一種雙擺鏡裝調(diào)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種雙擺鏡裝調(diào)方法，屬于光學(xué)裝調(diào)技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]在光機(jī)掃描成像系統(tǒng)中，雙擺鏡掃描是常用的一種掃描方式，與固定反射鏡部件相比，雙擺鏡掃描有利于提高系統(tǒng)的信噪比和輻射靈敏度，獲得較好的圖像質(zhì)量。目前有關(guān)雙擺鏡裝調(diào)的技術(shù)資料較少，而實(shí)際工作中尚存在以下技術(shù)問題亟待解決，即如何調(diào)試反射鏡鏡面與電機(jī)旋轉(zhuǎn)軸平行度的精度，以及雙擺鏡全行程內(nèi)兩個(gè)擺鏡鏡面平行度的精度，因此亟需一種操作簡便、實(shí)用性強(qiáng)、調(diào)試精度高的雙擺鏡裝調(diào)方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種雙擺鏡裝調(diào)方法，該方法操作簡便，實(shí)用性強(qiáng)且調(diào)試精度高。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)以上目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
[0005]—種雙擺鏡裝調(diào)方法，包括以下步驟:
[0006]1)分別標(biāo)出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并保持兩個(gè)擺鏡在后續(xù)調(diào)試過程中始終停在零位；
[0007]2)將一平晶固定在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟調(diào)校激光，使調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)，去掉該平晶，并保持調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；
[0008]3)再將一平晶固定在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)；
[0009]4)雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔0.5°?1.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回(自準(zhǔn))，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。
[0010]步驟1)中先分別找出兩個(gè)擺鏡的幾何中心(如采用萬能工具顯微鏡)，再分別做標(biāo)記。此外，在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí)一般采用電零位和機(jī)械零位兩種形式，前者通過自身測角設(shè)備顯示的零值體現(xiàn)，后者通過刻線對齊方式體現(xiàn)，在此前提下緊固擺鏡的金屬鏡架即可。
[0011]步驟2)中建立光學(xué)基準(zhǔn)是保證調(diào)校激光垂直入射掃描部件的前基準(zhǔn)面；步驟3)中建立調(diào)試基準(zhǔn)是保證兩擺鏡所在平面平行，且調(diào)校激光穿過兩擺鏡的幾何中心并與控制兩擺鏡旋轉(zhuǎn)角度的(電機(jī))轉(zhuǎn)動(dòng)軸垂直。
[0012]步驟2)、3)中將平晶(反射平晶)貼在掃描部件的前基準(zhǔn)面或后基準(zhǔn)面上即可。
[0013]步驟4)中優(yōu)選每隔1°下電。
[0014]本發(fā)明的有益效果:
[0015]本發(fā)明中雙擺鏡裝調(diào)方法包括:分別標(biāo)出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并使其始終停在零位；將一平晶固定在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟調(diào)校激光，使調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)，去掉平晶，保持調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；再將一平晶固定在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)；雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔0.5°?1.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。該方法解決了反射鏡鏡面與電機(jī)旋轉(zhuǎn)軸平行度的精度調(diào)試，以及雙擺鏡全行程內(nèi)兩個(gè)擺鏡鏡面平行度的精度調(diào)試問題，可廣泛應(yīng)用于光機(jī)雙擺鏡掃描成像系統(tǒng)的裝調(diào)，具有廣闊的應(yīng)用前景。
【附圖說明】
[0016]圖1為雙擺鏡裝調(diào)過程中各器件的安裝結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下述實(shí)施例僅對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明，但不構(gòu)成對本發(fā)明的任何限制。
[0018]實(shí)施例1
[0019]雙擺鏡裝調(diào)方法，包括以下步驟:
[0020]1)利用萬能工具顯微鏡找出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并用紅點(diǎn)標(biāo)記，保持兩個(gè)擺鏡在后續(xù)調(diào)試過程中始終停在零位；
[0021]2)將一平晶貼在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟紅色調(diào)校激光，使紅色調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)(自準(zhǔn))，再去掉平晶，保持紅色調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；
[0022]3)再將一平晶貼在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)(自準(zhǔn))；
[0023]4)雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔1°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回(自準(zhǔn))，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。
[0024]該方法通過在兩擺鏡中心標(biāo)識紅點(diǎn)并用紅色調(diào)校激光和平晶完成雙擺鏡穿軸，解決了反射鏡鏡面與電機(jī)旋轉(zhuǎn)軸平行度的精度調(diào)試，以及雙擺鏡全行程內(nèi)兩個(gè)擺鏡鏡面平行度的精度調(diào)試問題。
[0025]圖1所示為雙擺鏡裝調(diào)過程中各器件的安裝結(jié)構(gòu)示意圖，1為紅色調(diào)校激光發(fā)射器，2為建立光學(xué)基準(zhǔn)的平晶在取下前的固定位置，3為安裝有雙擺鏡的掃描部件，4為建立調(diào)試基準(zhǔn)的平晶。圖中帶箭頭的黑色實(shí)線代表調(diào)試過程中紅色調(diào)校激光的光路，其中返回光路與原光路的黑線重合。
[0026]實(shí)施例2
[0027]雙擺鏡裝調(diào)方法，包括以下步驟:
[0028]1)利用萬能工具顯微鏡找出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并用紅點(diǎn)標(biāo)記，保持兩個(gè)擺鏡在后續(xù)調(diào)試過程中始終停在零位；
[0029]2)將一平晶貼在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟紅色調(diào)校激光，使紅色調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)(自準(zhǔn))，再去掉平晶，保持紅色調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；
[0030]3)再將一平晶貼在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)(自準(zhǔn))；
[0031]4)雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔1.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回(自準(zhǔn))，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。
[0032]實(shí)施例3
[0033]雙擺鏡裝調(diào)方法，包括以下步驟:
[0034]1)利用萬能工具顯微鏡找出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并用紅點(diǎn)標(biāo)記，保持兩個(gè)擺鏡在后續(xù)調(diào)試過程中始終停在零位；
[0035]2)將一平晶貼在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟紅色調(diào)校激光，使紅色調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)(自準(zhǔn))，再去掉平晶，保持紅色調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；
[0036]3)再將一平晶貼在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)(自準(zhǔn))；
[0037]4)雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔0.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使紅色調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心紅點(diǎn)，并經(jīng)平晶沿原光路返回(自準(zhǔn))，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種雙擺鏡裝調(diào)方法，其特征在于:包括以下步驟: 1)分別標(biāo)出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并保持兩個(gè)擺鏡在后續(xù)調(diào)試過程中始終停在零位； 2)將一平晶固定在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟調(diào)校激光，使調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)，去掉該平晶，并保持調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移； 3)再將一平晶固定在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)； 4)雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔0.5°?1.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回(自準(zhǔn))，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙擺鏡裝調(diào)方法，其特征在于:步驟I)中先分別找出兩個(gè)擺鏡的幾何中心，再分別做標(biāo)記。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙擺鏡裝調(diào)方法，其特征在于:步驟4)中每隔1°下電。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種雙擺鏡裝調(diào)方法，屬于光學(xué)裝調(diào)技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：分別標(biāo)出掃描部件中兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并使其始終停在零位；將一平晶固定在掃描部件的前基準(zhǔn)面上，開啟調(diào)校激光，使調(diào)校激光經(jīng)平晶沿原光路返回，建立光學(xué)基準(zhǔn)，去掉平晶，保持調(diào)校激光和掃描部件的殼體在后續(xù)調(diào)試過程中不發(fā)生位移；再將一平晶固定在掃描部件的后基準(zhǔn)面上，調(diào)校兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，建立調(diào)試基準(zhǔn)；雙擺鏡上電擺動(dòng)，每隔0.5°～1.5°下電，微調(diào)兩個(gè)擺鏡，使調(diào)校激光依次穿過兩個(gè)擺鏡的幾何中心，并經(jīng)平晶沿原光路返回，在雙擺鏡全行程內(nèi)調(diào)校結(jié)果滿足上述技術(shù)要求，即可。
【IPC分類】G02B7/182
【公開號】CN105353497
【申請?zhí)枴緾N201510887183
【發(fā)明人】周景歡, 王亮, 張磊, 吳曉鳴, 李繼朋
【申請人】中國航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽電光設(shè)備研究所
【公開日】2016年2月24日
【申請日】2015年12月4日