專利名稱：鉆石檢測的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及鉆石的檢測。
本發(fā)明可用于檢測以單體的自由顆粒、包藏在典型地如金伯利巖寄主體中或者以顆粒的形式被包含在大量其它顆粒中的鉆石。
背景技術(shù)：
參照本發(fā)明在金伯利巖寄主體內(nèi)檢測鉆石的應(yīng)用，應(yīng)當認識到，在鉆石分離操作中，非常希望在早期階段有檢測作為蘊含鉆石寄主的金伯利巖顆粒的設(shè)備。然后可以拋棄那些無用的金伯利巖顆粒而僅僅繼續(xù)處理那些被指示出包含鉆石蘊含物。在較早的階段拋棄無用的顆粒，可以減小對后續(xù)處理設(shè)備在處理能力上的要求。
另外，具有這樣的設(shè)備的好處是不但檢測出鉆石蘊含物的存在，而且檢測出該蘊含物在寄主金伯利巖體中的大小和相對位置，因為這些信息可以用于調(diào)節(jié)后續(xù)用于分離出鉆石蘊含物的破碎操作，從而保證其不被物理損壞。
在已知的從寄主金伯利巖體中檢測鉆石蘊含物的方案中，采用X射線或者中子線照射寄主體。在前者的情況下，鉆石和金伯利巖對于X射線不同的吸收作用指示出鉆石蘊含物的存在。然而，這種技術(shù)飽受鉆石和寄主金伯利巖之間X射線衰減系數(shù)差異較小的缺點的困擾，因此得到的對比性受到限制。另外，采用這種方式在能夠被分析的顆粒的大小上有更嚴格的限制，原因是在金伯利巖中發(fā)生實質(zhì)性的X射線衰減。已知的中子輻射技術(shù)依賴于中子諧振吸收性，但是也存在鉆石和圍繞的金伯利巖之間可檢測的對比性和該方法在實踐中的復雜性的限制，這些限制也受到關(guān)注。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個方面是提供一種在顆粒中檢測鉆石存在的方法，其利用選定能級的光子輻射所述顆粒，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳的核子作用的GDR(巨偶極子諧振)，則根據(jù)該顆粒與射入的光子發(fā)生的相互作用識別該顆粒為潛在的鉆石或者含鉆石顆粒。該顆粒可以用包括一定范圍的能級的軔致輻射來輻射，在該范圍內(nèi)包括特有的GDR能級，其對碳原子而言典型地為22MeV。
在優(yōu)選實施例中，根據(jù)光子/碳的核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C和/或根據(jù)是否該顆粒發(fā)射與特征能級重合和共線的伽馬射線光子來識別該顆粒是否潛在地為鉆石或含鉆石顆粒。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，這里提供一種聯(lián)機(on-line)顆粒分類方法，其包括這樣的步驟，即，用一定能級的伽馬射線光子輻射顆粒，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳的核子作用的GDR(巨偶極子諧振)，從而根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C和/或根據(jù)是否該顆粒發(fā)射具有與特征能級重合和共線的伽馬射線光子來識別該顆粒是否潛在地為鉆石或含鉆石顆粒，并且將被識別為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的那些顆粒從其它顆粒中分離出來。
本發(fā)明還提供一種從顆粒中檢測鉆石的存在的裝置，該裝置包括用一定能級的伽馬射線光子輻射顆粒的裝置，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)；以及根據(jù)該顆粒與入射光子的相互作用來識別該顆粒是否為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的裝置。
本發(fā)明還提供一種聯(lián)機顆粒分選裝置，其包括用于輻射顆粒的輻射裝置，所述顆粒被一定能級的伽馬射線光子輻射，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)；以及包括根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C和/或根據(jù)是否該顆粒發(fā)射具有與特征能級重合和共線的伽馬射線光子來識別該顆粒是否為鉆石或含鉆石顆粒的識別裝置；還包括將被識別為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的那些顆粒從其它顆粒中分離的分離裝置。
本發(fā)明的其它特征將從下述說明和附帶的權(quán)利要求書中顯現(xiàn)。
在本發(fā)明如上所述的第一方面中，通過具有足夠能量的顆粒加速器產(chǎn)生軔致輻射，以在接受分析的可能存在的碳原子核的顆粒中激發(fā)GDR。
應(yīng)當注意的是，GDR是所有原子核的激發(fā)態(tài)的基本模式，也包括碳原子核，其特征在于其顯著的強度、寬度和平均能量?？梢允褂镁哂羞@樣的能量端點的完全、連續(xù)的軔致輻射，所述能量端點超過包含對于碳的特征GDR，即，約22MeV的能帶的窗口的上端點。可以典型地通過特定發(fā)射角的校準使該軔致輻射單色化，從而能帶寬度在選定的中間值位置足以覆蓋特征GDR寬度。
分析鉆石是否存在的顆粒，典型地是金伯利巖顆粒，利用軔致輻射被單獨地照射。在為了這些含鉆石的顆粒從其它顆粒中分離出來而對很多含鉆石的金伯利巖顆粒進行分析的情形下，這些顆粒例如以單行或單層形式通過輻射站，在該處這些顆粒單獨地受到輻射。例如，這可以發(fā)生在如一個傳送帶上，或者顆粒從排放點自由下落的過程中。
較之其中嵌入鉆石的寄主巖石而言軔致輻射中在特征光子能級上更大程度上被顆粒中的碳也就是鉆石所吸收。由得到的差異吸收圖像，可以檢測到顆粒中鉆石的存在?？梢圆捎煤唵蔚木€性幾何檢測陣列或更復雜的層析成像系統(tǒng)獲得圖像。在任何一種情況下，可以采用標準圖像增強技術(shù)來改善圖像中鉆石和與其相關(guān)的巖石之間的對比度。一般低密度的碳均質(zhì)地分布在相關(guān)聯(lián)的巖石中形成淡淡的輪廓背景，而鉆石中高密度、高密度的碳被疊加在其上。
在上述分析中指出顆粒內(nèi)存在鉆石的情況下，典型地采用傳統(tǒng)分選設(shè)備將該顆粒被從其它無用的顆粒中分離出來。例如，在顆粒在傳送帶上被輸送并被分析，然后從該帶的一端拋出并在重力作用下自由下落的情況下，可以利用在實施分析的計算機的控制下操作的適宜的鼓風噴射器使選出的顆粒偏離出所述的下落顆粒流。
然而，應(yīng)當理解的是，可以用任何適合的分選裝置將肯定性地鑒定存在鉆石的顆粒從不存在這種鑒定的無用顆粒中分離開。
如上述總結(jié)，本發(fā)明優(yōu)選的第二個方面，接受分析的顆粒再次受到預定能級的伽馬射線軔致輻射的輻射。入射光子通過核子作用激活有關(guān)的顆粒的碳含量12C(γ，n)→11C帶有Q＝-18.7215MeV11C→β++β-帶有Q＝+1.982MeVT(11C)＝20min11C的半衰期20分鐘使得該反應(yīng)具有特性，并且為后續(xù)質(zhì)疑程序的應(yīng)用表示出一個適當?shù)臅r間周期，如下所述。
當正電子靜止時，其立即與電子湮滅，如下β++β-→γ+γ
所述兩個伽馬射線是重合的并且是共線的，各具有特征能級0.511MeV，使得它們易于被檢測。它們獨特的特征(背靠背的(back-to-back)，時間重合(time coincident)的及被分辯的能量(energy resolved))可以用來對的共線的各自的能級為0.511MeV的光子對的發(fā)射源進行定位并且成像，如下進一步說明。
剛才所述方法的靈敏度可以通過仔細選擇入射光子的能級而得到改善。當Q值為-18.7215MeV時，發(fā)生該反應(yīng)的閾值能級為+18.7125MeV。然而，如上所述，碳即鉆石的特征GDR值為約22MeV。因此可以考慮將入射光子能級的值最優(yōu)地延伸到超過30MeV?？梢酝ㄟ^使連續(xù)軔致輻射的端點在此范圍內(nèi)的形式或者利用一個具有足夠的寬度能夠包括全部GDR譜和適當?shù)闹虚g能量的光子能級窗來實現(xiàn)。通過以此方式仔細選擇入射光子能級，可以減小接受分析的顆粒遭受的輻射損傷，而不會減小響應(yīng)的可檢測性。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面的方法，肯定性地識別含有鉆石蘊含物的顆?？梢詮钠渌鼪]有這種識別的無用顆粒中被分離出來。11C的半衰期和兩個重合并且共線的各自具有0.5111MeV能級的伽馬射線光子這些區(qū)別特征，與該輻射的源點的成像一起，使得該方法在礫石選礦中或在傳送帶或類似物傳送過程中不僅適合區(qū)分并分離出全部或局部嵌入蘊含在寄主顆粒中的鉆石，而且適合區(qū)分并分離以孤立的或與其它例如包覆物的顆粒混合的形式存在的離散顆粒型的游離鉆石。
上述第二種方法的一個重要特征的產(chǎn)生來自于在選定的與鉆石中產(chǎn)生GDR效應(yīng)向一致的能級下的入射光子具有的高穿透能力以及發(fā)射出的伽馬射線光子具有高的穿透能力。
這對于每個顆粒能在多大程度上敏感以及如何使得顆粒被光子通量輻射兩者都是重要的。對于入射光子通量，例如可以理論性地示出對于典型金伯利巖具有2.8gcm-3，僅有50％的初始30MeV的光子通量在通過13cm的金伯利巖樣品后被衰減，并且當樣品厚度為10cm和44cm時，相同的初始光子通量的相應(yīng)衰減值分別為22％和90％。這樣，以10cm的金伯利巖樣品顆粒為例，在光子能級為30MeV時可以容易地實現(xiàn)對于任何鉆石蘊含物的充分激化。在任何情況下都可以實施適當?shù)男Ｕ龔亩鴿M足預期的衰減。
這樣，應(yīng)當理解的是，利用本發(fā)明的方法可以分析較大的顆粒，而且初始礦石破碎步驟可以相應(yīng)的進行定制。還應(yīng)當理解的是，雖然術(shù)語“顆?！庇糜诒菊f明書的全文，本發(fā)明并不僅限于分析小尺寸的礦物碎塊。
對于發(fā)射出的特定的伽馬射線光子的穿透能力以及由此而來的檢測能力而言，可以理論性地示出鉆石在直徑10cm的球形金伯利巖顆粒的中心位置，鉆石蘊含物發(fā)出的0.511MeV的伽馬射線光子，到達顆粒的表面，被衰減了70％，剩下的原始通量的30％足以用于檢測。然而，鑒于接受分析的顆粒是不規(guī)則形的，并且任何鉆石蘊含物很少位于中心位置，可以相信用檢測器圍繞在顆粒的周圍是有利的，由此可以改善檢測到鉆石的可能性。
在實際裝置中，可以在傳送帶的上游位置利用入射光子通量輻射所述顆粒，可以在考慮到20分鐘的特征半衰期后選擇在該帶的下游位置進行伽馬射線檢測。該檢測器可以采用信號模式，重合模式或它們的結(jié)合模式。
作為本發(fā)明的第二方面的方法的進一步的特征，其不僅可以確定是否顆粒中含有鉆石蘊含物，而且可以確定該蘊含物在顆粒中的位置和尺寸。根據(jù)伽馬射線發(fā)射的絕對強度，可以確定鉆石蘊含物的尺寸。為了確定顆粒中的鉆石的位置，可實施圖像重建算法。例如可以采用兩個伽馬射線檢測器并且在它們之間使顆粒旋轉(zhuǎn)?？商娲氖?，可以采用帶有大規(guī)模陣列的靜態(tài)檢測器的PET攝像系統(tǒng)或者較小陣列可移動的移動監(jiān)測器，從而建立具有充分空間分辨率的三維圖像，以精確地確定該蘊含物的位置。具有足夠的空間分辨率的現(xiàn)代檢測器和完善的軟件可供使用，并且其原理已經(jīng)被實驗證實。以下更多地要論述的是目前優(yōu)選的檢測器的布置形式。
已經(jīng)發(fā)現(xiàn)光子與金伯利巖之間的相互作用可以產(chǎn)生信號干涉。53Fe，52Mn和81Sr具有與11C可比擬的半衰期，但是它們在金伯利巖中的低密度對于11C的檢測沒有顯著的影響。除了44K的光子能級為0.4MeV外，來自44K的干涉應(yīng)當予以關(guān)注，并且適當?shù)剡x擇能級為0.511MeV的光子可以消除這種干涉。
在金伯利巖樣品中最常見的元素是氧，然而其由于有關(guān)的核子作用導致的半衰期僅為2.03分鐘。這樣，在經(jīng)過幾個16O的半衰期之后實施碳檢測步驟可以充分的減弱由于干涉導致的問題，例如在大約10分鐘后，在氧激化已經(jīng)停止后實施檢測。剩余的正電子衰變將由20分鐘半衰期主導并且相應(yīng)地區(qū)分出碳。
被拋棄的受過輻射的金伯利巖顯示出較小的放射性。受到激發(fā)的主要的元素的半衰期從幾秒到幾小時。一天之后，放射級別將會顯著降低。對于受到輻射的包含較大蘊含的鉆石，實驗已經(jīng)示出，到目前為止主要放射源是幾個小時后才會衰變完的11C。
根據(jù)以上內(nèi)容，應(yīng)當理解的是，應(yīng)用本發(fā)明的這一方面提出的方法對碳的標識依賴于作為前述的作用順序的結(jié)果而從碳原子附近發(fā)射出的兩個重合并且共線的光子的檢測。
鉆石和非鉆石碳源都將會導致相同的重合和共線光子的特征。金伯利巖中非鉆石形式的碳與鉆石形式的碳比較，在關(guān)注的尺寸范圍內(nèi)表現(xiàn)為更細小的微粒，并且基本上均質(zhì)分布。非鉆石形式的碳的典型密度為約0.2％。僅憑碳信號的強度還不足以在寄主金伯利巖體積大于鉆石的體積約500倍時識別出潛在的鉆石顆粒的存在。
該問題可以通過對碳信號的源幾何圖形進行準成像，基本上識別在源區(qū)域的碳的密度而得以解決。等效地，源自鉆石的碳信號并不是在整個金伯利巖體積內(nèi)可見，而是在較小的體積內(nèi)可見，也就是在可以被準成像處理識別的最小體積元內(nèi)。這種技術(shù)可以相應(yīng)地改善在鉆石和非鉆石形式的碳之間的區(qū)別。
這是基于這樣的事實，即所考慮的大多數(shù)類型的金伯利巖中，鉆石形式的碳都代表最強的區(qū)域化的碳信號源。所述準成像技術(shù)利用兩個光子重合并且共線這一事實，使得PET型算法可以用來重構(gòu)發(fā)生雙光子事件的源分布。適當?shù)腜ET型算法利用檢測器的兩維陣列，同時使得源物質(zhì)相對移動，一列PET型檢測器器典型地沿著傳送系統(tǒng)的長度布置并包圍該傳送系統(tǒng)。
這在示意性的附圖中有圖示。如

圖1所示，金伯利巖或者其它源物質(zhì)10利用傳輸系統(tǒng)諸如圖示的傳送帶12勻速移動，通過兩個成像裝置14和16。第一成像裝置14對物質(zhì)顆粒的粗糙物理尺寸進行成像。其可以例如通過一列光電二極管連同相關(guān)聯(lián)的計時部件產(chǎn)生物質(zhì)的二維“陰影”，該陰影可以利用適當?shù)能浖惴óa(chǎn)生被輸送顆粒的三維圖像。
第二裝置16是上述的準成像裝置，以類似于PET裝置的方式工作。重合并且共線的光子被一列位置敏感的光子檢測器器18(圖2)檢測，后者測量檢測到的光子的位置、進行這種測量的時間以及光子的能量。
然后利用適當?shù)能浖z測器18因此獲得的信息進行分析，所述軟件在相對于源物質(zhì)的即時位置在給定時間內(nèi)恰當?shù)貙z測到的光子配成重合對。實際上軟件算法凍結(jié)了源物質(zhì)的移動，并且采用射線跟蹤技術(shù)，在共線的背對背發(fā)射的技術(shù)上重構(gòu)源物質(zhì)的碳信號密度圖。最終的圖像重構(gòu)依賴于光子檢測器18的位置靈敏特性以及被識別的光子對和它們的共線特性。
為了準確地重構(gòu)圖像，檢測器良好的時間分辨率對于正確識別重合光子對而言是個關(guān)鍵。已經(jīng)確認在采用納秒級的時間分辨率的檢測器時，對真實重合比值的隨機性可以忽略。
結(jié)合重構(gòu)的圖像與裝置14獲得的源物質(zhì)顆粒的物理圖像，可以決定是否研究中的微粒包含碳的局部濃度，即高于貧鉆石金伯利巖顆粒的平均碳濃度的碳的局部濃度，該局部濃度相應(yīng)地表示是否存在鉆石22。
以下，如前所解釋的那樣，源物質(zhì)微粒進入將被識別的顆粒從其它顆粒中分離的分選裝置20(圖1)。
圖3示意性圖示處理廠的組件，該處理廠可以實施剛才所述的方法。標記30表示破碎機，用來將顆粒尺寸減小到10cm或更小。斜槽32將破碎的顆粒引向環(huán)形傳送帶34上，該傳送帶將顆粒輸送通過22MeV的輻射器36，該輻射器利用如上所述的伽馬輻射輻射所述顆粒。顆粒被該傳送帶放置在漏斗38內(nèi)，該漏斗在將顆粒放置到環(huán)形傳送帶40之前將顆粒保持至少20分鐘的時間。所述傳送帶40將顆粒傳送通過檢測臺，其中檢測器44的陣列42圍繞該帶，如上所述。在檢測臺的下游，被識別為潛在的含鉆石的顆粒被加標簽裝置46加上標簽，此后被加上標簽的顆粒從普通顆粒流中被機械拾取裝置48取走。無用的顆粒50被放置在另外的傳送器上，該傳送器將它們運輸?shù)綇U料區(qū)，而選出的顆粒52，如果有需要的話，在破碎臺進行破碎，并且在重介質(zhì)分離單元56內(nèi)接受常規(guī)的重介質(zhì)分離，可能的話，在X射線分選器58內(nèi)接受傳統(tǒng)的X射線分選，從而產(chǎn)生富含鉆石的產(chǎn)品60。
可以預期的是，在地下鉆石礦場內(nèi)，上述的處理至少直到分選階段的過程都可以在地下實施。無用的巖石然后可以堆積在地下而不需要將它們運輸?shù)降孛嫔?。僅僅選出的顆粒需要提升到地面而進行進一步的處理。
應(yīng)當理解的是，上述說明和附圖是對本發(fā)明的特定實施例的說明，在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以進行許多的改動。
權(quán)利要求
1.一種檢測顆粒中鉆石存在的方法，其中所述顆粒受到選定能級的光子的輻射，在所述能級激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)，根據(jù)該顆粒在射入的光子下發(fā)生的反應(yīng)識別該顆粒為潛在的鉆石或者含鉆石顆粒。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述顆粒可以用包含一定的能級范圍的軔致輻射來照射，該能級范圍包括碳的特征GDR能級。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述顆?？梢杂靡欢ǖ哪芗壏秶能愔螺椛鋪碚丈?，該能級范圍包括特征能級22MeV。
4.如前述任意權(quán)利要求之一所述的方法，包括根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C而識別所述顆粒是否為鉆石或者含鉆石顆粒的步驟。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，包括根據(jù)是否從所述顆粒發(fā)出與特征能級重合和共線的伽馬射線光子而識別所述顆粒是否為鉆石或者含鉆石顆粒的步驟。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中根據(jù)是否從所述顆粒發(fā)出與能級0.511MeV重合和共線的伽馬射線光子而識別所述顆粒是否為鉆石或者含鉆石顆粒。
7.如權(quán)利要求5或者6所述的方法，包括分析檢測到的重合和共線的伽馬射線光子，以提供一個在一容納碳蘊含物的顆粒中聚集的碳蘊含物，潛在的鉆石的相對位置的指示的步驟。
8.一種聯(lián)機顆粒分選方法，包括步驟用一定能級的伽馬射線光子輻射顆粒，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)，從而根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C和/或根據(jù)是否該顆粒發(fā)射具有與特征能級重合和共線的伽馬射線光子來識別該顆粒是否為鉆石或含鉆石顆粒，并且將被識別為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的那些顆粒從其它顆粒中分離出來。
9.如權(quán)利要求8所述的聯(lián)機顆粒分選方法，其中，在輻射后，所述顆粒在實施進一步分析前被保持至少20分鐘。
10.如權(quán)利要求1-3任一所述的方法，其中，如果由所述顆粒吸收的光子能量指示碳以聚集形式存在的話，所述顆粒被識別為潛在的鉆石或者含鉆石顆粒。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其中所述顆粒為金伯利巖顆粒，并且所述方法包括獲得所述顆粒的差異吸收圖像，并且確定是否所述圖像指示所述顆粒中存在碳的聚集的步驟。
12.一種用于檢測顆粒中鉆石存在的裝置，該裝置包括用一定能級的伽馬射線光子輻射顆粒的裝置，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)；以及根據(jù)所述顆粒與所述入射光子的相互作用來辨認該顆粒是否為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的裝置。
13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其中所述輻射裝置被布置成利用能級為22MeV的伽馬輻射來輻射所述顆粒。
14.如權(quán)利要求12或者13所述的裝置，包括確認是否光子/碳核子作用產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C以及是否所述顆粒發(fā)射具有與特征能級重合和共線的伽馬射線光子的裝置。
15.如權(quán)利要求14所述的裝置，包括確認是否從所述顆粒發(fā)出與能級0.511MeV重合和共線的伽馬射線光子的裝置。
16.如權(quán)利要求14或者15所述的裝置，包括分析檢測到的重合和共線的伽馬射線光子，以提供一在容納碳蘊含物的顆粒中指示出聚集的碳蘊含物，潛在的鉆石的相對位置指示的裝置。
17.一種聯(lián)機顆粒分選裝置，包括用于輻射顆粒的輻射裝置，所述顆粒被一定能級的伽馬射線光子輻射，在該能級上，激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)；以及包括根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素11C和/或根據(jù)是否所述顆粒發(fā)射具有與特征能級重合和共線的伽馬射線光子來識別所述顆粒是否為鉆石或含鉆石顆粒的識別裝置；還包括將被識別為潛在的鉆石或含鉆石顆粒的那些顆粒從其它顆粒中分離的分離裝置。
18.如權(quán)利要求17所述的聯(lián)機顆粒分選裝置，包括在所述識別裝置的操作前將所述顆粒保持至少20分鐘時間的臨時存儲裝置。
19.如權(quán)利要求18所述的聯(lián)機顆粒分選裝置，其中所述存儲裝置包括漏斗，所述漏斗在輻射后保持所述顆粒并且在保持至少20分鐘后將其釋放到所述識別裝置上。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測顆粒中鉆石存在及根據(jù)顆粒是否包含鉆石而進行分選的方法和裝置。在所述方法中，所述顆粒受到選定能級的光子的輻射(36)，在所述能級下激發(fā)用于光子與碳發(fā)生核子作用的GDR(巨偶極子諧振)，根據(jù)該顆粒在射入的光子下發(fā)生的反應(yīng)識別該顆粒為潛在的鉆石或者含鉆石顆粒。在優(yōu)選的實施例中，根據(jù)光子/碳核子作用是否產(chǎn)生特征半衰期約為20分鐘的同位素
文檔編號B07C5/346GK1942759SQ200580011607
公開日2007年4月4日 申請日期2005年3月14日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月12日
發(fā)明者雅克·P·F·塞爾肖普, 西蒙·H·康奈爾 申請人:蘇珊·M·塞爾肖普, 威特沃特斯蘭約翰內(nèi)斯堡大學