光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，光學(xué)薄壁零件加工完成后會發(fā)現(xiàn)圓度、圓柱度變形而達不到圖紙要求，也無法進行有效校驗修復(fù)，只能進行報廢處理。浪費了很多的財力和物力，嚴重制約生產(chǎn)進度順利進行。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置。
[0004]本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn):
[0005]光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，特點是:包括底座、立板、一套內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)和兩套外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)，所述立板豎立固定于底座上，立板上開有一安裝孔和兩導(dǎo)向孔，所述內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)包含內(nèi)漲力芯軸和可調(diào)錐度螺絲，內(nèi)漲力芯軸的一端置于立板的安裝孔中，另一端是具有漲力切口的圓筒，可調(diào)錐度螺絲沿軸向穿過圓筒旋入內(nèi)漲力芯軸的內(nèi)螺紋孔中，所述外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)包含活動塑料隔套和微調(diào)螺母，立板的每一導(dǎo)向孔中套裝一活動塑料隔套，與導(dǎo)向孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺紋孔，微調(diào)螺母旋入螺紋孔中與活動塑料隔套的外緣面相抵接。
[0006]進一步地，上述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述內(nèi)漲力芯軸的一端與立板的安裝孔為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺釘孔，緊固螺釘旋入螺釘孔中與內(nèi)漲力芯軸的外緣面相抵接。
[0007]更進一步地，上述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述活動塑料隔套中配合一可旋動的塑圈。
[0008]再進一步地，上述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述兩導(dǎo)向孔的孔徑不同，相對應(yīng)地，配裝不同直徑的活動塑料隔套。
[0009]本發(fā)明技術(shù)方案突出的實質(zhì)性特點和顯著的進步主要體現(xiàn)在:
[0010]設(shè)置一套內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)和兩套外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)，通過校驗夾具可對光學(xué)薄壁長軸套產(chǎn)品的圓度/圓柱度/內(nèi)外部尺寸進行手動微調(diào)矯正修復(fù)，可根據(jù)不同位置不同調(diào)整尺寸的需要選擇不同的調(diào)整模塊，對不良品進行有效校驗修復(fù)，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求，有效地降低廢品率，節(jié)約了生產(chǎn)成本，校驗手法簡單，可實際操作性強?？胺Q是具有新穎性、創(chuàng)造性、實用性的好技術(shù)，是一實用的新設(shè)計。
【附圖說明】
[0011]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明技術(shù)方案作進一步說明:
[0012]圖1:本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0013]如圖1所示，光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，包括底座1、立板2、一套內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)和兩套外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)，立板2豎立固定于底座I上，立板2上開有一安裝孔和兩導(dǎo)向孔，內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)包含內(nèi)漲力芯軸8和可調(diào)錐度螺絲9，內(nèi)漲力芯軸8的一端置于立板3的安裝孔中，為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺釘孔，緊固螺釘7旋入螺釘孔中與內(nèi)漲力芯軸的外緣面相抵接，內(nèi)漲力芯軸8的另一端是具有漲力切口的圓筒10，可調(diào)錐度螺絲9沿軸向穿過圓筒旋入內(nèi)漲力芯軸的內(nèi)螺紋孔中。
[0014]每一外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)均包含活動塑料隔套和微調(diào)螺母，立板2上兩導(dǎo)向孔的孔徑不同，左側(cè)大導(dǎo)向孔中套裝大活動塑料隔套3，與大導(dǎo)向孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺紋孔，大微調(diào)螺母4旋入螺紋孔中與大活動塑料隔套3的外緣面相抵接，左側(cè)小導(dǎo)向孔中套裝小活動塑料隔套6，與小導(dǎo)向孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺紋孔，小微調(diào)螺母5旋入螺紋孔中與小活動塑料隔套6的外緣面相抵接；大活動塑料隔套3和小活動塑料隔套6中均配合一可旋動的塑圈。
[0015]在底座上設(shè)置三種校驗?zāi)K，分別是一套內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)和兩套外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)，通過校驗夾具可以對產(chǎn)品(光學(xué)薄壁長軸套)的圓度/圓柱度/內(nèi)外部尺寸進行手動微調(diào)矯正，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。結(jié)構(gòu)簡潔，可實際操作性強。
[0016]內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu):檢測產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)徑尺寸或圓度局部偏小。內(nèi)漲力芯軸8固定在立板2上通過緊固螺釘7鎖緊，檢測產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)徑尺寸或圓度局部偏小時，可以將產(chǎn)品內(nèi)孔放入內(nèi)漲力芯軸8，通過內(nèi)漲力芯軸8尾端的可調(diào)錐度螺絲9向內(nèi)旋入調(diào)整，可調(diào)錐度螺絲9在向內(nèi)旋合時將具有漲力切口的圓筒10向外漲開從而使產(chǎn)品內(nèi)徑向外漲開，達到要求。漲力的大小可根據(jù)產(chǎn)品需要調(diào)整的尺寸進行決定。
[0017]外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu):檢測產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品外徑尺寸或圓度局部偏大。立板2上加工兩個導(dǎo)向孔，兩個導(dǎo)向孔內(nèi)各放置一活動塑料隔套，避免產(chǎn)品在導(dǎo)向孔內(nèi)進行校驗時壓傷表面。在檢測產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品外徑尺寸或圓度局部偏大，可以根據(jù)產(chǎn)品尺寸大小將產(chǎn)品外徑套入匹配的調(diào)整結(jié)構(gòu)，偏小的部位對準微調(diào)螺母，通過微調(diào)螺母向內(nèi)進行頂進活動塑料隔套，微調(diào)螺母在向內(nèi)旋合時使活動塑料隔套將產(chǎn)品局部進行收縮，以達到檢驗?zāi)康?，活動塑料隔套?nèi)部放置可旋動的塑圈，以保護防止微調(diào)螺母在旋合時將產(chǎn)品壓傷。
[0018]該校驗夾具可以對產(chǎn)品的圓度/圓柱度/內(nèi)外部尺寸進行手動微調(diào)矯正修復(fù)，可根據(jù)不同位置不同調(diào)整尺寸的需要選擇不同的調(diào)整模塊，對不良品進行有效校驗修復(fù)，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求，有效地降低廢品率，節(jié)約了生產(chǎn)成本，校驗手法簡單，可實際操作性強。
[0019]需要理解到的是:以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以作出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于:包括底座、立板、一套內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)和兩套外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)，所述立板豎立固定于底座上，立板上開有一安裝孔和兩導(dǎo)向孔，所述內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)包含內(nèi)漲力芯軸和可調(diào)錐度螺絲，內(nèi)漲力芯軸的一端置于立板的安裝孔中，另一端是具有漲力切口的圓筒，可調(diào)錐度螺絲沿軸向穿過圓筒旋入內(nèi)漲力芯軸的內(nèi)螺紋孔中，所述外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)包含活動塑料隔套和微調(diào)螺母，立板的每一導(dǎo)向孔中套裝一活動塑料隔套，與導(dǎo)向孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺紋孔，微調(diào)螺母旋入螺紋孔中與活動塑料隔套的外緣面相抵接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于:所述內(nèi)漲力芯軸的一端與立板的安裝孔為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺釘孔，緊固螺釘旋入螺釘孔中與內(nèi)漲力芯軸的外緣面相抵接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于:所述活動塑料隔套中配合一可旋動的塑圈。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于:所述兩導(dǎo)向孔的孔徑不同，相對應(yīng)地，配裝不同直徑的活動塑料隔套。
【專利摘要】本發(fā)明涉及光學(xué)薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，立板豎立固定于底座上，立板上開有一安裝孔和兩導(dǎo)向孔，內(nèi)漲力校驗芯軸結(jié)構(gòu)包含內(nèi)漲力芯軸和可調(diào)錐度螺絲，內(nèi)漲力芯軸的一端置于立板的安裝孔中，另一端是具有漲力切口的圓筒，可調(diào)錐度螺絲沿軸向穿過圓筒旋入內(nèi)漲力芯軸的內(nèi)螺紋孔中，外收縮校驗調(diào)整結(jié)構(gòu)包含活動塑料隔套和微調(diào)螺母，立板的每一導(dǎo)向孔中套裝一活動塑料隔套，與導(dǎo)向孔相對位置的立板上沿徑向設(shè)有螺紋孔，微調(diào)螺母旋入螺紋孔中與活動塑料隔套的外緣面相抵接。可對光學(xué)薄壁長軸套產(chǎn)品的圓度/圓柱度/內(nèi)外部尺寸進行手動微調(diào)矯正修復(fù)，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。
【IPC分類】B21D3-00
【公開號】CN104550334
【申請?zhí)枴緾N201510001727
【發(fā)明人】岳薛
【申請人】蘇州市新鴻基精密部品有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2015年1月4日