專利名稱：一種消除pdp放電故障的裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及等離子顯示器(PDP)故障消除裝置及方法，尤其是一種消除PDP放電 故障的裝置及方法。
背景技術(shù)：
近來在顯示器領(lǐng)域已經(jīng)研發(fā)了各種平板顯示器，如液晶顯示器(LC D)、場致發(fā)射 顯示器(FED)以及等離子顯示器(PDP)。與其它平板顯示器相比，等離子顯示器具有更高分 辨率、更高速的發(fā)射效率和更寬闊的視角。因此，等離子顯示器作為顯示器已得到關(guān)注，并 且尤其是在大于40英寸的大尺寸顯示器中成為可以代替?zhèn)鹘y(tǒng)的陰極射線管(CRT)的顯示ο
圖1表示PDP的局部透視圖。如圖所示，該PDP包括相互對置的兩個玻璃襯底1、 6，掃描電極4和維持電極5在第一玻璃襯底1上(或下)平行成對設(shè)置，并且由介電層2 和保護膜3覆蓋。尋址電極8設(shè)置在第二玻璃襯底6上，尋址電極8由絕緣層7覆蓋。阻 隔壁9在絕緣層7上與尋址電極8平行設(shè)置，并且位于尋址電極8之間。熒光層10形成在 絕緣層7的表面上，并位于阻隔壁9的兩側(cè)上。第一和第二玻璃襯底1和6相互面對設(shè)置， 在玻璃襯底1和6之間形成放電空間11，使得掃描電極4和維持電極5可以分別與尋址電 極8相交(或橫過)。在尋址電極8的一個尋址電極與一對掃描電極4和維持電極5的相 交部分之間的放電空間11形成放電單元12。
圖2表示PDP的電極排列。如圖所示，PDP的電極具有nXm矩陣格式。尋址電極 Al至Am排列在列方向上，η個掃描電極Yl至和η個維持電極Xl至&交替排列在行方 向上。掃描電極還可以被稱為為“Y電極”，維持電極還可以被稱為“X電極”并且尋址電極 還可以被稱為“A電極”。此外，圖2的放電單元12對應(yīng)于圖1的放電單元12。為了驅(qū)動 PDP, PDP將一幀分成多個子場，并通過各個子場的組合來表示灰度級。通常每個子場包括 復(fù)位周期、尋址周期和維持周期。在復(fù)位周期，清除在先維持放電的壁電荷，并產(chǎn)生新的壁 電荷，使得穩(wěn)定進行下一尋址放電。在尋址周期，選擇面板上的開啟的單元和關(guān)閉的單元， 壁電荷聚集在開啟的單元(即尋址單元)。在維持周期，進行用于在尋址單元上實質(zhì)上顯示 圖像的放電。
該復(fù)位周期包括斜坡上升階段和斜坡下降階段。特別地，如圖3所示，在斜坡上升 階段，維持電極X和尋址電極A接地，將從電壓Vs逐步上升至電壓Vset的斜坡電壓波形施 加至掃描電極Y。當該斜坡電壓波形上升時，在尋址電極A、維持電極X和尋址電極Y上形 成壁電荷。另外，壁電壓是指由此等壁電荷在放電單元的壁上形成的電壓差。
在斜坡下降階段，維持電極X維持在電壓Ve，將從電壓Vs下降到電壓-Vnf的斜坡 電壓波形施加至掃描電極Y。掃描電極Y和尋址電極A之間產(chǎn)生微弱放電，并且在掃描電 極Y和尋址電極A之間的放電受到驅(qū)動波形的控制。在斜坡上升階段，由于復(fù)位放電形成 于掃描電極Y、維持電極X和尋址電極A上的壁電荷被該微弱放電消除。然而，隨著PDP使 用年限的增加會導(dǎo)致其內(nèi)部放電單元的內(nèi)部特性變差，維持電極X與掃描電極Y之間存在的電位差(即壁電壓)可能導(dǎo)致放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的臨界部分產(chǎn)生誤放電現(xiàn)象。 誤放電現(xiàn)象與掃描周期無關(guān)，因而該放電將會被維持。
另外，隨著PDP的使用，其放電單元內(nèi)部特性發(fā)生變化，尋址電極A與掃描電極Y 之間的壁電荷由于放電單元的MgO表面熱化而無法成功放電，可能導(dǎo)致放電區(qū)域放電不足 的現(xiàn)象，從而導(dǎo)致尋址失敗。
綜上所述，急切希望能夠提供一種方法來解決上述放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的 臨界部分誤放電和放電區(qū)域放電不足的問題。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠?qū)崟r消除PDP放電故障的裝置及方法，該PDP放電 故障包括放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間臨界部分的誤放電和放電區(qū)域的放電不足。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案是這樣的該消除PDP放電故障的裝置，包含控制器、尋址 電極驅(qū)動器、維持電極驅(qū)動器和掃描電極驅(qū)動器，其中控制器分別與尋址電極驅(qū)動器、維持 電極驅(qū)動器和掃描電極驅(qū)動器相連接，其還增設(shè)了故障診斷模塊并且在掃描電極驅(qū)動器中 增設(shè)了計數(shù)模塊、以及用于調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓的第一電壓 波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，其中故障診斷模塊與控制器相連接，計數(shù)模塊分 別與第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊相連接。
該種采用上述裝置來消除PDP放電故障的方法包含以下步驟(a)通過故障診斷模塊判定PDP放電故障類型并且向控制器發(fā)送故障信號，其中故障 信號包含第一故障信號和第二故障信號，并且放電故障類型包含放電區(qū)域與非放電區(qū)域的 臨界部分誤放電和放電區(qū)域放電不足；(b)當故障診斷模塊判定放電故障類型為放電區(qū)域與非放電區(qū)域的臨界部分誤放電則 發(fā)送第一故障信號，控制器根據(jù)第一故障信號調(diào)用第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊，第一電壓波形 調(diào)節(jié)模塊根據(jù)從計數(shù)模塊接收到的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的電壓波形；(c)當故障診斷模塊判定放電故障類型為放電區(qū)域放電不足則發(fā)送第二故障信號，控 制器根據(jù)第二故障信號調(diào)用第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊根據(jù)從計數(shù)模 塊接收到的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的電壓波形。
其中，步驟(b)中在計數(shù)模塊發(fā)送的計數(shù)信號顯示PDP的使用時間H為η*ΔΗ<Η< (η+1)*ΔΗ時，第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊使得掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電 壓-Vnf=-VSC+Un，其中-Vsc表示在尋址周期施加至掃描電極的負電壓，Δ H表示預(yù)先設(shè)定 的PDP使用時間間隔，Un=Ulrl- Δ V, Un的初始值Utl和Δ V根據(jù)PDP的不同特性而定并且為恒定值。
步驟(c)中在計數(shù)模塊發(fā)送的計數(shù)信號顯示PDP的使用時間H為η*ΔΗ<Η< (η+1)*ΔΗ時，第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊使得掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電 壓-Vnf=-VSC+Un，其中-Vsc表示在尋址周期施加至掃描電極的負電壓，Δ H表示預(yù)先設(shè)定 的PDP使用時間間隔，Un=U Δ V, Un的初始值U。和Δ V根據(jù)PDP的不同特性而定并且為恒定值。
另外，步驟(b)和步驟(c)中PDP的使用時間間隔Δ H可以為100小時，AV可以 為5V;步驟(b)初始值Utl可以為25V;步驟(c)中初始值Utl可以為0V。
綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是1.采用故障診斷模塊，使得在PDP的長期使用中，能夠?qū)崟r對發(fā)生的故障進行判定，從 而做出調(diào)節(jié)；2.采用計數(shù)模塊、第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，通過調(diào)節(jié)掃描電 極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓，消除了放電區(qū)域和非放電區(qū)域的臨界部分誤放電 和放電區(qū)域放電不足的放電故障。


本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中 圖1是等離子顯示器(PDP)的局部透視圖；圖2是等離子顯示器的電極排列圖； 圖3是傳統(tǒng)等離子顯示器的驅(qū)動波形圖； 圖4是傳統(tǒng)等離子顯示器的驅(qū)動裝置示意圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，等離子顯示器的驅(qū)動裝置的示意圖； 圖6是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，等離子顯示器的驅(qū)動波形圖。
圖中標記1為第一玻璃襯底，2為介電質(zhì)，3為保護膜，4為掃描電極，5為維持電 極，6為第二玻璃襯底，7為絕緣層，8為尋址電極，9為組隔壁，10為熒光層，11為放電空間， 12為放電單元，Al Am為尋址電極，Yl 為掃描電極以及Xl fti為維持電極。
具體實施方式
本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥 的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。
本說明書(包括任何附加權(quán)利要求、摘要和附圖)中公開的任一特征，除非特別敘 述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即，除非特別敘述，每個特征只 是一系列等效或類似特征中的一個例子而已。
如圖3所示，等離子顯示器的驅(qū)動波形在復(fù)位周期包括斜坡上升階段和斜坡下降 階段，在斜坡上升階段，維持電極X和尋址電極A接地，將從電壓Vs逐步上升至電壓Vset 的斜坡電壓波形施加至掃描電極Y。當該斜坡電壓波形上升時，在尋址電極A、維持電極X 和尋址電極Y上形成壁電荷。另外，壁電壓是指由此等壁電荷在放電單元的壁上形成的電壓差。
在斜坡下降階段，維持電極X維持在電壓Ve，將從電壓Vs下降到電壓-Vnf的斜坡 電壓波形施加至掃描電極Y。掃描電極Y和尋址電極A之間產(chǎn)生微弱放電，并且在掃描電 極Y和尋址電極A之間的放電受驅(qū)動波形控制。在斜坡上升階段，由于復(fù)位放電形成于掃 描電極Y、維持電極X和尋址電極A上的壁電荷被該微弱放電消除。
然而，隨著PDP的使用其內(nèi)部放電單元特性會發(fā)生變化，維持電極X與掃描電極Y 之間存在的電位差(即壁電壓)可能導(dǎo)致放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的臨界部分發(fā)生誤放 電現(xiàn)象。由于誤放電現(xiàn)象與掃描周期無關(guān)，因而該放電將會被維持。
另外，尋址電極A與掃描電極Y之間的壁電荷由于放電單元的MgO表面熱化而無 法成功放電，則可能導(dǎo)致放電區(qū)域放電不足的情況，從而導(dǎo)致尋址失敗。
針對上述兩種可能發(fā)生的放電故障放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的臨界部分誤放 電以及放電區(qū)域放電不足，本發(fā)明在原有等離子顯示器的驅(qū)動裝置(如圖4所示)基礎(chǔ)上 做出改進。如圖5所示，本發(fā)明中等離子顯示器驅(qū)動裝置包含尋址電極驅(qū)動器、維持電極驅(qū) 動器、掃描電極驅(qū)動器和分別與上述三者相連接的控制器，增設(shè)了與控制器相連接的故障 診斷模塊，并且在掃描電極驅(qū)動器中增設(shè)了計數(shù)模塊、第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓 波形調(diào)節(jié)模塊，其中計數(shù)模塊分別與第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊相連 接。
在等離子顯示器的使用過程中，故障診斷模塊會對使用過程中發(fā)生的放電故障類 型進行診斷，針對不同的放電故障，故障診斷模塊向控制器發(fā)出不同的故障信號，由此通過 控制器來確定相應(yīng)地調(diào)用掃描電極中的第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊或者第二電壓波形調(diào)節(jié)模 塊。
當故障診斷模塊判定放電故障類型為放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的臨界部分誤 放電，則發(fā)送第一故障信號，由控制器調(diào)用第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊。該第一電壓波形調(diào)節(jié)模 塊根據(jù)從計數(shù)模塊接收到的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的驅(qū)動波形。如上所述，誤放電現(xiàn)象的產(chǎn)生 與施加在掃描電極Y上的斜坡電壓波形相關(guān)聯(lián)，也就是說與復(fù)位周期的設(shè)計相關(guān)聯(lián)。當計 數(shù)模塊發(fā)送的計數(shù)信號顯示PDP的使用時間H為η*ΔΗ彡Η< (η+1 )* ΔH時，通過由第一電 壓波形調(diào)節(jié)模塊調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期的斜坡下降階段的終止電壓-Vnf=-VsC+Un來消 除該放電故障，其中-Vsc表示在尋址周期施加至掃描電極Y上的負電壓，ΔΗ表示預(yù)先設(shè) 定的PDP使用時間間隔，Un如圖6所示。Un=Ulri- Δ V，其中Un^1表示PDP使用時間H為(n_l) * Δ H彡Η<η* Δ H時，掃描電極Y在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓-Vnf與在尋址周期所 施加的負電壓-Vsc之間的差值，Un的初始值U0和Δ V均根據(jù)PDP屏的不用特性而定并且 均為恒定值。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，根據(jù)PDP屏的特性將Un的初始值Utl設(shè)置為25V，AV 設(shè)置為5V并且設(shè)定電壓波形變化的PDP使用時間間隔ΔΗ=100小時。當故障診斷模塊 判定該放電故障類型為放電區(qū)域與非放電區(qū)域之間的臨界部分誤放電，故障診斷模塊向 控制器發(fā)送第一故障信號，控制器根據(jù)該第一故障信號調(diào)用掃描電極驅(qū)動器中的第一電 壓波形調(diào)節(jié)模塊，該模塊根據(jù)計數(shù)模塊發(fā)出的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的電壓驅(qū)動波形(換句 話說，調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓-Vnf)。如果計數(shù)信號顯示此 時PDP的使用時間H為1*ΔΗ彡Η<2*ΔΗ，即100 hr彡H<200 hr，則將終止電壓-Vnf調(diào) 節(jié)為-Vnf =-Vsc+Ul=-Vsc+ (U0-AV) =-Vsc+(25-5) = _Vsc+20V ；顯示此時使用時間 H 為 2* Δ Η<3* Δ H，即 200 hr ^ H<300 hr，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U2=_Vsc+ (Ul-AV) =-Vsc+(20-5)= -Vsc+15V ；依次類推，使用時間 H 為 3*ΔΗ 彡 Η<4*ΔΗ，即 300 hr 彡 H<400 hr，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U3=-Vsc+(U2- Δ V)=-Vsc+ (15-5)= -Vsc+lOV ；使用時間H為4* Δ H < Η<5* Δ H,即400 hr彡H<500 hr,則將終止電壓-Vnf調(diào) 節(jié)為-Vnf =-Vsc+U4=-Vsc+ (U3-Δ V)=-Vsc+(10-5) = -Vsc+5V ；使用時間 H 為 5* Δ H 彡 H， 即 500 hr 彡 H，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U5=_Vsc+ (U4-AV) =-Vsc+(5-5) = -Vsc ο
當故障診斷模塊判定放電故障類型為放電區(qū)域放電不足，則發(fā)送第二故障信號， 由控制器調(diào)用第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊。該第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊根據(jù)從計數(shù)模塊接收到的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的驅(qū)動波形。針對放電區(qū)域放電不足這一故障，可以通過在復(fù)位周期不 完全去除尋址電極A與掃描電極Y上的壁電荷的方式實現(xiàn)有效尋址。當計數(shù)模塊發(fā)送的計 數(shù)信號顯示PDP的使用時間H為η* Δ H≤Η< (η+1)* Δ H時，通過由第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊 調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期的斜坡下降階段的終止電壓-Vnf=-VSC+&來消除該放電故障，其 中-Vsc表示在尋址周期施加至掃描電極Y上的負電壓，ΔΗ表示預(yù)先設(shè)定的PDP使用時間 間隔，Un如圖6所示。Un=Ulri+ Δ V，其中Un^1表示PDP使用時間H為(η-1 )* Δ H≤Η<η* Δ H時， 掃描電極Y在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓-Vnf與在尋址周期所施加的負電壓-Vsc 之間的差值，Un的初始值U0和Δ V均根據(jù)PDP屏的不用特性而定并且均為恒定值。
根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，根據(jù)PDP屏的特性將Un的初始值U0設(shè)置為0V， AV設(shè)置為5V并且設(shè)定電壓波形變化的PDP使用時間間隔ΔΗ=100小時。當故障診斷 模塊判定該放電故障類型為放電區(qū)域放電不足，故障診斷模塊向控制器發(fā)送第二故障信 號，控制器根據(jù)該第二故障信號調(diào)用掃描電極驅(qū)動器中的第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，該模塊 根據(jù)計數(shù)模塊發(fā)出的計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的電壓驅(qū)動波形(換句話說，調(diào)節(jié)掃描電極在 復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓-Vnf)。如果計數(shù)信號顯示此時PDP的使用時間H為 1*ΔΗ ≤ Η<2*ΔΗ，即 100 hr ≤ H<200 hr，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+Ul=-Vsc+ (U0+Δ V) =-Vsc+(0+5)= -Vsc+5V ；顯示此時使用時間 H 為 2* Δ H ≤ Η<3*ΔΗ，即 200 hr ≤ H<300 hr，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U2=-Vsc+ (Ul+Δ V)=-Vsc+(5+5)= -Vsc+lOV ；依次類推，使用時間H為3*ΔΗ≤Η<4*ΔΗ，即300 hr≤H<400 hr，則將終止電 壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U3=-Vsc+ (U2+Δ V) =-Vsc+(10+5) = _Vsc+15V ；使用時間 H 為 4*ΔΗ<Η<5*ΔΗ』Ρ400 hr ≤ H<500 hr，則將終止電壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U4=-Vsc+ (U3+AV)=-Vsc+(15+5)= -Vsc+20V ；使用時間 H 為 5*ΔΗ 彡≤ H，SP 500 hr ≤ H，則將終止電 壓-Vnf 調(diào)節(jié)為-Vnf =-Vsc+U5=-Vsc+ (U4+AV) =-Vsc+(20+5) = _Vsc+25V。
綜上所述，通過對PDP的放電故障進行實時診斷并且針對不同的放電故障類型對 掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓-Vnf進行相應(yīng)的調(diào)節(jié)，消除了在PDP的長期 使用中可能產(chǎn)生的放電故障放電區(qū)域與非放電區(qū)域臨界部分誤放電；或者放電區(qū)域放電 不足。
本發(fā)明并不局限于前述的具體實施方式
。本發(fā)明擴展到任何在本說明書中披露的 新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。
權(quán)利要求
1.一種消除PDP放電故障的裝置，包含控制器、尋址電極驅(qū)動器、維持電極驅(qū)動器和掃 描電極驅(qū)動器，其中所述控制器分別與所述尋址電極驅(qū)動器、所述維持電極驅(qū)動器和所述 掃描電極驅(qū)動器相連接，其特征在于，還增設(shè)了故障診斷模塊并且在所述掃描電極驅(qū)動器 中增設(shè)了計數(shù)模塊、以及用于調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓的第一電 壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，其中所述故障診斷模塊與所述控制器相連接， 所述計數(shù)模塊分別與所述第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和所述第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊相連接。
2.一種采用權(quán)利要求1所述裝置來消除PDP放電故障的方法，其特征在于，包含以下步驟(a)通過所述故障診斷模塊判定PDP放電故障類型并且向所述控制器發(fā)送故障信號， 其中所述故障信號包含第一故障信號和第二故障信號，并且所述放電故障類型包含放電區(qū) 域與非放電區(qū)域的臨界部分誤放電和放電區(qū)域放電不足；(b)當所述故障診斷模塊判定所述放電故障類型為所述放電區(qū)域與非放電區(qū)域的臨界 部分誤放電則發(fā)送所述第一故障信號，所述控制器根據(jù)所述第一故障信號調(diào)用所述第一電 壓波形調(diào)節(jié)模塊，所述第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊根據(jù)從所述計數(shù)模塊接收到的計數(shù)信號，輸 出相應(yīng)的電壓波形；(c)當所述故障診斷模塊判定所述放電故障類型為所述放電區(qū)域放電不足則發(fā)送所 述第二故障信號，所述控制器根據(jù)所述第二故障信號調(diào)用所述第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，所 述第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊根據(jù)從所述計數(shù)模塊接收到的所述計數(shù)信號，輸出相應(yīng)的電壓波 形。
3.如權(quán)利要求2所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述步驟(b)中 在所述計數(shù)模塊發(fā)送的所述計數(shù)信號顯示所述PDP的使用時間H為η*ΔΗ<Η< (η+1) *ΔΗ時，所述第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊使得掃描電極在復(fù)位周期的斜坡下降階段的終止電 壓-Vnf=-Vsc+Un，其中-Vsc表示在尋址周期施加至所述掃描電極的負電壓，ΔΗ表示預(yù)先 設(shè)定的PDP使用時間間隔，Un=Ulri-Δ V，所述Un的初始值Utl和所述AV根據(jù)所述PDP的不 同特性而定并且為恒定值。
4.如權(quán)利要求2所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述步驟(c)中 在所述計數(shù)模塊發(fā)送的所述計數(shù)信號顯示所述PDP的使用時間H為η*ΔΗ<Η< (η+1) *ΔΗ時，所述第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊使得掃描電極在復(fù)位周期的斜坡下降階段的終止電 壓_Vnf=_Vsc+Un，其中_Vsc表示在尋址周期施加至所述掃描電極的負電壓，Δ H表示預(yù)先 設(shè)定的PDP使用時間間隔，Un=Ulri+Δ V，所述Un的初始值U。和所述AV根據(jù)所述PDP的不 同特性而定并且為恒定值。
5.如權(quán)利要求3或4所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述使用時間間隔 ΔΗ為100小時。
6.如權(quán)利要求3所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述步驟(b)中所述初 始值U。為25V。
7.如權(quán)利要求3或4所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述AV為5V。
8.如權(quán)利要求4所述的消除PDP放電故障的方法，其特征在于，所述步驟(c)中所述初 始值U0為OV。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種消除PDP放電故障的裝置及方法，屬于等離子顯示器領(lǐng)域。該裝置增加了故障診斷模塊并且在掃描電極驅(qū)動器中增設(shè)了計數(shù)模塊、第一電壓波形調(diào)節(jié)模塊和第二電壓波形調(diào)節(jié)模塊，從而在等離子顯示器PDP的使用中能夠?qū)崟r地對發(fā)生的放電故障進行監(jiān)控，并且通過上述模塊來調(diào)節(jié)掃描電極在復(fù)位周期斜坡下降階段的終止電壓，由此消除放電區(qū)域與非放電區(qū)域的臨界部分誤放電和放電區(qū)域放電不足的故障。
文檔編號H01J9/50GK102034658SQ201010564408
公開日2011年4月27日 申請日期2010年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者呂宰榮 申請人:四川虹歐顯示器件有限公司