一種高產(chǎn)能的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)一種測(cè)試分選機(jī)，其包含有：主轉(zhuǎn)臺(tái)；裝載平臺(tái)，其被操作來(lái)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊；輔助轉(zhuǎn)臺(tái)，其包含有多個(gè)載體模塊，以從主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊處接收電子元件；以及多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，其沿著輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置；其中，在裝載平臺(tái)并行地傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊的同時(shí)，測(cè)試平臺(tái)被操作來(lái)從載體模塊處接收電子元件而進(jìn)行測(cè)試，以致于在測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試處理周期中傳送時(shí)間的影響得以減小或消除。
【專利說(shuō)明】
一種高產(chǎn)能的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種用于測(cè)試電子元件的測(cè)試分選機(jī)(test handler)，尤其是涉及一種具有高產(chǎn)能的用于測(cè)試電子元件的測(cè)試分選機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]在工業(yè)中，用于電子元件的測(cè)試分選機(jī)被使用于測(cè)試已經(jīng)裝配的電子元件。在這種測(cè)試分選機(jī)中，電子元件通常使用震動(dòng)圓盤進(jìn)料器(vibratory bowl feeder)或其它的進(jìn)給裝置被饋送至高速轉(zhuǎn)臺(tái)。然后，在轉(zhuǎn)臺(tái)上使用拾取頭電子元件被單個(gè)地拾取，并依次地被傳送至不同的測(cè)試平臺(tái)，以在他們合格使用以前完成一個(gè)或多個(gè)測(cè)試。
[0003]用于測(cè)試分選機(jī)的測(cè)試周期通常包括:傳送電子元件至測(cè)試平臺(tái)所花費(fèi)的時(shí)間，和測(cè)試電子元件所花費(fèi)的時(shí)間。尤其在使用于以上描述的方法的傳統(tǒng)的轉(zhuǎn)臺(tái)中，傳送時(shí)間是必要的且不能被消除，因?yàn)殛P(guān)于每個(gè)待測(cè)試的電子元件，傳送和其后的測(cè)試步驟是先后及時(shí)被執(zhí)行的。如果測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，系統(tǒng)將會(huì)必須長(zhǎng)時(shí)間閑著，直到測(cè)試完成和另一個(gè)電子元件可能被傳送來(lái)進(jìn)行測(cè)試。這樣形成了一個(gè)使降低整個(gè)處理的周期時(shí)間變得困難的瓶頸。在整個(gè)測(cè)試處理周期時(shí)間中，降低或消除傳送時(shí)間的影響將會(huì)是有益的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]因此，本發(fā)明的目的是尋求提供一種測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)，其降低或消除了測(cè)試處理周期中傳送時(shí)間的影響，以便于提高其整個(gè)系統(tǒng)的產(chǎn)能。
[0005]第一方面，本發(fā)明提供一種測(cè)試分選機(jī)，其包含有:主轉(zhuǎn)臺(tái)；裝載平臺(tái)，其被操作來(lái)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊；輔助轉(zhuǎn)臺(tái)，其包含有多個(gè)載體模塊，以從主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊處接收電子元件；以及多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，其沿著輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置；其中，在裝載平臺(tái)并行地傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊的同時(shí)，測(cè)試平臺(tái)被操作來(lái)從載體模塊處接收電子元件以進(jìn)行測(cè)試。
[0006]第二方面，本發(fā)明提供一種使用測(cè)試分選機(jī)測(cè)試電子元件的方法，該方法包含有以下步驟:從裝載平臺(tái)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊；從主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊處傳送電子元件至輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的多個(gè)載體模塊；以及傳輸電子元件至多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，該多個(gè)測(cè)試平臺(tái)沿著輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置；其后從裝載平臺(tái)并行地繼續(xù)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊的同時(shí)，在多個(gè)測(cè)試平臺(tái)處測(cè)試從載體模塊所接收的電子元件。
[0007]參閱后附的描述本發(fā)明特定較佳實(shí)施例的附圖，隨后來(lái)詳細(xì)描述本發(fā)明是很方便的。附圖和相關(guān)的描述的具體性不能理解成是對(duì)本發(fā)明的限制，本發(fā)明的特點(diǎn)限定在權(quán)利要求書中。
【附圖說(shuō)明】
[0008]現(xiàn)在參考附圖，描述本發(fā)明所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的實(shí)例，其中。
[0009]圖1所示為根據(jù)本發(fā)明第一較佳實(shí)施例所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的平面示意圖。
[0010]圖2所示為圖1的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的立體示意圖。
[0011]圖3所示為根據(jù)本發(fā)明第二較佳實(shí)施例所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的平面示意圖。
[0012]圖4所示為測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的立體示意圖，其闡明了相鄰于輔助轉(zhuǎn)臺(tái)(auxiliaryrotary turret)設(shè)置的測(cè)試平臺(tái)；以及。
[0013]圖5 (a)至圖5 (d)表明了根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的在輔助轉(zhuǎn)臺(tái)和測(cè)試臺(tái)(test platform)之間傳送電子元件的測(cè)試平臺(tái)的拾取頭。
【具體實(shí)施方式】
[0014]圖1所示為根據(jù)本發(fā)明第一較佳實(shí)施例所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)10的平面示意圖；而圖2所示為圖1的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)的立體示意圖。測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)10通常包括主轉(zhuǎn)臺(tái)12和輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14，主轉(zhuǎn)臺(tái)12具有多個(gè)功能模塊13以接收和處理電子元件，輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14具有多個(gè)載體模塊15以接收電子元件進(jìn)行測(cè)試。裝載平臺(tái)16被設(shè)計(jì)來(lái)朝向主轉(zhuǎn)臺(tái)12的功能模塊13大量地傳送電子元件。
[0015]裝載于主轉(zhuǎn)臺(tái)12的功能模塊13上的電子元件被功能模塊13上的拾取頭裝載，并通過(guò)主轉(zhuǎn)臺(tái)12的旋轉(zhuǎn)移動(dòng)至輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的位置處，其后被傳送至輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的載體模塊15上。被傳送至輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14上的電子元件通過(guò)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的旋轉(zhuǎn)被進(jìn)一步移動(dòng)至多個(gè)測(cè)試平臺(tái)18處，在那里拾取頭被定位來(lái)從輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14處拾取電子元件進(jìn)行測(cè)試(參見(jiàn)以下所述)。測(cè)試平臺(tái)18被操作來(lái)從載體模塊15處接收電子元件進(jìn)行測(cè)試，而裝載平臺(tái)16同時(shí)繼續(xù)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)12的功能模塊。這確保了在電子元件被測(cè)試的同時(shí)，主轉(zhuǎn)臺(tái)12不需要保持空閑。
[0016]多個(gè)測(cè)試平臺(tái)18應(yīng)被配置來(lái)在電子元件上進(jìn)行相同類型的測(cè)試，以便于顯著地提高產(chǎn)能。其后，測(cè)試后的電子元件被放回于輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14上，并通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)被傳輸至主轉(zhuǎn)臺(tái)12的位置，然后它們被傳送至主轉(zhuǎn)臺(tái)12的功能模塊13。
[0017]最后，返回至主轉(zhuǎn)臺(tái)12的、被發(fā)現(xiàn)具有缺陷的電子元件落入廢料倉(cāng)20，而已經(jīng)通過(guò)測(cè)試平臺(tái)18的測(cè)試的電子元件通過(guò)卸載平臺(tái)22卸載。因而，有缺陷的電子元件和沒(méi)有缺陷的電子兀件被分隔開(kāi)來(lái)。
[0018]圖3所示為根據(jù)本發(fā)明第二較佳實(shí)施例所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)30的平面示意圖。在第二實(shí)施例中，相鄰于主轉(zhuǎn)臺(tái)12設(shè)置有第一和第二輔助轉(zhuǎn)臺(tái)32、34。第一輔助轉(zhuǎn)臺(tái)32圍繞其外圍設(shè)置有第一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)36，而第二輔助轉(zhuǎn)臺(tái)34圍繞其外圍設(shè)置有另一個(gè)或第二組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)38。例如，如果測(cè)試流程是相對(duì)耗時(shí)的流程，以及更多的測(cè)試平臺(tái)36、38被需要來(lái)提高測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)30的產(chǎn)能，那么第一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)36可以完成和第二組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)38相同的測(cè)試。在這種情形下，電子元件可以傳送至第一輔助轉(zhuǎn)臺(tái)32或者第二輔助轉(zhuǎn)臺(tái)34進(jìn)行測(cè)試。
[0019]另一方面，同樣應(yīng)被理解的是，第一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)36可以完成和第二組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)38不同的測(cè)試。所以，根據(jù)用戶的需求來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試平臺(tái)36、38具有靈活性。在這種情形下，在電子元件已經(jīng)被傳送至第一輔助轉(zhuǎn)臺(tái)32以經(jīng)歷測(cè)試之后，電子元件會(huì)被傳送至第二輔助轉(zhuǎn)臺(tái)34 (或者直接或者通過(guò)主轉(zhuǎn)臺(tái)12)以經(jīng)歷不同的測(cè)試。
[0020]圖4所示為測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)10的立體示意圖，其闡明了一個(gè)相鄰于輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14設(shè)置的測(cè)試平臺(tái)18。為了簡(jiǎn)明起見(jiàn)，關(guān)于圖1和圖2中提及的多個(gè)測(cè)試平臺(tái)18僅僅一個(gè)測(cè)試平臺(tái)被表明。該測(cè)試平臺(tái)18包含有一對(duì)圍繞旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)器42設(shè)置的往復(fù)式的拾取頭40。拾取頭40相互彼此被隔開(kāi)180度的角度，以使得旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)器42能夠轉(zhuǎn)動(dòng)拾取頭40，以二者選一地將它們定位或者在輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的載體模塊15上方，或者在測(cè)試平臺(tái)18的測(cè)試臺(tái)46上方。而且，和每個(gè)拾取頭40相耦接的垂直驅(qū)動(dòng)器44將拾取頭40降低以在第一位置拾取電子元件，和在其被轉(zhuǎn)動(dòng)以傳送電子元件至第二位置以前提升拾取頭，且降低拾取頭40以將電子元件放置在第二位置。通過(guò)將電子元件傳送至與輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14相隔開(kāi)的測(cè)試臺(tái)46以進(jìn)行測(cè)試，輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14可以在其他的電子元件的測(cè)試期間繼續(xù)接收另外的電子元件。
[0021]圖5 (a)至圖5 (d)表明了根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的在輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14和測(cè)試臺(tái)46之間傳送電子元件的測(cè)試平臺(tái)18的拾取頭40、40’。
[0022]在圖5 Ca)中，拾取頭40從輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的載體模塊15處拾取電子元件。在圖5(b)中，拾取頭40、40’已經(jīng)相對(duì)于彼此轉(zhuǎn)動(dòng)了 180度的角度。第一拾取頭40’現(xiàn)在將電子元件放置于測(cè)試臺(tái)46上進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)第二拾取頭40從輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的載體模塊15處拾取另一個(gè)電子元件。
[0023]在圖5 (c)中，在電子元件已經(jīng)被測(cè)試和測(cè)試后的電子元件再一次被第一拾取頭40拾取之后，拾取頭40、40’相對(duì)于彼此再一次轉(zhuǎn)動(dòng)180度的角度。其后，測(cè)試后的電子元件被第一拾取頭40放置回到輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14的空閑的載體模塊15處，同時(shí)第二拾取頭40’放置另一個(gè)電子元件于測(cè)試臺(tái)46進(jìn)行測(cè)試。
[0024]在圖5 (d)中，輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14已經(jīng)向前步進(jìn)定位以將下一個(gè)未測(cè)試的電子元件傳輸至空閑的第一拾取頭40的下方，未測(cè)試的電子元件已經(jīng)被第一拾取頭40拾取。拾取頭40、40’已經(jīng)相對(duì)于彼此轉(zhuǎn)動(dòng)了 180度，第一拾取頭40現(xiàn)在將未測(cè)試的電子元件放置于測(cè)試臺(tái)46上進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于后續(xù)的測(cè)試周期，如上所述的傳送流程將會(huì)被重復(fù)。
[0025]在電子元件正被測(cè)試的同時(shí)，主轉(zhuǎn)臺(tái)12在中斷最小化的情形下可以繼續(xù)將電子元件裝載于輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14上，因?yàn)閷㈦娮釉b載于輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14上不需要等待其它電子元件將被完成的測(cè)試。相應(yīng)地，主轉(zhuǎn)臺(tái)12可以從裝載平臺(tái)16處繼續(xù)接收未被測(cè)試的電子元件。
[0026]值得欣賞的是，根據(jù)本發(fā)明較佳實(shí)施例所述的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)10、30有助于減少或消減測(cè)試周期中的傳送時(shí)間，以便于提高測(cè)試分選系統(tǒng)10、30的產(chǎn)能。一個(gè)或多個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)14、32、34的引入使得電子元件的傳送動(dòng)作能夠在測(cè)試周期期間被完成，藉此避免附加在測(cè)試周期時(shí)間以外的傳送電子元件所花費(fèi)的時(shí)間，因?yàn)樵谡粋鬏數(shù)钠渌娮釉魉偷那樾蜗履軌蛲郊皶r(shí)地完成電子元件上的所需測(cè)試。
[0027]在前述的配置情形下，可以發(fā)現(xiàn)，對(duì)于具有預(yù)定測(cè)試時(shí)間變化范圍的某些類型的電子元件而言，和現(xiàn)有的測(cè)試分選機(jī)系統(tǒng)用于相同類型的電子元件的產(chǎn)能相比，系統(tǒng)的產(chǎn)能能夠被提高至超過(guò)50%。
[0028]此處描述的本發(fā)明很容易產(chǎn)生變化、修正和/或補(bǔ)充，在所具體描述的內(nèi)容基礎(chǔ)上，可以理解的是本發(fā)明包含有所有這些變化、修正和/或補(bǔ)充，它們都落入上述說(shuō)明書的精神和范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試分選機(jī)，其包含有: 主轉(zhuǎn)臺(tái)； 裝載平臺(tái)，其被操作來(lái)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊； 輔助轉(zhuǎn)臺(tái)，其包含有多個(gè)載體模塊，以從主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊處接收電子元件；以及 多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，其沿著輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置； 其中，在裝載平臺(tái)并行地傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊的同時(shí)，測(cè)試平臺(tái)被操作來(lái)從載體模塊處接收電子元件以進(jìn)行測(cè)試。2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，每個(gè)測(cè)試平臺(tái)被配置來(lái)在電子元件上完成和另一個(gè)測(cè)試平臺(tái)相同類型的測(cè)試。3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，每個(gè)測(cè)試平臺(tái)還包含有:用于在載體模塊和測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試臺(tái)之間傳送電子元件的拾取頭。4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，拾取頭包括圍繞旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)器設(shè)置的一對(duì)往復(fù)式拾取頭。5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，該拾取頭相互彼此隔開(kāi)180度的角度，并二者選一地被設(shè)置在載體模塊上方或者測(cè)試臺(tái)上方。6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試分選機(jī)，該測(cè)試分選機(jī)還包含有: 垂直驅(qū)動(dòng)器，其被耦接至每個(gè)拾取頭，該垂直驅(qū)動(dòng)器被配置來(lái)降低拾取頭以在第一位置拾取電子元件，和在拾取頭被轉(zhuǎn)動(dòng)以傳送電子元件至第二位置以前提升拾取頭。7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試分選機(jī)，該測(cè)試分選機(jī)還包含有: 另一個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)，其具有另一組多個(gè)載體模塊；以及 另一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，其沿著該另一個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置以測(cè)試電子元件。8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，該另一組多個(gè)載體模塊被配置來(lái)從主轉(zhuǎn)臺(tái)處接收電子元件。9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，該另一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)在電子元件上完成和輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的多個(gè)測(cè)試平臺(tái)相同類型的測(cè)試。10.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試分選機(jī)，其中，該另一組多個(gè)載體模塊被配置來(lái)從輔助轉(zhuǎn)臺(tái)處接收電子元件。11.一種使用測(cè)試分選機(jī)測(cè)試電子元件的方法，該方法包含有以下步驟: 從裝載平臺(tái)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊； 從主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊處傳送電子元件至輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的多個(gè)載體模塊；以及傳輸電子元件至多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，該多個(gè)測(cè)試平臺(tái)沿著輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的外圍設(shè)置；其后從裝載平臺(tái)并行地繼續(xù)傳輸電子元件至主轉(zhuǎn)臺(tái)的功能模塊的同時(shí)，在多個(gè)測(cè)試平臺(tái)處測(cè)試從載體模塊所接收的電子元件。12.如權(quán)利要求11所述的一種測(cè)試電子元件的方法，其中，每個(gè)測(cè)試平臺(tái)在電子元件上完成和另外的測(cè)試平臺(tái)相同類型的測(cè)試。13.如權(quán)利要求11所述的一種測(cè)試電子元件的方法，該方法還包含有以下步驟: 在測(cè)試電子元件以前，從載體模塊處傳送電子元件至設(shè)置在測(cè)試平臺(tái)上的測(cè)試臺(tái)，與此同時(shí)，在其它電子元件的測(cè)試期間輔助轉(zhuǎn)臺(tái)繼續(xù)接收另外的電子元件。14.如權(quán)利要求11所述的一種測(cè)試電子元件的方法，該方法還包含有以下步驟: 傳送電子元件至另一個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)，該另一個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)包含有另一組多個(gè)載體模塊和設(shè)置在該另一個(gè)輔助轉(zhuǎn)臺(tái)外圍的另一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)；以及在該另一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)處測(cè)試電子元件。15.如權(quán)利要求14所述的一種測(cè)試電子元件的方法，其中，該另一組多個(gè)載體模塊從主轉(zhuǎn)臺(tái)處接收電子元件。16.如權(quán)利要求15所述的一種測(cè)試電子元件的方法，其中，該另一組多個(gè)測(cè)試平臺(tái)在電子元件上完成和輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的多個(gè)測(cè)試平臺(tái)相同類型的測(cè)試。17.如權(quán)利要求14所述的一種測(cè)試電子元件的方法，其中，該另一組多個(gè)載體模塊從輔助轉(zhuǎn)臺(tái)的多個(gè)載體模塊處接收電子元件。
【文檔編號(hào)】B07C5/00GK105983538SQ201510043810
【公開(kāi)日】2016年10月5日
【申請(qǐng)日】2015年1月28日
【發(fā)明人】張雨時(shí), 劉啟峰
【申請(qǐng)人】先進(jìn)科技新加坡有限公司