本發(fā)明屬于液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體地說,涉及一種基于光電傳感器的液晶響應(yīng)時間簡易測試方法。
背景技術(shù):
目前隨著液晶行業(yè)發(fā)展,高清視頻越來越多,傳輸速度越快,所以需要更快的液晶響應(yīng)速度,所以液晶響應(yīng)時間測試尤為重要。目前行業(yè)前沿的液晶模組廠,使用的液晶響應(yīng)時間均需在實(shí)驗(yàn)室里測試,機(jī)臺重量大,面積大,成本高,操作繁瑣。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是克服上述缺陷,提供了一種基于光電傳感器的液晶響應(yīng)時間簡易測試方法,測試穩(wěn)定,成本低,攜帶方便,操作簡單,可實(shí)現(xiàn)tn、ips等液晶模組的液晶響應(yīng)時間測試,提升了液晶的生產(chǎn)效率和質(zhì)量。
為解決上述問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種基于光電傳感器的液晶響應(yīng)時間簡易測試方法,其特征在于:
所述的液晶響應(yīng)時間簡易測試設(shè)備包括與采集lcd所發(fā)出的光的光電傳感器、與光電傳感器連接的微處理器以及與微處理器連接的顯示器;所述光電傳感器與微處理器之間的電路上有電阻和adc轉(zhuǎn)換器,微處理器連接有電源接口和按鍵;
液晶響應(yīng)時間簡易測試設(shè)備的工作方法如下:按下按鍵,測試設(shè)備開始工作,光電傳感器采集lcd所發(fā)出的光,轉(zhuǎn)換為電流輸出,電阻將光電傳感器輸出的電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓,adc轉(zhuǎn)換器把光電傳感器輸出的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并輸出到微處理器,微處理器處理數(shù)字信號,并通過算法計(jì)算液晶響應(yīng)時間,并將計(jì)算出來的液晶響應(yīng)時間顯示在顯示器上;測試完成后按下按鍵停止測試。
作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案,所述微處理器采用的是單片機(jī)。
作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案,所述光電傳感器為el7900光電傳感器。
作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案,所述微處理器連接有flash模塊。
作為一種優(yōu)化的技術(shù)方案,所述顯示器采用的是led顯示器。
由于采用了上述技術(shù)方案,與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明通過光電傳感器el7900與微處理器和顯示管結(jié)合,其原理為光電傳感器el7900把圖像信號轉(zhuǎn)換成電信號,再通過微處理器對數(shù)據(jù)的處理和運(yùn)算,算出液晶響應(yīng)時間,即tr與tf。再通過顯示管顯示出來。設(shè)備面積小型化,可達(dá)5mm*8mm。
本發(fā)明測試穩(wěn)定,成本低,攜帶方便,操作簡單,可實(shí)現(xiàn)tn、ips等液晶模組的液晶響應(yīng)時間測試,提升了液晶的生產(chǎn)效率和質(zhì)量。
同時下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖;
圖2為本發(fā)明的電路原理圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例:
如圖1所示,液晶響應(yīng)時間簡易測試設(shè)備包括與采集lcd所發(fā)出的光的光電傳感器、與光電傳感器連接的微處理器以及與微處理器連接的顯示器;所述光電傳感器與微處理器之間的電路上有電阻和adc轉(zhuǎn)換器,微處理器連接有電源接口和按鍵。
液晶響應(yīng)時間簡易測試設(shè)備的工作方法如下:按下按鍵,測試設(shè)備開始工作,光電傳感器采集lcd所發(fā)出的光,轉(zhuǎn)換為電流輸出,電阻將光電傳感器輸出的電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓,adc轉(zhuǎn)換器把光電傳感器輸出的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并輸出到微處理器,微處理器處理數(shù)字信號,并通過算法計(jì)算液晶響應(yīng)時間,并將計(jì)算出來的液晶響應(yīng)時間顯示在顯示器上;測試完成后按下按鍵停止測試。
所述微處理器采用的是單片機(jī)。所述光電傳感器為el7900光電傳感器。所述微處理器連接有flash模塊。所述顯示器采用的是led顯示器。
本發(fā)明通過光電傳感器el7900與微處理器和顯示管結(jié)合,其原理為光電傳感器el7900把圖像信號轉(zhuǎn)換成電信號,再通過微處理器對數(shù)據(jù)的處理和運(yùn)算,算出液晶響應(yīng)時間,即tr與tf。再通過顯示管顯示出來。設(shè)備面積小型化,可達(dá)5mm*8mm。
本發(fā)明測試穩(wěn)定,成本低,攜帶方便,操作簡單,可實(shí)現(xiàn)tn、ips等液晶模組的液晶響應(yīng)時間測試,提升了液晶的生產(chǎn)效率和質(zhì)量。
本發(fā)明不局限于上述的優(yōu)選實(shí)施方式,任何人應(yīng)該得知在本發(fā)明的啟示下做出的結(jié)構(gòu)變化,凡是與本發(fā)明具有相同或者相近似的技術(shù)方案,均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
使用協(xié)議| 關(guān)于我們| 聯(lián)系X技術(shù)
? 2008-2024 【X技術(shù)】 版權(quán)所有,并保留所有權(quán)利。津ICP備16005673號-2