率高，測試成本低。
文檔編號G01R31/00GK2849663SQ20052006540
公開日2006年12月20日 申請日期2005年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月10日
發(fā)明者韓玉林 申請人:東莞中逸電子有限公司