專利名稱：電容式觸控板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電容式觸控板，具體地說，是一種電容式觸控板的檢測方法。
背景技術(shù)：
二維式電容式觸控板上設(shè)置有多條X方向跡線和Y方向跡線，這些X方向跡線和 Y方向跡線相互交錯組成多個感應(yīng)器，當(dāng)使用者以導(dǎo)電性對象，例如手指，接近這些感應(yīng)器 時，手指與所述感應(yīng)器之間的耦合電容將使連接所述感應(yīng)器的跡線的電容值增加，檢測電 路便藉由檢測這些跡線的電容值變化，定位出手指的位置，并將所述位置的變化轉(zhuǎn)換成信 息，提供給主機(jī)執(zhí)行相應(yīng)操作。圖1為手指對跡線造成電容值變化的示意圖，橫坐標(biāo)表示橫向的跡線Y1，跡線 Xl X8與跡線Yl交錯，曲線10表示跡線Yl上的電容值變化。當(dāng)手指接近跡線Yl與跡 線X4、X5的交點(diǎn)時，遠(yuǎn)離手指的跡線XI、X2和X7、X8的電容值未受影響，低于門坎值CTH， 較接近手指的跡線X3和X6的電容值上升，略高于門坎值CTH，距離手指更近的跡線X5的 電容值更高，而手指位置所在處的跡線X4和Yl的電容值則為曲線10的峰值，因此，將跡線 X4和Yl組合后，即可判斷出手指位于(X4，Y1)。在圖1中，跡線Χ1、Χ2和Χ7、Χ8的電容值 未受到手指影響，在檢測時的值接近零，在后續(xù)的轉(zhuǎn)換和運(yùn)算判斷中是無用的(useless)。已知取得一幀(frame)信息的方式是逐一掃瞄觸控板上的每條跡線，將每條跡線 的電容值變化信息組合成一幀，定位出手指的位置。因此已知的逐一對每條跡線掃瞄，檢測每條跡線電容值變化的方法存在著對無用 跡線檢測，耗電和效能差的種種不便和問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，在于提出一種電容式觸控板的檢測方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種電容式觸控板的檢測方法，其特征在于包括以下步驟第一步驟間隔檢測復(fù)數(shù)條第一跡線以及復(fù)數(shù)條第二跡線，產(chǎn)生復(fù)數(shù)個第一場域 和復(fù)數(shù)個第二場域；第二步驟內(nèi)插計(jì)算所述第一場域，獲得與所述第二場域具相同時間坐標(biāo)的內(nèi)插 場域；以及第三步驟組合所述第二場域與所述內(nèi)插場域，產(chǎn)生重現(xiàn)幀。本發(fā)明的電容式觸控板的檢測方法還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的檢測方法，其中所述第一跡線為分布在所述電容式觸控板上的單數(shù)條跡 線。前述的檢測方法，其中所述第二跡線為分布在所述電容式觸控板上的雙數(shù)條跡線。采用上述技術(shù)方案后，本發(fā)明的電容式觸控板的檢測方法具有減少檢測電路的運(yùn)算量以提升電容式觸控板的效能的優(yōu)點(diǎn)。


圖1為手指對跡線造成電容值變化的示意圖；圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的示意圖。圖中，10、曲線。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合實(shí)施例及其附圖對本發(fā)明作更進(jìn)一步說明。本發(fā)明提出的檢測方法以多場域的方式(multi-field way)，例如跡線跳略 (trace-skip)，取代已知連續(xù)式的幀檢測。圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的示意圖，虛線橫軸 表示時間，觸控板上一般設(shè)有復(fù)數(shù)條縱向跡線和橫向跡線，圖2僅繪出縱向跡線以便于說 明。首先，在第一時間時依序檢測電容式觸控板上的所有單數(shù)條跡線，獲得第一個場 域(field) 1，再于第二時間依序檢測所有雙數(shù)條跡線，獲得場域2，接著，在第三時間再次 檢測所有單數(shù)條跡線，獲得第二個場域1，其中，第一時間、第二時間和第三時間之間的時間 間隔相同，對第一個場域1和第二個場域1取內(nèi)插，計(jì)算得到和場域2具相同時間坐標(biāo)的內(nèi) 插場域，再將場域2與內(nèi)插場域組合成為重現(xiàn)幀，供進(jìn)行后續(xù)坐標(biāo)計(jì)算。接著，以相同的間 隔檢測步驟，依序取得第二個場域2以及第三個場域1，內(nèi)插計(jì)算第二個場域1和第三個場 域1，獲得與第二個場域2具相同時間坐標(biāo)的第二個內(nèi)插場域(圖中未示)，組合產(chǎn)生下一 幀。在其它實(shí)施例中，設(shè)計(jì)者可依需求調(diào)整每一場域檢測的跡線群，并相應(yīng)調(diào)整組合 方法，將每一幀拆成更多個場域。以上實(shí)施例僅供說明本發(fā)明之用，而非對本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變化。因此，所有等同 的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇，應(yīng)由各權(quán)利要求限定。
權(quán)利要求
1.一種電容式觸控板的檢測方法，其特征在于包括以下步驟第一步驟間隔檢測復(fù)數(shù)條第一跡線以及復(fù)數(shù)條第二跡線，產(chǎn)生復(fù)數(shù)個第一場域和復(fù) 數(shù)個第二場域；第二步驟內(nèi)插計(jì)算所述第一場域，獲得與所述第二場域具相同時間坐標(biāo)的內(nèi)插場域；以及第三步驟組合所述第二場域與所述內(nèi)插場域，產(chǎn)生重現(xiàn)幀。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述第一跡線為分布在所述電容式觸 控板上的單數(shù)條跡線。
3.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，其中所述第二跡線為分布在所述電容 式觸控板上的雙數(shù)條跡線。
全文摘要
一種電容式觸控板的檢測方法，其特征在于包括以下步驟第一步驟間隔檢測復(fù)數(shù)條第一跡線以及復(fù)數(shù)條第二跡線，產(chǎn)生復(fù)數(shù)個第一場域和復(fù)數(shù)個第二場域；第二步驟內(nèi)插計(jì)算所述第一場域，獲得與所述第二場域具相同時間坐標(biāo)的內(nèi)插場域；以及第三步驟組合所述第二場域與所述內(nèi)插場域，產(chǎn)生重現(xiàn)幀。本發(fā)明的電容式觸控板的檢測方法具有減少檢測電路運(yùn)算量以提升電容式觸控板的效能的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G06F3/044GK102004589SQ20091016898
公開日2011年4月6日 申請日期2009年9月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月3日
發(fā)明者曾玄文, 林嘉興, 陶逸欣 申請人:義隆電子股份有限公司