液晶顯示面板的檢查方法和液晶顯示面板的檢查裝置制造方法
【專利摘要】為了適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行液晶顯示面板的檢查，將檢查對(duì)象的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝，得到第1圖像數(shù)據(jù)，基于第1圖像數(shù)據(jù)和規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)檢測(cè)液晶顯示面板的缺陷，規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)是相當(dāng)于將不具有亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝時(shí)所得圖像數(shù)據(jù)的圖像數(shù)據(jù)，在上述缺陷檢測(cè)中，通過(guò)將第1圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像中的第2圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像除去(S103)，從而檢測(cè)液晶顯示面板的缺陷。
【專利說(shuō)明】液晶顯示面板的檢查方法和液晶顯示面板的檢查裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及用于檢查液晶顯示面板中有無(wú)缺陷的檢查方法和檢查裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為了得到能進(jìn)行高質(zhì)量的圖像顯示的液晶顯示面板，提出了各種液晶顯示面板的顯示缺陷的自動(dòng)檢查方法。例如提出了如下方法:由背光源照射液晶顯示面板，由拍攝裝置、例如使用CCD (charge-coupled device:電荷稱合器件)的照相機(jī)對(duì)液晶顯示面板的缺陷進(jìn)行拍攝，由此檢查液晶顯示面板有無(wú)顯示缺陷。
[0003]更具體地，例如，使與液晶顯示面板的背面相對(duì)配置的背光源點(diǎn)亮，由以與液晶顯示面板的表面相對(duì)的方式配置的CCD照相機(jī)對(duì)透射過(guò)液晶顯示面板的背光源光進(jìn)行拍攝，由此檢查液晶顯示面板的缺陷(例如，參照專利文獻(xiàn)I)。
_4] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0005]專利文獻(xiàn)
[0006]專利文獻(xiàn)1:特開(kāi)平11 - 326123號(hào)公報(bào)
【發(fā)明內(nèi)容】
_7] 發(fā)明要解決的問(wèn)題
[0008]但是，在上述專利文獻(xiàn)I記載的液晶顯示面板的檢查方法中，在背光源的表面附著有塵埃、臟東西等異物的情況下，不僅液晶顯示面板自身的缺陷，附著于背光源的表面的異物也被CCD照相機(jī)拍攝。因此，有如下問(wèn)題:有時(shí)不能適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行液晶顯示面板的檢查。
[0009]本發(fā)明是鑒于這樣的方面完成的，其目的在于:即使在背光源的表面附著有塵埃、臟東西等異物的情況下，也能適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行液晶顯示面板的檢查。
[0010]用于解決問(wèn)題的方案
[0011]第I發(fā)明是液晶顯示面板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包含:
[0012]拍攝工序，將檢查對(duì)象的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝，得到第I圖像數(shù)據(jù)；以及
[0013]缺陷檢測(cè)工序，基于上述第I圖像數(shù)據(jù)和規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷，
[0014]上述規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)是相當(dāng)于將不具有亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝時(shí)所得圖像數(shù)據(jù)的圖像數(shù)據(jù)，
[0015]在上述缺陷檢測(cè)工序中，通過(guò)將第I圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像中的第2圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像除去，從而檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷。
[0016]由此，即使在背光源的表面附著有塵埃、臟東西等異物的情況下，也能將上述背光源上的異物導(dǎo)致的亮點(diǎn)圖像除去，能適當(dāng)?shù)貦z查液晶顯示面板的缺陷。
[0017]第2發(fā)明是根據(jù)第I發(fā)明的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0018]在上述缺陷檢測(cè)工序中，按第I圖像數(shù)據(jù)和第2圖像數(shù)據(jù)中的各像素，基于將上述各像素的亮度和周圍的多個(gè)像素的亮度的平均值的差除以上述平均值所得的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)，檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷。
[0019]第3發(fā)明是根據(jù)第2發(fā)明的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0020]上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板具備彩色濾光片，
[0021 ] 上述各像素及其周圍的多個(gè)像素都是相互顏色相同的像素。
[0022]由此，可補(bǔ)償與液晶顯示面板中的各像素的顏色相應(yīng)的拍攝靈敏度的差異等，所以能容易進(jìn)行適當(dāng)?shù)臋z查。
[0023]第4發(fā)明是根據(jù)第2發(fā)明或第3發(fā)明所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0024]上述各像素與其周圍的多個(gè)像素是離開(kāi)規(guī)定距離的像素。
[0025]由此，通過(guò)使用異物大小的范圍外的像素的亮度，能在不受到異物的影響的情況下使亮度標(biāo)準(zhǔn)化。
[0026]第5發(fā)明是根據(jù)第I發(fā)明至第4發(fā)明中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0027]在上述缺陷檢測(cè)工序中，在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的數(shù)量為規(guī)定數(shù)量以下的情況下，判定為不是缺陷。
[0028]第6發(fā)明是根據(jù)第5發(fā)明的液晶顯示面板的檢查方法，是根據(jù)第I發(fā)明至第5發(fā)明中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0029]在上述缺陷檢測(cè)工序中，在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的總亮度為規(guī)定值以下的情況下，判定為不是缺陷。
[0030]第7發(fā)明是根據(jù)第5發(fā)明或第6發(fā)明所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0031]在上述缺陷檢測(cè)工序中，
[0032]在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的亮度的平均值為規(guī)定值以下，并且，
[0033]上述像素組內(nèi)的規(guī)定數(shù)量的亮度居上位的像素的區(qū)域的大小為規(guī)定大小以下的情況下，判定為不是缺陷。
[0034]由此，即使在例如產(chǎn)生所謂的不均勻、液晶顯示面板的帶電等的情況下，也能將其與異物等導(dǎo)致的液晶顯示面板的缺陷區(qū)別開(kāi)，能防止錯(cuò)誤檢測(cè)。
[0035]第8發(fā)明是根據(jù)第5發(fā)明至第7發(fā)明中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于，
[0036]在上述缺陷檢測(cè)工序中，
[0037]在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的亮度的平均值為規(guī)定值以下，并且，
[0038]上述像素組內(nèi)的規(guī)定數(shù)量的亮度居上位的像素的區(qū)域的大小超出規(guī)定大小的情況下，判定為是異物的附著導(dǎo)致的液晶顯示面板的缺陷。
[0039]由此，能將異物向液晶顯示面板的附著導(dǎo)致的缺陷與關(guān)于液晶顯示面板的各顯示像素自身的亮點(diǎn)缺陷區(qū)別開(kāi)，并且即使在產(chǎn)生液晶顯示面板的帶電等的情況下，也能防止錯(cuò)誤檢測(cè)。
[0040]第9發(fā)明是根據(jù)第5發(fā)明至第7發(fā)明中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，
[0041]在上述缺陷檢測(cè)工序中，
[0042]在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的數(shù)量超出規(guī)定數(shù)量，并且，
[0043]上述像素組中的像素的總亮度超出規(guī)定值，并且，
[0044]上述像素組中的像素的亮度的平均值超出規(guī)定值的情況下，判定為是關(guān)于液晶顯示面板中的顯示像素的缺陷。
[0045]由此，能將關(guān)于液晶顯示面板的各顯示像素自身的亮點(diǎn)缺陷與異物向液晶顯示面板的附著導(dǎo)致的缺陷區(qū)別開(kāi)。
[0046]發(fā)明效果
[0047]根據(jù)本發(fā)明，即使在背光源的表面附著有塵埃、臟東西等異物的情況下，也能適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行液晶顯示面板的檢查。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0048]圖1是示出包含本發(fā)明的實(shí)施方式的檢查裝置101的檢查系統(tǒng)的概略構(gòu)成的框圖。
[0049]圖2是示出由檢查裝置101進(jìn)行的處理的流程圖。
[0050]圖3是示出圖像數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)化的例子的說(shuō)明圖。
[0051]圖4是示出圖像數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)化的具體運(yùn)算例子的說(shuō)明圖。
[0052]圖5是示出由附著于背光源的異物引起的亮點(diǎn)圖像的除去的例子的說(shuō)明圖。
[0053]圖6是示出缺陷判斷的例子的說(shuō)明圖。
【具體實(shí)施方式】
[0054]以下基于附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式的例子。
[0055]如圖1所示，對(duì)作為檢查對(duì)象的液晶顯示面板104進(jìn)行檢查的檢查裝置101 (拍攝處理部、缺陷檢測(cè)部)連接有例如使用CXD的照相機(jī)102，對(duì)配置于上述照相機(jī)102與背光源103之間的液晶顯示面板104進(jìn)行拍攝所得的圖像的圖像數(shù)據(jù)(第I圖像數(shù)據(jù))輸入到檢查裝置101。上述背光源103是在背光源主體部103a上設(shè)置偏振板103b而成的。液晶顯示面板104是在液晶面板104a上設(shè)置彩色濾光片104b而成的。
[0056]檢查裝置101用照相機(jī)102對(duì)例如背光源103的照射光從液晶顯示面板104的背面?zhèn)日丈浜笸干溥^(guò)液晶顯示面板104的光進(jìn)行拍攝，檢測(cè)顯示缺陷。具體地，在檢查裝置101中進(jìn)行例如圖2和以下所示的處理。
[0057](SlOl)首先，為了補(bǔ)償與液晶顯示面板104中的各像素的顏色相應(yīng)的拍攝靈敏度的差異而進(jìn)行亮度的標(biāo)準(zhǔn)化。即，當(dāng)關(guān)注例如圖3所示的中央的紅色的像素Re時(shí)，使用離開(kāi)距離r以上的規(guī)定距離(例如縱橫距離)的周圍的8個(gè)相同顏色的像素Rp2的平均亮度進(jìn)行如下運(yùn)算。在此，在圖3中，為了簡(jiǎn)化說(shuō)明，省略綠色和藍(lán)色的像素，僅繪出關(guān)注像素Re和周邊的距離r內(nèi)外的各8個(gè)紅色的像素Rpl、Rp2。
[0058]標(biāo)準(zhǔn)化亮度=100 X (Re的亮度一 Rp2的平均亮度)/Rp2的平均亮度
[0059]其中，在運(yùn)算結(jié)果為負(fù)的情況下設(shè)為O。
[0060]具體地，例如關(guān)于所拍攝的圖像，當(dāng)假設(shè)離開(kāi)上述規(guī)定距離的相同顏色的各像素為如圖4所示的亮度時(shí)，對(duì)該圖的中央附近的亮度為50的像素來(lái)說(shuō)，標(biāo)準(zhǔn)化亮度=100X (50 - 20)/20 = 150，對(duì)亮度為20的像素來(lái)說(shuō)，標(biāo)準(zhǔn)化亮度=100X (20 一23.75) /23.75 = — 57.89 (因此為 O)。
[0061]在此，如上所述使用離開(kāi)規(guī)定距離的像素(例如不是圖3的Rpl而是Rp2)的亮度進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化是因?yàn)?在由于附著于背光源103的表面、液晶顯示面板104的內(nèi)部的異物P1、P2(圖1)而產(chǎn)生亮點(diǎn)的情況下，當(dāng)使用該異物大小的范圍的像素的亮度時(shí)，不能進(jìn)行適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)化。上述的異物不限于單一異物，可以是例如大小為I?2μπι程度的小異物聚集的粒狀的異物聚集物等。另外，液晶顯示面板104中相同顏色的像素的間距與照相機(jī)102中的照相機(jī)像素的21像素的間距對(duì)應(yīng)，假設(shè)照相機(jī)像素的I個(gè)像素的間距為131 μ m,當(dāng)將照相機(jī)102中離開(kāi)21個(gè)像素或者42個(gè)像素的照相機(jī)像素分別設(shè)為Rpl、Rp2時(shí)，Rc、Rpl間的距離和Re、Rp2間的距離分別成為約2.75mm或者約5.5mm。因此，當(dāng)假設(shè)例如位于像素Re的位置的上述的異物在照相機(jī)像素上的大小為3mm時(shí)，像素Rpl是異物內(nèi)(亮點(diǎn)區(qū)域內(nèi))的像素，而像素Rp2成為異物外(亮點(diǎn)區(qū)域外)的像素，所以，通過(guò)如上所述使用像素Rp2的亮度，能不受異物影響地使像素Re的亮度標(biāo)準(zhǔn)化。此外，為了排除異物影響，上述距離只要是假設(shè)的異物大小以上即可，但是盡量接近則通常有利于例如抑制由于背光源103的亮度不均勻等其它原因?qū)е碌牧炼茸兓挠绊?。另外，用于?biāo)準(zhǔn)化的像素Rp2的數(shù)量不限于8個(gè)，更多或者更少都可以。
[0062](S102)基于如上所述求得的標(biāo)準(zhǔn)化亮度的圖像數(shù)據(jù)利用規(guī)定的2值化閾值進(jìn)行2值化而成為2值化圖像數(shù)據(jù)。
[0063](S103)使用預(yù)先保持的、相當(dāng)于對(duì)不具有異物Pl等導(dǎo)致的亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板104進(jìn)行拍攝時(shí)的圖像數(shù)據(jù)的圖像數(shù)據(jù)(第2圖像數(shù)據(jù))與上述第I圖像數(shù)據(jù)同樣地經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化和2值化所得的圖像數(shù)據(jù)，從基于上述第I圖像數(shù)據(jù)的2值化圖像數(shù)據(jù)等中除去背光源103上的異物P2導(dǎo)致的亮點(diǎn)圖像。具體地，例如圖5所示，按上述2個(gè)2值化圖像數(shù)據(jù)的各像素分別進(jìn)行基于亮度相減的屏蔽。此外，不限于此，也可以進(jìn)行這些2值化圖像數(shù)據(jù)的“異或”運(yùn)算，或者進(jìn)行基于第2圖像數(shù)據(jù)的2值化圖像數(shù)據(jù)的“非”和基于第I圖像數(shù)據(jù)的2值化圖像數(shù)據(jù)的“與”運(yùn)算。另外，也可以使用2值化前的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行亮度差運(yùn)算。而且，也可以例如對(duì)2個(gè)圖像數(shù)據(jù)分別求出亮點(diǎn)像素的位置，通過(guò)進(jìn)行該位置的對(duì)比、對(duì)照從而除去異物P2導(dǎo)致的亮點(diǎn)圖像等。
[0064]在此，上述第2圖像數(shù)據(jù)也可以預(yù)先通過(guò)對(duì)實(shí)際上不具有異物Pl等導(dǎo)致的亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板104或者偽液晶顯示面板104等進(jìn)行拍攝而求出，或者通過(guò)對(duì)2片以上液晶顯示面板104進(jìn)行拍攝并對(duì)比圖像數(shù)據(jù)，將從任一個(gè)中檢測(cè)出的亮點(diǎn)檢測(cè)為背光源103上的異物P2的亮點(diǎn)圖像而求出。而且，在進(jìn)行多片液晶顯示面板104的檢查時(shí)，也可以隨時(shí)地對(duì)比多片液晶顯示面板104的圖像數(shù)據(jù)，依次更新第2圖像數(shù)據(jù)。
[0065](S104)接著求出以下各值。
[0066]2值化圖像數(shù)據(jù)中的包括連續(xù)的、高亮度(例如值為I)的像素的亮點(diǎn)像素組的標(biāo)準(zhǔn)化亮度的合計(jì)(總亮度)；
[0067]上述亮點(diǎn)像素組中的像素的數(shù)量(2值化面積)；以及
[0068]上述亮點(diǎn)像素組的標(biāo)準(zhǔn)化亮度的平均值、即總亮度/2值化面積(平均亮度)。
[0069](S105)另外，按照上述亮點(diǎn)像素組的標(biāo)準(zhǔn)化亮度從高到低的順序提取例如5個(gè)像素(亮度居上位的5個(gè)像素)。
[0070](S106)而且，例如圖6中示意地示出的那樣，求出包圍上述亮度居上位的5個(gè)像素P的矩形區(qū)域的對(duì)角線長(zhǎng)D(例如拍攝圖像或者液晶顯示面板104的顯示畫面中的水平方向像素?cái)?shù)量H和垂直方向像素?cái)?shù)量V的平方和的平方根)。此外，不限于上述對(duì)角線長(zhǎng)D，也可以求出水平方向像素?cái)?shù)量H和垂直方向像素?cái)?shù)量V的總數(shù)，或者求出包圍亮度居上位的5個(gè)像素的圓的大小、最遠(yuǎn)像素間的距離等。另外，也可以進(jìn)行水平方向像素?cái)?shù)量H和垂直方向像素?cái)?shù)量V中的至少一方或者兩方的像素?cái)?shù)量是否超出規(guī)定閾值的判定等。
[0071](S107)判定上述2值化面積是否超出規(guī)定閾值，如果是閾值以下的微小亮點(diǎn)，則判定為疑似缺陷，即亮度高的原因是所謂的不均勻(像素電平的亮度不均勻)、液晶顯示面板104的帶電(在面板上殘留有局部電壓的情況下帶電，能看見(jiàn)隱約地發(fā)光。)，而不是異物Pl等導(dǎo)致的成為問(wèn)題的液晶顯示面板104的缺陷。
[0072](S108)另外，判定上述總亮度是否超出規(guī)定閾值，如果是閾值以下，即，如果即使在上述2值化面積大的情況下這些區(qū)域的像素的總亮度也比較低，則仍然判定為疑似缺陷。
[0073](S109)另外，判定上述平均亮度是否超出規(guī)定閾值，如果超出，即，在亮點(diǎn)像素組的2值化面積超出規(guī)定閾值、總亮度超出規(guī)定閾值且平均亮度超出規(guī)定閾值的情況下，判定為是關(guān)于液晶顯示面板104的各顯示像素自身的亮點(diǎn)缺陷。
[0074](SllO)另一方面，在上述(S109)中判定為平均亮度為規(guī)定閾值以下的情況下，進(jìn)一步判定上述對(duì)角線長(zhǎng)D是否超出規(guī)定閾值，如果超出閾值，則判定為是液晶顯示面板104內(nèi)的異物Pl等導(dǎo)致的缺陷，另一方面，如果是閾值以下，則判定為是疑似缺陷。即，可以認(rèn)為，在為異物Pl等導(dǎo)致的缺陷的情況、不均勻、帶電導(dǎo)致的缺陷的情況下，大致在比較寬的范圍內(nèi)變微亮。但是在為異物Pl等導(dǎo)致的缺陷的情況下，例如細(xì)的異物密集，異物部位的配光紊亂，發(fā)生漏光，因此大多是靠近的像素間的亮度差(亮度的凹凸)比較大，高亮度的像素P例如圖6 (a)所示分布在比較寬的范圍內(nèi)，而在不均勻、帶電導(dǎo)致的缺陷的情況下，大多是如圖6(b)所示，高亮度的像素P集中于比較窄的范圍。因此，通過(guò)如上述的判定，能判斷液晶顯示面板104內(nèi)的異物Pl導(dǎo)致的缺陷和疑似缺陷。
[0075]此外，在上述的例子中，示出了照相機(jī)102、背光源103獨(dú)立于檢查裝置101設(shè)置的例子，但是不限于此，也可以使得照相機(jī)102、背光源103中的一方或者兩方也包含于檢查裝置101等。
[0076]工業(yè)h的可利用件
[0077]如上所述，本發(fā)明對(duì)用于檢查液晶顯示面板中有無(wú)缺陷的檢查方法和檢查裝置等是有用的。
[0078]附圖標(biāo)記說(shuō)明
[0079]101 檢查裝置
[0080]102 照相機(jī)
[0081]103 背光源
[0082]103a背光源主體部
[0083]103b 偏振板
[0084]104 液晶顯示面板
[0085]104a液晶面板
[0086]104b彩色濾光片
[0087]P1、P2 異物
[0088]RpU Rp2 像素
【權(quán)利要求】
1.一種液晶顯示面板的檢查方法，是液晶顯示面板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包含: 拍攝工序，將檢查對(duì)象的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝，得到第I圖像數(shù)據(jù)；以及 缺陷檢測(cè)工序，基于上述第I圖像數(shù)據(jù)和規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷， 上述規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)是相當(dāng)于將不具有亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝時(shí)所得圖像數(shù)據(jù)的圖像數(shù)據(jù)， 在上述缺陷檢測(cè)工序中，通過(guò)將第I圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像中的第2圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像除去，從而檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中，按第I圖像數(shù)據(jù)和第2圖像數(shù)據(jù)中的各像素，基于將上述各像素的亮度和周圍的多個(gè)像素的亮度的平均值的差除以上述平均值所得的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)，檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板具備彩色濾光片， 上述各像素及其周圍的多個(gè)像素都是相互顏色相同的像素。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或權(quán)利要求3所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 上述各像素與其周圍的多個(gè)像素是離開(kāi)規(guī)定距離的像素。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至權(quán)利要求4中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中，在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的數(shù)量為規(guī)定數(shù)量以下的情況下，判定為不是缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的液晶顯示面板的檢查方法， 根據(jù)權(quán)利要求1至權(quán)利要求5中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中，在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的總亮度為規(guī)定值以下的情況下，判定為不是缺陷。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或者權(quán)利要求6所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中， 在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的亮度的平均值為規(guī)定值以下，并且， 上述像素組內(nèi)的規(guī)定數(shù)量的亮度居上位的像素的區(qū)域的大小為規(guī)定大小以下的情況下，判定為不是缺陷。
8.根據(jù)權(quán)利要求5至權(quán)利要求7中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中， 在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的亮度的平均值為規(guī)定值以下，并且， 上述像素組內(nèi)的規(guī)定數(shù)量的亮度居上位的像素的區(qū)域的大小超出規(guī)定大小的情況下，判定為是異物的附著導(dǎo)致的液晶顯示面板的缺陷。
9.根據(jù)權(quán)利要求5至權(quán)利要求7中的任一項(xiàng)所述的液晶顯示面板的檢查方法，其特征在于， 在上述缺陷檢測(cè)工序中， 在包括連續(xù)的、超出規(guī)定閾值的亮度的像素的像素組中的像素的數(shù)量超出規(guī)定數(shù)量，并且， 上述像素組中的像素的總亮度超出規(guī)定值，并且， 上述像素組中的像素的亮度的平均值超出規(guī)定值的情況下，判定為是關(guān)于液晶顯示面板中的顯示像素的缺陷。
10.一種液晶顯示面板的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，包含: 拍攝處理部，其將檢查對(duì)象的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝，得到第I圖像數(shù)據(jù)；以及 缺陷檢測(cè)部，其基于上述第I圖像數(shù)據(jù)和規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷， 上述規(guī)定的第2圖像數(shù)據(jù)是相當(dāng)于將不具有亮點(diǎn)缺陷的液晶顯示面板配置于照相機(jī)與背光源之間進(jìn)行拍攝時(shí)所得圖像數(shù)據(jù)的圖像數(shù)據(jù)， 上述缺陷檢測(cè)部通過(guò)將第I圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像中的第2圖像數(shù)據(jù)所包含的亮點(diǎn)圖像除去，從而檢測(cè)上述檢查對(duì)象的液晶顯示面板的缺陷。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK104412089SQ201380033919
【公開(kāi)日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2013年7月22日 優(yōu)先權(quán)日:2012年7月27日
【發(fā)明者】西村吉弘, 添野宣, 松本直基 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社