專利名稱：夾接腳(pin)專用測(cè)試機(jī)座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種夾接腳(PIN)專用測(cè)試機(jī)座，尤指一種通過手動(dòng)操作使導(dǎo)電端與接腳(PIN)精確接觸的測(cè)試機(jī)座，可避免因接觸不良造成無法導(dǎo)通而難以測(cè)試的缺陷。
背景技術(shù)：
接腳(PIN)是一種細(xì)長(zhǎng)針狀物。常見于從連接器突出的接觸點(diǎn)，其它接腳的形式則像蜘蛛的腳一樣，連接于芯片上，形狀像腳的金屬附屬物可以安插在電路板的插槽上，或是直接安裝于電路板上。其功能在于接收外界的電流信號(hào)，然后經(jīng)過內(nèi)部處理，再將結(jié)果以電流信號(hào)傳送出去或單純作電源供應(yīng)，因此連接器組裝于電路板之前，其接腳必須經(jīng)過測(cè)試證實(shí)可完全導(dǎo)通才能使用，因?yàn)槠溥B接器品質(zhì)良莠不齊，不僅影響電流與信號(hào)傳輸?shù)目煽慷?，也?huì)牽動(dòng)整個(gè)電子機(jī)器的運(yùn)作品質(zhì)。
已知，傳統(tǒng)的用以測(cè)試具有夾接腳待測(cè)物的測(cè)試裝置，有以下幾種如臺(tái)灣專利公報(bào)所陳述的構(gòu)造1.臺(tái)灣專利公報(bào)公告編號(hào)第379365號(hào)的“探針測(cè)試方法及探針裝置”，揭示了一種通過載置臺(tái)向著探針端子上升使被檢查體接觸于探針端子上以測(cè)試該被檢查體合格率的裝置。
2.臺(tái)灣專利公報(bào)公告編號(hào)第357265號(hào)的“探針測(cè)試卡及其形成方法”，揭示了一種探針測(cè)試卡，包括一基板、一絕緣膜，可撓曲而延伸于基板的第一表面上，該絕緣膜具有一第一表面與該基板的第一表面接觸以形成一空間區(qū)域，界定于該基板的第一表面與該絕緣膜的第一表面之間，使部分該絕緣膜可進(jìn)入該空間；以及一探針圖型，延伸于絕緣膜的第二表面上，探針形成圖型，從而通過利用絕緣膜上凸起的探針形成測(cè)試卡。
3.臺(tái)灣專利公報(bào)公告編號(hào)第497718號(hào)的“橫桿式探針測(cè)試裝置”所揭示的測(cè)試裝置，該裝置包括一第一探針、一第二探針、一橫桿及二探針，借由該橫桿是否觸及該連接器而由該第二探針的導(dǎo)線的傳達(dá)，讓該治具判斷出待測(cè)電路板所設(shè)的連接器是否裝設(shè)錯(cuò)誤。
4.臺(tái)灣專利公報(bào)公告編號(hào)第368602號(hào)的“浮動(dòng)彈力探針無線測(cè)試裝置”所揭示的測(cè)試裝置，包括一裝置底座，有一固定的探針板、一頂板大致上平行于探針板而定置以及一探針保留片定置于探針板的下面，使伸展通過此探針板的測(cè)試探針也伸展通過此探針保留片，用以讓測(cè)試探針與印刷電路板上測(cè)試下的電路呈直線對(duì)準(zhǔn)。
5.臺(tái)灣專利公報(bào)公告編號(hào)第378756號(hào)的“復(fù)合式治具探針構(gòu)造改良”，該探針構(gòu)造由探針及探針套筒組成，其特征在于該探針頭端設(shè)為多種不同直徑大小的規(guī)格，尾端則皆設(shè)為單一規(guī)格的插接部，此插接部可插置入探針套筒里；而探針套筒里部設(shè)置有彈簧，該彈簧尾端直接與電線頭端連接導(dǎo)通，探針套筒在套置于彈簧外圓后，將其尾端夾合固定住，且該電線末端設(shè)為銅棒，該等銅棒可直接插置入電路測(cè)試機(jī)的排線上。
雖然上述的測(cè)試裝置可以測(cè)試待測(cè)物上的接腳的導(dǎo)通合格率，但在實(shí)際使用時(shí)易造成接觸不良或載板(PAD)與接腳對(duì)位上的不準(zhǔn)確，且很難分辨哪一根接腳跑位，使得作業(yè)者電測(cè)時(shí)如無信號(hào)顯示則一再重復(fù)印刷電路板(PCB)與接腳接觸的動(dòng)作，此方法增加了電測(cè)時(shí)間，且接腳容易不慎被壓彎變形而使產(chǎn)品成本增加，進(jìn)而影響產(chǎn)能。
又，因近來車載類產(chǎn)品越來越多，其出PIN型式全為夾PIN類型，然而，夾接腳(PIN)類產(chǎn)品其PIN腳長(zhǎng)度不一，其功能測(cè)試以廠內(nèi)一般型式電測(cè)有程度上的因難，因?yàn)橛∷㈦娐钒?PCB)與接腳(PIN)不易完全接觸或接腳與印刷電路板的載板接觸不到，故常造成接觸不良，導(dǎo)致測(cè)試不易。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于解決上述的缺陷，避免缺陷的存在，本發(fā)明利用可為探針的導(dǎo)電端與接腳(PIN)直接接觸，因探針有其伸縮量，且有多種類型供選擇故其對(duì)位容易，接觸上無接觸不到的問題。
本發(fā)明的另一目的，在于提供一種以手動(dòng)操作、簡(jiǎn)單方便、可快速對(duì)位的專用測(cè)試機(jī)座，其可避免因重復(fù)的動(dòng)作而增加作業(yè)時(shí)間影響產(chǎn)能。
本發(fā)明的又一目的，在于使專用測(cè)試機(jī)座在功能上可擴(kuò)展使用于連接器(CONNECTOR)接續(xù)(即產(chǎn)品出PIN端與CONNECTOR接合的電測(cè))及BUBBER全導(dǎo)通等作業(yè)上，在使用上可解決多種功能測(cè)試的接續(xù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的夾接腳(PIN)專用測(cè)試機(jī)座，用以測(cè)試接腳(PIN)導(dǎo)通合格率，其包括一座體，一設(shè)于座體上的平臺(tái)，一設(shè)于平臺(tái)兩側(cè)的導(dǎo)引機(jī)構(gòu)，一套設(shè)于前述導(dǎo)引機(jī)構(gòu)內(nèi)以一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接驅(qū)動(dòng)的測(cè)試元件，并在測(cè)試元件一側(cè)設(shè)有與導(dǎo)線連接的多個(gè)導(dǎo)電端，借此，將具有接腳的待測(cè)試物置設(shè)于平臺(tái)上，操作驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)使測(cè)試元件往待測(cè)試物的接腳方向推進(jìn)，讓導(dǎo)電端與接腳之間形成一對(duì)一完全及精確的接觸，以測(cè)試該接腳的合格率，降低誤判率并可避免接腳受力過度而變形。


有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明及技術(shù)內(nèi)容，現(xiàn)配合

如下圖1為本發(fā)明的立體外觀示意圖。
圖2為本發(fā)明的立體分解示意圖。
圖3-1～3-3為本發(fā)明的連續(xù)動(dòng)作示意圖。
具體實(shí)施例方式
參見圖1、2、3-1，為本發(fā)明的立體外觀、分解及連續(xù)動(dòng)作示意圖。如圖所示本發(fā)明的夾接腳(PIN)專用測(cè)試機(jī)座，用以測(cè)試接腳(PIN)導(dǎo)通合格率，該機(jī)座主要由一座體1、一平臺(tái)2、一導(dǎo)引機(jī)構(gòu)3、一測(cè)試元件4及一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)5構(gòu)成。
該座體1是以電木板為母材。
該平臺(tái)2是以電木板為母材，并通過多個(gè)鎖固件24鎖固于上述座體1上，在平臺(tái)2上凸設(shè)有多個(gè)定位塊21及至少一固定柱22，并在平臺(tái)2對(duì)應(yīng)測(cè)試元件4的導(dǎo)電端41位置處凹設(shè)有一供待測(cè)試物6的接腳61(PIN)置放的凹槽23。
該導(dǎo)引機(jī)構(gòu)3配置于上述平臺(tái)2周圍處，其包括有兩組前行配置于平臺(tái)2兩側(cè)并鎖固于座體1上的定位件31及一分別配置于該定位件31上的導(dǎo)軌32，其中該定位件31可以電木板為母材，該導(dǎo)軌32可為圓柱狀的金屬材質(zhì)。
該測(cè)試元件4是以電木板為母材，套設(shè)于上述導(dǎo)引機(jī)構(gòu)3的導(dǎo)軌32內(nèi)，并在通過測(cè)試元件4與導(dǎo)軌32套置的位置處設(shè)有軸承41，讓測(cè)試元件4在導(dǎo)軌32上滑動(dòng)順暢，在測(cè)試元件4一側(cè)前對(duì)應(yīng)上述平臺(tái)2的凹槽23處凸設(shè)有多個(gè)可為探針的導(dǎo)電端42，并在每一導(dǎo)電端42的另端均連接有一導(dǎo)線43以供導(dǎo)電及互換信號(hào)之用。
該驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)5包括有一底座51，在底座51上鎖固有一定位片52，并在定位片52上鎖固有一扳動(dòng)件53，再在扳動(dòng)件53一端通過一曲臂55連接有一套置于定位片52內(nèi)的驅(qū)動(dòng)軸54，該驅(qū)動(dòng)軸54鎖固于上述的測(cè)試元件4上以帶動(dòng)其進(jìn)退作往復(fù)動(dòng)作。
借此，將具有接腳61的待測(cè)試物6置設(shè)于平臺(tái)2上，扳動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)5的扳動(dòng)件53以帶動(dòng)測(cè)試元件4往待測(cè)試物6的接腳61方向推進(jìn)，讓測(cè)試元件4的導(dǎo)電端42與待測(cè)試物6的接腳61間形成一對(duì)一完全及精確的接觸，然后通過可為探針的導(dǎo)電端42測(cè)試其接腳61的合格率，以降低誤判率。
參見圖3-1～3-3，為本發(fā)明的連續(xù)動(dòng)作示意圖。如圖所示本發(fā)明使用時(shí)，先將具有接腳61的待測(cè)試物6卡掣于平臺(tái)2的定位塊21及固定柱22內(nèi)，該待測(cè)試物6的接腳61可以排置于平臺(tái)2一側(cè)的凹槽23處，然后使驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)5上的扳動(dòng)件53往驅(qū)動(dòng)軸54的方向扳動(dòng)，該扳動(dòng)件53通過曲臂55便可有效地推動(dòng)驅(qū)動(dòng)軸54并帶動(dòng)測(cè)試元件4在導(dǎo)引機(jī)構(gòu)3的導(dǎo)軌32內(nèi)滑動(dòng)，且讓測(cè)試元件4上的導(dǎo)電端42與待測(cè)試物6的接腳61以一對(duì)一方式完全對(duì)位接觸，使之可以準(zhǔn)確分辨哪一根接腳跑位，以避免作業(yè)者電測(cè)時(shí)如無信號(hào)顯示則一再重復(fù)測(cè)試作業(yè)的費(fèi)時(shí)工序，或因其重復(fù)作業(yè)使接腳61容易不慎被壓彎變形，使產(chǎn)品成本增加進(jìn)而影響產(chǎn)能。
進(jìn)一步，該待測(cè)試物6可為液晶顯示器(LCD)，且本發(fā)明在功能上又可適用于連接器(CONNECTOR)接續(xù)(即產(chǎn)品出PIN端與CONNECTOR接合的電測(cè))及BUBBER全導(dǎo)通等作業(yè)，使用上可解決多種功能測(cè)試的接續(xù)問題。
又進(jìn)一步，可為探針的導(dǎo)電端42，因探針有其伸縮量，且有多種類型供選擇故其對(duì)位容易，接觸上無接觸不到的問題。
再進(jìn)一步，本發(fā)明以手動(dòng)操作、簡(jiǎn)單方便，可快速對(duì)位，又可避免因重復(fù)的動(dòng)作而增加作業(yè)時(shí)間影響產(chǎn)能。
以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，不能以其限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所作的均等變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，用以測(cè)試接腳導(dǎo)通合格率，其特征在于，該機(jī)座包括有一座體(1)；一設(shè)于座體(1)上的平臺(tái)(2)；一設(shè)于平臺(tái)(2)周圍的導(dǎo)引機(jī)構(gòu)(3)；及一套設(shè)于前述導(dǎo)引機(jī)構(gòu)(3)內(nèi)以一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(5)驅(qū)動(dòng)的測(cè)試元件(4)，并在測(cè)試元件(4)一側(cè)設(shè)有與導(dǎo)線(43)連接的多個(gè)導(dǎo)電端(42)；借此，將具有接腳的待測(cè)試物(6)置設(shè)于平臺(tái)(2)上，驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(5)使測(cè)試元件(4)往待測(cè)試物(6)的接腳(61)方向推進(jìn)，讓導(dǎo)電端(42)與接腳(61)之間形成一對(duì)一完全及精確的接觸，以降低誤判率并避免接腳(61)受力過度而變形。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該座體(1)是以電木板為母材。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該平臺(tái)(2)是以電木板為母材。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該平臺(tái)(2)上凸設(shè)有多個(gè)定位塊(21)及至少一固定柱(22)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該平臺(tái)(2)對(duì)應(yīng)導(dǎo)電端(42)位置處凹設(shè)有一供待測(cè)試物(6)的接腳(61)置放的凹槽(23)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該導(dǎo)引機(jī)構(gòu)(3)包括有兩組前行配置并鎖固于座體(1)上的定位件(31)及一分別配置于該定位件(31)組上的導(dǎo)軌(32)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該定位件(31)是以電木板為母材。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該測(cè)試元件(4)是以電木板為母材。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該測(cè)試元件(4)上的多個(gè)導(dǎo)電端(42)可為探針。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該測(cè)試元件(4)與導(dǎo)軌(32)套置的位置處設(shè)有軸承(41)，使測(cè)試元件(4)在導(dǎo)軌(32)上滑動(dòng)順暢。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)(5)包括有一底座(51)，在底座(51)上鎖固有一定位片(52)，并在定位片(52)上鎖固有一扳動(dòng)件(53)，再在扳動(dòng)件(53)一端通過一曲臂(55)連接有一套置于定位片(52)內(nèi)的驅(qū)動(dòng)軸(54)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的夾接腳專用測(cè)試機(jī)座，其特征在于該驅(qū)動(dòng)軸(54)是鎖固于測(cè)試元件(4)上以帶動(dòng)其進(jìn)退作往復(fù)動(dòng)作。
全文摘要
一種夾接腳(PIN)專用測(cè)試機(jī)座，用以測(cè)試接腳(PIN)導(dǎo)通合格率，其包括有一座體，一設(shè)于座體上的平臺(tái)，一設(shè)于平臺(tái)兩側(cè)的導(dǎo)引機(jī)構(gòu)，一套設(shè)于前述導(dǎo)引機(jī)構(gòu)內(nèi)以一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接驅(qū)動(dòng)的測(cè)試元件，并在測(cè)試元件一側(cè)設(shè)有與導(dǎo)線連接的多個(gè)導(dǎo)電端。借此，將具有接腳的待測(cè)試物置設(shè)于平臺(tái)上，操作驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)使測(cè)試元件往待測(cè)試物的接腳方向推進(jìn)，讓導(dǎo)電端與接腳之間形成一對(duì)一完全及精確的接觸，以測(cè)試該接腳的合格率，降低誤判率并可避免接腳受力過度而變形。
文檔編號(hào)G01R31/02GK1519571SQ03100859
公開日2004年8月11日 申請(qǐng)日期2003年1月24日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月24日
發(fā)明者胡廷郎 申請(qǐng)人:勝華科技股份有限公司