一種檢測設備及檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種卡片外觀雙面的檢測設備及檢測方法，一種檢測設備，包括依序排列的第一工位、第二工位、第三工位、控制所述第一工位、第二工位、第三工位順序動作的中心控制單元；所述第一工位包括：推板，具有不少于一個與待檢測卡片相適配的定位凹槽；所述第二工位包括：吸盤；所述第三工位包括：落料盤；所述第一工位與所述第二工位之間設置有第一采集裝置，所述第二工位與所述第三工位之間設置有第二采集裝置，所述第一采集裝置與所述第二采集裝置朝向方向相反；本發(fā)明還提出所述的檢測設備的檢測方法，解決檢測時卡片翻轉及卡片方向走偏的問題，為此可以應用到卡片檢測設備等產品中。
【專利說明】一種檢測設備及檢測方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測設備及檢測方法，特別涉及一種卡片外觀雙面的檢測設備及檢測方法。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有的對卡片外觀雙面的檢測設備及檢測方法，利用傳送帶傳送及定位待檢測卡片，先對待檢測卡片的其中一表面進行檢測，再通過旋轉機構將待檢測卡片翻轉使其另一表面朝向采集裝置，進而對待檢測卡片的另一表面進行檢測，然而，利用傳送帶傳送待檢測卡片，待檢測卡片容易在傳送帶內走偏，從而受阻；通過旋轉機構翻轉卡片，翻轉后卡片不利于定位且容易對卡片造成損傷，采集位置不正確的卡片信息，還需通過中央控制單元對其糾正后再進行對比檢測，現(xiàn)有的檢測設備及檢測方法需糾正的次數(shù)較多，影響檢測的整體效率。

【發(fā)明內容】

[0003]針對現(xiàn)有技術不足，本發(fā)明提出一種檢測設備及檢測方法，旨在解決卡片外觀需雙面檢測時把卡片翻轉及卡片方向容易走偏的問題。
[0004]本發(fā)明提出的技術方案是:
[0005]一種檢測設備，用于檢測卡片外觀，包括依序排列的第一工位、第二工位、第三工位、控制所述第一工位、第二工位、第三工位順序動作的中心控制單元；所述第一工位包括:推板，用于裝載待檢測卡片，具有至少一個與待檢測卡片相適配的定位凹槽；
[0006]所述第二工位包括:吸盤，用于吸取待檢測卡片；
[0007]所述第三工位包括:落料盤，用于接收已檢測卡片；
[0008]所述第一工位與所述第二工位之間設置有第一采集裝置，用于采集待檢測卡片的其中一面信息；
[0009]所述第二工位與所述第三工位之間設置有第二采集裝置，用于采集待檢測卡片的
另一面信息；
[0010]所述第一采集裝置與所述第二采集裝置朝向方向相反；
[0011]所述推板、所述吸盤、所述落料盤、所述第一采集裝置及所述第二采集裝置分別與所述中心控制單元連接。
[0012]進一步技術方案還可以是，所述第一工位還包括推動所述推板至所述第二工位的第一氣缸，所述推板具有多個所述定位凹槽，各相鄰所述定位凹槽具有等距。
[0013]進一步技術方案還可以是，所述定位凹槽的底部設置有通孔，所述通孔延伸至所述推板的兩端；所述第一工位還包括上料裝置，所述上料裝置包括儲卡盒、上料吸盤、推動所述上料吸盤運動的第二氣缸，所述上料吸盤插入所述通孔穿過所述定位凹槽。
[0014]進一步技術方案還可以是，所述第一采集裝置、第二采集裝置為成像設備。
[0015]進一步技術方案還可以是，所述第二工位還包括連接架、推動所述連接架至所述第三工位的第三氣缸，所述連接架設置有推動所述吸盤上下移動的第四氣缸，所述吸盤與所述定位凹槽、所述落料盤相對應。
[0016]進一步技術方案還可以是，所述第三工位還包括取料裝置，所述取料裝置位于所述落料盤的側邊，所述取料裝置與所述中心控制單元連接。
[0017]進一步技術方案還可以是，所述落料盤具有可開閉的底壁。
[0018]本發(fā)明還提出一種檢測方法，用于檢測卡片外觀，所述的檢測方法包括以下步驟:
[0019]在所述定位凹槽定位待檢測卡片，使待檢測卡片的其中一表面處于可采集視野；
[0020]由所述第一采集裝置采集待檢測卡片表面的信息，然后通過所述中心控制單元將其與相應的標準信息進行第一次對比；
[0021]根據(jù)所述第一次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片是否合格；
[0022]通過所述吸盤吸取待檢測卡片已檢測的一面，使待檢測卡片保持方位不變，將待檢測卡片的另一表面處于可采集視野；
[0023]由所述第二采集裝置采集待檢測卡片另一表面的信息，然后通過所述中心控制單元將其與相應的標準信息進行第二次對比；
[0024]根據(jù)所述第二次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片是否合格；
[0025]通過所述中心控制單元綜合所述第一次對比、所述第二次對比的結果，判斷并記錄已檢測卡片是否合格，若合格則所述落料盤接收已檢測卡片。
[0026]進一步技術方案還可以是，所述第一對比、所述二次對比包括:
[0027]采集信息與標準信息是否存在參數(shù)差異，所述參數(shù)包括圖像或文字所在位置及殘缺、多余。
[0028]根據(jù)上述的技術方案，本發(fā)明有益效果:所述第一采集裝置采集在所述定位凹槽內的待檢測卡片的其中一面，由于采用所述推板傳送，在所述定位凹槽內的待檢測卡片不會發(fā)生方向的偏離，所述第一采集裝置與所述第二采集裝置朝向方向相反，利用所述吸盤吸附已被所述第一采集裝置采集的待檢測卡片的一面，然后提升所述吸盤使待檢測卡片沿所述定位凹槽豎直方向脫離所述定位凹槽，保持待檢測卡片在水平面的方位，使待檢測卡片的另一面供所述第二采集裝置采集，從而解決卡片外觀需雙面檢測時把卡片翻轉及卡片方向容易走偏的問題。
[0029]由于本發(fā)明具有上述的特點和優(yōu)點，為此可以應用到卡片檢測設備等產品中。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0030]圖1是應用本發(fā)明技術方案的所述的檢測設備的結構示意圖；
[0031]圖2是應用本發(fā)明技術方案的所述第一工位的結構示意圖；
[0032]圖3是應用本發(fā)明技術方案的所述推板的結構示意圖；
[0033]圖4是應用本發(fā)明技術方案的所述第二工位的結構示意圖；
[0034]圖5是應用本發(fā)明技術方案的所述第三工位的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0035]為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0036]如圖1、圖2和圖3所示，本發(fā)明提出一種檢測設備，用于檢測卡片100外觀，包括依序排列的第一工位1、第二工位2、第三工位3、控制第一工位1、第二工位2、第三工位3順序動作的中心控制單兀(在圖中未標注);第一工位1、第二工位2、第三工位3大致處于同一直線上，第一工位I包括:推板11，用于裝載待檢測卡片100，具有至少一個與待檢測卡片100相適配的定位凹槽12。第二工位2包括:吸盤21，用于吸取待檢測卡片100，與定位凹槽12在前進方向具有一定距離；定位凹槽12的前進方向為從第一工位I向第二工位2的
向。
[0037]第三工位3包括:落料盤31,用于接收已檢測卡片100,與吸盤21在前進方向具有一定距離；吸盤21的前進方向為從第二工位2向第三工位3的運動方向。
[0038]第一工位I與第二工位2之間設置有第一采集裝置41，用于采集待檢測卡片100的其中一面信息。
[0039]第二工位2與第三工位3之間設置有第二采集裝置42，用于采集待檢測卡片100的另一面信息。 [0040]第一采集裝置41與第二采集裝置42朝向方向相反；所述朝向方向為第一采集裝置41、第二采集裝置42采集方向，當定位凹槽12前進進入第一采集裝置41采集區(qū)域時，第一采集裝置41應當進行采集，當吸盤21前進進入第二采集裝置42采集區(qū)域，第二采集裝置42應當進行采集。
[0041]推板11、吸盤21、落料盤31、第一采集裝置41及第二采集裝置42分別與所述中心控制單兀連接。
[0042]其中，卡片100為IC卡，公交卡等，定位凹槽12的數(shù)量可根據(jù)待檢測卡片100的數(shù)量決定，定位凹槽12呈矩形，定位凹槽12移動到第二工位2中的吸盤21的正下方，卡入定位凹槽12內的待檢測卡片100不會因推板11前進運動而發(fā)生偏離，在定位凹槽12前進的過程中會被第一采集裝置41采集待檢測卡片100的上表面101信息，上表面101信息通過所述中心控制單元進行處理，因上表面101沒有發(fā)生偏離，在所述中心控制單元處理過程中跳過了糾正上表面101信息這一步驟，提高處理速度，從而提高檢測效率；吸盤21吸附在上表面101中心位置，進而提升待檢測卡片100，使待檢測卡片100離開定位凹槽12，吸盤21移動到第三工位3中的落料盤31的正上方，待檢測卡片100不會因吸盤21前進運動而發(fā)生偏離，在吸盤21前進的過程中會被第二采集裝置42采集待檢測卡片100的下表面102信息，因下表面102沒有發(fā)生偏離，在所述中心控制單元處理過程中跳過了糾正下表面102信息這一步驟，進一步提高檢測效率，采用吸盤21吸取卡片100方式進行采集代替了現(xiàn)有將卡片100翻轉方式進行采集，從而解決卡片100外觀需雙面檢測時把卡片100翻轉及卡片100方向容易走偏的問題。
[0043]第一工位I還包括推動推板11至第二工位2的第一氣缸13，推板11具有多個定位凹槽12，本實施例，以三個定位凹槽12進行說明，各相鄰定位凹槽12具有等距，具體地，每個定位凹槽12中心到相鄰定位凹槽12的中心的距離相等。
[0044]定位凹槽12的底壁121設置通孔14，通孔14延伸至推板11的兩端，第一工位I還包括上料裝置15，上料裝置15包括儲卡盒151、上料吸盤152、推動上料吸盤152上下運動的第二氣缸153，上料吸盤152插入通孔14穿過定位凹槽12。儲卡盒151分層儲存有待檢測卡片100，第二氣缸153推動上料吸盤152向上運動到儲卡盒151并吸附儲卡盒151中的待檢測卡片100，第二氣缸153拉動上料吸盤152向下運動使待檢測卡片100卡入定位凹槽12，上料吸盤152撤消真空吸力，待檢測卡片100停留定位凹槽12內，上料吸盤152再次向下移動，從而完成向定位凹槽12上料動作，由于通孔14延伸至推板11的兩端，不需等待定位凹槽12回到起始位時，上料吸盤152再上升吸取卡片100，而是當定位凹槽12在第二工位2停留時，第二氣缸153推動上料吸盤152向上運動，上料吸盤152吸取卡片100后等待定位凹槽12回到起始位，上料吸盤152向下運動往定位凹槽12裝載卡片100，從而不會浪費時間，提高上料效率。
[0045]具體地，第一采集裝置41、第二采集裝置42為成像設備，具體可為相機。
[0046]如圖1和圖4所示，第二工位2還包括連接架22、推動連接架22至第三工位3的第三氣缸23，連接架22設置有推動吸盤21上下移動的第四氣缸221，吸盤21與定位凹槽
12、落料盤31相對應。吸盤21與定位凹槽12、落料盤31的數(shù)量及間距相對應，連接架22設置有三個吸盤21、第四氣缸221，每個第四氣缸221分別驅動吸盤21向下運動到上表面101中心位置并對待檢測卡片100進行吸附，吸盤21完成吸附動作后被第四氣缸221提升，第三氣缸23推動連接架22至第三工位3中落料盤31上方，從而解決了需把卡片100翻轉才可以采集下表面102信息的問題。
[0047]如圖1和圖5所示，第三工位3還包括取料裝置32，取料裝置32位于落料盤31的側邊，取料裝置32與中心控制單元連接。根據(jù)中心控制單元處理上表面101 (或下表面102)信息，上表面101或下表面102不合格時，則判斷待檢測卡片100為不合格，中心控制單元將信號傳送給取料裝置32，取料裝置32為取料機械手，取走落料盤31中不合格的卡片100。
[0048]落料盤31具有可開閉的底壁311。落料盤31呈矩形，底壁311具有第一底壁311a、第二底壁311b，根據(jù)中心控制單元處理上表面101 (或下表面102)信息，上表面101和下表面102都合格時，則判斷待檢測卡片100為合格，中心控制單元將信號傳送給落料盤31，落料盤31打開底壁311，第一底壁311a、第二底壁311b向兩側張開讓合格的卡片100落下供收集。
[0049]根據(jù)所述檢測設備，本發(fā)明還提出一種檢測方法，用于檢測卡片100外觀，所述的檢測方法包括以下步驟:
[0050]在定位凹槽12定位待檢測卡片100，使待檢測卡片100的上表面101處于可采集視野；
[0051]由第一采集裝置41采集待檢測卡片100的上表面101的信息，然后通過所述中心控制單元將上表面101信息與相應的標準信息進行第一次對比；
[0052]根據(jù)所述第一次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片100是否合格；
[0053]通過吸盤21吸取卡片100的上表面101，使待檢測卡片100保持方位不變，將待檢測卡片100的下表面102處于可采集視野；
[0054]由第二采集裝置42采集待檢測卡片100的下表面102的信息，通過所述中心控制單元將所述下表面102信息與相應的標準信息進行第二次對比；
[0055]根據(jù)所述第二次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片100是否合格；[0056]最后通過所述中心控制單元綜合所述第一次對比、所述第二次對比的結果，判斷并記錄已檢測卡片100是否合格，若合格則由落料盤31接收已檢測卡片100。
[0057]上述檢測方法可解決卡片100外觀需雙面檢測時把卡片100翻轉及卡片100方向容易走偏的問題。
[0058]具體地,所述第一對比、所述二次對比包括:
[0059]采集信息與標準信息是否存在參數(shù)差異，所述參數(shù)包括圖像或文字所在位置及殘缺、多余。
[0060]具體地，所述第一對比、所述二次對比的結果包括:
[0061]采集信息與標準信息的所述參數(shù)都相同，則判斷待檢測卡片100為合格；
[0062]采集信息與標準信息的所述參數(shù)存在差異，則判斷待檢測卡片100為不合格。
[0063]最后通過所述中心控制單元綜合所述第一次對比、所述第二次對比的結果包括:
[0064]所述第一對比、所述二次對比的結果都合格，則最終判斷待檢測卡片100為合格；
[0065]所述第一對比或所述二次對比的結果不合格，則最終判斷待檢測卡片100為不合格。
[0066]以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種檢測設備，用于檢測卡片外觀，包括依序排列的第一工位、第二工位、第三工位、控制所述第一工位、第二工位、第三工位順序動作的中心控制單元；其特征在于，所述第一工位包括:推板，用于裝載待檢測卡片，具有至少一個與待檢測卡片相適配的定位凹槽； 所述第二工位包括:吸盤，用于吸取待檢測卡片； 所述第三工位包括:落料盤，用于接收已檢測卡片； 所述第一工位與所述第二工位之間設置有第一采集裝置，用于采集待檢測卡片的其中一面信息； 所述第二工位與所述第三工位之間設置有第二采集裝置，用于采集待檢測卡片的另一面信息； 所述第一采集裝置與所述第二采集裝置朝向方向相反； 所述推板、所述吸盤、所述落料盤、所述第一采集裝置及所述第二采集裝置分別與所述中心控制單元連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測設備，其特征在于，所述第一工位還包括推動所述推板至所述第二工位的第一氣缸，所述推板具有多個所述定位凹槽，各相鄰所述定位凹槽具有等距。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種檢測設備，其特征在于，所述定位凹槽的底部設置有通孔，所述通孔延伸至所述推板的兩端；所述第一工位還包括上料裝置，所述上料裝置包括儲卡盒、上料吸盤、推動所述上料吸盤運動的第二氣缸，所述上料吸盤插入所述通孔穿過所述定位凹槽。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測設備，其特征在于，所述第一采集裝置、所述第二采集裝置為成像設備。
5.根據(jù)權利要求1-4任一項所述的一種檢測設備，其特征在于，所述第二工位還包括連接架、推動所述連接架至所述第三工位的第三氣缸，所述連接架設置有推動所述吸盤上下移動的第四氣缸，所述吸盤與所述定位凹槽、所述落料盤相對應。
6.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測設備，其特征在于，所述第三工位還包括取料裝置，所述取料裝置位于所述落料盤的側邊，所述取料裝置與所述中心控制單元連接。
7.根據(jù)權利要求1所述的一種檢測設備，其特征在于，所述落料盤具有可開閉的底壁。
8.—種檢測方法，采用權利要求1-7任一項所述檢測設備，用于檢測卡片外觀，其特征在于，所述的檢測方法包括以下步驟: 在所述定位凹槽定位待檢測卡片，使待檢測卡片的其中一表面處于可采集視野；由所述第一采集裝置采集待檢測卡片表面的信息，然后通過所述中心控制單元將其與相應的標準信息進行第一次對比； 根據(jù)所述第一次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片是否合格； 通過所述吸盤吸取待檢測卡片已檢測的一面，使待檢測卡片保持方位不變，將待檢測卡片的另一表面處于可采集視野； 由所述第二采集裝置采集待檢測卡片另一表面的信息，然后通過所述中心控制單元將其與相應的標準信息進行第二次對比； 根據(jù)所述第二次對比的結果，判斷并記錄待檢測卡片是否合格； 通過所述中心控制單元綜合所述第一次對比、所述第二次對比的結果，判斷并記錄已檢測卡片是否合格，若合格則所述落料盤接收已檢測卡片。
9.根據(jù)權利要求8所述的一種檢測方法，其特征在于，所述第一對比、所述二次對比包 括: 采集信息與標準信息是否存在參數(shù)差異，所述參數(shù)包括圖像或文字所在位置及殘缺、多余。
【文檔編號】B65G47/82GK103964214SQ201310043712
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年2月4日 優(yōu)先權日:2013年2月4日
【發(fā)明者】李志強 申請人:李志強