專利名稱：測(cè)試數(shù)字模塊系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明系關(guān)于一種數(shù)字模塊，其具有一自測(cè)試功能，以及關(guān)于此一數(shù)字模塊之一種產(chǎn)生方法，而且關(guān)于一種用以測(cè)試數(shù)字模塊的方法與裝置。
背景技術(shù)：
所考慮之?dāng)?shù)字模塊包含有功能性組件，其系以一適當(dāng)?shù)姆绞蕉ミB，以使得該等數(shù)字模塊能夠執(zhí)行所需要之功能。雖然在簡(jiǎn)單的數(shù)字模塊中，仍可藉由在外部所觀察到之行為來確認(rèn)數(shù)字模塊的功能；但是當(dāng)該等數(shù)字模塊變得較為復(fù)雜時(shí)，且特別是當(dāng)該等數(shù)字模塊包含了同步功能性組件時(shí)，便不再能夠從外部來確認(rèn)發(fā)生于模塊內(nèi)部的許多不同切換狀態(tài)。因此，為了測(cè)試該數(shù)字模塊，已知之做法是將一個(gè)在數(shù)字模塊內(nèi)部之功能性組件細(xì)分為測(cè)試單元，并個(gè)別確認(rèn)各測(cè)試單元；最后，一測(cè)試圖樣系使用于該測(cè)試單元之輸入，接著，在該測(cè)試圖樣輸出處所獲得之該測(cè)試圖樣響應(yīng)系被加以計(jì)算。為了執(zhí)行這樣的方法，習(xí)用之做法是提供該測(cè)試單元一個(gè)測(cè)試圖樣輸出緩存器，該測(cè)試圖樣可以被加載于其中，而其輸出系用于將該測(cè)試圖樣提供至該測(cè)試單元的輸入處。為了能夠盡可能完全確認(rèn)一測(cè)試單元的功能，盡可能多的輸入訊號(hào)之不同組合系被應(yīng)用至該測(cè)試單元輸入；這樣的一個(gè)測(cè)試單元之輸入數(shù)量是在數(shù)百至數(shù)千的范圍中。這表示在此一數(shù)字訊號(hào)情形中，該測(cè)試單元輸入所使用之不同可能性至少為2100，且有時(shí)可能會(huì)更多。然而基于時(shí)間因素，幾乎不可能將這么大數(shù)量的測(cè)試圖樣加載至該測(cè)試圖樣輸出緩存器、或是計(jì)算所分別獲得之測(cè)試圖樣響應(yīng)；因此，普遍的做法是，僅在該測(cè)試單元內(nèi)部中，選擇一個(gè)可能具有錯(cuò)誤最大數(shù)量之特定測(cè)試圖樣來加以確認(rèn)。而其缺點(diǎn)是，這便需要在該測(cè)試單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)中考慮一個(gè)復(fù)雜的選擇方法；此外，由于測(cè)試圖樣是經(jīng)過選擇的，通常就不可能確認(rèn)在一測(cè)試單元內(nèi)部之所有錯(cuò)誤。
本發(fā)明的目的之一在于提供一具有自測(cè)試功能之?dāng)?shù)字模塊與此一數(shù)字模塊之一制造方法，以及一種數(shù)字模塊的測(cè)試方法、與用以測(cè)試一數(shù)字模塊之裝置；藉此得以盡可能快速執(zhí)行該數(shù)字模塊內(nèi)部功能性組件之一綜合功能測(cè)試。
根據(jù)本發(fā)明，此一目的系藉由一具有根據(jù)權(quán)利要求1或25之特征的數(shù)字模塊、以及一具有根據(jù)權(quán)利要求32、33或43之特征的方法、以及一具有根據(jù)權(quán)利要求40之裝置而達(dá)成；而權(quán)利要求之附屬項(xiàng)則分別定義了本發(fā)明中較佳且具有優(yōu)勢(shì)之具體實(shí)施例。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明系利用一特定輸出僅受到測(cè)試單元中有限數(shù)量輸入之變化所影響之發(fā)現(xiàn)，這表示由于該測(cè)試單元的其它輸入并不影響此一特定輸出，因此為了觀察該測(cè)試單元的一輸出之行為，僅需將不同的測(cè)試圖樣供至該測(cè)試單元之某些輸入。為了利用此一事實(shí)，根據(jù)本發(fā)明之一測(cè)試圖樣輸出緩存器系被加載，以將一至少部分含有次要模式周期性序列之一測(cè)試圖樣使用至該測(cè)試單元之輸入；特別是，該次要模式系較該測(cè)試圖樣短了許多。相較于測(cè)試圖樣，由于次要模式的長(zhǎng)度較短，因此可使用所有的可能組合來作為一次要模式，而不會(huì)過分?jǐn)U展數(shù)字模塊進(jìn)行測(cè)試之所需要的整體時(shí)間。
通常，該測(cè)試圖樣是一個(gè)二進(jìn)制字符，其包含了適用于測(cè)試單元輸入之邏輯狀態(tài)的個(gè)別位置；舉例而言，當(dāng)使用一長(zhǎng)度小于等于30或20位之次要模式時(shí)，所得到的不同次要模式之可能數(shù)量范圍系為220至230，在這樣的范圍中，仍可能使用每一種可能的組合來作為一次要模式，由于不需要執(zhí)行選擇動(dòng)作，因而其本質(zhì)上簡(jiǎn)化了次要模式及其測(cè)試圖樣的產(chǎn)生；不過，同樣可能選擇特定之次要模式，藉其而能夠直接辨識(shí)測(cè)試單元中有效大量之錯(cuò)誤，且由于同樣可以利用此一程序來獲得不同測(cè)試圖樣之一減少數(shù)量，因此在此情形中亦同樣具有優(yōu)勢(shì)。
較具優(yōu)勢(shì)的是，有效數(shù)量系決定于數(shù)字模塊中所考慮之測(cè)試單元的至少某些輸出，一測(cè)試單元特定輸出之有效數(shù)量系為此一測(cè)試單元輸入之?dāng)?shù)量，在本發(fā)明中，該特定輸出僅受此一特定輸出之有效數(shù)量所影響。舉例而言，若一測(cè)試單元之特定輸出有效數(shù)量為20，則表示為了測(cè)試功能性組件而觀察特定輸出時(shí)，由于使用至其它輸入并不會(huì)在該特定輸出發(fā)生任何反應(yīng)，因而僅需合于情理的使用測(cè)試圖樣至該十個(gè)輸入；由于直接在一數(shù)字模塊之設(shè)計(jì)段進(jìn)行測(cè)試，因此該等個(gè)別測(cè)試單元之輸出具有的有效數(shù)量將會(huì)盡可能變小。
特別是，用于建構(gòu)該測(cè)試圖樣的長(zhǎng)度可以個(gè)別測(cè)試單元之有效數(shù)量為基礎(chǔ)；舉例而言，若具有之有效數(shù)量為10，其優(yōu)勢(shì)在于僅使用本質(zhì)上長(zhǎng)度小于10之次要模式。通常，在一數(shù)字模塊之測(cè)試單元中，將發(fā)生不同的有效數(shù)量之情形；在此一例子中，次要模式的最大長(zhǎng)度可以該最大有效數(shù)量或是一平均有效數(shù)量之函數(shù)來決定。
有利的是，該等次要模式可藉由一反饋移位緩存器而產(chǎn)生，其中在該輸出與該移位緩存器的另一移位組件之間的斥或(exclusive-OR)運(yùn)算結(jié)果可提供至該輸入。
尚有其它可理解之不同方式可用以計(jì)算在測(cè)試單元輸出處的測(cè)試圖樣響應(yīng)；該測(cè)試圖樣響應(yīng)一方面可直接在該測(cè)試單元輸出處進(jìn)行計(jì)算，因此必須將一個(gè)適合用于計(jì)算該測(cè)試圖樣響應(yīng)之裝置連接至該測(cè)試單元；除此之外，在該測(cè)試單元輸出處之該測(cè)試圖樣響應(yīng)亦能夠先轉(zhuǎn)換至一測(cè)試圖樣讀取緩存器，并接著從后者連續(xù)轉(zhuǎn)換至一計(jì)算單元。針對(duì)該計(jì)算，該測(cè)試圖樣響應(yīng)系可概括損失或是不包括損失；其基本概念在于將測(cè)試圖樣響應(yīng)的信息內(nèi)容減少至無論該測(cè)試圖樣是代表具有一連接至測(cè)試模塊輸入之特定測(cè)試模塊的測(cè)試單元之正確功能、或是減少至代表該測(cè)試單元的一項(xiàng)錯(cuò)誤；由于需要在該測(cè)試單元之誤差情形與適當(dāng)功能狀態(tài)之間作一分辨，因此該測(cè)試模塊響應(yīng)通常會(huì)壓縮損失；在此一情形中，亦可將所連接之復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣的測(cè)試響應(yīng)壓縮在一起。
測(cè)試響應(yīng)的壓縮、或是復(fù)數(shù)測(cè)試響應(yīng)之壓縮不應(yīng)太大，才能使壓縮結(jié)果即使是在實(shí)際上該測(cè)試單元有所缺陷時(shí)可以偶然對(duì)應(yīng)至測(cè)試單元適當(dāng)狀態(tài)之壓縮結(jié)果。舉例而言，若損失壓縮之結(jié)果為一8位之字符，且該測(cè)試單元的適當(dāng)狀態(tài)系以一特定之8位數(shù)量為特征，則該測(cè)試單元之缺陷狀態(tài)便無法產(chǎn)生一測(cè)試響應(yīng)，由于損失壓縮之故，因而未必會(huì)產(chǎn)生與無錯(cuò)誤情形中所獲得之相同的8位值，雖然兩者之間是不同的。因此，測(cè)試圖樣響應(yīng)的壓縮、或是復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣響應(yīng)的壓縮，都不應(yīng)該超過一個(gè)特定程度。
一反饋移位緩存器系包含了復(fù)數(shù)個(gè)別緩存器，其中該移位緩存器之輸入接收一個(gè)在該移位緩存器移位方向上之最后個(gè)別移位緩存器輸出與至少一個(gè)其它之個(gè)別移位緩存器輸出間之第一異或運(yùn)算結(jié)果；特別是該倒數(shù)第二個(gè)個(gè)別緩存器，最好是適合于一或多個(gè)測(cè)試圖樣響應(yīng)之計(jì)算。在此一情形中，至少一個(gè)個(gè)別緩存器之輸入將接收在該第一異或運(yùn)算結(jié)果或前一個(gè)個(gè)別緩存器之輸出與一測(cè)試單元輸出訊號(hào)間之一個(gè)第二異或運(yùn)算之結(jié)果，而在第一個(gè)別緩存器的情形中之輸入將接收在該第一異或運(yùn)算結(jié)果與一測(cè)試單元輸出訊號(hào)間之另一個(gè)異或運(yùn)算之結(jié)果。在一特定數(shù)量的移位操作之后，將因而獲得一個(gè)與該等個(gè)別緩存器之初始狀態(tài)以及測(cè)試單元的輸出訊號(hào)有關(guān)之簽署，其系作為該等個(gè)別緩存器之狀態(tài)，而該測(cè)試單元的輸出訊號(hào)系由于該等異或而被加以考慮。此一簽署構(gòu)成了一個(gè)二進(jìn)制值，其系以該測(cè)試單元輸出訊號(hào)的特定組合或是一測(cè)試響應(yīng)為其特征。以此方式所構(gòu)成之計(jì)算單元同樣能夠用來計(jì)算使用于時(shí)間序列(chronological succession)之復(fù)數(shù)測(cè)試響應(yīng)；因而該等移位緩存器之移位操作可以一周期率而產(chǎn)生，其中新的測(cè)試響應(yīng)系于該周期率應(yīng)用至該測(cè)試單元之輸出；這樣的程序特別適合應(yīng)用在將不同的測(cè)試圖樣使用至該測(cè)試單元的情形中。
除了使用一測(cè)試單元輸出的直接輸出訊號(hào)來執(zhí)行該第二異或運(yùn)算之外，亦可以使用一個(gè)可平行讀取測(cè)試響應(yīng)并連續(xù)將其輸出以供計(jì)算之用的移位緩存器之輸出訊號(hào)。在這樣的移位緩存器之每一移位周期中，供計(jì)算之用的該反饋移位緩存器必須執(zhí)行至少一移位操作，以計(jì)算該測(cè)試響應(yīng)的所有位置。
該測(cè)試圖樣最好是被連續(xù)讀入該測(cè)試圖樣輸出緩存器中，在這樣的配置中，若一個(gè)連接至該測(cè)試單元輸出的計(jì)算單元能夠分別計(jì)算在一移位緩存器的各移位周期中所獲得的測(cè)試響應(yīng)，以作為該測(cè)試圖樣輸出緩存器，則不同得次要圖樣便能夠成功移位至該測(cè)試圖樣輸出緩存器；不同的次要圖樣以此一方式而遷移，也就是說，其逐步地通過該測(cè)試單元之輸入，使得所有次要圖樣皆成功應(yīng)用至該測(cè)試單元輸入的每一區(qū)段(section)。由于該測(cè)試單元輸入之應(yīng)用會(huì)在該測(cè)試圖樣輸出緩存器的每一移位周期中變化，因此此一方式有益于在該測(cè)試圖樣輸出緩存器之各移位周期中計(jì)算該測(cè)試單元輸出所獲得之測(cè)試響應(yīng)。
在一具有優(yōu)勢(shì)的例子中，該測(cè)試圖樣輸出緩存器可用于將該測(cè)試圖樣應(yīng)用至該測(cè)試單元的輸入，亦可用于讀入該測(cè)試響應(yīng)，因而該測(cè)試圖樣輸出緩存器系具有輸入與輸出，測(cè)試圖樣輸出緩存器之該等輸入系連接至該測(cè)試單元的輸出，而該測(cè)試圖樣輸出緩存器的該等輸出系連接至該測(cè)試單元的輸入。為了能夠?qū)?shù)據(jù)讀進(jìn)該測(cè)試圖樣輸出緩存器并將其讀出，該測(cè)試圖樣輸出緩存器必須設(shè)計(jì)為一移位緩存器；在運(yùn)算過程中，首先連續(xù)發(fā)生移位至測(cè)試圖樣輸出緩存器，且該測(cè)試圖樣輸出緩存器被接著驅(qū)動(dòng)，以接受所應(yīng)用至其輸入之測(cè)試響應(yīng)，并接著可以連續(xù)讀出。為了執(zhí)行這些運(yùn)算，該測(cè)試圖樣輸出緩存器可以具有一串聯(lián)輸入以讀入該測(cè)試圖樣、一并聯(lián)輸出以讀入另一測(cè)試單元的測(cè)試響應(yīng)、以及一串聯(lián)輸出以連續(xù)輸出該測(cè)試響應(yīng)。
該測(cè)試響應(yīng)因其是從該測(cè)試樣笨輸出緩存器所移位出來的，因而有益于計(jì)算；該測(cè)試圖樣輸出緩存器之輸出可因而被連接至一計(jì)算單元的輸入，其中該測(cè)試單元之一輸出系同樣直接連接至該計(jì)算單元。該計(jì)算單元可具有如上述類型之一反饋移位緩存器，該計(jì)算單元的反饋移位緩存器系以一個(gè)與該測(cè)試圖樣輸出緩存器之移位緩存器相同的周期率而驅(qū)動(dòng)；在此一情形中，同樣可以使用一個(gè)具有反饋移位緩存器的計(jì)算單元來計(jì)算數(shù)據(jù)，其中該反饋移位緩存器系具有復(fù)數(shù)輸入，以及可以同時(shí)從復(fù)數(shù)之測(cè)試圖樣輸出緩存器將該等測(cè)試圖樣響應(yīng)遞送至該反饋移位緩存器的不同輸入；因此在該計(jì)算單元中將形成一個(gè)簽署為復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣之函數(shù)，該等測(cè)試圖樣系同時(shí)轉(zhuǎn)換至該計(jì)算單元。
若使用一測(cè)試圖樣輸出緩存器來讀入并連續(xù)輸出一測(cè)試響應(yīng)，通常表示所使用至該測(cè)試單元輸入之該測(cè)試響應(yīng)將被一測(cè)試響應(yīng)覆寫，因而在這樣的情形中，有益的是在接受一測(cè)試響應(yīng)之前，該測(cè)試圖樣輸出緩存器就會(huì)先將一新的測(cè)試圖樣完全加載；而為了避免該測(cè)試圖樣覆寫入該測(cè)試圖樣輸出緩存器，可使用一個(gè)具有兩分支的雙重移位緩存器，其中一分支系加載該測(cè)試圖樣，而另一分支則用來接收及連續(xù)遞送該測(cè)試響應(yīng)。
測(cè)試單元系互連以形成一測(cè)試圖樣輸出緩存器來執(zhí)行數(shù)字模塊測(cè)試，而有益的是該測(cè)試單元的功能性組件系被使用作為測(cè)試圖樣輸出緩存器，因此能夠使用已經(jīng)存在之該測(cè)試單元的功能性組件來作為測(cè)試圖樣輸出緩存器；而不完全合適的功能性組件則可以隨意地?cái)U(kuò)充對(duì)應(yīng)之功能性，使得用來提供測(cè)試圖樣輸出緩存器的必要花費(fèi)能夠藉由使用該測(cè)試單元的功能性組件而降低；相同的構(gòu)想亦使用于一計(jì)算單元的組件，或是一個(gè)用來接收與傳送測(cè)試響應(yīng)之測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器的組件。
一測(cè)試圖樣包含了一特定次要圖樣之周期性序列的至少一部份，或是專門由該特定次要圖樣之一周期性序列所組成；該次要圖樣可從一個(gè)儲(chǔ)存次要圖樣選擇之內(nèi)存呼叫，也可以有系統(tǒng)地產(chǎn)生，舉例而言，可使用一向上或向下計(jì)數(shù)之?dāng)?shù)字計(jì)數(shù)器，而其計(jì)數(shù)狀態(tài)即可作為一次要圖樣。
為了執(zhí)行數(shù)字模塊之功能性測(cè)試，系于該數(shù)字模塊中使用一個(gè)自測(cè)試單元，次要圖樣(或測(cè)試圖樣)可以在此一自測(cè)試單元中獨(dú)立產(chǎn)生，或是可以使用一工具來從數(shù)字模塊外部控制該自測(cè)試單元。在后者之情形中，一次要圖樣或是用以產(chǎn)生該次要圖樣之控制訊號(hào)都可以轉(zhuǎn)換至該數(shù)字模塊的自測(cè)試單元，使其產(chǎn)生測(cè)試圖樣并將測(cè)試圖樣加載測(cè)試圖樣輸出緩存器中；同樣地，該測(cè)試圖樣響應(yīng)不需要一定在數(shù)字模塊內(nèi)部進(jìn)行計(jì)算，舉例而言，該測(cè)試圖樣響應(yīng)可以藉由壓縮的方式而轉(zhuǎn)換至數(shù)字模塊外部，并在外部進(jìn)行計(jì)算。
為了計(jì)算該測(cè)試單元反應(yīng)至測(cè)試圖樣，可使用電子束方法；在此情形中，數(shù)字模塊的電位能可以被非接觸性地記錄下來。此方法的好處之一在于能夠監(jiān)控未連接至任何測(cè)試單元輸出之?dāng)?shù)字模塊內(nèi)部的點(diǎn)。
關(guān)于周期性的部分，所使用之該等測(cè)試圖樣可同樣具有一可變周期，這可藉由具有不同長(zhǎng)度的次要圖樣而達(dá)成；特別是為了達(dá)到這樣的周期性，可使用反饋移位緩存器。在一個(gè)較佳具體實(shí)施例中，作為測(cè)試圖樣輸出緩存器之移位緩存器的一部份同樣可用來作為此一次要圖樣移位緩存器；然而，由于具有不同長(zhǎng)度之次要圖樣，便需要一個(gè)可以用來達(dá)到次要圖樣移位緩存器之可變周期的工具，舉例而言，可使用一多任務(wù)器，其能夠?qū)y(cè)試圖樣輸出緩存器之輸出反向饋送至次要圖樣移位緩存器中不同的個(gè)別緩存器之輸入；該多任務(wù)器同樣能夠連接該次要圖樣移位緩存器之輸入至個(gè)別緩存器的不同輸出。正如測(cè)試圖樣輸出緩存器，該次要圖樣移位緩存器亦由數(shù)字模塊的功能性組件所形成，其能夠切換為次要圖樣移位緩存器，以測(cè)試該數(shù)字模塊。
有益的是，該數(shù)字模塊的測(cè)試系由盡可能短的次要圖樣開始，這是因?yàn)槠淙菰S較小數(shù)量的不同可能性；次要圖樣的長(zhǎng)度可以接著逐步增加至一個(gè)不會(huì)導(dǎo)至任何額外錯(cuò)誤偵測(cè)可能性之?dāng)?shù)值，且特別是，增加至一個(gè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試單元有效數(shù)量的數(shù)值。若藉由這樣的次要圖樣長(zhǎng)度之逐步增加，可在該次要圖樣內(nèi)部使用每一可能組合，則由于具有可整除長(zhǎng)度之次要圖樣必須以較短次要圖樣之周期序列表示，因此該等次要圖樣之長(zhǎng)度便可根據(jù)原始之?dāng)?shù)字序列而加以選擇；然而，以上所述僅使用于由次要圖樣之一周期性序列所產(chǎn)生之測(cè)試圖樣。
本發(fā)明亦關(guān)于一個(gè)用來產(chǎn)生此一數(shù)字模塊之方法。數(shù)字模塊之產(chǎn)生大部分是在計(jì)算機(jī)的輔助下執(zhí)行，其中，根據(jù)本發(fā)明之構(gòu)想，建構(gòu)一個(gè)數(shù)字模塊所需要部分之執(zhí)行系可儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)中，使得任何需要之?dāng)?shù)字模塊都能夠根據(jù)本發(fā)明而在計(jì)算機(jī)輔助產(chǎn)生之過程中，藉由簡(jiǎn)單加入一自測(cè)試功能，而配置有此一功能。


本發(fā)明系藉由下列例子之說明并參考伴隨的較佳具體實(shí)施例之圖式而清楚被了解，其中第1圖表示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例之具有自測(cè)試功能的數(shù)字模塊結(jié)構(gòu)；第2圖表示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例之具有自測(cè)試功能的數(shù)字模塊結(jié)構(gòu)；第3圖表示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例之具有自測(cè)試功能的數(shù)字模塊結(jié)構(gòu)；第4圖表示根據(jù)本發(fā)明任一實(shí)施例之使用于數(shù)字模塊中之計(jì)算單元的結(jié)構(gòu)；第5圖表示根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例之?dāng)?shù)字模塊的一部份；以及第6圖表示根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施例之?dāng)?shù)字模塊的結(jié)構(gòu)。
具體實(shí)施例方式
第1圖示意性地代表根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例之?dāng)?shù)字模塊的結(jié)構(gòu)。在此第一實(shí)施例中，該數(shù)字模塊包含了一個(gè)具有功能性組件之測(cè)試單元3、一個(gè)測(cè)試圖樣輸出緩存器2、以及一個(gè)計(jì)算單元16，該數(shù)字模塊亦包含一自測(cè)試單元1，其系用以控制在該數(shù)字模塊之一自測(cè)試相位中之自測(cè)試所需要的功能；該測(cè)試圖樣輸出緩存器2系為一個(gè)具有一并聯(lián)輸出與一串聯(lián)輸入之移位緩存器，該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之并聯(lián)輸出包含了許多輸出線，其系分別使用于測(cè)試單元2之一輸入；該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之串聯(lián)輸入系連接至自測(cè)試單元1，使得后者能夠?qū)⒁粋€(gè)具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式、特別是一個(gè)二進(jìn)制數(shù)值的測(cè)試圖樣連續(xù)加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器2中。位于右側(cè)的測(cè)試單元3之輸出系連接于計(jì)算單元16的輸入，測(cè)試圖樣輸出緩存器2及/或計(jì)算單元16及/或自測(cè)試單元1的組件可為該數(shù)字模塊的功能性組件，其系用于數(shù)字模塊之在自測(cè)試相位外部的正常運(yùn)算，并切換于自測(cè)試相位，使得他們能夠形成測(cè)試圖樣輸出緩存器2或計(jì)算單元16或自測(cè)試單元1；許多的功能性組件系互連于該測(cè)試單元3的內(nèi)部，該測(cè)試單元3的輸入系對(duì)應(yīng)于測(cè)試單元3之功能性組件的可外部尋址性輸入，而該測(cè)試單元3的輸出則對(duì)應(yīng)于測(cè)試單元3之功能性組件的可外部觀察性輸出。在測(cè)試單元3內(nèi)部的功能性組件可為閘極或切換組件，在以測(cè)試單元3輸入所應(yīng)用之函數(shù)來觀察該測(cè)試單元3之輸出的行為時(shí)，可確定該測(cè)試單元3的不同輸入對(duì)于該測(cè)試單元3特定輸出之影響系形成了有效錐體5，其頂點(diǎn)則分別由測(cè)試組件3的特定輸出所形成，而其基部則分別包含了該測(cè)試單元3輸入之一特定有效數(shù)量；這表示只有配置于對(duì)應(yīng)之有效錐體5內(nèi)部的測(cè)試單元3輸入能夠影響此一特定輸出，或換言之，只有在該測(cè)試單元3之有效數(shù)量的輸出上之變化能夠影響該特定輸出；對(duì)測(cè)試單元3內(nèi)部的功能性組件之功能測(cè)試而言，這表示在觀察測(cè)試單元3的一個(gè)單一輸出時(shí)，不再需要將交替的訊號(hào)提供至該測(cè)試單元3的所有輸入，而僅需提供至對(duì)應(yīng)于該特定輸出的有效數(shù)量之輸出數(shù)量。
為了作一利用，該測(cè)試單元3的輸入所使用之測(cè)試圖樣系由一個(gè)或多個(gè)次要圖樣所形成，特別是，該次要圖樣長(zhǎng)度或該等次要圖樣之長(zhǎng)度并不超過該測(cè)試單元3輸出的最大或平均之有效數(shù)量；然后該測(cè)試圖樣緩存器2的輸出系連接至該測(cè)試單元3的輸出，使得分別屬于個(gè)別有效錐體5的測(cè)試單元3之輸入能夠參照于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之移位方向而盡可能的緊密排列在一起，其中該測(cè)試圖樣輸出緩存器2系設(shè)計(jì)為一移位緩存器。因此，由于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2的連續(xù)加載，該次要圖樣或該等次要圖樣之個(gè)別位置將彼此相鄰排列于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2輸出之移位方向上；因此能夠以僅可能短的次要圖樣來達(dá)成該有效錐體5之完全運(yùn)用。在第1圖的實(shí)施例中僅表示該測(cè)試單元3之輸出與輸入的一部份，事實(shí)上，該測(cè)試單元3的輸入與輸出之?dāng)?shù)量是在100甚或更大的范圍中。該數(shù)字模塊可更具有復(fù)數(shù)之測(cè)試單元3，其各分配有一測(cè)試圖樣輸出緩存器2與一計(jì)算單元16，其分別連接至自測(cè)試單元1。
交替之測(cè)試圖樣的長(zhǎng)度系對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖樣3的輸入數(shù)量，該等測(cè)試圖樣系連續(xù)地加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器2，并于該自測(cè)試單元1內(nèi)部產(chǎn)生，以測(cè)試在測(cè)試單元3內(nèi)部的功能性組件。該等測(cè)試圖樣系根據(jù)次要圖樣而產(chǎn)生，其中一測(cè)試圖樣可以部份或是完全地作為一特定次要圖樣之一周期性序列、或是也可以作為不同的次要圖樣之一序列；其本質(zhì)上端視于該計(jì)算單元16所能夠計(jì)算所使用至測(cè)試單元3輸出的測(cè)試響應(yīng)之周期率。
在該計(jì)算單元16能夠計(jì)算該測(cè)試圖樣輸出緩存器2每一移位周期上之測(cè)試響應(yīng)的情形中，為了能夠達(dá)成對(duì)該測(cè)試單元3輸入使用之修飾、且能夠因而在輸出處設(shè)定一個(gè)變化之測(cè)試圖樣響應(yīng)，將于以下加以考量。在這個(gè)情形中，可以連續(xù)加載不同的次要圖樣至該測(cè)試圖樣輸出緩存器2，使得不同的測(cè)試圖樣能夠連續(xù)遷移通過該有效錐體5之輸入，該等移位運(yùn)算系繼續(xù)執(zhí)行直到最后一個(gè)次要圖樣已經(jīng)完全移位經(jīng)過該測(cè)試圖樣輸出緩存器2；當(dāng)然，在這個(gè)情形中，也可以依需要經(jīng)常地重復(fù)一些或是全部的次要圖樣，舉例而言，這樣可使得各次要圖樣能夠在同樣處理下一個(gè)次要圖樣之前，就連續(xù)地二次加載于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2中。由于該次要圖樣之進(jìn)一步重復(fù)并不會(huì)導(dǎo)致該測(cè)試單元3的輸入之使用有所不同，因此一個(gè)次要圖樣系權(quán)宜地盡可能重復(fù)，直到全部的測(cè)試圖樣輸出緩存器2都已經(jīng)充滿此一次要圖樣為止。在此程序之測(cè)試圖樣輸出緩存器2的每一移位周期中，可達(dá)成該測(cè)試單元3之一個(gè)修飾使用，且在該計(jì)算單元16之輸入處可因此而獲得一變化之測(cè)試響應(yīng)；因此該計(jì)算單元16系于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之各移位周期中計(jì)算該測(cè)試單元3之測(cè)試響應(yīng)。然后所獲得之不同的測(cè)試響應(yīng)系由該計(jì)算單元16以損失加以壓縮，以形成一數(shù)字?jǐn)?shù)值之簽署，此一簽署系從該計(jì)算單元16而被轉(zhuǎn)換，特別是連續(xù)地轉(zhuǎn)換，至該自測(cè)試單元1，使得當(dāng)一數(shù)據(jù)函數(shù)加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器2時(shí)，后者能夠確定在此一情形中所獲得之訊號(hào)是否指示了該測(cè)試單元3內(nèi)部之功能性組件適當(dāng)?shù)墓δ?；?duì)于使用于該測(cè)試單元3之所選擇序列而言，藉由一特定計(jì)算單元16與該測(cè)試單元3之適當(dāng)功能所壓縮而獲得之該簽署最好是事先決定并儲(chǔ)存于該自測(cè)試單元1中；那么后者只需要去比較由該計(jì)算單元16與所儲(chǔ)存之設(shè)定點(diǎn)簽署所遞送之簽署，便能夠確定該測(cè)試單元3在存在一匹配時(shí)是處于一個(gè)適當(dāng)?shù)臓顟B(tài)。在該計(jì)算單元16內(nèi)部之此一類型計(jì)算中，簽署的形成系以周期控制而產(chǎn)生，在該計(jì)算單元16內(nèi)部的簽署形成周期系與該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之移位周期相同。
此外，在該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之每一移位周期中，計(jì)算單元16內(nèi)部所產(chǎn)生之簽署形成亦可具有復(fù)數(shù)周期；然不利的是，其將減緩數(shù)字模塊之功能測(cè)試。在某些情形中，該計(jì)算單元16亦可設(shè)計(jì)為能夠自我檢查所獲得之簽署、或是所讀入之測(cè)試響應(yīng)，其相關(guān)于在測(cè)試單元3內(nèi)部之功能性組件是否正確執(zhí)行功能。
至于在計(jì)算單元16本身不能對(duì)測(cè)試響應(yīng)執(zhí)行任何壓縮、而僅有一簡(jiǎn)單的移位緩存器連續(xù)轉(zhuǎn)換該測(cè)試響應(yīng)至自測(cè)試單元1之情形，將于下述說明中考量。在此一情形中，當(dāng)該測(cè)試響應(yīng)發(fā)生變化，便需要在一個(gè)修飾之測(cè)試響應(yīng)產(chǎn)生之前，就首先將該計(jì)算單元16的全部?jī)?nèi)容轉(zhuǎn)換至該自測(cè)試單元1中，否則信息將會(huì)遺失；這表示在每一次該測(cè)試單元3輸入之請(qǐng)求產(chǎn)生變化時(shí)，所產(chǎn)生之測(cè)試響應(yīng)必須完全轉(zhuǎn)換至該計(jì)算單元16并完全讀出。在此一情形中，其有助于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2在每一次完全讀出該計(jì)算單元16的內(nèi)容之前，就先完全加載一個(gè)新的測(cè)試圖樣，有利的是，每一個(gè)新的測(cè)試圖樣皆能夠以一特定次要圖樣之一周期性序列而形成；這表示所存在的次要圖樣系被連續(xù)使用以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試圖樣，一部份、或特別是所有的測(cè)試圖樣都是一特定次要圖樣的一周期性序列。這些測(cè)試圖樣連續(xù)從自測(cè)試單元1被加載至測(cè)試圖樣輸出緩存器2，該計(jì)算單元16系接收了組合之測(cè)試響應(yīng)并在該測(cè)試圖樣輸出緩存器2已經(jīng)加載該測(cè)試圖樣后，就將其轉(zhuǎn)換至該自測(cè)試單元1。在這個(gè)情形中，測(cè)試圖樣的壓縮系發(fā)生于該自測(cè)試單元1中。
在上述例子中，次要圖樣可以藉由許多種不同方式產(chǎn)生；一方面中，用來儲(chǔ)存所使用之次要圖樣的一內(nèi)存系可配置于該自測(cè)試單元1內(nèi)部，該自測(cè)試單元1可進(jìn)而包含一個(gè)數(shù)字計(jì)數(shù)器，其計(jì)數(shù)狀態(tài)可使用作為次要圖樣；執(zhí)行此方法所需要之花費(fèi)特別少，且特別適合用于短次要圖樣中，可嘗試使用其個(gè)別位置的所有組合。
第2圖表示了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例之一數(shù)字模塊；在此，自測(cè)試單元同樣以1來表示；所欲測(cè)試之該數(shù)字模塊的組件系結(jié)合于一功能性組件區(qū)塊11中。舉例而言，其具有一個(gè)用以使用至在該功能性組件區(qū)塊11內(nèi)部之一測(cè)試單元3(圖中未示)的測(cè)試圖樣輸出緩存器2；該功能性組件區(qū)塊11更包含了一個(gè)用來計(jì)算測(cè)試響應(yīng)的計(jì)算單元(圖中未示)。在該測(cè)試圖樣輸出緩存器2、該測(cè)試單元、與該計(jì)算單元之間的交互作用系如第一實(shí)施例所說明之方法而發(fā)生。
該自測(cè)試單元1的結(jié)構(gòu)將于下述說明中討論；其具有一次要圖樣移位緩存器15，其中測(cè)試圖樣能夠根據(jù)所加載的次要圖樣之重復(fù)而產(chǎn)生；因此，該次要圖樣移位緩存器15在左側(cè)具有一輸入，而在右側(cè)具有能夠經(jīng)由多任務(wù)器18反饋而加以控制之輸出，因此，該次要圖樣移位緩存器15系連接至該多任務(wù)器18，使得該多任務(wù)器18能夠?qū)⒃摯我獔D樣移位緩存器15之輸出反向饋送至在該次要圖樣移位緩存器15內(nèi)部之一可選擇之移位組件。
為了產(chǎn)生一測(cè)試圖樣，該次要圖樣移位緩存器15系加載一次要圖樣，并由該多任務(wù)器18設(shè)定至一個(gè)對(duì)應(yīng)于該次要圖樣長(zhǎng)度之周期；一旦該次要圖樣移位緩存器15在該移位方向中進(jìn)一步運(yùn)算，由于反饋的原因，則依所需經(jīng)常地重復(fù)先前所加載的次要圖樣。以此方式所獲得之該次要圖樣的周期性序列系經(jīng)由該次要圖樣移位緩存器之輸出而加載至該測(cè)試圖樣輸出緩存器2。一個(gè)配置于該自測(cè)試單元1內(nèi)部的內(nèi)存6可作為次要圖樣之來源；更可與該內(nèi)存6之輸出一起使用次要圖樣輸入線17，而產(chǎn)生一多任務(wù)器7，使得無論是一個(gè)來自于該內(nèi)存6的次要圖樣、或是經(jīng)由該次要圖樣輸入線17而來自于外部的所遞送之一次要圖樣，都可以傳送至該次要圖樣移位緩存器15中使用。
原則上，亦可以使用一反饋移位緩存器來取代該內(nèi)存6而產(chǎn)生次要圖樣；移位緩存器輸入系接收在該輸出與該移位緩存器之另一移位組件之間的一個(gè)異或運(yùn)算結(jié)果，而該移位緩存器的狀態(tài)則平行或連續(xù)轉(zhuǎn)換至該次要圖樣移位緩存器15，作為一次要圖樣。
為了監(jiān)控測(cè)試圖樣加載測(cè)試圖樣輸出緩存器2的過程，可于該自測(cè)試單元1內(nèi)部使用一個(gè)計(jì)數(shù)器10，其可向上計(jì)數(shù)在該次要圖樣移位緩存器15之輸出處所謂移出的位；該自測(cè)試單元1更具有一測(cè)試控制區(qū)塊8，其能夠?qū)⒃摴δ苄越M件區(qū)塊11設(shè)定于測(cè)試模式。對(duì)于測(cè)試模式之此一設(shè)定而言，舉例而言，在該功能性組件區(qū)塊11內(nèi)部特定的功能性組件可切換至一測(cè)試圖樣輸出緩存器2、或是切換至一計(jì)算單元，亦可確認(rèn)自測(cè)試所需要之連接。
該自測(cè)試單元1更包含了一測(cè)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換區(qū)塊9，其在所使用之計(jì)算單元需要轉(zhuǎn)換控制時(shí)，用以控制一測(cè)試響應(yīng)至一計(jì)算單元之轉(zhuǎn)換。
接著，該數(shù)字模塊之自測(cè)試之產(chǎn)生系如下述說明。首先該自測(cè)試單元1系利用該測(cè)試控制區(qū)塊8而將該功能性組件區(qū)塊11設(shè)定為測(cè)試模式，在藉由該多任務(wù)器7選擇了所需要之次要圖樣來源后，一次要圖樣則經(jīng)由該次要圖樣輸入線17或是從該內(nèi)存6而被加載該次要圖樣輸出緩存器15中；所需要之周期則由該多任務(wù)器18以所使用之次要圖樣長(zhǎng)度之函數(shù)而加以調(diào)整。接著，該次要圖樣移位緩存器15系進(jìn)一步運(yùn)算于移位運(yùn)算中，直到該測(cè)試圖樣輸出緩存器2完全被該次要圖樣之一周期性序列所充滿；此一程序系藉由一計(jì)數(shù)器10的輔助而加以監(jiān)測(cè)。接著，可藉由該測(cè)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換區(qū)塊9而將一個(gè)合適的控制指示送至該功能性組件區(qū)塊11中，其中至少一測(cè)試響應(yīng)系接受至一計(jì)算單元。該測(cè)試響應(yīng)之計(jì)算藉由一相配配置于該功能性組件區(qū)塊11內(nèi)部之計(jì)算單元而執(zhí)行、或是在外部產(chǎn)生；因此，在該功能性組件區(qū)塊11與該自測(cè)試單元1之間需使用一連接(圖中未示)，經(jīng)由該連接可將至少一測(cè)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換至該自測(cè)試單元1中，以于該處執(zhí)行計(jì)算；更可直接、或是藉由在該數(shù)字模塊外部之該自測(cè)試單元1來讀出至少一測(cè)試響應(yīng)；而后者則特別適合于次要圖樣已經(jīng)藉由次要圖樣輸入線17而從外部遞送之情形。
第3圖表示本發(fā)明之一第三實(shí)施例，其中系使用了共有三個(gè)測(cè)試單元3與三個(gè)測(cè)試圖樣輸出緩存器2。在此一實(shí)施例中，該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2系配置為移位緩存器，并設(shè)計(jì)為能夠各具有一串聯(lián)輸出、一串聯(lián)輸入、一并聯(lián)輸出、與一并聯(lián)輸入。該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2之并聯(lián)輸入系分別連接至測(cè)試單元3之一輸出，使得該測(cè)試單元3之測(cè)試響應(yīng)能夠被接受至該測(cè)試圖樣輸出緩存器2中；如上所述，該等測(cè)試圖樣輸出緩存器的并聯(lián)輸出系連接至該測(cè)試單元3的輸入，以提供一測(cè)試圖樣；同樣如上所述，該等串聯(lián)輸入系連接至該自測(cè)試單元1，而該等串聯(lián)輸出系連接至一計(jì)算單元4。在此一實(shí)施例中，各個(gè)測(cè)試圖樣輸出緩存器2皆使用于一測(cè)試單元3輸入之一測(cè)試圖樣以及監(jiān)測(cè)該測(cè)試響應(yīng)；然而，由于在該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2接受測(cè)試響應(yīng)時(shí)，先前所包含于該測(cè)試圖樣輸出緩存器2中的內(nèi)容會(huì)被覆寫，因此本實(shí)施例之優(yōu)勢(shì)在于能夠該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2能夠先將一個(gè)新的測(cè)試圖樣完全加載，然后再藉由適當(dāng)?shù)尿?qū)動(dòng)該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2來接受組合之測(cè)試響應(yīng)；有利的是，所加載該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2之該等測(cè)試圖樣是相同的，雖然有時(shí)不盡相同。
為了讀出已被接受至該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2之該測(cè)試單元3測(cè)試響應(yīng)，該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2系于移位運(yùn)算中操作，使得該等測(cè)試響應(yīng)能夠被連續(xù)轉(zhuǎn)換至該計(jì)算單元4；在此例中，該計(jì)算單元4系運(yùn)算而使得在該等測(cè)試圖樣輸出緩存器2之移位周期中之測(cè)試圖樣能夠被轉(zhuǎn)換至該計(jì)算單元4，該測(cè)試單元4則共同壓縮了最近移位入的位。
第4圖代表該計(jì)算單元4的一個(gè)可能結(jié)構(gòu)。所表示之該計(jì)算單元4系由一反饋移位緩存器所形成，該反饋移位緩存器包含了復(fù)數(shù)之個(gè)別移位組件12、或是個(gè)別緩存器12；在此例中，移位方向系自左側(cè)向右側(cè)而形成。在此例中，表示于左側(cè)之第一個(gè)別緩存器12輸入接收了在最后一個(gè)個(gè)別緩存器12之輸出與倒數(shù)第二個(gè)個(gè)別緩存器12之輸出間的一個(gè)第一異或運(yùn)算結(jié)果；該第一異或運(yùn)算結(jié)果系由一異或門13之輔助而產(chǎn)生，其兩輸入系分別連接至最后一個(gè)與倒數(shù)第二個(gè)個(gè)別緩存器12之輸出。亦可使用與連接互連于兩個(gè)連續(xù)的個(gè)別緩存器12之間的異或門13，使得該個(gè)別緩存器12之輸入能夠接收在先前之個(gè)別緩存器12輸出與一訊號(hào)間的一個(gè)第二異或運(yùn)算結(jié)果；該訊號(hào)系經(jīng)由一輸入線19而遞送，并對(duì)應(yīng)于所欲計(jì)算之訊號(hào)。一測(cè)試單元的輸出可直接連接至輸入線19、或是用來接收測(cè)試響應(yīng)與將該測(cè)試響應(yīng)連續(xù)傳送至計(jì)算單元之一測(cè)試單元的輸出可連接至該等輸入線19。在第4圖所代表的類型中，舉例而言，可根據(jù)第三實(shí)施例而在該數(shù)字模塊中使用該計(jì)算單元4，在此例中，必須要在計(jì)算單元中使用許多輸入線19，就像測(cè)試圖樣輸出緩存器2一樣。此外，亦可根據(jù)第一實(shí)施例而在數(shù)字模塊中使用如第4圖所表示之計(jì)算單元4，在此例中，必須將測(cè)試單元3的各個(gè)輸出連接至該計(jì)算單元4地一輸出線19。在第4圖所表示之計(jì)算單元運(yùn)算期間，需要確認(rèn)該等個(gè)別緩存器12之至少一移位周期是在所使用至該輸入線19之訊號(hào)變化之后發(fā)生；這表示在根據(jù)第3圖第三實(shí)施例之?dāng)?shù)字模塊中使用該計(jì)算單元4時(shí)，該等個(gè)別緩存器12系由測(cè)試圖樣輸出緩存器2之各移位周期中的至少一周期所傳送切換；當(dāng)在一個(gè)根據(jù)第一實(shí)施例之?dāng)?shù)字模塊中使用該計(jì)算單元4時(shí)，該計(jì)算單元之個(gè)別緩存器12同樣需要由測(cè)試圖樣輸出緩存器2之各移位周期中的至少一周期所傳送切換。
由于反饋以及異或運(yùn)算之故，以使用至該等輸入線19之訊號(hào)為其特征之一簽署系因此而以該等個(gè)別緩存器12初始狀態(tài)與使用至該等輸入線19的訊號(hào)之一函數(shù)而形成；為了讀出以此方式形成之簽署，如第4圖所表示之移位緩存器必須為可切換，使得該等個(gè)別緩存器12之內(nèi)容能夠在一特定時(shí)間被讀出，特別是被連續(xù)讀出。
第5圖表示了根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例之一數(shù)字模塊；其與其它實(shí)施例之間在本質(zhì)上的差異在于能夠更快速的計(jì)算測(cè)試圖樣。正如同之前的實(shí)施例，測(cè)試圖樣系以次要緩存器2之輔助而使用至測(cè)試單元3，在此情形中，四個(gè)測(cè)試單元3所使用之四個(gè)次要緩存器2系串聯(lián)互連，使得其能夠形成一單一的大移位緩存器；四個(gè)測(cè)試單元3的輸入皆使用至四個(gè)次要緩存器2，其系設(shè)計(jì)為能夠分別經(jīng)由一并聯(lián)的輸入來接收測(cè)試單元的測(cè)試響應(yīng)，在此例中，該等互連之次要緩存器2共同形成一個(gè)單一移位緩存器；下面所表示的次要緩存器2具有平行輸入(圖中未示)以使用于進(jìn)一步之測(cè)試單元3。進(jìn)而使用異或門13，并將其與該等次要緩存器12互連，使得各次要緩存器之輸出系連接至一異或門13之一第一輸入，而其第二輸入系連接至一個(gè)以其第一輸入來接收先前次要緩存器2之輸出的異或門13之輸出；而在測(cè)試圖樣移位經(jīng)過該等個(gè)別緩存器2時(shí)，則有一個(gè)同時(shí)受到所有四個(gè)次要緩存器2作用之位序列出現(xiàn)在以其第一輸入來接收移位方向上最后次要緩存器2之異或門13的輸出處；因此，只要各短次要緩存器2的測(cè)試響應(yīng)一完全移位出該次要緩存器2，就可以獲得一個(gè)考慮了所有個(gè)別緩存器2之測(cè)試響應(yīng)的簽署，這特別適于長(zhǎng)測(cè)試響應(yīng)之計(jì)算，其中，用于保持一個(gè)長(zhǎng)測(cè)試響應(yīng)的緩存器系更分為復(fù)數(shù)緩存器2，在其連接點(diǎn)處則連接有異或門之附加電路。例如在第4圖中所描述的一個(gè)傳統(tǒng)的計(jì)算單元4，可連接至最后異或門的輸出，并同時(shí)用于計(jì)算或壓縮來自具有額外異或門的個(gè)別緩存器2輸出之訊號(hào)。
第6圖表示了根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施例之一數(shù)字模塊；其基本特征系可發(fā)現(xiàn)于該功能性組件區(qū)塊11，其具有同樣用于保持測(cè)試響應(yīng)之復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣輸出緩存器2。一反饋移位緩存器14系連接至各測(cè)試圖樣輸出緩存器2的左側(cè)，所有的反饋移位緩存器14系藉由多任務(wù)器7的輔助而連接在一起，以形成一移位緩存器。各多任務(wù)器7系設(shè)計(jì)為能夠?qū)⒁环答佉莆痪彺嫫?4的輸入連接至反饋移位緩存器14的輸出、或是連接至一個(gè)先前之反饋移位緩存器14之輸出；對(duì)第一反饋移位緩存器14而言，該多任務(wù)器7可將其輸入連接至該反饋移位緩存器14之輸出、或是連接至該自測(cè)試單元1的一個(gè)次要圖樣輸出。藉由此一配置的輔助，可根據(jù)在該功能性組件區(qū)塊11內(nèi)部之次要圖樣而產(chǎn)生測(cè)試圖樣，由于多個(gè)反饋移位緩存器14的存在，在此一情形中便可根據(jù)不同的次要圖樣而同時(shí)產(chǎn)生不同的測(cè)試圖樣；舉例而言，這適合于由于不銅得測(cè)試單元3而使得測(cè)試圖樣輸出緩存器2加載不同測(cè)試圖樣之情形。該自測(cè)試單元1包含了一次要圖樣移位緩存器15與一個(gè)用于保持次要圖樣范圍之內(nèi)存6，該次要圖樣移位緩存器15將一次要圖樣連續(xù)轉(zhuǎn)換至該東能性組件區(qū)塊11。
測(cè)試圖樣輸出緩存器2的輸出系連接至一計(jì)算單元4的輸入，以產(chǎn)生所有測(cè)試圖樣連續(xù)移位出該測(cè)試圖樣輸出緩存器2之一簽署，其系為了如前述之計(jì)算該等測(cè)試響應(yīng)之目的。
為了加載該等測(cè)試輸出圖樣輸出緩存器2，首先驅(qū)動(dòng)多任務(wù)器7，使其將該等反饋移位緩存器14之輸入分別連接至先前反饋移位緩存器之輸入、或連接至該次要圖樣移位緩存器15。此一階段藉由次要圖樣移位緩存器15的輔助，將一個(gè)次要圖樣從該內(nèi)存6經(jīng)由第一多任務(wù)器7而加載該第一反饋移位緩存器14；接著，無論是相同的次要圖樣、或是另一個(gè)次要圖樣，皆可由于所有反饋移位緩存器14最后皆由一次要圖樣充滿之故，而重復(fù)反向移位；在此例中，該反饋移位緩存器14可由該次要圖樣移位出該次要圖樣移位緩存器15之一函數(shù)，而以任何、以及不同的次要圖樣所充滿。當(dāng)該等反饋移位緩存器14已被所欲之次要圖樣充滿時(shí)，則驅(qū)動(dòng)該等多任務(wù)器7，使其能夠?qū)⒃摰确答佉莆痪彺嫫?4之輸入連接至其輸出，使其于反饋運(yùn)算中操作，且藉此而周期性地重復(fù)所加載之次要圖樣，并將其加載至所對(duì)應(yīng)之測(cè)試圖樣輸出緩存器2；在此例中，該自測(cè)試單元1可同樣包含了多種其它組件(圖中未示)，其系為執(zhí)行該數(shù)字模塊之自測(cè)試所需要，并已結(jié)合了其它實(shí)施例而描述。
組件符號(hào)說明1 自測(cè)試單元2 測(cè)試圖樣輸出緩存器3 測(cè)試單元4 計(jì)算單元5 錐體6 內(nèi)存7 多任務(wù)器8 測(cè)試控制區(qū)塊9 測(cè)試響應(yīng)轉(zhuǎn)換區(qū)塊10 計(jì)數(shù)器11 功能性組件區(qū)塊12 個(gè)別緩存器13 異或門14 反饋移位緩存器15 次要圖樣移位緩存器16 計(jì)算單元17 次要圖樣輸入線18 多任務(wù)器19 輸入線
權(quán)利要求
1.一種具有功能性組件的數(shù)字模塊，其中至少一部份的該功能性組件乃被指定到至少一具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)，至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)乃將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸入，以及一自測(cè)試單元(1)用于控制該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)并將具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式的至少一測(cè)試圖樣加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，其特征在于該至少一測(cè)試圖樣中至少一部份是一次要圖樣的周期性序列，其同樣具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式。
2.如權(quán)利要求1數(shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有至少一計(jì)算單元(4)，用以計(jì)算應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)輸出的一測(cè)試圖樣響應(yīng)。
3.如權(quán)利要求2之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有至少一測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器，其連接至該測(cè)試單元(3)輸出，并設(shè)計(jì)為至少在該數(shù)字模塊的一測(cè)試模式中，能夠接收應(yīng)用至該測(cè)試單元(3)輸出的一測(cè)試響應(yīng)，并將其連續(xù)傳送至該計(jì)算單元(4)。
4.如權(quán)利要求3之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有的功能性組件為緩存器，且其被設(shè)計(jì)為能夠從該自測(cè)試單元(1)切換至該至少一測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器(2)。
5.如權(quán)利要求3或4之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該自測(cè)試單元(1)被設(shè)計(jì)以便完全將一新測(cè)試圖樣加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，并接著驅(qū)動(dòng)該等測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器以接收該測(cè)試響應(yīng)。
6.如權(quán)利要求3至5中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器是由一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)所形成，其具有與一測(cè)試單元(3)的輸出相連接的輸入。
7.如權(quán)利要求3至6中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試響應(yīng)讀取緩存器是一被細(xì)分為個(gè)別移位緩存器(12)的移位緩存器，且其乃被設(shè)計(jì)為能夠連續(xù)傳送一在該移位緩存器移位方向上的最后個(gè)別移位緩存器(12)的一輸出訊號(hào)與至少一個(gè)其它個(gè)別移位緩存器(12)的一輸出訊號(hào)間異或(exclusive-OR)運(yùn)算的結(jié)果至該計(jì)算單元(4)。
8.如權(quán)利要求3至6中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該計(jì)算單元(4)是一個(gè)反饋移位緩存器，其包含了復(fù)數(shù)個(gè)別緩存器(12)且其輸入乃接收一在該移位緩存器移位方向上的最后個(gè)別移位緩存器(12)輸出與至少一其它個(gè)別移位緩存器(12)輸出間的一第一異或運(yùn)算結(jié)果，至少一個(gè)個(gè)別緩存器(12)的輸入乃接收在該第一異或運(yùn)算結(jié)果或是前一個(gè)別緩存器的輸出與一測(cè)試單元(3)輸出訊號(hào)間的至少一第二異或運(yùn)算之結(jié)果，而在該移位方向上的該第一個(gè)別緩存器(12)中的輸入乃接收在該第一異或運(yùn)算的結(jié)果與一測(cè)試單元(3)輸出訊號(hào)間之另一個(gè)異或運(yùn)算的結(jié)果。
9.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該至少一測(cè)試圖樣乃專門由該次要圖樣的周期性序列所構(gòu)成。
10.如權(quán)利要求9之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該至少一測(cè)試圖樣乃專門由一次要圖樣的一周期性序列所構(gòu)成。
11.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試圖樣輸出緩存器為一移位緩存器，其被設(shè)計(jì)，以使至少一測(cè)試圖樣能夠從該自測(cè)試單元(1)而被連續(xù)加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
12.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊所具有的功能性組件為緩存器，且其被設(shè)計(jì)為能夠藉由該自測(cè)試單元(1)而切換至該至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
13.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該自測(cè)試單元(1)具有一內(nèi)存(6)，且其被設(shè)計(jì)為能夠藉由一儲(chǔ)存于該內(nèi)存(6)之次要圖樣而以一可變周期周期性地形成該測(cè)試圖樣。
14.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該自測(cè)試單元(1)具有一計(jì)數(shù)器，并被設(shè)計(jì)為能夠于上傳及/或下載計(jì)數(shù)方向中操作該計(jì)數(shù)器，并藉由一作為次要圖樣的該計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)器狀態(tài)而形成該測(cè)試圖樣。
15.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，并被設(shè)計(jì)為能將相同的測(cè)試圖樣同時(shí)加載該等測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
16.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有至少一反饋次要圖樣移位緩存器(14)，其能夠加載一次要圖樣，并設(shè)計(jì)為能夠連續(xù)輸出該測(cè)試圖樣以作為該次要圖樣之一周期性序列。
17.如權(quán)利要求16之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該次要圖樣移位緩存器(14)乃設(shè)計(jì)為能夠具有一可變周期。
18.如權(quán)利要求16或17之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該次要圖樣移位緩存器(14)乃被包含于該自測(cè)試單元(1)中。
19.如權(quán)利要求16或17之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該等測(cè)試圖樣輸出移位緩存器的一些緩存器能夠被切換至一次要圖樣移位緩存器(14)。
20.如權(quán)利要求16或17之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)的一部份形成了該次要圖樣移位緩存器(14)。
21.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試圖樣的最大周期乃針對(duì)該測(cè)試單元(3)的一特定輸出的測(cè)試單元(3)輸入而被定為是該測(cè)試單元的至少一有效數(shù)量之函數(shù)，該有效數(shù)量為在該測(cè)試單元(3)中數(shù)量變化會(huì)對(duì)該測(cè)試單元(3)特定輸出具影響的輸入數(shù)量，而且該測(cè)試單元(3)特定輸出僅受該等輸入變化的影響。
22.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)與該測(cè)試單元(3)互連，使得該測(cè)試單元(3)特定輸出僅受該測(cè)試單元(3)的輸出變化影響，該等輸出乃盡可能接近關(guān)于該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)的輸出次序。
23.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該測(cè)試單元(3)乃設(shè)計(jì)，以致于針對(duì)該測(cè)試單元(3)輸出的該測(cè)試單元(3)輸入的有效數(shù)量能夠盡可能地小，該有效數(shù)量為在該測(cè)試單元(3)中對(duì)該測(cè)試單元(3)特定輸出具影響的輸入數(shù)量，而該測(cè)試單元(3)特定輸出僅受該等輸入變化的影響。
24.如前述各項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有該自測(cè)試單元(1)的輸出控制線，而該自測(cè)試單元(1)乃設(shè)計(jì)為能夠藉由通過該等控制線而輸入的指示輔助來控制。
25.一種具有功能性組件的數(shù)字模塊，其中該功能性組件至少一部份的乃被指定至至少一具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)，至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)乃將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)之輸入，至少一計(jì)算單元(4)乃被用以計(jì)算應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸出的一測(cè)試圖樣響應(yīng)，以及一個(gè)自測(cè)試單元(1)乃用來控制該至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)與該計(jì)算單元(4)，并用以將具有二進(jìn)制數(shù)值形式的至少一測(cè)試圖樣加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器，其特征在于該至少一測(cè)試圖樣是來自一次要圖樣清單的一次要圖樣的周期性序列，該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)為一移位緩存器，該測(cè)試圖樣能夠連續(xù)加載該測(cè)試樣本輸出緩存器(2)，而該計(jì)算單元(4)乃設(shè)計(jì)為能夠在每一周期計(jì)算測(cè)試圖樣響應(yīng)，其中該測(cè)試圖樣的一新部分乃被加載至該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
26.如權(quán)利要求25之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該次要圖樣的最大長(zhǎng)度是針對(duì)該測(cè)試單元(3)的一特定輸出的一測(cè)試單元(3)輸入的至少一有效數(shù)量的函數(shù)，該有效數(shù)量為在該測(cè)試單元(3)中數(shù)量變化會(huì)對(duì)該測(cè)試單元(3)特定輸出具影響的輸入數(shù)量，而該測(cè)試單元(3)特定輸出僅受該等輸入變化影響。
27.如權(quán)利要求25或26之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該計(jì)算單元(4)是一個(gè)反饋移位緩存器，包含了復(fù)數(shù)個(gè)別緩存器(12)且其輸入在該移位緩存器移位方向上的最后個(gè)別移位緩存器(12)輸出與該移位緩存器的至少一其它個(gè)別移位緩存器(12)輸出間接收一第一異或運(yùn)算結(jié)果。
28.如權(quán)利要求25至27中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊所具有的功能性組件為緩存器，且其被設(shè)計(jì)為能夠藉由該自測(cè)試單元(1)而切換為該至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
29.如權(quán)利要求22至25中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該自測(cè)試單元(1)具有一內(nèi)存(6)，且其被設(shè)計(jì)為能夠藉由儲(chǔ)存于該內(nèi)存(6)的次要圖樣來形成該測(cè)試圖樣。
30.如權(quán)利要求22至26中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該自測(cè)試單元(1)具有一計(jì)數(shù)器，并被設(shè)計(jì)為能夠于上傳及/或下載計(jì)數(shù)方向中操作該計(jì)數(shù)器，并藉由該計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)器狀態(tài)而形成該測(cè)試圖樣。
31.如權(quán)利要求22至27中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊，其特征在于該數(shù)字模塊具有復(fù)數(shù)測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，并被設(shè)計(jì)為能將相同的測(cè)試圖樣同時(shí)加載該等測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)。
32.一種測(cè)試具有功能性組件的一數(shù)字模塊的方法，其中至少一部份該功能性組件乃被指定至至少一個(gè)具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)，至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)系將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸入，以及一自測(cè)試單元(1)用于控制該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)并將具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式的一測(cè)試圖樣加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，其特征在于該至少一測(cè)試圖樣緩存器(2)乃被加載一測(cè)試圖樣，其中至少一部分測(cè)試圖樣是一次要圖樣的一周期性序列，其同樣具有數(shù)字?jǐn)?shù)值的形式，且該至少一測(cè)試組件(3)對(duì)該測(cè)試圖樣的響應(yīng)行為乃被加以計(jì)算。
33.一種測(cè)試具有功能性組件數(shù)字模塊的方法，其中至少一部份該功能性組件乃被指定至至少一具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)，至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)乃將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸入，該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)乃被設(shè)計(jì)為一移位緩存器，其特征在于該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)乃藉一測(cè)試圖樣連續(xù)加載，該測(cè)試圖樣具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式，而一應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)輸出的測(cè)試圖樣響應(yīng)乃于每一周期中計(jì)算，其中該測(cè)試圖樣之一位的被加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，該測(cè)試圖樣是來自一次要圖樣清單的一次要圖樣的周期性序列。
34.如權(quán)利要求32或33之方法，其特征在于為了在一具有復(fù)數(shù)個(gè)別緩存器(12)的反饋移位緩存器中計(jì)算一測(cè)試圖樣響應(yīng)，在該移位方向上的最后個(gè)別移位緩存器(12)的輸出與該移位緩存器的至少一其它個(gè)別移位緩存器(12)的輸出間的一第一異或(exclusive-OR)運(yùn)算結(jié)果乃被應(yīng)用至該移位緩存器的輸入，至少一個(gè)別移位緩存器(12)的輸入乃接收在該第一異或運(yùn)算結(jié)果或是前一個(gè)別緩存器的輸出與一測(cè)試單元(3)的一輸出訊號(hào)間的至少一第二異或運(yùn)算的結(jié)果，而在該移位方向上的第一個(gè)別緩存器(12)中的輸入乃接收在該第一異或運(yùn)算結(jié)果與一測(cè)試單元(3)的一輸出訊號(hào)間的另一個(gè)異或運(yùn)算結(jié)果，以致于一簽署乃以該測(cè)試單元(3)的至少一輸出的函數(shù)形式形成于該反饋移位緩存器中。
35.如權(quán)利要求32或33之方法，其特征在于一應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)輸出的測(cè)試圖樣響應(yīng)乃藉由測(cè)試圖樣讀取緩存器的輔助而在一特定時(shí)間被接受，并被連續(xù)地傳送至一計(jì)算單元(4)以供計(jì)算。
36.如權(quán)利要求35之方法，其特征在于該測(cè)試圖樣讀取緩存器(2)乃由一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)所形成，當(dāng)該測(cè)試圖樣響應(yīng)被接受時(shí)，該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)之內(nèi)容乃被覆寫至一測(cè)試圖樣響應(yīng)讀取緩存器。
37.如權(quán)利要求36之方法，其特征在于該數(shù)字模塊之各測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)皆能用來將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸入，并可用來作為一測(cè)試圖樣響應(yīng)讀取緩存器。
38.如權(quán)利要求33或34以及35至37其中之一之方法，其特征在于一測(cè)試單元(3)的至少一測(cè)試圖樣響應(yīng)乃藉由該測(cè)試圖樣讀取緩存器(2)而連續(xù)地被傳送至該反饋移位緩存器以作簽署形成，該測(cè)試圖樣讀取緩存器(2)的連續(xù)輸出周期率與用以計(jì)算的該反饋移位緩存器的連續(xù)移位周期率相同。
39.權(quán)利要求32或33之方法，其特征在于該至少一測(cè)試單元(3)的測(cè)試圖樣響應(yīng)行為乃由電子束測(cè)試方法來計(jì)算。
40.一種用以測(cè)試具有功能性組件的數(shù)字模塊的裝置，其中該功能性組件中的至少一部份乃被指定到至少一具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)，至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)將一測(cè)試圖樣應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)的輸入，至少一讀取或測(cè)試單元乃分別用于讀取或計(jì)算應(yīng)用至該至少一測(cè)試單元(3)輸出的一測(cè)試圖樣響應(yīng)，以及一自測(cè)試單元(1)乃被用于控制該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)與該計(jì)算或讀取單元，并將具有數(shù)字?jǐn)?shù)值形式的至少一測(cè)試圖樣加載該測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，該裝置具有一數(shù)據(jù)處理工具以產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)，以及一測(cè)試圖樣轉(zhuǎn)換單元，其設(shè)計(jì)為能夠?qū)y(cè)試圖樣轉(zhuǎn)換至該數(shù)字模塊，以加載到該至少一測(cè)試圖樣輸出緩存器(2)，其特征在于該測(cè)試圖樣是來自一次要圖樣清單的一次要圖樣序列，或是其至少一部份是一次要圖樣的一周期性序列，該次要圖樣同樣為一數(shù)字?jǐn)?shù)值形式，且該裝置乃被設(shè)計(jì)為能夠使該數(shù)據(jù)處理工具產(chǎn)生至少一次要圖樣以作為測(cè)試圖樣數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)換至該測(cè)試圖樣轉(zhuǎn)換單元，而該測(cè)試圖樣轉(zhuǎn)換單元從接收自該數(shù)據(jù)處理單元的至少一次要圖樣產(chǎn)生該測(cè)試圖樣以加載該數(shù)字模塊。
41.如權(quán)利要求40之裝置，其特征在于該測(cè)試圖樣轉(zhuǎn)換單元是一針板，其具有接觸引腳以接觸在該數(shù)字模塊上的接觸點(diǎn)。
42.一種用以測(cè)試如權(quán)利要求1至31中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊的裝置，其特征在于該裝置乃被設(shè)計(jì)為能夠?yàn)榱嗽谠摂?shù)字模塊內(nèi)產(chǎn)生測(cè)試圖樣而轉(zhuǎn)換控制指令以產(chǎn)生至少一次要圖樣，或是控制指令，以從所儲(chǔ)存的次要圖樣中選擇至少一次要圖樣、或是經(jīng)由數(shù)字模塊的輸出控制線而將至少一次要圖樣轉(zhuǎn)換至該數(shù)字模塊內(nèi)的自測(cè)試單元(1)。
43.一種用以產(chǎn)生如權(quán)利要求1至31中任一項(xiàng)之?dāng)?shù)字模塊的方法。
全文摘要
本案提出一種用于測(cè)試具有功能性組件的數(shù)字模塊的系統(tǒng)。該等功能性組件被分為具有輸入與輸出的測(cè)試單元(3)；測(cè)試圖樣乃被應(yīng)用至該測(cè)試單元(3)的輸入，而產(chǎn)生的測(cè)試響應(yīng)乃于該測(cè)試單元(3)輸出被計(jì)算。接著，在一測(cè)試單元(3)的各輸入的變化并不會(huì)完全對(duì)一測(cè)試組件(3)的一特定輸出產(chǎn)生作用；對(duì)該測(cè)試單元(3)的每一輸出而言，可定義一錐體(5)，其頂點(diǎn)乃由該測(cè)試單元(3)的特定輸出所形成，而其基部則包含該測(cè)試單元(3)的輸入，其中該特定輸出僅受到該等輸入變化影響。應(yīng)用至該測(cè)試單元(3)輸入的該測(cè)試圖樣的長(zhǎng)度乃小于或等于在錐體(5)基部中的測(cè)試單元(3)輸入的數(shù)量。
文檔編號(hào)G01R31/3185GK1653344SQ03810936
公開日2005年8月10日 申請(qǐng)日期2003年5月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月15日
發(fā)明者R·阿諾爾德, M·海尼茨, S·科佩, V·舍伯 申請(qǐng)人:因芬尼昂技術(shù)股份公司