專利名稱：等離子體顯示平板的驅(qū)動方法和等離子體顯示設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種等離子體顯示平板(PDP)的驅(qū)動方法和等離子體顯示設(shè)備，背景技術(shù)等離子體顯示設(shè)備是一種平板顯示器，其使用通過氣體放電處理產(chǎn)生的等離子體來顯示字符或圖像。等離子體顯示設(shè)備包括其中以矩陣形式提供的多個放電單元的PDP。
等離子體顯示設(shè)備由多個子場驅(qū)動，所述子場是從幀劃分的時間間隔，且每個都具有它們各自的加權(quán)值。每個子場都具有復(fù)位周期、尋址期和維持周期。
復(fù)位周期用于初始化所述放電單元，以便穩(wěn)定地執(zhí)行下一個尋址。尋址周期用于選擇導(dǎo)通/截止放電單元(即，將被導(dǎo)通或截止的單元)。維持周期用于維持放電，以便在被尋址的放電單元上顯示圖像。
等離子體顯示設(shè)備的特征之一是PDP的放電電壓和放電特征隨溫度變化的。當(dāng)溫度增加時，放電電壓減小，而當(dāng)溫度降低時，放電電壓傾向于增加。另外，在高溫下，很容易發(fā)生在掃描電極Y和尋址電極A之間的相對放電，而在低溫下，這種相對放電很難發(fā)生。因此，當(dāng)初始化其中在先前子場期間發(fā)生維持放電的放電單元時，可以使用圖1所示的波形擦除在靠近掃描電極Y的尋址電極A上形成的壁電荷，但是，不能擦除在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷，以及大量的電荷殘存在尋址電極A上。當(dāng)大量的電荷殘存在尋址電極A上時，在后續(xù)的尋址周期期間可能產(chǎn)生尋址放電熄火。
在該背景部分中披露的上述信息僅僅被用于加強(qiáng)理解本發(fā)明的背景。因此，它可以包含對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講沒有形成已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種PDP和等離子體顯示設(shè)備，它們能夠通過對其中在先前子場期間發(fā)生維持放電的放電單元初始化來阻止在尋址周期期間熄火。
根據(jù)本發(fā)明實施例的范例性驅(qū)動方法包括將一幀分成多個子場，其包括復(fù)位周期、尋址周期和維持周期。其中，PDP包括多個第一電極、多個第二電極和在與第一和第二電極方向交叉的方向上形成的多個第三電極。
在維持周期期間，所述方法還包括交替地將多個具有第一電壓的維持放電脈沖施加到第一電極和第二電極以用于維持放電，施加擦除波形以擦除在維持周期的第一周期期間靠近第二電極形成的第三電極的壁電壓。維持周期的第一周期通常意味著這樣的周期，在該周期內(nèi)，維持周期期間用于維持電極X的最后的維持放電脈沖被施加到維持電極X。
在另一個實施例中，維持周期的第一周期主要包括將用于第二電極的最后的維持放電脈沖施加到所述第二電極的周期。
在又一個實施例中，所述擦除波形在第一周期期間具有窄于施加給第二電極的維持放電脈沖的脈沖寬度。
在還一個實施例中，所述擦除波形在第一周期期間具有低于施加到第二電極的第一電壓的電壓。
在本發(fā)明的另一實施例中，所述擦除波形在將維持電壓施加到第二電極之后利用負(fù)電壓偏置第二電極。
在本發(fā)明的又一實施例中，所述擦除波形在將維持放電脈沖施加到第二電極之后利用正電壓偏置第三電極。
在本發(fā)明的還一實施例中，維持周期期間多個維持放電脈沖中的最后的維持放電脈沖被施加到第一電極。
在本發(fā)明的再一個實施例中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，在將最后維持放電脈沖施加到第一電極之后，第一電極的電壓逐漸降低。
根據(jù)本發(fā)明另一實施例的PDP的范例性驅(qū)動方法包括在維持周期期間將維持放電脈沖施加到第一電極和第二電極，其中，PDP包括多個第一電極、多個第二電極和在與第一和第二電極的方向交叉的方向上形成的多個第三電極。
檢測PDP的溫度，和當(dāng)所檢測的溫度低于室溫時，在維持周期的第一周期期間施加用于擦除在靠近第二電極形成的第三電極的壁電壓的擦除波形。
在另一個實施例中，維持周期的第一周期主要包括用于將最后維持放電脈沖施加到第二電極的周期。
仍然是在本發(fā)明的實施例中，擦除波形在第一周期期間具有窄于施加到第二電極上的維持放電脈沖寬度的脈沖寬度。
在本發(fā)明的又一實施例中，擦除波形在第一周期期間具有低于施加到第二電極的第一電壓的電壓。
在本發(fā)明的另一實施例中，在將維持電壓施加到第二電極之后，擦除波形利用負(fù)電壓偏置第二電極。
在本發(fā)明的再一實施例中，在將維持放電脈沖施加到第二電極期間，擦除波形利用正電壓偏置第三電極。
在本發(fā)明的還一實施例中，在維持周期期間、在多個維持放電脈沖中的最后的維持放電脈沖被施加到第一電極。
還是在本發(fā)明的一實施例中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，在將最后的維持放電脈沖施加到第一電極之后，該第一電極的電壓逐漸降低。
根據(jù)本發(fā)明的包括多個掃描電極、多個維持電極和在與掃描和維持電極的方向交叉的方向上形成的多個尋址電極的PDP包括溫度檢測器、驅(qū)動器和控制器。
溫度檢測器檢測PDP的溫度。
驅(qū)動器通過在維持周期期間向掃描電極和維持電極施加維持放電脈沖在掃描電極和維持電極之間執(zhí)行維持放電。
控制器在維持周期的第一周期期間基于的PDP的溫度控制驅(qū)動器，以便可以擦除在多個尋址電極上形成的壁電荷。
在另一個實施例中，在第一周期期間，當(dāng)PDP的溫度低于第一溫度時，控制器控制驅(qū)動器，以便可以擦除在多個尋址電極上形成的壁電荷。
在本發(fā)明的又一實施例中，維持周期的第一周期包括將用于多個維持電極的最后的維持放電脈沖施加到多個維持電極的周期。
還是在本發(fā)明的一個實施例中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，驅(qū)動器初始化其中在維持周期期間發(fā)生維持放電的放電單元。


圖1示出了傳統(tǒng)PDP的驅(qū)動波形。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明范例性實施例的等離子體顯示設(shè)備，圖3示出了圖2所示的控制器的操作。
圖4示出了用于驅(qū)動擦除模式的控制器的操作。
圖5、6、7和8分別示出了根據(jù)本發(fā)明第一、第二、第三和第四范例性實施例的PDP的驅(qū)動波形。
具體實施例方式
在下面詳細(xì)的描述中，只簡單地借助于示出表示和描述了本發(fā)明的某些范例性實施例。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以認(rèn)識到，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可以各種不同方式修改所描述的范例性實施例。因此，附圖和說明書僅僅是一種表述而非限制。在整個說明書中，相同的附圖標(biāo)記表示相同的元件。
在本發(fā)明中所述的壁電荷是指在靠近放電單元的電極的壁(例如，介電層)上形成和累積的電荷。這里，雖然所述壁電荷實際并不接觸所述電極，但該壁電荷將被描述為“形成”或“累積”在所述電極上。所述壁電壓是指由壁電荷在放電單元的壁上所形成的電勢差。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明范例性實施例的等離子體顯示設(shè)備。
如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明范例性實施例的等離子體顯示設(shè)備包括PDP100、控制器200、尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400、掃描電極驅(qū)動器500和溫度檢測器600。
PDP 100包括沿列方向延伸的多個尋址電極A1到Am和沿行方向延伸并彼此成對的多個維持電極X1到Xn和多個掃描電極Y1到Y(jié)n。通常，維持電極X1到Xn分別對應(yīng)于掃描電極Y1到Y(jié)n形成。PDP 100包括其中排列有維持和掃描電極(即，X1到Xn和Y1到Y(jié)n)的基板(未示出)，和其中排列有尋址電極A1到Am的另一基板。兩個基板彼此面對放置，且其間具有放電空間，因此，掃描電極Y1到Y(jié)n和尋址電極A1到Am的方向可以彼此垂直交叉，以及維持電極X1到Xn和尋址電極A1到Am的方向也可以彼此垂直交叉。在尋址電極A1到Am與維持和掃描電極X1到Xn和Y1到Y(jié)n的交叉區(qū)域處的放電空間形成了放電單元。PDP 100的該結(jié)構(gòu)僅僅是一個例子，其它結(jié)構(gòu)的平板也可以用于本發(fā)明。
控制器200接收外部視頻信號，輸出尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號，并通過將幀分成多個具有不同亮度加權(quán)值的子場來控制等離子體顯示設(shè)備。為了擦除在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷，控制器200根據(jù)由溫度檢測器600檢測并提供給控制器200的PDP 100的溫度來輸出尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號。
尋址電極驅(qū)動器300從控制器200接收尋址電極驅(qū)動控制信號，并將用于選擇將要放電的放電單元的顯示數(shù)據(jù)信號施加到每個尋址電極A。
維持電極驅(qū)動器400從控制器200接收維持電極驅(qū)動控制信號，并將驅(qū)動電壓施加到維持電極X。
掃描電極驅(qū)動器500從控制器200接收掃描電極驅(qū)動控制信號，并將所述驅(qū)動電壓施加到掃描電極Y。
溫度檢測器600檢測PDP 100的溫度，并將其提供給控制器200。
下面將參照圖3和圖4詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明一范例性實施例的等離子體顯示設(shè)備的控制器的操作。
圖3示出了圖2所示控制器的操作。
如圖3所示，在S300，控制器200接收由溫度檢測器600檢測的PDP 100的溫度信息，并在S310將其與預(yù)定溫度(下面稱之為室溫)進(jìn)行比較。當(dāng)所檢測的溫度低于或等于室溫時，在S320，控制器200輸出用于驅(qū)動擦除模式的尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號。另一方面，當(dāng)所檢測的溫度高于室溫時，在S330，控制器200輸出用于驅(qū)動正常模式的尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號。所述擦除模式是驅(qū)動模式，用于擦除在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷，所述正常模式是根據(jù)圖1所示的通常驅(qū)動波形的典型的驅(qū)動模式。
圖4示出了用于驅(qū)動所述擦除模式的控制器的操作。
如圖4所示，當(dāng)PDP 100的溫度低于或等于室溫時，控制器200輸出用于驅(qū)動擦除模式的尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號。首先，在S421，控制器200將復(fù)位周期的控制信號輸出給尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400和掃描電極驅(qū)動器500中的每一個并使得這些驅(qū)動器300、400和500能夠向電極X、Y和A提供復(fù)位周期信號以執(zhí)行復(fù)位操作。接著，在S422，控制器200將尋址周期的控制信號輸出給尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400和掃描電極驅(qū)動器500中的每一個并使得驅(qū)動器300、400和500能夠向電極X、Y和A提供尋址周期信號以執(zhí)行尋址操作。接著，在S423，控制器200向驅(qū)動器300、400和500中的每一個輸出維持周期的控制信號并使得驅(qū)動器300、400和500能夠向電極X、Y和A提供維持周期信號以執(zhí)行維持操作。維持放電脈沖被依次施加到掃描電極Y和維持電極X。當(dāng)在S424重復(fù)施加維持放電脈沖的同時達(dá)到維持周期期間將最后的維持放電脈沖施加到維持電極X的第一周期時，在S425，控制器200輸出用于將波形施加到每個尋址和維持電極A和X的控制信號，所述波形被用于擦除在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷。
此后，將參照圖5、6、7和8詳細(xì)說明當(dāng)PDP 100的溫度低于或等于室溫時在維持周期的第一周期期間所施加的擦除波形。如上所述，維持周期的第一周期通常是指這樣一個周期，在該周期內(nèi)，在維持周期期間用于維持電極X的最后的維持放電脈沖被施加到所述維持電極X。為了更好地理解，在多個子場當(dāng)中，只描述了兩個子場，并且這兩個子場分別被稱之為第一子場和第二子場。第一子場的復(fù)位周期包括上升周期和下降周期，第二子場的復(fù)位周期只包括下降周期。在第一子場的復(fù)位周期中，初始化所有的放電單元，而在第二子場的復(fù)位周期中，只有在第一子場期間發(fā)生維持放電的放電單元被初始化。包括上升周期和下降周期的復(fù)位周期被定義為主復(fù)位周期，只包括下降周期的復(fù)位周期被定義為輔助復(fù)位周期。
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明第一范例性實施例的PDP的驅(qū)動波形。
如圖5所示，在第一子場的復(fù)位周期的上升周期期間，在保持維持電極X為0V的同時掃描電極Y的電壓從Vs增加到Vset。然后，在掃描電極Y和尋址電極A之間以及在掃描電極Y和維持電極X之間發(fā)生弱復(fù)位放電，因此，在掃描電極Y上形成負(fù)(-)的壁電荷，并在維持電極X和尋址電極A上形成正(+)電荷。
在第一子場的復(fù)位周期的下降周期期間，在保持尋址電極A的電壓為Ve的同時掃描電極Y的電壓逐漸從電壓Vs下降到負(fù)電壓Vnf。當(dāng)掃描電極Y的電壓下降時，在掃描電極Y和維持電極X和掃描電極Y和尋址電極A之間發(fā)生弱放電。因此，在掃描電極Y上形成的負(fù)(-)壁電荷以及在維持電極X和尋址電極A上形成的正(+)壁電荷被消除，并且所述放電單元被初始化。
隨后，在用于選擇導(dǎo)通放電單元的尋址周期中，負(fù)電壓VscL的掃描脈沖被隨后施加到所選擇的掃描電極Y，未被選擇的掃描電極Y在電壓VscH被偏置。電壓VscL被稱做掃描電壓，VscH被稱做非掃描電壓。具有電壓Va的尋址脈沖被施加到將被從多個放電單元中選擇的放電單元的尋址電極A，所述多個放電單元是沿著所選擇的被施加有電壓VscL的掃描電極Y形成的。沒有被選擇的尋址電極A被以參考電壓(圖5中的0V)偏置。然后，在所選擇的具有被分別施加有電壓Va和電壓VscL的尋址電極A和掃描電極Y的放電單元中，發(fā)生尋址放電。因此，在掃描電極Y上形成正(+)壁電荷，而在維持電極X上形成負(fù)(-)壁電荷。在尋址電極A上也形成負(fù)(-)壁電荷。
隨后，在第一子場的維持周期期間，具有高電平電壓(圖5中的Vs)和反相的低電平電壓(圖5中的0V)的維持放電脈沖被施加到掃描電極Y和維持電極X。當(dāng)電壓Vs被施加到掃描電極Y時，0V被施加到維持電極X，而當(dāng)電壓Vs被施加到維持電極X上時，0V被施加到掃描電極Y。由于在尋址周期期間、通過尋址放電、在掃描電極Y和維持電極X之間形成的壁電荷，在掃描電極Y和維持電極X之間發(fā)生由于所述壁電荷和所述電壓Vs所導(dǎo)致的放電。
然后，維持放電脈沖被以和所述子場的加權(quán)值對應(yīng)的數(shù)值一樣的頻率被施加到掃描電極Y和維持電極X上。
根據(jù)圖5所示本發(fā)明第一范例性實施例，在維持周期的第一周期期間所施加的維持放電脈沖的寬度T2被設(shè)置為窄寬度。這里，所述窄寬度脈沖是這樣的脈沖，該脈沖在維持周期期間具有相對施加的維持放電脈沖的電壓Vs基本等效的電壓，但具有比寬度為T1的維持放電脈沖較窄的脈沖寬度T2。例如，當(dāng)施加到掃描電極Y的維持放電脈沖的寬度T1是2到2.5μs時，在第一周期期間施加到維持電極X的維持放電脈沖的寬度T2可以被設(shè)置為1到1.5μs。
如上所述，當(dāng)在維持周期的第一周期期間施加到維持電極X上的維持放電脈沖的寬度T2被設(shè)置為較窄時，除了一般的維持放電以外，發(fā)生一短持續(xù)時間的強(qiáng)放電。因此，很難在掃描電極Y、維持電極X和尋址電極A上形成壁電荷。因此，在維持電極X和尋址電極A之間形成的壁電荷的數(shù)量減少，從而可以減少靠近維持電極X形成的尋址電極A的壁電荷。因此，對于隨后的輔助復(fù)位，能夠充分控制在尋址電極A上形成的壁電荷，并能夠阻止在尋址周期期間熄火。
在第一子場的維持周期結(jié)束以后，第二子場開始。在第二子場的復(fù)位周期期間，掃描電極Y的電壓從電壓為Vs的維持放電脈沖開始并逐漸下降到電壓Vnf。在第一子場的維持周期期間，開始電壓Vs被施加到掃描電極Y。
當(dāng)在第一子場的維持周期期間發(fā)生維持放電時，在掃描電極Y上形成負(fù)(-)壁電荷，在維持電極X和尋址電極A上形成正(+)壁電荷。因此，在施加到掃描電極Y上的電壓逐漸降低的同時，當(dāng)施加到掃描電極Y上的電壓和在放電單元上形成的壁電壓之和達(dá)到放電起火電壓時，如在第一子場的復(fù)位周期的下降周期中發(fā)生弱放電。由于掃描電極Y的最后電壓Vnf與第一子場的下降周期的最后電壓Vnf基本相同，所以，在第二子場的下降周期之后的壁電荷變得基本等效于在第一子場的下降周期之后的壁電荷。
在第一子場的尋址周期期間沒有發(fā)生尋址放電的放電單元保持在第一子場的下降周期后存在的壁電荷。由于在第一子場的下降周期之后施加到掃描電極Y上的電壓與在所述放電單元上形成的壁電荷之和被設(shè)置得接近放電起火電壓，所以，當(dāng)掃描電極Y的電壓被降低直到達(dá)到電壓Vnf時，不會發(fā)生放電。換言之，在這些放電單元中，在第二子場的復(fù)位周期期間將不會發(fā)生放電，以及在第一子場的復(fù)位周期期間建立的壁電荷狀態(tài)將被保持。
簡言之，當(dāng)子場的復(fù)位周期只包括下降周期時，只有那些在先前子場期間已經(jīng)發(fā)生過維持放電的放電單元中才會發(fā)生復(fù)位放電。在那些在先前子場期間沒有發(fā)生維持放電的其它放電單元中將不會發(fā)生復(fù)位放電。
第二子場的尋址周期和維持周期與第一子場的這些基本相同。但是，在第二子場的維持周期期間維持放電脈沖的數(shù)量是依據(jù)第二子場的加權(quán)值確定的。
在本發(fā)明的第一范例性實施例中，可以通過在維持周期的第一周期期間將維持放電脈沖的寬度T2設(shè)置得較窄來減少靠近維持電極X形成的尋址電極A的壁電荷。但是，也可以應(yīng)用在下面實施例中描述的其它方案。下面將參照圖6、圖7和圖8來描述其它的范例性實施例。
圖6、圖7和圖8分別示出了根據(jù)本發(fā)明第二、第三和第四范例性實施例的PDP的驅(qū)動波形。
如圖6所示，在維持周期的第一周期期間，在將維持放電脈沖施加到維持電極X之后，負(fù)電壓Vs1可以被施加到維持電極X。然后，所述最后的維持放電脈沖Vs被施加到掃描電極Y。
當(dāng)在第一子場的維持周期期間、通過維持放電將電壓為Vs的維持放電脈沖施加到維持電極X上時，在維持電極X上形成負(fù)(-)壁電荷，和在尋址電極A和掃描電極Y上形成正(+)壁電荷。在這種壁電荷狀態(tài)下，當(dāng)負(fù)電壓Vs1被施加到維持電極X上時，靠近該維持電極X形成的尋址電極A的壁電荷被擦除。因此，對于在第二子場期間的輔助復(fù)位，能夠充分控制在尋址電極A上形成的壁電荷，從而可以阻止在第二子場的隨后的尋址周期期間熄火。
根據(jù)圖7所示本發(fā)明第三范例性實施例，在維持周期的第一周期期間，具有低于Vs的電壓Vs2的維持放電脈沖可以被施加到維持電極X。當(dāng)?shù)陀赩s的電壓Vs2被施加到維持電極X上時，不會發(fā)生放電，也不會形成由放電所引起的壁電荷。因此，可以減少不僅尋址電極A上的壁電荷而且其它電極上的壁電荷。因此，對于在第二子場期間的輔助復(fù)位，在尋址電極上形成的壁電荷可被充分控制，并且可以阻止在尋址周期期間熄火。
如圖8所示，在第四范例性實施例中，當(dāng)電壓為Vs的最后的維持放電脈沖在維持周期的第一周期期間被施加到維持電極X上時，尋址電極A可以被偏置為具有正電壓Va。當(dāng)尋址電極A被偏置為具有正電壓Va且同時電壓Vs被施加到維持電極X上時，在維持電極X和尋址電極A之間的電壓差減小，和在維持電極X和尋址電極A之間形成的壁電荷也可以減少。與本發(fā)明的第一、第二和第三范例性實施例類似，對于在隨后的第二子場期間的輔助復(fù)位，可以充分地控制在尋址電極A上形成的壁電荷，并可以阻止在尋址周期期間熄火。
除了在本發(fā)明第一、第二、第三和第四范例性實施例中所示的波形以外，可以采用能夠減少在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷的各種波形，以阻止在隨后的尋址周期期間熄火。
在典型的等離子體顯示設(shè)備中，平板的放電電壓和放電特征是根據(jù)溫度變化的。換言之，在高溫度時，容易發(fā)生在掃描電極Y和尋址電極A之間的相對放電，而在低溫度時，不容易發(fā)生所述相對放電。
由于在低溫時很難發(fā)生在掃描電極Y和尋址電極A之間的所述相對放電，所以，當(dāng)初始化其中在先前子場期間已經(jīng)發(fā)生維持放電的放電單元時，能夠擦除在靠近掃描電極Y的尋址電極A上形成的壁電荷，但是不能擦除在靠近維持電極X的尋址電極A上形成的壁電荷，并且電荷可能殘存在尋址電極A上。
在大量電荷殘存在尋址電極A上的情況下，可能發(fā)生在稍后的尋址周期期間的尋址放電的熄火。因此，根據(jù)本發(fā)明的范例性實施例，在低溫時，通過施加用于擦除靠近維持電極X形成的尋址電極A的壁電壓的擦除波形，可以阻止在尋址周期期間熄火。
盡管已經(jīng)結(jié)合當(dāng)前認(rèn)為可以被實踐的范例性實施例描述了本發(fā)明，但應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不局限于所描述的實施例，相反，本發(fā)明試圖覆蓋包括在所附權(quán)利要求的精神和范圍及其等效物內(nèi)的各種修改及其等等效配置。
權(quán)利要求
1.一種用于在幀期間驅(qū)動等離子體顯示平板的方法，所述幀被分成多個子場，每個子場具有復(fù)位周期、尋址周期和維持周期，所述等離子體顯示平板包括沿第一方向延伸的第一電極、沿所述第一方向延伸的第二電極和在與第一電極和第二電極交叉的方向上形成的第三電極，所述方法包括在所述維持周期期間將多個具有第一電壓的維持放電脈沖交替地施加到所述第一電極和所述第二電極，以便引起維持放電；和將擦除波形施加到所述第二電極，以便在所述維持周期的第一周期期間擦除靠近所述第二電極形成的第三電極的壁電荷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述第一周期包括用于主要將最后維持放電脈沖施加到所述第二電極的周期。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述擦除波形具有比施加到所述第二電極的維持放電脈沖窄的脈沖寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述擦除波形具有在所述第一周期期間比施加到所述第二電極的第一電壓更低的電壓。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，在將維持電壓施加到所述第二電極之后，所述擦除波形以負(fù)電壓偏置所述第二電極。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，在利用正電壓偏置所述第三電極的同時，所述擦除波形將維持放電脈沖施加到所述第二電極。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，在維持周期期間、多個維持放電脈沖當(dāng)中的最后的維持放電脈沖被施加到所述第一電極。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，在將所述最后維持放電脈沖施加到所述第一電極之后，所述第一電極的電壓逐漸下降。
9.一種用于驅(qū)動等離子體顯示平板的方法，所述等離子體顯示平板具有沿第一方向形成的第一電極和第二電極，以及在和所述第一電極和第二電極交叉的方向上形成的第三電極，維持放電脈沖在維持周期期間被施加到第一電極和第二電極，所述方法包括檢測所述等離子體顯示平板的溫度；和當(dāng)所檢測的溫度低于室溫時，在所述維持周期的第一周期期間施加用于擦除靠近所述第二電極形成的所述第三電極的壁電荷的擦除波形。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述第一周期包括用于主要施加最后維持放電脈沖到所述第二電極的周期。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，在所述第一周期期間施加到所述第二電極的擦除波形具有比施加到所述第二電極的維持放電脈沖窄的脈沖寬度。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，在所述第一周期期間施加到所述第二電極的擦除波形具有比在所述第一周期之前施加到所述第二電極的第一電壓更低的電壓。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，在將維持電壓施加到所述第二電極之后，所述擦除波形以負(fù)電壓偏置所述第二電極。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，在將維持放電脈沖施加到所述第二電極的同時，所述擦除波形以正電壓偏置所述第三電極。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，在維持周期期間、在多個維持放電脈沖中的最后的維持放電脈沖被施加到所述第一電極。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，在將所述最后的維持放電脈沖施加到所述第一電極之后，所述第一電極的電壓逐漸下降。
17.一種等離子體顯示設(shè)備，包括等離子體顯示平板，其包括掃描電極、維持電極和在所述掃描電極和維持電極交叉的方向上形成的尋址電極；溫度檢測器，用于檢測所述等離子體顯示平板的溫度；驅(qū)動器，用于在維持周期期間、通過將維持放電脈沖施加到所述掃描電極和所述維持電極來執(zhí)行在所述掃描電極和所述維持電極之間的維持放電；和控制器，用于在維持周期的第一周期期間控制與所述等離子體顯示平板的溫度相對應(yīng)的所述驅(qū)動器，以便可以擦除在所述尋址電極上形成的壁電荷。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的等離子體顯示設(shè)備，其中，在所述第一周期期間，當(dāng)所述等離子體顯示平板的溫度低于第一溫度時，所述控制器控制所述驅(qū)動器，以便可以擦除在尋址電極上形成的壁電荷。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的等離子體顯示設(shè)備，其中，所述第一周期包括將用于所述維持電極的最后的維持放電脈沖施加到所述維持電極的周期。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的等離子體顯示設(shè)備，其中，在維持周期之后的復(fù)位周期期間，所述驅(qū)動器初始化其中在所述維持周期期間已經(jīng)發(fā)生了維持放電的放電單元。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明的等離子體顯示設(shè)備，當(dāng)PDP的溫度低于室溫時，在維持周期的第一周期期間，施加用于擦除靠近維持電極形成的尋址電極的壁電荷的波形。因此，為了隨后的輔助復(fù)位，可以充分控制在尋址電極上形成的壁電荷，并阻止在尋址周期期間的熄火。
文檔編號H01J17/49GK1773581SQ200510098018
公開日2006年5月17日 申請日期2005年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月9日
發(fā)明者李周烈 申請人:三星Sdi株式會社