專利名稱:剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的制作方法
技術(shù)領域:
本實用新型有關(guān)一種電解電容器的環(huán)境測試工具,特別是有關(guān)於一種可針對剪腳后的電解電容器進行其環(huán)境測試的工具。
背景技術(shù):
對於市面上販賣的電解電容器而言,均有一定的參數(shù)來規(guī)范電解電容器的各種規(guī)格,例如,漏電流、絕緣阻抗等,本實用新型則有關(guān)於電解電容器在高溫或高濕度下的壽命測試。
如上所述,有許多種類的電解電容器測試條件必須在高溫(105-115℃或更高)下進行長時間的壽命測試,而以往為了測量電解電容器的漏電流,已提出了許多的測量工具,然而,上述測量工具均為針對未剪腳的電解電容器所設計,也即是針對一般正常的電解電容器才可進行測量,但對於經(jīng)過加工剪腳或從主機板上取下欲再利用(re-work)的電解電容器而言,當欲進行環(huán)境測試時,因為導腳太短,并不容易進行測試。
現(xiàn)有的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試的方式如圖1所示,利用一面包板20進行測試,電解電容器10具有一帶有正極的導腳11以及一帶有負極的導腳12,將數(shù)個電解電容器10以并聯(lián)方式插入面包板20中;在將欲測試的電解電容器10均以并聯(lián)方式插入面包板20后,即依據(jù)規(guī)范將設有電解電容器10的面包板20放入一具有一定溫度和一定濕度的容器中一定時間,且在此既定時間過后,將此設有電解電容器10的面包板20從容器中取出,用肉眼觀察電解電容器是否有損壞,或借助測試工具測量取出的電解電容器的各種數(shù)值,以得知其是否符合規(guī)范。
現(xiàn)有測試方式的缺點在於1.面包板在長時間的高溫環(huán)境中,極易變形而短路若再加上濕度實驗,環(huán)境中的濕氣集結(jié)成水后,堆積在面包板中也會造成短路現(xiàn)象;2.因為剪腳后的電解電容器的導腳過短,不易插入面包板中,即使勉強插入,也無法由視覺或測量的方法確認是否成功插入,在測試進行上,的確是一個存在已久的問題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒於此,本實用新型的目的在于解決上述問題而提供一種剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,它可使測試效率大幅提升。
為實現(xiàn)上述目的,本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,用以測量具有兩導腳的一電解電容器,其特點是包括數(shù)個承載基座,以與所述電解電容器的導腳電性連接的方式承載所述電解電容器;以及至少一支撐構(gòu)件,用以支撐所述承載基座且使相鄰承載基座間具有一既定間隔。
又在本實用新型中,承載基座分別包括其上設有第一導電區(qū)的第一測試構(gòu)件;其上設有第二導電區(qū)的第二測試構(gòu)件,其中第二導電區(qū)與第一導電區(qū)不互相面對,且第一測試構(gòu)件在第一導電區(qū)的一端和第二測試構(gòu)件在第二導電區(qū)的一端之間形成間隙,用以支撐電解電容器;用以在第一測試構(gòu)件和第二測試構(gòu)件之間形成間隙的第一基板;用以依序連接第一測試構(gòu)件、第一基板和第二測試構(gòu)件的至少一螺絲;以及設置於第一測試構(gòu)件和第二測試構(gòu)件之間的至少一間隔構(gòu)件,用以調(diào)整間隙。
又在本實用新型中,支撐構(gòu)件包括第二基板、以及用以連接第一基板和第二基板的連接件。
又在本實用新型中,剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具還包括用以電性連接第一導電區(qū)的第一導線、以及用以電性連接第二導電區(qū)的第二導線。
以下結(jié)合附圖具體說明本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的較佳實施例。
圖1是顯示現(xiàn)有剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試的方式的示意圖;圖2a是顯示本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的立體圖;圖2b是顯示本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的側(cè)視圖;第3a圖是顯示本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的立體圖,其上放置一電解電容器;圖3b是顯示本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具的側(cè)視圖,其上放置一電解電容器;圖4a是本實用新型的承載基座的示意圖,其上設有尺寸較小的電解電容器;以及圖4b是本實用新型的承載基座的示意圖,其上設有尺寸較大的電解電容器;
具體實施方式
本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具100如圖2a和2b所示,用以測量具有一帶有正極的導腳11以及一帶有負極的導腳12的一電解電容器10,包括數(shù)個承載基座30;以及兩個支撐構(gòu)件40。
承載基座30以與電解電容器10的導腳11、12電性連接的方式承載電解電容器10(參考圖3a和3b),每個承載基座30分別包括一第一測試構(gòu)件31、一第二測試構(gòu)件32、一第一基板35、兩個螺絲36以及數(shù)個間隔構(gòu)件37。第一測試構(gòu)件31上設有一第一導電區(qū)33,第二測試構(gòu)件32上設有一第二導電區(qū)34,且此第二導電區(qū)34與第一導電區(qū)33不互相面對,而第一測試構(gòu)件31在第一導電區(qū)33的一端和第二測試構(gòu)件32在第二導電區(qū)34的一端之間形成有一間隙G,用以支撐電解電容器10 。
第一基板35位於第一測試構(gòu)件31和第二測試構(gòu)件32之間,用以形成間隙G;螺絲36依序連接第一測試構(gòu)件31、第一基板35和第二測試構(gòu)件32,間隔構(gòu)件37設置於第一測試構(gòu)件31和第二測試構(gòu)件32之間,用以調(diào)整間隙G。
支撐構(gòu)件40用以支撐承載基座30且使相鄰承載基座30間具有一既定間隔,每個支撐構(gòu)件40分別包括一第二基板41以及一連接件42;第二基板41作為支撐構(gòu)件40的基底而連接件42為L形,用以連接第一基板35和第二基板41,環(huán)境測試工具100還包括用以電性連接第一導電區(qū)33的一第一導線51、以及用以電性連接第二導電區(qū)34的一第二導線52,并設定其正負領,借此可將待測電容構(gòu)成并聯(lián)電路,使每一特測電容的端電壓相同。
另外,上述承載基座、螺絲、支撐構(gòu)件和間隔構(gòu)件的數(shù)目并不限制,只要可達到上述功能即可。
本實用新型的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具100如上所述,以下參考第3a和3b圖說明測試方法。將電解電容器10如圖3a和3b所示那樣,放置於承載基座30上,當在承載基座30上放置一定數(shù)量的電解電容器10后,如現(xiàn)有技術(shù)那樣,將承載有電解電容器10的環(huán)境測試工具100放入一具有一定溫度和一定濕度的容器中一定時間且在此既定時間過后,將此設有電解電容器10的環(huán)境測試工具100從容器中取出,用肉眼觀察電解電容器是否有損壞,或借助測試工具測量取出的電解電容器的各種數(shù)值以得知其是否符合規(guī)范。
由於第一基板35在第一測試構(gòu)件31和第二測試構(gòu)件32之間形成間隙G,這樣使承載基座30可穩(wěn)定地承載電解電容器10,即使電解電容器10的大小改變,也可如圖4a和4b那樣,依據(jù)電解電容器10a、10b的大小在第一測試構(gòu)件31和第二測試構(gòu)件32之間插入不同數(shù)量的間隔構(gòu)件37,以改變間隙G而穩(wěn)定地支撐各種不同尺寸的電解電容器。
借助上述構(gòu)成和測量方式,本實用新型具有以下優(yōu)點1.本實用新型的工具在高溫測試下完全不會變形;2.本實用新型的工具在濕度測試情況下不會有濕度集結(jié)成水堆積的缺點;3.經(jīng)剪腳或從主機板取下再利用的待測品,測試時不會有導腳太短無法插入承載工具的問題;4.由視覺就可辨識是否成功插入承載工具;5.依據(jù)待測品的尺寸不同,可任意調(diào)整承載基座的間距,適用各種尺寸的電解電容器進行環(huán)境測試。
雖然本實用新型已以較佳實施例予以揭示,然而并非用以限定本實用新型,任何熟悉本技術(shù)的人員,在不脫離本實用新型的精神的前提下還可作出種種的等效變化和等效替換,因此本實用新型的保護范圍應以后附的權(quán)利要求書所界定者為準。
權(quán)利要求1.一種剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,用以測量具有兩導腳的一電解電容器,其特征在于包括數(shù)個承載基座,以與所述電解電容器的導腳電性連接的方式承載所述電解電容器;以及至少一支撐構(gòu)件,用以支撐所述承載基座且使相鄰承載基座間具有一既定間隔。
2.如權(quán)利要求1所述的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,其特征在于,所述承載基座分別包括一第一測試構(gòu)件,其上設有一第一導電區(qū);以及一第二測試構(gòu)件,其上設有一第二導電區(qū),其中,所述第二導電區(qū)與所述第一導電區(qū)不互相面對,且所述第一測試構(gòu)件在所述第一導電區(qū)的一端和所述第二測試構(gòu)件在所述第二導電區(qū)的一端之間形成一間隙,用以支撐所述電解電容器。
3.如權(quán)利要求2所述的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,其特征在于,所述承載基座分別還包括一第一基板,用以在所述第一測試構(gòu)件和所述第二測試構(gòu)件之間形成所述間隙;以及至少一螺絲,用以依序連接所述第一測試構(gòu)件、所述第一基板和所述第二測試構(gòu)件。
4.如權(quán)利要求3所述的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,其特征在于,所述承載基座分別還包括至少一間隔構(gòu)件,設置於所述第一測試構(gòu)件和所述第二測試構(gòu)件的間,用以調(diào)整所述間隙。
5.如權(quán)利要求1或4所述的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,其特征在于,所述支撐構(gòu)件包括一第二基板;以及一連接件,用以連接所述第一基板和所述第二基板。
6.如權(quán)利要求5所述的剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,其特征在于還包括一第一導線,用以電性連接所述第一導電區(qū);以及一第二導線,用以電性連接所述第二導電區(qū)。
專利摘要本實用新型提供一種剪腳后的電解電容器的環(huán)境測試工具,用以測量具有兩導腳的電解電容器,包括數(shù)個承載基座以及支撐構(gòu)件;承載基座與電解電容器的導腳電性連接,支撐構(gòu)件用以支撐承載基座且使相鄰承載基座間具有既定間隔;承載基座分別包括其上設有第一導電區(qū)的第一測試構(gòu)件、其上設有第二導電區(qū)的第二測試構(gòu)件,其中第二導電區(qū)與第一導電區(qū)以不互相面對的方式設置於承載基座上,且第一測試構(gòu)件在第一導電區(qū)的一端和第二測試構(gòu)件在第二導電區(qū)的一端的間形成間隙,用以支撐電解電容器。本實用新型的工具可針對各種不同尺寸的電解電容器穩(wěn)定地進行其環(huán)境測試。
文檔編號G01R31/00GK2499844SQ01234089
公開日2002年7月10日 申請日期2001年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2001年8月29日
發(fā)明者楊鴻蔘 申請人:神達電腦股份有限公司