專利名稱：一種測(cè)試試驗(yàn)器件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子及通信領(lǐng)域中的測(cè)試技術(shù)，具體指一種測(cè)試試驗(yàn)器件的方法。
背景技術(shù)：
在電子裝聯(lián)可靠性試驗(yàn)中，現(xiàn)有技術(shù)一般是將一個(gè)試驗(yàn)器件構(gòu)成一條測(cè)試菊花鏈路(Daisy ChainDC)，該菊花鏈路兩端與可靠性測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連構(gòu)成電氣回路，然后通過(guò)對(duì)試驗(yàn)器件施加機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力使器件加速失效，再由測(cè)試系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)控菊花鏈路的性能變化過(guò)程(如阻值等)，從而自動(dòng)判斷鏈路是否失效，在這種測(cè)試方法中，僅僅能得到一個(gè)試驗(yàn)器件的一個(gè)樣本分析數(shù)據(jù)。
當(dāng)使用測(cè)試周期不同的可靠性測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，例如假設(shè)測(cè)試系統(tǒng)A、B，二者的測(cè)試通道數(shù)均為128個(gè)，而測(cè)試系統(tǒng)A的可靠性試驗(yàn)周期為1天，測(cè)試系統(tǒng)B的可靠性試驗(yàn)周期為3～6個(gè)月；當(dāng)采用測(cè)試系統(tǒng)A時(shí)，試驗(yàn)板上可設(shè)計(jì)128條測(cè)試鏈路，一次測(cè)試一塊試驗(yàn)板，為得到32個(gè)統(tǒng)計(jì)樣本數(shù)，需進(jìn)行32次試驗(yàn)，僅耗時(shí)32天；而對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)B，若一塊試驗(yàn)板上也設(shè)計(jì)128條不同的測(cè)試鏈路，為得到最少16個(gè)統(tǒng)計(jì)樣本數(shù)，需試驗(yàn)16次，耗時(shí)48～96個(gè)月，或四套系統(tǒng)同步工作12～24個(gè)月。
可見，上述現(xiàn)有技術(shù)顯然存在許多不足，具體包括1、試驗(yàn)器件需要量大，試驗(yàn)成本高，試驗(yàn)周期長(zhǎng)實(shí)驗(yàn)者在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，為得到可靠可信的試驗(yàn)結(jié)論，需要較多的試驗(yàn)樣本數(shù)，一般需要32個(gè)，至少也需要16個(gè)，而現(xiàn)有技術(shù)僅僅能得到一個(gè)試驗(yàn)器件的一個(gè)樣本分析數(shù)據(jù)，因此完成一個(gè)試驗(yàn)需要大量的器件，而且成本高、時(shí)間長(zhǎng)。
2、兼容性差同一塊試驗(yàn)板不能適用于不同可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種測(cè)試試驗(yàn)器件的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的試驗(yàn)器件需要量大、試驗(yàn)成本高、試驗(yàn)周期長(zhǎng)的問(wèn)題。
為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的解決方案是一種測(cè)試試驗(yàn)器件的方法，該方法是在試驗(yàn)板中組裝試驗(yàn)器件后，形成菊花鏈路進(jìn)行測(cè)試，包含如下步驟a、將該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板分為數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域；b、將所述每個(gè)測(cè)試區(qū)域中的試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板的焊點(diǎn)及線路構(gòu)成獨(dú)立的測(cè)試通道，形成菊花鏈路，并從該菊花鏈路引出測(cè)試點(diǎn)；c、將所述的測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連并進(jìn)行完成測(cè)試，進(jìn)而得到測(cè)試數(shù)據(jù)。
其中所述的步驟a中的數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域?yàn)槎鄠€(gè)結(jié)構(gòu)相互對(duì)稱且獨(dú)立的測(cè)試區(qū)域。
所述的步驟b中的測(cè)試點(diǎn)是從菊花鏈路的兩端引出的。
所述的步驟b中的測(cè)試點(diǎn)還可以是從菊花鏈路中間引出的若干個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
所述步驟b和所述步驟c間還包括下列步驟bc1、將各個(gè)測(cè)試區(qū)域中菊花鏈路兩端的測(cè)試點(diǎn)首尾相連，構(gòu)成一條菊花鏈路；或者bc2、將各個(gè)測(cè)試區(qū)域中菊花鏈路一端的測(cè)試點(diǎn)相連后，再和地相連，構(gòu)成菊花鏈路。
本發(fā)明充分利用試驗(yàn)器件結(jié)構(gòu)上的對(duì)稱性，將試驗(yàn)器件分為結(jié)構(gòu)對(duì)稱的幾個(gè)測(cè)試區(qū)域，每個(gè)測(cè)試區(qū)域構(gòu)成一條菊花鏈路。也由于試驗(yàn)器件其結(jié)構(gòu)上的對(duì)稱性與相似性，同一個(gè)試驗(yàn)器件中的各菊花鏈路基本類似，可認(rèn)為是獨(dú)立的菊花鏈路，其可靠性測(cè)試數(shù)據(jù)可作為分析的樣本數(shù)。這樣可以用較少的試驗(yàn)器件獲得統(tǒng)計(jì)分析所需的樣本數(shù)。具體而言，本發(fā)明有如下有益效果1、能夠?qū)崿F(xiàn)以較少的試驗(yàn)器件獲得足夠的統(tǒng)計(jì)分析樣本數(shù)；2、通過(guò)簡(jiǎn)單地改變菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗(yàn)板適用于不同的可靠性測(cè)試系統(tǒng)；3、本發(fā)明在保證了試驗(yàn)數(shù)據(jù)與結(jié)論的可信度的前提下，節(jié)約了試驗(yàn)成本，縮短了試驗(yàn)周期。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例中BGA器件的俯視示意圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例中包含有菊花鏈路的BGA試驗(yàn)器件的俯視示意圖；圖3是本發(fā)明的方法流程圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例BGA試驗(yàn)器件與試驗(yàn)板構(gòu)成的菊花鏈路測(cè)試通道示意圖；圖5是本發(fā)明實(shí)施例BGA試驗(yàn)器件與試驗(yàn)板構(gòu)成的菊花鏈路測(cè)試通道的一種連接關(guān)系示意圖；圖6是本發(fā)明實(shí)施例BGA試驗(yàn)器件與試驗(yàn)板構(gòu)成的菊花鏈路測(cè)試通道的另一種連接關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明下面的實(shí)施例以BGA器件(Ball Grid Array球柵陣列器件)為例進(jìn)行說(shuō)明，其不僅僅限于BGA器件，還用于其他結(jié)構(gòu)對(duì)稱的器件。如圖1所示為BGA器件的俯視示意圖，黑色實(shí)心圓為該器件上的焊球位置11；如圖2所示是包含有局部菊花鏈路的BGA試驗(yàn)器件的俯視示意圖，該BGA試驗(yàn)器件可從試驗(yàn)器件制作廠商處采購(gòu)或定做包含對(duì)稱菊花鏈路的器件，從圖中可以看出，該試驗(yàn)器件與菊花鏈路均成水平方向、垂直方向軸向?qū)ΨQ。
實(shí)施例所采用的測(cè)試系統(tǒng)同現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)完全相同，也通過(guò)該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口和菊花鏈路相連，而菊花鏈路就是通過(guò)BGA試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板上的焊點(diǎn)、線路構(gòu)成的測(cè)試通道，本發(fā)明的重點(diǎn)就在于該菊花鏈路的具體形成過(guò)程。
實(shí)施例一下面將詳細(xì)介紹本實(shí)施例所述的一種通過(guò)設(shè)計(jì)、測(cè)試菊花鏈路以達(dá)到測(cè)試目的的方法，其是在該試驗(yàn)板上組裝BGA試驗(yàn)器件后，形成菊花鏈路進(jìn)行測(cè)試。如圖3所示，該方法包含有如下步驟第一、將該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板分為數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域。
本實(shí)施例利用該BGA試驗(yàn)器件及其菊花鏈路軸向?qū)ΨQ的特點(diǎn)，將該BGA試驗(yàn)器件分為四個(gè)測(cè)試區(qū)域(根據(jù)需要，也可分為2個(gè)、8個(gè)測(cè)試區(qū)域)，如圖2所示，如同平面坐標(biāo)系中的第一象限、第二象限、第三象限、第四象限。
在該試驗(yàn)板上組裝BGA試驗(yàn)器件，該試驗(yàn)板是一種印刷電路板，其上已按設(shè)計(jì)要求制作了導(dǎo)線和焊盤，通過(guò)焊接組裝，試驗(yàn)器件的焊端/焊球與焊盤相連，以實(shí)現(xiàn)特定功能。組裝后形成如圖4所示的菊花鏈路，該BGA試驗(yàn)器件的焊球?qū)?yīng)于該試驗(yàn)板的焊盤，二者之間焊接后通過(guò)已有的連線形成電氣通路。
第二、在各個(gè)測(cè)試區(qū)域中，該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板的焊點(diǎn)、線路構(gòu)成獨(dú)立的測(cè)試通道，即為菊花鏈路，并從該菊花鏈路中引出測(cè)試點(diǎn)。
在該試驗(yàn)板上組裝BGA試驗(yàn)器件后，如圖4所示，每個(gè)測(cè)試區(qū)域內(nèi)的焊點(diǎn)11、線路12和13構(gòu)成一條測(cè)試通道，其中，焊點(diǎn)11為BGA試驗(yàn)器件焊球和試驗(yàn)板焊盤的位置，線路12為BGA試驗(yàn)器件上已存在的線路；線路13為試驗(yàn)板上的設(shè)計(jì)線路。這樣，由于位置上的對(duì)稱性，在四個(gè)測(cè)試區(qū)域內(nèi)便可得到四條基本相同的、且相互獨(dú)立的測(cè)試用的菊花鏈路。
在每個(gè)測(cè)試區(qū)域的菊花鏈路上，首先從該菊花鏈路的兩端分別引出2個(gè)測(cè)試點(diǎn)，如圖4中的測(cè)試點(diǎn)T1+、T1-、T2+、T2-、T3+、T3-、T4+、T4-，相應(yīng)的菊花鏈路為T1、T2、T3、T4。
第三、將該測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連完成測(cè)試，從而得到測(cè)試數(shù)據(jù)。
將菊花鏈路兩端與可靠性測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連構(gòu)成電氣回路，通過(guò)對(duì)BGA試驗(yàn)器件施加機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力使其加速失效，測(cè)試系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)控菊花鏈路的性能變化過(guò)程(例如阻值等)，從而能夠自動(dòng)判斷菊花鏈路是否失效，此時(shí)試驗(yàn)一個(gè)BGA試驗(yàn)器件可得到四個(gè)樣本分析數(shù)據(jù)。
本實(shí)施例可以通過(guò)簡(jiǎn)單地改變測(cè)試區(qū)域之間菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗(yàn)板適用于不同的可靠性測(cè)試系統(tǒng)。
當(dāng)應(yīng)用測(cè)試周期較短的可靠性測(cè)試系統(tǒng)A時(shí)，如圖5所示，將測(cè)試點(diǎn)T1-與T2-相連、T2-與T3-相連、T3-與T4-相連，再與地GND相連，此時(shí)一個(gè)器件形成四條基本類似的共地的測(cè)試鏈路，可靠性試驗(yàn)后得到四組可靠性壽命數(shù)據(jù)。由于每次測(cè)試的時(shí)間短，一批試驗(yàn)板分多次測(cè)試，總耗時(shí)也不長(zhǎng)。當(dāng)應(yīng)用測(cè)試周期較長(zhǎng)且測(cè)試通道數(shù)相同的可靠性測(cè)試系統(tǒng)B時(shí)，將T2+與T3+相連，此時(shí)四條鏈路形成了一條測(cè)試鏈路，如圖6所示，每次試驗(yàn)可同時(shí)進(jìn)行多塊試驗(yàn)板和試驗(yàn)器件的測(cè)試，從而減少了試驗(yàn)次數(shù)，大為縮短了總測(cè)試耗時(shí)。這樣使兩套不同的測(cè)試系統(tǒng)A和B可共用同一試驗(yàn)板進(jìn)行測(cè)試。
實(shí)施例二本實(shí)施例和實(shí)施例一基本一致，不同之處僅僅在步驟二。本實(shí)施例除了在菊花鏈路兩端設(shè)置測(cè)試點(diǎn)外，還在每條菊花鏈路中還增加了三個(gè)測(cè)試點(diǎn)，以便在試驗(yàn)的測(cè)試過(guò)程中準(zhǔn)確判斷具體的失效位置，以利于進(jìn)一步分析。
以T2菊花鏈路為例，如圖4所示，在該菊花鏈路中共有5個(gè)測(cè)試點(diǎn)，即T2+、T21、T20、T22、T2-通過(guò)T2+和T21兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)可判斷該菊花鏈路中水平方向的外排鏈路是否失效；通過(guò)T2-和T22兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)可判斷該菊花鏈路中水平方向的內(nèi)排鏈路是否失效；通過(guò)T20和T21兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)可判斷該菊花鏈路中垂直方向的外排鏈路是否失效；通過(guò)T20和T22兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)可判斷該菊花鏈路中水平方向的內(nèi)排鏈路是否失效。
本實(shí)施例通過(guò)將較少的測(cè)試點(diǎn)布局在菊花鏈路中合理的位置，而能夠準(zhǔn)確判斷地判斷失效的具體位置。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試試驗(yàn)器件的方法，該方法是在試驗(yàn)板中組裝試驗(yàn)器件后，形成菊花鏈路進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，包含如下步驟a、將該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板分為數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域；b、將所述每個(gè)測(cè)試區(qū)域中的試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板的焊點(diǎn)及線路構(gòu)成獨(dú)立的測(cè)試通道，形成菊花鏈路，并從該菊花鏈路引出測(cè)試點(diǎn)；c、將所述的測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連并進(jìn)行完成測(cè)試，進(jìn)而得到測(cè)試數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟a中的數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域?yàn)槎鄠€(gè)結(jié)構(gòu)相互對(duì)稱且獨(dú)立的測(cè)試區(qū)域。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b中的測(cè)試點(diǎn)是從菊花鏈路的兩端引出的。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b中的測(cè)試點(diǎn)還可以是從菊花鏈路中間引出的若干個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
5.如權(quán)利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述步驟b和所述步驟c間還包括下列步驟bc1、將各個(gè)測(cè)試區(qū)域中菊花鏈路兩端的測(cè)試點(diǎn)首尾相連，構(gòu)成一條菊花鏈路；或者bc2、將各個(gè)測(cè)試區(qū)域中菊花鏈路一端的測(cè)試點(diǎn)相連后，再和地相連，構(gòu)成菊花鏈路。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種通過(guò)菊花鏈路來(lái)測(cè)試試驗(yàn)器件的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的試驗(yàn)器件需要量大、試驗(yàn)成本高、試驗(yàn)周期長(zhǎng)和兼容性差等問(wèn)題。其是在試驗(yàn)板中組裝試驗(yàn)器件后，形成菊花鏈路進(jìn)行測(cè)試，該方法包含有如下步驟a.將該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板分為數(shù)個(gè)測(cè)試區(qū)域；b.在該測(cè)試區(qū)域中，該試驗(yàn)器件和試驗(yàn)板的焊點(diǎn)、線路構(gòu)成獨(dú)立的測(cè)試通道，即為菊花鏈路，并從該菊花鏈路中引出測(cè)試點(diǎn)；c.將該測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口相連完成測(cè)試，從而得到測(cè)試數(shù)據(jù)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)以較少的試驗(yàn)器件獲得足夠的統(tǒng)計(jì)分析樣本數(shù)；通過(guò)簡(jiǎn)單地改變菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗(yàn)板適用于不同的可靠性測(cè)試系統(tǒng)；本發(fā)明節(jié)約了試驗(yàn)成本，縮短了試驗(yàn)周期。
文檔編號(hào)G01N27/04GK1624467SQ200310120069
公開日2005年6月8日 申請(qǐng)日期2003年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月3日
發(fā)明者陳松柏, 劉桑 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司