一種顯示面板識別系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、識別方法及檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種顯示面板識別系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、識別方法及檢測方法，該顯示面板識別系統(tǒng)用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，包括：定位裝置，用于確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標；處理裝置，用于根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板，并在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。通過本發(fā)明，當檢測出位于檢測機臺上的一基板上的某個顯示面板出現(xiàn)缺陷時，可以自動在該基板的映射圖中尋找并標記出該顯示面板，無需操作員手動尋找，節(jié)省了尋找時間，并提高了尋找的準確度，從而進一步提高了產(chǎn)品的測試速度以及提升了品質(zhì)監(jiān)控。
【專利說明】一種顯示面板識別系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、識別方法及檢測方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及基板檢測【技術領域】，尤其涉及一種顯示面板識別系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、識別方法及檢測方法。

【背景技術】
[0002]當包括多個顯示面板(panel)的基板完成所有工序的制作后,會通過Macro (宏觀檢測機)設備進行宏觀品質(zhì)的全檢，當宏觀檢測機的操作員(OP)發(fā)現(xiàn)基板上的某個顯示面板存在NG(不合格)缺陷時，會手動在Macro PC軟件的映射圖(Map)上選擇該顯示面板，并將其判定為不合格的顯示面板。
[0003]目前，TFT-1XD行業(yè)8.5代線工廠在生產(chǎn)大尺寸(32寸或46寸等)顯示面板的同時，也會大量的生產(chǎn)小尺寸(7寸或8寸等)顯示面板，生產(chǎn)大尺寸顯示面板時，一張基板包括8到40個顯示面板，當操作員發(fā)現(xiàn)某個顯示面板出現(xiàn)NG缺陷時，可以輕松的在映射圖上找出該顯示面板，并將其判為不合格的顯示面板。但是當生產(chǎn)小尺寸顯示面板時，一張基板有可能包括超過300個顯示面板，當操作員發(fā)現(xiàn)某個顯示面板存在NG缺陷時，由于顯示面板數(shù)量過多，操作員需要花費較長時間在映射圖上尋找目標顯示面板，將其判為不合格的顯示面板，并且手動尋找容易出錯，對產(chǎn)品的出貨速度以及品質(zhì)的監(jiān)控都產(chǎn)生了較大的影響。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明提供一種顯示面板識別系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、識別方法及檢測方法，當檢測出一基板上的某個顯示面板出現(xiàn)缺陷時，可以自動在該基板的映射圖中標記出該顯示面板。
[0005]為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種顯示面板識別系統(tǒng)，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，包括:
[0006]定位裝置，用于確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標；
[0007]處理裝置，用于根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板，并在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0008]優(yōu)選地，所述定位裝置包括:
[0009]光線發(fā)射器，包括固定底座以及固定在所述固定底座上并能繞所述固定底座旋轉(zhuǎn)的光線發(fā)射頭，所述光線發(fā)射頭發(fā)射的光線范圍能夠覆蓋位于檢測機臺上的所述基板；
[0010]計算模塊，用于在所述光線發(fā)射頭發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度，并獲取所述基板與所述光線發(fā)射器之間的垂直距離，根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
[0011]優(yōu)選地，所述光線發(fā)射器為激光發(fā)射器。
[0012]優(yōu)選地，所述處理裝置，具體用于獲取所述基板上的各顯示面板的中心點的坐標，并根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點與各顯示面板的中心點的距離，從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
[0013]本發(fā)明還提供一種顯示面板檢測系統(tǒng)，包括用于放置并檢測包括多個顯示面板的基板的檢測機臺以及上述顯示面板識別系統(tǒng)。
[0014]本發(fā)明還提供一種顯示面板識別方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，包括:
[0015]確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標；
[0016]根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板；
[0017]在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0018]優(yōu)選地，所述確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟包括:
[0019]當一光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度；
[0020]獲取所述基板與所述光線發(fā)射器之間的垂直距離；
[0021]根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
[0022]優(yōu)選地，在執(zhí)行確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟時，位于檢測機臺上的基板為豎直且正面朝向所述光線發(fā)射器的方向設置。
[0023]優(yōu)選地，所述根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板的步驟包括:
[0024]獲取所述基板上的各顯示面板的中心點的坐標；
[0025]根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點與各顯示面板的中心點的距離；
[0026]從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
[0027]本發(fā)明還提供一種顯示面板檢測方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，包括:
[0028]將包含多個顯示面板的基板放置到檢測機臺上；
[0029]通過檢測機臺對所述基板中的各顯示面板進行檢測；
[0030]當檢測到一顯示面板為不合格的顯示面板時，控制光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭繞固定底座旋轉(zhuǎn)，使得光線發(fā)射頭發(fā)射的光線落入所述不合格的顯示面板上，并在所述不合格的顯示面板上形成指定點；
[0031]確定所述指定點的坐標；
[0032]根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板；
[0033]在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0034]本發(fā)明的上述技術方案的有益效果如下:
[0035]當檢測出位于檢測機臺上的一基板上的某個顯示面板出現(xiàn)缺陷時，可以自動在該基板的映射圖中尋找并標記出該顯示面板，無需操作員手動尋找，節(jié)省了尋找時間，并提高了尋找的準確度，從而進一步提高了產(chǎn)品的測試速度以及提升了品質(zhì)監(jiān)控。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0036]圖1為本發(fā)明實施例的基板的映射圖的示意圖；
[0037]圖2為本發(fā)明實施例的定位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖3為本發(fā)明實施例的光線發(fā)射器與基板的位置關系示意圖；
[0039]圖4為本發(fā)明實施例的基板坐標系的不意圖；
[0040]圖5和圖6為本發(fā)明實施例的指定點坐標的計算方法示意圖；
[0041]圖7為本發(fā)明實施例的基板上的各顯不面板的中心點坐標的不意圖；
[0042]圖8為本發(fā)明實施例的基板上的各顯示面板的中心點與指定點之間的距離的計算方法示意圖；
[0043]圖9為本發(fā)明實施例的目標顯示面板的標記方法示意圖；
[0044]圖10為本發(fā)明實施例的顯示面板識別方法的流程示意圖；
[0045]圖11為本發(fā)明實施例的顯示面板檢測方法的流程示意圖。

【具體實施方式】
[0046]為使本發(fā)明要解決的技術問題、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實施例進行詳細描述。
[0047]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板識別系統(tǒng)，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，該識別系統(tǒng)包括:
[0048]定位裝置，用于確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標；
[0049]處理裝置，用于根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板，并在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0050]請參考圖1，圖1為本發(fā)明實施例的基板的映射圖的示意圖，從圖1中可以看出，當基板包括的顯示面板的數(shù)量較多時，如果人工在映射圖上尋找目標顯示面板，需要花費較長時間。
[0051]通過上述識別系統(tǒng)，當檢測出位于檢測機臺上的一基板上的某個顯示面板出現(xiàn)缺陷時，可以自動在該基板的映射圖中尋找并標記出該顯示面板，無需操作員手動尋找，節(jié)省了尋找時間，并提高了尋找的準確度，從而進一步提高了產(chǎn)品的測試速度以及提升了品質(zhì)監(jiān)控。
[0052]下面舉例對上述定位裝置的結(jié)構(gòu)進行詳細說明。
[0053]請參考圖2，圖2為本發(fā)明實施例的定位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，該定位裝置包括:
[0054]光線發(fā)射器10，包括固定底座11以及固定在所述固定底座11上并能繞所述固定底座11旋轉(zhuǎn)的光線發(fā)射頭12，所述光線發(fā)射頭12發(fā)射的光線范圍能夠覆蓋位于檢測機臺上的所述基板；優(yōu)選地，所述光線發(fā)射頭12能夠繞固定底座360度旋轉(zhuǎn)。
[0055]計算模塊20，用于在所述光線發(fā)射頭12發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭12在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度，并獲取所述基板與所述光線發(fā)射器10之間的垂直距離，根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
[0056]優(yōu)選地，所述光線發(fā)射器10為激光發(fā)射器，當然，也可以為其他可見光發(fā)射器。
[0057]優(yōu)選地，所述光線發(fā)射器10還包括:檢測模塊(圖未示出)，用于檢測所述光線發(fā)射頭12在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度。該檢測模塊可設置在光線發(fā)射器10的固定底座11中。當然，在本發(fā)明的一些實施例中，所述光線發(fā)射器10也可以不包括檢測模塊，而是由人工檢測所述光線發(fā)射頭12在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度。
[0058]當所述光線發(fā)射器10包括所述檢測模塊時，所述計算模塊20可與所述光線發(fā)射器10中的檢測模塊連接，自動獲取所述光線發(fā)射頭12在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度。所述計算模塊20可以為一微型處理芯片，該微型處理芯片可集成在所述光線發(fā)射器10上，例如設置在光線發(fā)射器10的固定底座11中。所述計算模塊20也可以為一微型處理計算機，通過有線或無線的方式與該光線發(fā)射器10連接。
[0059]當所述光線發(fā)射器10可以不包括檢測模塊時，所述計算模塊20也可以為一具有輸入界面的微型處理計算機，通過人工方式檢測所述光線發(fā)射頭12在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度，并將檢測結(jié)果人工輸入至微型處理計算機。
[0060]請參考圖3，該光線發(fā)射器10可以固定在一操作臺上，優(yōu)選地固定在該操作臺的中心位置，該操作臺與用于放置基板30的檢測機臺相對設置，在進行上述指定點坐標的檢測時，優(yōu)選地，位于檢測機臺上的基板30為豎直且正面朝向所述光線發(fā)射器10的方向設置，即檢測機臺處于90度。當然，在本發(fā)明的其他實施例中，在進行指定點坐標的檢測時，位于檢測機臺上的基板30也可以呈其他角度設置，只要預先得知基板的傾角，即可計算出指定點的坐標。
[0061]下面舉例對具體如何計算所述指定點的坐標的方法進行詳細說明。
[0062]I)建立一基板坐標系，請參考圖4，該基板坐標系為平面直角坐標系，坐標系的X軸(水平方向的數(shù)軸)和Y軸(垂直方向的數(shù)軸)均位于基板30所在的平面內(nèi)，且互相垂直，X軸和Y軸的交點位于基板30的中心位置，并作為坐標原點O。
[0063]2)將光線發(fā)射器10固定在一操作臺的中心位置，該操作臺與用于放置基板30的檢測機臺相對設置，且光線發(fā)射器10的光線發(fā)射頭在X軸和Y軸方向上的旋轉(zhuǎn)角度為O度(即光線發(fā)射頭與固定底座在Y軸方向呈90度夾角)時，光線發(fā)射頭發(fā)射的光線與基板30的交點即基板坐標系的坐標原點O。請參考圖5和圖6，當光線發(fā)射器10指向基板30上的指定點P時，計算模塊(圖未示出)獲取光線發(fā)射器10的光線發(fā)射頭在X軸方向(水平方向)上的旋轉(zhuǎn)角度Θ，以及在Y軸方向(垂直方向)上的旋轉(zhuǎn)角度β。
[0064]3)請參考圖5，在Y軸方向上，根據(jù)tan Θ = A/L，可以得出指定點P在Y軸方向上的坐標A = L = tan Θ。請參考圖6,在X軸方向上,根據(jù)tan β = B/L,可以得出指定點P在X軸方向上的坐標B = LXtanP，從而得到指定點P的坐標(A，B)，其中，L為光線發(fā)射器10與位于檢測機臺上的基板30之間的垂直距離，此時位于檢測機臺上的基板30為豎直且正面朝向所述光線發(fā)射器10的方向設置，該距離可以測量并記錄在所述計算模塊中。
[0065]當然，本發(fā)明實施例中，也不排除采用其他方法獲取所述指定點的坐標，在此不再詳細說明。
[0066]下面舉例對上述處理裝置如何確定所述指定點所在的目標顯示面板的方法進行詳細說明。
[0067]I)請參考圖7，所述處理裝置可以首先獲取所述基板上的各顯示面板的中心點的坐標(xl, yl)、(x2, y2)、(x3, y3)......。
[0068]具體的，所述處理裝置可以針對包括各種尺寸的顯示面板的基板，存儲各顯示面板的中心點的坐標。
[0069]2)請參考圖8，所述處理裝置根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點P(A, B)與各顯示面板的中心點(xl，yl)、(x2, y2)、(x3, y3)......的距離。
[0070]具體的，所述指定點與各顯示面板的中心點的距離的計算公式為:
[°°71] J (B-xl) 2 + (A —yl)2、J (B —x2) 2 + (A-y2)2……
[0072]3)所述處理裝置從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
[0073]4)請參考圖9，所述處理裝置在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。具體地，可以通過修改目標顯示面板底色等或者將顯示面板用線條框住等方式，標記出目標顯示面板。
[0074]當然，在本發(fā)明的其他實施例中，也可以通過其他方法確定所述指定點所在的目標顯示面板,例如,記錄各顯示面板的坐標點的范圍,判斷指定點位于哪一顯示面板的坐標點的范圍內(nèi)，從而確定所述指定點所在的目標顯示面板。
[0075]本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板檢測系統(tǒng)，包括用于放置并檢測包括多個顯示面板的基板的檢測機臺，以及上述任實施例所述的顯示面板識別系統(tǒng)。該顯示面板檢測系統(tǒng)可以為Macro設備，或者為其他可以檢測基板缺陷的設備。
[0076]請參考圖10，本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板識別方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，該方法包括以下步驟:
[0077]步驟SlOl:確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標；
[0078]步驟S102:根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板；
[0079]步驟S103:在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0080]優(yōu)選地，上述步驟101中確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟可以包括:
[0081]步驟SlOll:當一光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度；
[0082]步驟S1012:獲取所述基板與所述光線發(fā)射器之間的垂直距離；
[0083]步驟S1031:根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
[0084]該光線發(fā)射器的結(jié)構(gòu)請參考上述實施例，在此不再贅述。
[0085]優(yōu)選地，在執(zhí)行確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟時，位于檢測機臺上的基板為豎直且正面朝向所述光線發(fā)射器的方向設置。
[0086]優(yōu)選地，上述步驟S102中根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板的步驟可以包括:
[0087]步驟S1021:犾取所述基板上的各顯不面板的中心點的坐標；
[0088]步驟S1022:根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點與各顯示面板的中心點的距離；
[0089]步驟S1023:從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
[0090]請參考圖11，本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板檢測方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，該方法包括:
[0091]步驟Slll:將包含多個顯示面板的基板放置到檢測機臺上；
[0092]步驟SI 12:通過檢測機臺對所述基板中的各顯示面板進行檢測；
[0093]步驟S113:當檢測到一顯示面板為不合格的顯示面板時，控制光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭繞固定底座旋轉(zhuǎn)，使得光線發(fā)射頭發(fā)射的光線落入所述不合格的顯示面板上，并在所述不合格的顯示面板上形成指定點；
[0094]步驟SI 14:確定所述指定點的坐標；
[0095]步驟S115:根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板；
[0096]步驟S116:在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
[0097]檢測完成后，將檢測完畢的基板排出。
[0098]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明所述原理的前提下，還可以作出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種顯示面板識別系統(tǒng)，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，其特征在于，包括: 定位裝置，用于確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標； 處理裝置，用于根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板，并在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板識別系統(tǒng)，其特征在于，所述定位裝置包括: 光線發(fā)射器，包括固定底座以及固定在所述固定底座上并能繞所述固定底座旋轉(zhuǎn)的光線發(fā)射頭，所述光線發(fā)射頭發(fā)射的光線范圍能夠覆蓋位于檢測機臺上的所述基板； 計算模塊，用于在所述光線發(fā)射頭發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度，并獲取所述基板與所述光線發(fā)射器之間的垂直距離，根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板識別系統(tǒng)，其特征在于，所述光線發(fā)射器為激光發(fā)射器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板識別系統(tǒng)，其特征在于， 所述處理裝置，具體用于獲取所述基板上的各顯示面板的中心點的坐標，并根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點與各顯示面板的中心點的距離，從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
5.一種顯示面板檢測系統(tǒng)，包括用于放置并檢測包括多個顯示面板的基板的檢測機臺，其特征在于，還包括權(quán)利要求1-4任一項所述的顯示面板識別系統(tǒng)。
6.一種顯示面板識別方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，其特征在于，包括: 確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標； 根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板； 在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板識別方法，其特征在于，所述確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟包括: 當一光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭發(fā)射的光線指向位于檢測機臺上的所述基板并在所述基板上形成指定點時，獲取所述光線發(fā)射頭在水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度； 獲取所述基板與所述光線發(fā)射器之間的垂直距離； 根據(jù)所述水平方向和垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度及所述垂直距離，計算所述指定點的坐標。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示面板識別方法，其特征在于，在執(zhí)行確定位于檢測機臺上的基板上的指定點的坐標的步驟時，位于檢測機臺上的基板為豎直且正面朝向所述光線發(fā)射器的方向設置。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板識別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板的步驟包括: 獲取所述基板上的各顯示面板的中心點的坐標； 根據(jù)所述指定點的坐標及各顯示面板的中心點的坐標，計算所述指定點與各顯示面板的中心點的距離； 從所述指定點與各顯示面板的中心點的距離中選擇最小值，確定所述最小值對應的顯示面板為所述指定點所在的目標顯示面板。
10.一種顯示面板檢測方法，用于從包括多個顯示面板的基板的映射圖中識別出目標顯示面板，其特征在于，包括: 將包含多個顯示面板的基板放置到檢測機臺上； 通過檢測機臺對所述基板中的各顯示面板進行檢測； 當檢測到一顯示面板為不合格的顯示面板時，控制光線發(fā)射器的光線發(fā)射頭繞固定底座旋轉(zhuǎn)，使得光線發(fā)射頭發(fā)射的光線落入所述不合格的顯示面板上，并在所述不合格的顯示面板上形成指定點； 確定所述指定點的坐標； 根據(jù)所述指定點的坐標，確定所述指定點所在的目標顯示面板； 在所述基板的映射圖中標記出所述目標顯示面板。
【文檔編號】G02F1/13GK104317079SQ201410593537
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年10月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月29日
【發(fā)明者】毛繼禹, 張然, 宮桐杰, 田陳陳 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方顯示技術有限公司